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1、艾利包装系统产品SPC作业方法文件编号:COP-QA-16版 本:B编写部门:QA页 次:第 3 页/总 10页质量体系文件SPC作业方法文件操纵记录文件编号:COP-QA-14总 页 数:10版 本:B生效日期:4 -05-2002制定:部 门:QA姓 名:周木祥日 期:29-Dec-2001审 核:PDQALOG MEPMTMFINHR( )经理审批: 日期:分派清单 :( )PD( )QA( )LOG( )ME( )TM( )PM( )FIN( )HR( )IT文件修正记录版 本修正内容概述修订人修订日期AB新发行不良情况的处理周木祥周木祥29-Dec-200103-Apr-20021.
2、0 目的提供SPC的使用准则及步骤，并说明使用方法，以便在运用管制图时可以正确地决定、检讨管制界限与进展管制图的判读。2.0 范围 X-R管制图、P管制图、Cpk（制程才能指数）的运用治理。3.0 定义 3.1 计量值特性 凡产品的质量特性以实际量测方式获得的特性称为计量特性，例如重长等。 3.2 计数值特性 凡产品的质量特性不连续，不易或不能以实际量测方式获得，只能连续取值的 特性，例如不合格数、不良品率等。4.0 相关文件5.0 职责 5.1 相关部门：SPC的运用与维持。 5.2 工程部：SPC的使用的规划。6.0 程序 6.1 管制图使用规划及选择原则 6.1.1 使用规划由QA及工程
3、部依照各制造工序妨碍要素及质量妨碍要素，结合成 本及效益，全面规划需采取管制图操纵的工序和产品特性。6.1.2 选择原则 6.1.2.1 计量值特性选用X-R管制图。 6.1.2.2 计数值特性选用P管制图。 6.2 管制图绘制、使用步骤 6.2.1 初次使用管制图的作业程序 6.2.1.1 决定须管制的特性。 6.2.1.2 搜集25组数据。 6.2.1.3 计算中心线(平均值)及管制上、下限。 6.2.1.4 绘制管制图。 6.2.1.5 检查是否有超出管制界限的点。 6.2.1.6 将这些超出管制界限的材料剔除并重新计算中心线(平均值)及管 制上、下限。 6.2.1.7 决定管制图的中心
4、线(平均值)及管制上、下限。 6.2.2 现场使用管制图的作业程序 6.2.2.1 在新的管制图纸划出管制图的中心线(平均值)及管制上、下限。 6.2.2.2 依规定的抽样频率及抽样数，并将所得材料记录于管制图上，且依所使用的管制图品种进展计算。 6.2.2.3 将计算结果描点于管制图上。 6.2.2.4 管制图判读及异常管制图矫正/预防措施 6.2.2.5 检讨管制界限 6.2.2.5.1当完成一张管制图时，依照管制图图纸上的材料重新计算中心线 （平均值）及管制上、下限。计算时须剔除超出管制界的资 料。 6.2.2.5.2 比拟计算前后之中心线（平均值）及管制上、下限。 6.2.2.5.3
5、假设无严重差异时在新的管制图纸延用计算前的管心线（平均值） 6.2.2.5.4 假设有明显的差异时，可在新的管制图纸使用计算后的管制中心线（平均值）及管制上、下限。 6.3 管制图判读原则及异常管制图的矫正/预防措施 6.3.1 正常之管制图其各点的动态为： 6.3.1.1 多数的点集中在中心线附近。 6.3.1.2 少数的点落在管制界限附近（但未超出管制界限）。 6.3.1.3 各点的分布呈随机状态，无任何规则可循。 6.3.2 异常管制图的判读 6.3.2.1 任何超出操纵限的点 6.3.2.2 连续7个点在中心线之上或之下 6.3.2.3 连续7个点上升或下降 6.3.2.4 任何其它明
