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1、焊缝射线检测通用工艺规程ASME规范篇（节选）3.6.3像质计型号使用SE-747中规定的1A、1B、1C线型像质计；特殊情况下也可使用JB4730中规定的R10 系列像质计。常见透照厚度范围两种像质计钢丝线径和线编号的对应情况见表3.3。3.7透照厚度和像质计的选用3.7.1部分透照范围应达到的像质计灵敏度见表3.3。表3.3像质计灵敏度值A STM像质计JB4730像质计规格表单壁材料厚度范围mm （包括允许的余高*）射源侧胶片侧像质计 型号线径mm线编号线径mm线编号线径mm线编号像质计 型号6.35 9.50.2560.2050.20139.5 12.70.3370.2560.2512
2、12.7 19.10.4180.3370.321119.1 25.40.5190.4180.401025.4 38.10.64100.5190.50938.1 50.80.81110.64100.63850.8 63.51.02120.81110.80763.5 101.61.27131.02121.006101.152.41.60141.27131.255*在有余高的焊缝上观查时3.7.3 像质计的放置线型像质计应放在射线源一侧的工件表面上被检焊缝区的一端（被检区长度的1/4左右部 位）。金属丝应横跨焊缝并与焊缝方向垂直，且细丝置于外侧。当射线源一侧无法放置像质计时， 也可放在胶片一侧的工件
3、表面上，但可识别像质计的线编号应通过对比试验，使实际像质计灵 敏度达到规定的要求。像质计放在胶片一侧工件表面上时，应附加“F标记以示区别。像质计的放置原则见表3.5在允许的底片黑度范围内，底片上被测量处的黑度与像质计灵敏度指定钢丝处的底片黑度，当两者黑度变化超过-15%或+30%时，超差区域应放置像质计重新拍片。由于工件原因造成底片黑度变化较大时（如管子环缝非中心法透照），应在底片有效评定区 范围内允许黑度的最大部位和最小部位处各放置一个像质计，以测定不同黑度下的底片灵敏度。表3.5像质计的放置原则透照方式规定的 放置位置像质计放置数量备注单壁透照射线源侧中心法 周向整圈环缝至少在整圈环缝上等
4、间隔地 放置4个像质计。源侧无法放置 像质计时，允许加 “F”标记放置在胶 片侧，但应做对比 试验证明所达到的 灵敏度，且应在检 测报告中注明。如果在分离试 块上放置像质计， 分离试块应放置在 尽可能靠近工件的 位置，其射线照相 性能应与受检材料 相似，在底片上与 受检材料的黑度公 差要得到满足。长度120 的局部环缝至少放置3个像质计，分别位 于长度的两端和中央； 有纵缝相接时在每条纵缝的 远端各放置一个像质计。中心法 全景整圈环缝至少在整圈环缝上等间隔地 放置4个像质计。长度120 的局部环缝至少放置3个像质计，分别位 于长度的两端和中央； 有其它焊缝相接时在每条焊 缝的远端各放置一个像质
5、计。其它原则上每张底片都应有像质 计的影像。双壁单影胶片侧每张底片上都应有像质计的影像双壁双影应放置在射线源侧每张底片上都应有像质计的影像一次曝光 连续排列的 多张胶片根据透照 力式确定至少在第一张、中间一张、最后一张胶片处各放置 一个像质计。3.7.4 像质计的观察在底片上黑度均匀的部位能够清晰地看到长度不小于10 mm的连续金属丝影像时，则认为 该金属丝是可被识别的。搭接标记的安放位置见表3.6表3.6搭接标记的安放位置工件形状透照方式焦距F搭接标记位置平板或纵焊缝单层透照任意射线源侧曲面内透法F半径射线源侧F=半径射线源侧和胶片侧均可F半径胶片侧单壁外透法任意射线源侧双壁透照法FN直径胶
6、片侧3.9.3几何不清晰度规定几何不清晰度由下式决定:Ug =式中：Ug几何不清晰度，mm；d 焦点尺寸，mm；F 二m in也+ b Ugb工件厚度，mm；F 焦距，mm。表3.9几何不清H标度规定值材料厚度mmUg的最大值mm76.2 101.61.02101.61.783.9.4焦距F、一次透照长度L3和最少透照次数N的计算3.9.4.1纵缝透照（平板状工件）最小焦距Fmin由下式确定:最少透照次数Nmin:不设定，所需透照次数按底片黑度进行控制。在可以实施的情况下，应尽可能采用单壁透照技术。为了证实能充分覆盖，应进行足 够次数的曝光3.9.4.2环缝透照a. 小径管（管子外径DoW89
7、mm）双壁双影透照最少透照次数Nmin:1. 椭圆成像：Nmin=每个接头至少要进行二次互成90的曝光。2. 垂直成像：Nmin=每个接头至少要进行三次互成60或120的曝光。b. 双壁双影透照时的最小焦距Fmin:不同规格的小径管其透照时的最小焦距应不小于表3.9中的数值。为便于现场使用，b可近似看成管子外径Do,而f （焦点到工件表面的距离）则用b的倍数来表示，焦距Fmin = f + b。（表中b未包括余高，如精确计算则b=DO+双侧余高。）表3.10部分小径管双壁双影透照时的最小fb（管子外径Do+双面余高）f焦点2 x2mm焦点2.5x2.5mm焦点3x3mm1/2(21+4mm)8
