基于单片机温度控制系统设计的检测环节课程设计论学士学位论文

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1、沈阳理工大学课程设计论文目 录1 概述11.1 简述11.2 温度控制系统的目的12 系统主要元器件介绍22.1 单片机的选用及功能介绍22.2 DS18B20 温度传感器介绍43 总体设计方案83.1 设计原则93.2 引脚连接93.2.1 晶振电路93.2.2 串口引脚103.3 显示部分103.4 温度采集部分104 系统整体设计114.1 系统硬件电路设计114.1.1 主板电路设计114.1.2 各部分电路114.2 系统软件设计134.2.1 系统软件设计整体思路134.2.2 系统程序流图134.2.2 系统程序代码155 结束语28参考文献291 概述1.1 简述单片机在测控领

2、域中具有十分广泛的应用,它既可以直接处理电信号,也可以间接处理温度、湿度、压力等非电信号。由于该特点,因而被广泛应用于工业控制领域。 本文正是基于温度传感器和单片机而构建的电路,进而完成温度的测量和显示。 温度传感器的发展经历了三个发展阶段:传统的分立式温度传感器模拟集成温度传感器智能集成温度传感器。目前使用最广的是智能温度传感器 (亦称数字温度传感器) ,是在20世纪90年代中期问世的。它是微电子技术、计算机技术和自动测试技术(ATE)的结晶,特点是能输出温度数据及相关的温度控制量,适配于各种微控制器(MCU)。社会的发展使人们对传感器的要求也越来越高,现在的温度传感器正在基于单片机的基础上

3、从模拟式向数字式,从集成化向智能化、网络化的方向飞速发展,并朝着高精度、多功能、总线标准化、高可靠性及安全性、开发虚拟传感器和网络传感器、研制单片测温系统等高科技的方向迅速发展,本文将介绍了智能集成温度传感器DS18B20的结构特征及控制方法,并以此传感器为测温元件,AT89S51单片机为控制核心,构成的数字温度测量装置,并对其的工作原理及程序设计作了详细的介绍。1.2 温度控制系统的目的本设计的内容是温度测试控制系统,控制对象是温度。温度控制在日常生活及工业领域应用相当广泛,比如温室、水池、发酵缸、电源等场所的温度控制。而以往温度控制是由人工完成的而且不够重视,其实在很多场所温度都需要监控以

4、防止发生意外。针对此问题,本系统设计的目的是实现一种可连续高精度调温的温度控制系统,它应用广泛,功能强大,小巧美观,便于携带,是一款既实用又廉价的控制系统。2 系统主要元器件介绍2.1 单片机的选用及功能介绍AT89S51 是美国ATMEL公司生产的低功耗,高性能CMOS型8位单片机,片内含4Kbytes 的可编程的Flash只读程序存储器,兼容标准8051指令系统及引脚。它集Flash ROM程序存储器,并支持可在线编程(ISP)功能;另一方面,由于价格低、因而被广泛应用于许多高性价比的场合,如工业控制、消费电子等各种控制领域,对于简单的测温系统而言,它已经足够。单片机AT89S51具有低电

5、压供电和体积小等特点,四个端口只需要两个口就能满足电路系统的设计需要,很适合便携手持式产品的设计使用系统可用二节电池供电。设计中采用89S51单片机。其主要特性如下: 与MCS-51产品指令系统完全兼容; 4K字节可编程闪烁存储器; 1000擦写周期; 4.05.5V工作电压范围; 全静态工作:0Hz-33MHz; 程序存储器具有3级加密保护; 128*8位内部RAM; 32可编程I/O线; 两个16位定时器/计数器; 6个中断源和2个优先级; 可编程全双工串行通道; 图2.1 89S51单片机引脚 低功耗的闲置和掉电模式; 看门狗(WDT)及双数据指针; 具有JTAG接口,可方便地在线编程或

