《线性系统系数估计方法、线性设备列数值估计方法、电容检测方法、集成电路、触摸传感器...的制作方法》由会员分享，可在线阅读，更多相关《线性系统系数估计方法、线性设备列数值估计方法、电容检测方法、集成电路、触摸传感器...的制作方法（6页珍藏版）》请在金锄头文库上搜索。
1、线性系统系数估计方法、线性设备列数值估计方法、电容检测方法、集成电路、触摸传感器.的制作方法专利名称：线性系统系数估计方法、线性设备列数值估计方法、电容检测方法、集成电路、触摸传感器 .的制作方法技术领域：本发明涉及一种用于估计或检测按矩阵配置的线性系统中的系数、设备数值或电容的方法。本发明还涉及一种集成电路、触摸传感器系统以及电子设备，它们都是根据上述方法操作的。背景技术：已知有一种用于检测按矩阵分布的线性设备数值的设备。例如，专利文献I揭示了一种触摸传感器设备(接触检测设备)，用于检测形成于M个驱动线路和L个传感线路之间的电容矩阵Cij (i=l,.，M和j=l，.，L)的电容数值的分布。
2、该触摸传感器设备根据扫描检测方法来操作；具体地讲，该触摸传感器设备按顺序地选择这些驱动线路之一，并由此检测连接到所选择的驱动线路的线性设备的各个数值。专利文献2揭示了一种电容检测电路，(i)该电容检测电路在驱动多个驱动线路时基于时序代码序列而 在第一驱动线路组和第二驱动线路组之间切换，( )该电容检测电路输出测得的电压，该测得的电压是通过将在被驱动的驱动线路与传感线路的多个交点处跨连接到传感线路的电容上的各个电流的总和转换成电信号而获得的，并且(iii)该电容检测电路针对每一个传感线路执行这种测得的电压和代码序列的乘积-求和操作，以便找到在每一个交点处的电容所对应的电压数值。引用列表专利文献1
3、:日本专利申请公报2010-92275A，Tokukai (公布日期:2010年4月22曰)专利文献2:日本专利公报4364609，说明书(公布日期:2005年6月16日)专利文献3:日本专利公报4387773，说明书(公布日期:2005年6月16日)专利文献4:日本专利申请公报2005-114362A，Tokukai (公布日期:2005年4月28日)专利文献5:日本专利申请公报2005-134240A，Tokukai (公布日期:2005年5月26日)发明内容技术问题然而，根据扫描检测方法而操作的专利文献I的触摸传感器设备是有缺陷的:该触摸传感器设备被要求在一时间段(/m)内完成同时选择并
4、扫描多个线路以便检测电容矩阵Cij的电容的过程。对于上述符号T/m，T表示给定用于获取二维分布电容数值的时间段,并且m表示扫描的次数。当过程时间较长时，一般可以通过像取平均这样的过程来更好地改善检测过程的精确度。另一方面，( )给定用于获取电容数值的时间段T需要更短一些，以便让触摸传感器设备遵循高速操作；并且(ii)扫描的次数M需要更大一些，以便改进分辨率。(i)和(ii)中的任一者都很成问题地减小了上述过程时间(T/m)，并由此减小了检测精确度。专利文献2的电容检测电路用于取消在测得的电压中的偏移误差，该电容检测电路执行下列操作:(i)基于代码序列在驱动第一驱动线路组和驱动第二驱动线路组之间
5、进行切换；以及(ii)从基于第一驱动线路组的驱动测得的电压中减去基于第二驱动线路组的驱动测得的电压(参见说明书第和段)。然而，该电容检测电路执行两级级操作，并且在同时实现高速操作和功耗减小这两方面很成问题地不太有效。本发明的目的是提供一种线性系统系数估计方法、线性设备列数值估计方法、电容检测方法、集成电路、触摸传感器系统以及电子设备，它们中的每一个(i)实现了高检测精确度和高分辨率并且(ii)允许高速操作。问题的解决方案为了解决上述问题，本发明的线性系统系数估计方法包括下列步骤:(A) (a)基于M个代码序列di (=dil, di2,.，diN,其中i=l,.,它们彼此正交且每一个都具有长度