6、显的非随机图形，如2/3的描点应落在操纵限1/3的中间区域，描点成规则形状。 6.3.3 异常之管制图的矫正/预防措施 6.3.3.1 出现任何超出操纵界限的点，都应提请相关单位进展缘故分析，并采取矫正措施。 6.3.3.2 关于连续7个点在中心线之上或之下，或连续7个点上升或下降，或其它明显非随机图形，都应提请相关部门分析缘故，留意趋势采取相应预防措施。 6.3.3.3 如相关责任部门无视不良现象的存在或长期行动无效果, 必要时发出矫正/预防措施要求书要求其改善。 6.4 XR管制图的使用方法 XR管制图是以管制平均值（X管制图）与全距（R管制图）的方式到达管 制的目的。 6.4.1 决定样
7、本数 6.4.1.1 使用XR管制图的样本数（n）以2 5个为适当，但不要超过 10个为宜。 6.4.1.2 样本数一经决定后必须在使用时固定不变。 6.4.2 平均值与全距的计算 6.4.2.1 平均值（X）= 各组内数据的和样本数。 6.4.2.2 全距（R）= 各组内的最大值最小值。 6.4.3 X 管制图与R管制图之中心线与管制上、下限的计算公式。 6.4.3.1 X 管制图之中心线与管制上、下限的计算公式： 6.4.3.2 R 管制图之中心线与管制上、下限的计算公式： 6.4.3.3 XR管制图的系数表N2345678910A21.881.020.730.580.480.420.37
8、0.340.31D21.131.692.062.332.532.702.852.973.08D30.080.140.180.22D43.272.572.282.112.001.921.861.821.786.5 P 管制图的使用方法P 管制图是以管制不良率的方式到达管制的目的。6.5.1 决定样本数 6.5.1.1 使用P管制图的样本数（n）以可以发觉1-5个不良品最为适 当，样本数的决定公式为： 6.5.1.2 假设未决定样本数，导致管制下限小于0，则下限取0。 6.5.2 管制图的管制界限必须依管制上、下限公式计算，假设样本改变时，以实际样本数代入。6.5.3 P 管制图之中心线及管制上、
9、下限的计算公式： 6.6 制程才能指数 Cpk 使用规划 6.6.1 工程部依照各制造过程或工序妨碍以及质量特性，全面规划需进 行制程才能操纵的制程或工序并明确相应的Cpk值。 6.6.2 制程才能指数 6.6.1.1 使用制程才能指数时，应依统计学的原则，同时衡量制程中的集中（平均）与分数（变异）情况，以确实掌握制程质量特性。6.6.1.2 Cpk值、Cpk等级、不合格率及相应措施关系列表如下。衡量等级Cpk值Cpk等级不良率(P)相 应 措 施A2.0(含以上)6P0.000000002本公司的优势，需要时配合管制图管制。B1.672.05P0.00000057希望制程可以到达的水准，应考
10、虑配合管制图进展管制C1.331.674P0.00006产品可免检，但应考虑配合管制图管制。D1.01.333P0.0027制程有改善空间，要改善并可采取抽样的方式检验产品E0.671.02P0.0455制程应进展专案改善并考虑设置检查站，确认唯有合格的批才可进入下一制程。F0.330.672P0.3174制程非常差，应考虑施行全检6.6.3 制程才能指数运用的前提 6.6.3.1 所使用的规格上下限依内部或客户要求。 6.6.3.2 如客户另有特定制程指数值要求时，另和客户协商。 6.6.3.3 指数计算的结果可能因抽样误差而有所差异，使用时掌握其等级，并采取适当措施即可。 6.6.4 制程才能指数的计算 6.6.4.1 符号说明 USL：表示规格上限。LSL：表示规格下限。 X ：表示所搜集或抽样材料的平均。 ：表示自所搜集或抽样材料中所推算(可能)的标准差。 6.6.4.2 制程才能指数计算公式 Cpk：相关于规格同时表示制程集中与变异的指数。 6.6.4.3 标准差计算公式 =R/d2R 是子组极差的平均值，d2 是随样本容量变化的常数 6.6.5 制程才能指数异常的处理当制程才能指数低于客户要求时，责任部门应采取措施以改善，必要时应以矫正/预防措施要求书的方式提出改善7附件 7.