6、在系统编程。AT89S51 单片机为40引脚双列直插式封装。其引脚排列和逻辑符号如图2.1 所示。各引脚功能简单介绍如下: VCC:供电电压。 GND:接地。 P0口:P0口为一个8位漏级开路双向I/O口,每个管脚可吸收8TTL门电流。当P1口的管脚写“1”时,被定义为高阻输入。P0能够用于外部程序数据存储器,它可以被定义为数据/地址的第八位。在FLASH编程时,P0口作为原码输入口,当FLASH进行校验时,P0输出原码,此时P0外部电位必须被拉高。 P1口:P1口是一个内部提供上拉电阻的8位双向I/O口,P1口缓冲器能接收输出4TTL门电流。P1口管脚写入“1”后,电位被内部上拉为高,可用作

7、输入,P1口被外部下拉为低电平时,将输出电流,这是由于内部上拉的缘故。在FLASH编程和校验时,P1口作为第八位地址接收。 P2口:P2口为一个内部上拉电阻的8位双向I/O口,P2口缓冲器可接收,输出4个TTL门电流,当P2口被写“1”时,其管脚电位被内部上拉电阻拉高,且作为输入。作为输入时,P2口的管脚电位被外部拉低,将输出电流,这是由于内部上拉的缘故。P2口当用于外部程序存储器或16位地址外部数据存储器进行存取时,P2口输出地址的高八位。在给出地址“1”时,它利用内部上拉的优势,当对外部八位地址数据存储器进行读写时,P2口输出其特殊功能寄存器的内容。P2口在FLASH编程和校验时接收高八位

8、地址信号和控制信号。 P3口:P3口管脚是8个带内部上拉电阻的双向I/O口,可接收输出4个TTL门电流。当P3口写入“1”后,它们被内部上拉为高电平,并用作输入。作为输入时,由于外部下拉为低电平,P3口将输出电流(ILL),也是由于上拉的缘故。P3口也可作为AT89C51的一些特殊功能口:P3.0 RXD(串行输口);P3.1TXD(串行输出口) ;P3.2 INT0(外部中断0);P3.3 INT1(外部中断1) ;P3.4 T0(定时器0外部输入);P3.5 T1(定时器1外部输入);P3.6 WR (外部数据存储器写选通);P3.7 RD (外部数据存储器读选通)。同时P3口同时为闪烁编

9、程和编程校验接收一些控制信号。 RST:复位输入。当振荡器复位器件时,要保持RST脚两个机器周期的高电平时间。 ALE / PROG :当访问外部存储器时,地址锁存允许的输出电平用于锁存地址的地位字节。在FLASH编程期间,此引脚用于输入编程脉冲。在平时,ALE端以不变的频率周期输出正脉冲信号,此频率为振荡器频率的1/6。因此它可用作对外部输出的脉冲或用于定时目的。然而要注意的是:每当用作外部数据存储器时,将跳过一个ALE脉冲。如想禁止ALE的输出可在SFR8EH地址上置0。此时, ALE只有在执行MOVX,MOVC指令时ALE才起作用。另外,该引脚被略微拉高。如果微处理器在外部执行状态ALE

10、禁止,置位无效。 PSEN:外部程序存储器的选通信号。在由外部程序存储器取址期间,每个机器周期PSEN两次有效。但在访问外部数据存储器时,这两次有效的PSEN信号将不出现。 EA/VPP:当EA保持低电平时,访问外部ROM;注意加密方式1时,EA将内部锁定为RESET;当EA端保持高电平时,访问内部ROM。在FLASH编程期间,此引脚也用于施加12V编程电源(VPP)。 XTAL1:反向振荡放大器的输入及内部时钟工作电路的输入。 XTAL2:来自反向振荡器的输出。2.2 DS18B20 温度传感器介绍每一片DSl8B20在其ROM中都存有其唯一的48位序列号,在出厂前已写入片内ROM 中。主机

