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1、实验1 集成门电路逻辑功能测试一、实验目的 1、掌握集成门电路逻辑功能的测试方法及功能扩展应用。2、熟悉几种典型TTL集成门电路的逻辑功能。3、熟悉集成门电路的引脚排列特点。二、实验器件 （1） 74LS08 2输入端四与门 1片 （2） 74LS32 四2输入或非门 1片 （3） 74LS04 六反相器 1片三、实验器件的逻辑功能74LS08实现与门，74LS32实现或门，74LS04实现非门四、实验原理逻辑门是实现逻辑运算的电路。各种逻辑门都有确定的逻辑运算功能，可用逻辑表达式、真值表等方式描述其功能。限定门的某个输入端的输入条件，可以改变、扩展其逻辑功能。本实验选用与非门、或非门、与或非
2、门、异或门测试功能及功能扩展应用。逻辑门用输出、输入之间的电平关系实现逻辑运算。采用正逻辑时，电平和逻辑取值的对应关系是：用高电平表示逻辑1、用低电平表示逻辑0。 实验测试门的逻辑功能的原理及方法是，将逻辑门的各输入端分别接到逻辑电平开关上，输入高、低电平的全部组合状态并测出相应的输出电平，得到输出、输入之间的电平关系表，按高、低电平与逻辑值的对应关系转换成真值表，再与正确的真值表对比是否相符，从而验证逻辑关系是否符合要求。五、实验内容 1. 对与门电路集成芯片74LS08进行测试 输入A输入B输出Y000010100111 2. 对或门电路集成芯片74LS32进行测试 输入A输入B输出Y0000111011113. 对非门电路集成芯片74LS04进行测试输入A输出Y01104. 利用前三种电路集成芯片完成下面逻辑表达式：连线图：六、实验总结或门附录：逻辑门电路图例非门与门=同或门=1异或门或非门与非门
