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1、非金属超声波检测仪使用说明书非金属超声波检测仪主要用于检测混凝土的强度、裂缝深度、混凝土匀质性、损伤层厚度、混凝土厚度、桩身完整性、结构内部缺陷、钢管混凝土内部缺陷。功能特点声参量自动判读、实时动态波形显示；接收灵敏度高（对微弱信号识别能力高，可准确检测缺陷大小和范围）；体积小、重量轻、携带方便、双通道、可扩展性强；大容量充电电池持久续集航，检测无忧；智能处理软件实用、方便、功能强大；技术指标：非金属超声测桩仪应用领域自动测桩系统主要用于跨孔声波透射法桩身完整性的自动检测，其他功能与超声检测仪完全相同。超声透射法基桩、连续墙完整性快速检测；超声-回弹综合法检测混凝土抗压强度；超声法检测混凝土裂
2、缝深度、不密实区域及蜂窝空洞、结合面质量、表面损伤层厚度、钢管混凝土内部缺陷；超声法单孔一发双收测井；耐火材料质量检测；地质勘查、岩体、混凝土等非金属材料力学性能检测。依据标准声波检测仪国家计量检定规程-JJG 990-2004超声回弹综合法检测混凝土强度技术规程-CECS 02 2005超声法检测混凝土缺陷技术规程-CECS 21：2000建筑基桩检测技术规程-JGJ 106 2003公路工程基桩动测技术规程-JTG/T F81-012004岩土工程勘察规范-GB500212001建筑抗震设计规范-GB500112001性能特点HC-U83自动测桩系统使用双通道信号快速采集系统及专利技术的深
3、度计数装置，有效地提高了现场检测速度及换能器的使用寿命。在换能器移动过程中测桩系统可以按照预定好的测点间距自动记录各测点声参量及波形。检测速度有了成倍的提高，测试一个100米长的剖面，每米存10个点，仅需要2分钟左右就可以完成，并且已往需要三个人才能完成的测试工作只需要一到两个人就可以完成。在测试过程中可以随时通过屏幕显示的曲线看到整个剖面的测试结果。信号波形、声参量数据实时显示及分析处理，即时显示内部缺陷示意图，测试结果一目了然；快速、准确的声时、波幅自动判读功能，有效保证了测试数据的可靠，极大的提高了检测速度；在无缺陷混凝土中对测穿透距离可达10米，电火花震源单次激励穿透距离大于50米；外
4、触发端口支持电火花、超磁致伸缩换能器等更多的发射源；面向用户设计的操作系统使测试过程规范划，随机分析功能满足现场数据分析的需要，界面友好、易学易用；主机直接为径向换能器供电，无需外接电源，性能可靠稳定；配备双向深度计数装置及管口导向轮，可同步记录、实时显示换能器位置，任意复测方便快捷；分析处理软件依据现行相关检测规范设计，全面支持windows操作系统，可自动生成检测报告；高可靠性工业级专用控制系统、256M存储器，高清晰、高亮度、大尺寸TFT彩色液晶屏，性能稳定可靠；标准USB接口、大容量移动存储器（U盘）；内置高能锂电，即时充电“无记忆”，满足野外长期工作需要；体积小、重量轻（约2kg），
5、携带方便。技术参数名 称技术指标名 称技术指标主控单元工业级专用系统显示方式640480高亮度TFT真彩液晶屏声时精度0.05s通道数1发射+2接收+外触发声时测度范围0629000s触发方式信号触发、外触发接收灵敏度30v自动测桩提升系统双通道自动测桩提升系统采样间隔（周期）0.05s400s，14档可调最小测点间距0.05mm放大器增益82dB测试速度1m/s（0.1m一个点）放大器带宽10kHz250 kHz单剖面最大测点数1024幅度分辨率0.39%发射电压（V）65、125、250、500、1000可选通用接口并口+USB口、支持移动存储发射脉宽20s20ms可调操作方式快捷键+光电
6、旋钮存储容量256M（CF卡）+1G（U盘）管口导向轮20.3kg，27910cm三种供电方式内置高能锂电池，连续工作达6h主机适用打印机HP及其兼容激光打印机外置接口：12V DC主机尺寸（mm）25018558100V240V、50/60Hz主机重量1.8kg（含内置电池）操作规程安装与调试1、 打开包装箱取出本仪器后，应从外观上检 放大器工作频率范围选择 在仪器内部的 2DT1 印制板上设有工作频率开关。仪器出厂时置于【2】位置，工 作放大器工作频率范围为 10-200kHz,适应混凝土构件及实际工程的检测。 当检测件较薄时， 使用探头频率高于 200kHz 时，可打开机箱盖板，将 2D
7、T1 印制板上转换开关扳向【1】位置， 这时放大器的工作频率范围为 10kHz-1MHz。2、 本仪器适用电源电压：交流 198-242V；直流 22-26V。使用时供电电压应符合规定 数值，如超过应外加稳压装置使其满足要求。在仪器后面板装有三芯交流电源插座，二芯直 流电源插座以及交直流供电转换开关。当使用交流 220V 时将转换开关拨至“AC” ，用直流 供电时开关拨至“DC” 。辉度、聚焦、显示位置调节辉度、聚焦、显示位置的调节 当仪器接上电源后，将面板上的电源开关朝上拨， “电源指示表”的指针应在红区 范围内， 稍等片刻后， 便能看到扫描基线。 其清晰度可调节 【】 聚焦旋钮， 必要时兼