6、N)，向一系统输入M个输入Xk(k=l,.，)，该系统具有线性输入和输出并且有M个输入Xk (k=l,., )要被输入到该系统，该系统被下式表不:权利要求1.一种线性系统系数估计方法，包括如下步骤: (A)(a)基于M个代码序列di (=dil, di2,.，diN,其中i=l,，)，向一系统输入M个输入Xk (k=l,.,),这些代码序列彼此正交且每一个都具有长度N，该系统具有线性输入和输出并且有M个输入Xk(k=l，.，M)要被输入到该系统，该系统被下式表示:2.一种线性系统系数估计方法，包括如下步骤: (A)(a)基于M个代码序列di (=dil, di2,.，diN,其中i=l,.，)
7、，将M个输入Xk(k=l,.,)输入到第一系统和第二系统中的每一个，这两个系统每个都具有线性输入和输出并且有M个输入Xk(k=l，.,)要被输入到这两个系统，这些代码序列彼此正交且每一个都具有长度N,该第一和第二系统被下式表不:3.种线性设备列数值估计方法，包括如下步骤: (A)(a)基于1个代码序列乜(=乜1，乜2，.，乜化其中丨=1，.)，针对(I)第一线性设备列Cli(i=l，.，M)和(II)第二线性设备列C2i(i=l，., )中的每一个来驱动并行的M个驱动线路，这些代码序列彼此正交且每一个都具有长度N，该第一线性设备列形成于这M个驱动线路和第一传感线路之间，该第二线性设备列形成于这
8、M个驱动线路和第二传感线路之间，并且由此(b)从该第一线性设备列中输出N个输出sFirst=(sll，sl2,.，slN)并且从该第二线性设备列中输出N个输出sSecond= (s21，s22,.，s2N);以及 (B)(a)基于所述输出sFirst与代码序列di的第一内积操作，估计该第一线性设备列中的第一线性设备数值，该第一线性设备数值对应于第kl个驱动线路，并且(b)基于所述输出sSecond与代码序列di的第二内积操作，估计该第二线性设备列中的第二线性设备数值，该第二线性设备数值对应于第k2个驱动线路。4.如权利要求3所述的线性设备列数值估计方法， 其中: 所述代码序列di(=dil,
9、di2,.，diN,其中i=l,., )包括多个元素,每个元素要么为+V要么为-V。5.一种电容检测方法，包括如下步骤: (A)(a)基于代码序列 di (=dil, di2,.，diN,其中 i=l,.，),针对(I)第一电容列Cli (i=l，.，M)和(II)第二电容列C2i(i=l，., )中的每一个，驱动并行的M个驱动线路，这些代码序列彼此正交且包括要么+1要么-1的元素且每一个都具有长度N，该第一电容列形成于这M个驱动线路和第一传感线路之间，该第二电容列形成于这M个驱动线路和第二传感线路之间，使得针对所述代码序列中+1的元素施加一电压+V并且针对所述代码序列中-1的元素施加一电压-
10、V，由此(b)从该第一电容列中输出了输出sFirst=(Sll，S12，.，SlN)并且从该第二电容列中输出了输出sSecond= (s21, s22,., s2N);以及 (B)(a)基于所述输出sFirst与代码序列di的第一内积操作，估计该第一电容列中的第一电容数值，该第一电容数值对应于第kl个驱动线路，并且(b)基于所述输出sSecond与代码序列di的第二内积操作,估计该第二电容列中的第二电容数值,该第二电容数值对应于第k2个驱动线路。6.如权利要求5所述的电容检测方法， 其中: 步骤(B)包括:针对基于代码序列di的每一个并行的驱动，根据一代码执行加法或减法，该加法或减法对于第一和
11、第二内积操作而目是必需的。7.如权利要求5所述的电容检测方法， 其中: 步骤(A)将来自第一电容列的输出sFirst输出到第一模拟积分器,并且将来自第二电容列的输出sSecond输出到第二模拟积分器；以及 步骤(B) (I)通过使已经被输出到该第一模拟积分器的所述输出sFirst在AD转换器中经历AD转换而执行第一内积操作以及(II)通过使已经被输出到该第二模拟积分器的所述输出sSecond在AD转换器中经历AD转换而执行第二内积操作。8.如权利要求5所述的电容检测方法， 其中: 步骤(A)首先将来自第一电容列的输出sFirst输出到一模拟积分器并且将来自第二电容列的输出sSecond输出到该
