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1、在实际的生产过程中，不少客户经常使用简便而行之有效的办法来对芯片进行测试，因此我们收集了两种 EMC测试的土方法，来对芯片和控制板的性能进行大致的评价。方法1 :高压脉冲测试相当于静电测试这种测试方法相当于标准测试中的ESD:空气放电和接触放电。将电子打火机中的电子打火设备拆下 来，然后对着芯片的管脚进行直接放电，由于打火机上的电子打火设备差异性比较大，而且每次打火的能 量不一致，所以，这种测试不太准确。但是，经过我们的多次试验以及从客户收集到的情况，可以得出结 论：高压脉冲测试比标准的ESD测试更加严格，对芯片的性能要求更高，可以做为芯片性能评价的一种简 易方法。我用该法方对电源正实施数次电
2、击，STC单片机出现了死机，对地实施电击，没有发现异常。阿莫可否作作这方面的测试？相当于EFT测试方法2：脉冲辐射组合测试下图位脉冲辐射组合测试的原理分析，它主要是从两个方面来考察芯片的性能：交流接触器的闭合和断开，在导线上会有通断电流，导线周围产生磁场，干扰控制系统；采用继电器的通断控制使交流接触器的不断开合，交流接触器的电感线圈会产生很将的感应电势， 通过电源线来干扰整个系统的稳定性，可以模拟EFT测试。测试的强度与绕在控制板上的导线圈数有关，圈数越多，干扰越强。根据经验，超过10圈，芯片仍然 正常运行，该芯片的抗干扰性能便相当不错。胱冲干精控制蝶电拌+12V 费在控制 损上的导强干精成场JLQR投命睹号