8、.2Do(171mm)10.2Do(214 mm)12.2Do(257 mm)3/4(27+4mm)7.3Do(198 mm)9.1Do(247 mm)11.0Do(296 mm)1(33+4mm)6.7Do(222 mm)8.4Do(278 mm)10.1Do(334 mm)1 1/4(42+4mm)6.1Do(257 mm)7.7Do(321 mm)9.2Do(386 mm)1 1/2(48+4mm)5.8Do(279 mm)7.3Do(349 mm)8.7Do(419 mm)2(60+4mm)5.3Do(320 mm)6.7Do(401 mm)8.0Do(481 mm)2 1/2(73+
9、4mm)5.0Do(363 mm)6.2Do(453 mm)7.4Do(544 mm)3(89+4mm)4.6Do(411 mm)5.8Do(514 mm)6.9Do(617 mm)3.9.4.3.除小径管双壁双影外其它环缝透照:按透照方式可分为以下五种，在满足几何不清晰度要求的情况下其最少透照次数分别为：1. 环缝单壁外透法：按-15%+30%控制底片的最大和最小黑度，确定最少透照次数。2. 环缝内透法： F=R中心法一半径）透照次数N1次。 FR，偏心法，按-15%+30%控制底片的最大和最小黑度，确定最少透照次数。 FR 3. 双壁单影法：至少进行三次互成120的曝光。3.9.4.4底片
10、有效长度底片有效长度应小于底片实际长度，连续透照时底片两端应各留出2mm作为搭接长度。3.11.4.1底片黑度应符合表3.12的要求。表3.12底片黑度范围射线种类底片黑度D黑度计黑度读数公差单片观察叠合观察X射线1.8WDW4.0单张DN1.3叠合DW4.00.05Y射线2.0WDW4.0允许的底片黑度变化：在规定的最大/最小允许范围内，与像质计规定线处黑度相比其变化 超过-15%或+30%的超差区域，应另加像质计重新拍片；或在黑度最大和最小的部位附近 各放置一个像质计以评价不同黑度下底片的灵敏度情况。3.12焊缝缺陷等级评定长宽比小于或等于3的缺陷定义为圆形缺陷。它们可以是圆形、椭圆形、锥
11、形或带有尾 巴（在测定尺寸时应包括尾巴）等不规则的形状。缺陷的种类包括气孔、夹渣和夹钨等。长宽比大于3的缺陷定义为条形缺陷，包括气孔、夹渣和夹钨等。焊缝缺陷等级评定见表3.13、表3.14、3.15和表3.16。3.12.1焊缝缺陷评定之一表313ASME-VIII （UW-51、UW-52、附录4）规定缺陷种类全部检验局部检验裂纹、 未熔合、 未焊透不允许不允许条形缺陷单个显示单壁厚度mm允许值mm单壁厚度mm允许值mmt19.16.3t9.56.319.1t57.21/3 t9.5t57.219.1t28.719.1成一直线 分布的密集显示12t焊缝长度内缺陷累计长度不得大 于t,但相邻缺
12、陷间的间距超出6L者除 夕卜。（L为该群显示内最长缺陷的长度）6t焊缝长度内缺陷累计长度不得大 于t，但相邻缺陷间的间距超出3L 者除夕。（L为该群显示内最长缺陷 的长度，对长度不足6t的焊缝，其显 示长度总和限额，可按比例推算， 最小以单个显示为允许值。）圆形缺陷不记作缺陷的显示单壁厚度mm显示尺寸mm圆形缺陷不是合格与否的因素， 可不进彳丁评定。t3.2t /103.2WtW6.40.46.4511.6圆形显示的 最大尺寸相邻显示间距 N 25.4mm 时相邻显示间距51mmt /3 或 6.4 mm 中的较小者t /4 或 4 mm 中的较小者10 mm线状排列的 圆形显示在12t焊缝长
13、度内显示的各直径（各组） 的总和不得大于弋密集性的 圆形显示t3.2 mml： 在152mm焊缝长度内圆 形显示的数量不得超过12个;焊缝长度 152mn时,允许显示的数量成比例地减小。密集性显示的长度不得超过25mm或 2t中的较小者；有一群以上密集性显示 时，其密集性显示群的长度之和在 152mm焊缝长度上不应超过25mm.（注:以密集性显示群的边界作为其显示长度）注：t为除去余高后的焊缝厚度，对接焊缝两侧壁厚不相等时，取薄的厚度。若全焊透焊缝包含角焊缝，则该角焊缝的厚度应计入七内。3.12. 2焊缝缺陷等级评定之二表3.14ASME-B31.3 （表341.3.2A）规定一一100%检验，剧烈的循环条件缺陷种类环形和斜接焊缝纵焊缝（包括直缝和螺旋缝支管焊缝（包括支管和翻边 接口的受压焊缝）角焊缝（包括承插焊、密封焊、 平焊法兰、支管补强 和支承件的连接焊缝）裂纹不允许不允许不允许不允许未熔合