12、模拟积分器；以及 步骤(B) (I)通过使已经被输出到该模拟积分器的所述输出sFirst在AD转换器中经历AD转换而执行第一内积操作以及(II)通过使已经被输出到该模拟积分器的所述输出sSecond在AD转换器中经历AD转换而执行第二内积操作。9.如权利要求5所述的电容检测方法， 其中: 步骤(A)将来自第一电容列的输出sFirst输出到第一模拟积分器并且将来自第二电容列的输出sSecond输出到第二模拟积分器；以及步骤(B) (I)通过使已经被输出到第一模拟积分器的所述输出sFirst在第一 AD转换器中经历AD转换而执行第一内积操作以及(II)通过使已经被输出到第二模拟积分器的所述输出sS
13、econd在第二 AD转换器中经历AD转换而执行第二内积操作。10.一种集成电路，包括: 驱动部分，该驱动部分(a)基于代码序列di (=dil, di2,.，diN,其中i=l,.，),针对(1)第一电容列Cli(i=l，.，M)和(II)第二电容列C2i(i=l，.，M)中的每一个来驱动并行的M个驱动线路，这些代码序列彼此正交且包括要么+1要么-1的元素且每一个都具有长 度N，该第一电容列形成于这M个驱动线路和第一传感线路之间，该第二电容列形成于这M个驱动线路和第二传感线路之间，使得针对所述代码序列中+1的元素施加一电压+V并且针对所述代码序列中-1的元素施加一电压-V，由此(b)从该第一
14、电容列中输出了输出sFirst= (si 1，sl2,., slN)并且从该第二电容列中输出了输出sSecond= (s21, s22,., s2N);以及 估计部分，该估计部分(a)基于所述输出sFirst与代码序列di的第一内积操作,估计该第一电容列中的第一电容数值，该第一电容数值对应于第kl个驱动线路，并且(b)基于所述输出sSecond与代码序列di的第 二内积操作，估计该第二电容列中的第二电容数值，该第二电容数值对应于第k2个驱动线路。11.一种触摸传感器系统，包括: 传感器面板，该传感器面板包括(I)形成于M个驱动线路和第一传感线路之间的第一电容列Cli(i=l，.，M)以及(II
15、)形成于这M个驱动线路和第二传感线路之间的第二电容列 C2i(i=l，.，M);以及 用于控制所述传感器面板的集成电路， 所述集成电路包括: 驱动部分，该驱动部分(a)基于代码序列di (=dil, di2,.，diN,其中i=l,.，),针对(I)第一电容列Cli (i=l，.，)和(II)第二电容列C2i(i=l，.，M)中的每一个来驱动并行的M个驱动线路，使得针对所述代码序列中+1的元素施加一电压+V并且针对所述代码序列中-1的元素施加一电压-V，这些代码序列彼此正交且包括要么+1要么-1的元素且每一个都具有长度N，由此(b)从该第一电容列中输出了输出sFirst=(Sll，S12，.，
16、SlN)并且从该第二电容列中输出了输出sSecond= (s21，s22，.，s2N);以及 估计部分，该估计部分(a)基于所述输出sFirst与代码序列di的第一内积操作,估计该第一电容列中的第一电容数值，该第一电容数值对应于第kl个驱动线路，并且(b)基于所述输出sSecond与代码序列di的第二内积操作，估计该第二电容列中的第二电容数值，该第二电容数值对应于第k2个驱动线路。12.种电子设备,包括: 如权利要求11所述的触摸传感器系统；以及 显示器面板，要么被放在所述触摸传感器系统中所包括的传感器面板上，要么包含所述传感器面板。13.一种电容检测方法，包括如下步骤: (A)(a)基于代码序列 di (=d