8、调 【*】 辉度旋钮，适当配合使基线清晰。基线的上下左右位置，可调节【】垂直位移和【】 水平位移旋钮， 使移到最适于观察的位置。 通常， 仪器要做精密测量， 须待开机后预热 30min, 等仪器工作稳定时，才能进行测量工作。重复频率选择重复频率选择 仪器的工作频率分 100Hz 和 50Hz 两种。拨动仪器后面板【重复频率】开关，可以 选择任何一种频率。当测试材料较薄时（即穿透距离较小时） ，应取 100Hz 的重复频率。扫描宽度的调节扫描宽度的调节 扫描宽度（即扫描速度）分 20、100、300、800、2000s 五档。调节时可按探测 材料的声速和试件厚度来选定。一般来说，声速低的或试件厚
9、的材料，应选用扫描宽度大的 档位，以便在荧光屏上显示接收波形。复式时标的调节1、复式时标的调节 后面板 【时标】开关置于 【接】 位置时，荧光屏基线上可以看到长短相间的时标列， 其中，短幅度的时标每个间隔为 10s，长幅度的时标每个间隔为 100s。如图 1。当不用 复式时标时，将开关置于【断】处。接收探头直接耦合，读下时间读数 t1，然后将发射、接收探头耦合至试件两端，读下时间 读数 t2，则超声波脉冲在试件中的传播时间为 t = t1 - t2 发射电压的调节 面板上的【发射电压 V】分 0 v、200 v、500 v、1000v 三档。当检测的试件较厚 或试件材料对超声波的衰减严重时，应
10、选择较高的发射电压档；反之，可用较低的发射电压 档，在装卸发射探头或不进行测试时，应将开关旋至【0】档。2、发射 接收 当需要展宽接收波的波形时，应当减少扫描宽度，同时适当加大延迟，使接收波显 示在荧光屏上的适当位置。扫描宽度越小，波形可以展得越宽。当扫描宽度一定时，增大扫 描延迟，接收波在荧光屏上将自右向左移动，如图 3： 扫描延迟加大时 【调零】的调节 面板上的【调零】装置，是为了扣除检测过程中的“零读数”to 而设置的，扣 除方法是：当电缆长度、探头已定且 to 7.5 s 时，先将【调零】旋钮顺时针方向旋至最大，然后将发射探测灵敏度的调节探测灵敏度的调节 面板上【增益】旋钮和【衰减 d
11、B】按键是探测灵敏度的主要控制器。顺时针方向 旋转【增益】旋钮时，灵敏度增大，相反则小。按下【衰减 dB】 ，可获得一定的衰减量，其 值小时，灵敏度高，反之则低。适当调节增益和衰减，可以得到合适的波形和幅度。扫描延迟的调节1、 扫描延迟的调节 面板上的【粗调】 、 【细调】【精调】为扫描延迟旋钮， 、 顺时针方向旋转时延迟增大， 反之减少。 【粗调】【细调】【精调】总的延迟时间范围为 180-3500s，其中【精调】的 、 、 延迟范围为 10s。由于超声波发射时刻总是滞后于同步 200s，所以当【粗调】【细调】 、 、 【精调】反时针方向旋转至最小时，可以在荧光屏上显示出发射信号。 为了同时
12、在荧光屏上显示出发射和接收信号，除了应把【粗调】【细调】【精调】 、 、 反时针旋转至最小外，尚须适当加大扫描宽度，试件越大，扫描宽度也应越大，发射接收当需要展宽接收波的波形时，应当减少扫描宽度，同时适当加大延迟，使接收波显 示在荧光屏上的适当位置。扫描宽度越小，波形可以展得越宽。当扫描宽度一定时，增大扫 描延迟，接收波在荧光屏上将自右向左移动，扫描延迟加大时 【调零】的调节 面板上的【调零】装置，是为了扣除检测过程中的“零读数”to 而设置的，扣 除方法是：当电缆长度、探头已定且 to 7.5 s 时，先将【调零】旋钮顺时针方向旋至最大，然后将发射、查各旋钮、开关、螺钉是否紧固、完整 无损、
13、然后进行通电检查。2、接收探头直接耦合，读下时间读数 t1，然后将发射、接收探头耦合至试件两端，读下时间 读数 t2，则超声波脉冲在试件中的传播时间为 t = t1 - t2 发射电压的调节 面板上的【发射电压 V】分 0 v、200 v、500 v、1000v 三档。当检测的试件较厚 或试件材料对超声波的衰减严重时，应选择较高的发射电压档；反之，可用较低的发射电压档，在装卸发射探头或不进行测试时，应将开关旋至【0】档。3、 【同步输出】【接收输出】的应用 、 仪器后面板设置【同步输出】【接收输出】插座。前者提供同步输出信号，一则 、 可以在必要时外接示波器监测该机的同步系统工作是否正常， 二则当外接示波器检查仪器各 系统的信号时， 可以作为示波器的外触发同步信号， 以便使要检查的信号能稳定地显示在外 接示波器上。后者提供接收输出信号，以便必要时将该信号输给有关测量仪器，作为分析之 用。（如输给频谱分析仪，作为频谱分析之用） 。声速的测量1、 测量原理： 用黄油或其它耦合剂使探头与被测介质良好接触， 如果被测介质长 度 L 为已知，那么只要测出