11、在进入操作程序前必须用读ROM(33H)命令将该DSl8B20的序列号读出。DS18B20的测温原理如下,低温度系数晶振的振荡频率受温度的影响很小,用于产生固定频率的脉冲信号送给减法计数器1,高温度系数晶振随温度变化其震荡频率明显改变,所产生的信号作为减法计数器2的脉冲输入,图中还隐含着计数门,当计数门打开时,DS18B20就对低温度系数振荡器产生的时钟脉冲后进行计数,进而完成温度测量。计数门的开启时间由高温度系数振荡器来决定,每次测量前,首先将-55 所对应的基数分别置入减法计数器1和温度寄存器中,减法计数器1和温度寄存器被预置在-55 所对应的一个基数值。减法计数器1对低温度系数晶振产生的

12、脉冲信号进行减法计数,当减法计数器1的预置值减到0时温度寄存器的值将加1,减法计数器1的预置将重新被装入,减法计数器1重新开始对低温度系数晶振产生的脉冲信号进行计数,如此循环直到减法计数器2计数到0时,停止温度寄存器值的累加,此时温度寄存器中的数值即为所测温度。图中的斜坡累加器用于补偿和修正测温过程中的非线性,其输出用于修正减法计数器的预置值,只要计数门仍未关闭就重复上述过程,直至温度寄存器值达到被测温度值。 1、DS18B20的性能特点如下:1) 独特的单线接口方式,DS18B20在与微处理器连接时仅需要一条口线即可实现微处理器与DS18B20的双向通讯;2) 测温范围 55125,固有测温

13、分辨率0.5;3) 支持多点组网功能,多个DS18B20可以并联在唯一的三线上,最多只能并联8个,如果数量过多,会使供电电源电压过低,从而造成信号传输的不稳定,实现多点测温;4) 工作电源: 35V/DC;5) 在使用中不需要任何外围元件;6) 测量结果以912位数字量方式串行传送;7) 温度以3位数字显示;8) 用户可定义报警设置,报警搜索命令识别并标志超过程序限定温度(温度报警条件)的器件;9) 负电压特性,电源极性接反时,温度计不会因发热而烧毁,但不能正常工作。 2、 DS18B20的内部结构DS18B20采用3脚PR35封装;DS18B20的内部结构,如图2.3所示。3、 DS18B2

14、0内部结构主要由四部分组成1) 64位光刻ROM。开始8位是产品类型的编号,接着是每个器件的惟一的序号,共有48位,最后8位是前56位的CRC校验码,这也是多个DS18B20可以采用一线进行通信的原因10。64位闪速ROM的结构如下.8b检验CRC48b序列号8b工厂代码(10H) MSB LSB MSB LSB MSB LSB图2.2 ROM结构图2.3 DS18B20内部结构2) 非挥发的温度报警触发器TH和TL,可通过软件写入用户报警上下限值。3) 高速暂存存储,可以设置DS18B20温度转换的精度。DS18B20温度传感器的内部存储器还包括一个高速暂存RAM和一个非易失性的可电擦除的E

15、2PRAM。高速暂存RAM的结构为8字节的存储器,结构如表2.5所示。头2个字节包含测得的温度信息,第3和第4字节TH和TL的拷贝,是易失的,每次上电复位时被刷新。第5个字节,为配置寄存器,它的内容用于确定温度值的数字转换分辨率。DS18B20工作时寄存器中的分辨率转换为相应精度的温度数值。它的内部存储器结构和字节定义如图2.6所示。低5位一直为,TM是工作模式位,用于设置DS18B20在工作模式还是在测试模式。DS18B20出厂时该位被设置为0,用户要去改动,R1和R0决定温度转换的精度位数,来设置分辨率,如表2.7。由表可见,分辨率越高,所需要的温度数据转换时间越长。因此,在实际应用中要将分辨率和转换时间权衡考虑。高速暂存RAM的第6、7、8字节保留未用,表现为全逻辑1。第9字节读出前面所有8字节的CRC码,可用来检验数据,从而保证通信数据的正确性。当DS18B20接收到温度转换命令后,开始启动转换。转换完成后的温度值就以16位带符号扩展的二进制补码形式存储在高速暂存存储器的第1

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