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1、影像测量系统 产品样本 No.C14007(5) CNC 影像测量系统 QUICK VISION 系列 1 以完美解析为目标推陈出新 QUICK VISION 系列 发展历程 日新月异 光栅尺生产长度基准用633nm碘分子吸收线 波长稳定的He-Ne激光装置 溯源体系 镜头的设计和生产 光学系统 川崎工厂 测量软件 QVPAK一直在不断更新完善。 使用QVPAK和各种应用软件，实现了多功能分析、高速 处理、操作简便。 控制QUICK VISION的基础软件 标配操作性能卓越的，具有先进的边缘检测能力和照明功能的软件。 对应从小型机到高精度、高效率机型的各种非接触性测量的要求。 三丰公司从20世
2、纪80年代中期开始销售以QUICK VISION系列为主要产品的CNC影像测量机，承蒙广大用户的爱戴， 销售业绩在日本国内位居榜首。 现代的测量环境要求高精度、细微化、高可视化等等，水准不断提高。 三丰公司为了满足用户高标准需求，再次更新了深受好评的QUICK VISION 系列。 高度融合了我们精心研发的 “影像测量技术” 、 “光学技术” 、 “传感技术” 、 “软件技术”的新型QUICK VISION系列，充分解 决用户的测量问题。 三丰公司在日本国内是唯一经国家认证的在长度测量的三 个领域(长度测量用激光光源、端度器和线度器)提供独家 校准服务的机构。 作为一家精密测量仪器的综合制造商
3、，三丰公司除了为用 户提供影像测量系统以外、还生产三坐标测量机、光学测 量仪、形状测量仪等可溯源至国家基准的众多测量仪器。 QUICK VISION使用的光学系统，基于三丰公司经过多年 研发的先进的光学技术。 整体视场影像平坦，反射杂光少，是理想的光学系统。 2 QUICK VISION UMAP Vision 系统 3 配备了改进的多功能传感器，实现多维 3D测量， 提供高精度、高合理化测量 接触式触发测头 Touch Trigger Probe 影像测量 Vision Measuring 结合接触式触发测头，可以实现影像测头不能测量的三维 工件侧面及任意高度的尺寸的测量。 CCD照相机通过
4、光学镜头拍摄的放大影像，可以经过影 像处理技术根据边缘检测和自动对焦进行尺寸测量。 跟踪自动对焦 TAF 激光位移传感器 Laser Probe 白光共聚焦位移传感器 CPS Probe 激光共聚焦方式的非接触位移传感器，实现了对微小段 差和曲面形状的高速非接触扫描测量。 在使用白色光源的轴线上的共焦色差的非接触型位移传 感器的系统中，通过扫描功能，可以高速测量微小阶差 和弯曲的形状。 根据测量物的高度变化， 可以连续对焦的功能。 对 起伏表面(Z轴高度方向)自动追踪模仿测量， 提高了 测量的容许量。 另外在手动测量环境下， 减少焦点 重合在一起， 减轻了测量工作人员的负担。 注)不能进行位移
5、的连续测量。 Z轴自动跟踪物镜 聚焦 工件表面 聚焦 4 WLI光学镜头 影像光学镜头 金属树脂 UMAP测头 UMAP Probe 通过滤波器进行影像边缘检测 燃料喷射喷嘴孔的形状测量 镜筒的形状测量 影像自动聚焦的高精度测量 独有的传感技术、高纵横比的极小测针， 可以进行细微部位的接触式测量。 白光干涉计 White Light Interferometer 白光干涉计的使用可以在细 微部分的表面分析、小径孔的 深度、电路板基板的线条和 空白等进行高精度3D测量。 QV分度旋转台 QV Index PFF Points From Focus QUICK VISION拍摄的不同高度的影像，通
6、过对比度信 息取得3D形状数据。 通过QV Index 使 测量物旋转，1次 调试即可以实现 多平面连续自动 测量。 5 高精度支持的本体结构和高性能自动聚焦， 实现XYZ轴上的最佳的非接触测量 FEM模拟结构分析 系列名称尺寸测量范围(mm) QV ELF202250 200200 QV Apex Hyper QV QV STREAM PLUS 302300 200200 404400 400250 606600 650250 QV ACCEL 808800 800150 101010001000150 121212501250100 151715001750100 反射照明 环形照明 透射
7、照明 工作台玻璃 QUICK VISION的特点 采用适合高精度测量的本体结构 多样化的测量范围精度规格 变化丰富的高性能照明装置 QUICK VISION 是通过CCD照相机捕捉光学镜头放大的影像后，通过电脑影像处理技术对工件进行边缘检测的非接触光学 长度测量系统。 本体部分的基本结构采用了固定桥式Y形工作台的移动式结构，是各轴移 动对结构变形影响很小的结构，不易产生空间坐标的偏移，实现高精度测 量。 QV系列汇集了从小型机、大型机及高精度规格等，丰富的机型可对应多 种多样的测量需求。 QV-PRO的垂直反射照明透射照明环形照明全部光源都采用了LED光源。 照明亮度高度统一，多台QV之间可共
8、用同一测量程序。 LED卓越的响应速度提高了测量效率。 与卤素灯系统相比寿命长，光源衰减慢，最大程度的降低了由于光亮度的变化所引起的测量偏差。 通过光学镜头放大后进行测量，可以实现对细微形状的尺寸的测量。 对轻、薄、短、小的电子半导体部件、精密加工产品、医疗器械产品等的微小工件的 测量发挥威力。 由于是非接触测量，不用担心产生对测量物的破损、变形、污染等的负面影响。 除需要保持清洁度的电子半导体部件的测量以外，还适用于树脂成型品等软物质物体、 冲压成型品等薄形工件的测量。 通过拍摄范围内的影像信息实现高速的多点测量。 影像处理技术和高速工作台控制可以进行高重复测量，最适合测量项目多的工件和大量
9、 生产产品的制造过程管理。 实现高精度非接触的高度测量 使用影像自动聚焦和非接触位移传感器，实现高精度的高度测量。 影像测量系统 接触式测量系统 透射照明反射照明环形照明 6 高性能照明支持准确的边缘检出及自动测量 自动跟踪聚焦(TAF) 程控环形照明(PRL) 随测量物高度的变化， 可连续聚焦的功能。 通过自动追踪表面的凹凸起伏、 翘曲(Z轴高低方向)， 提高了测量效率。 并且， 还可以减少手动测量时繁琐的对焦， 减轻了测量操作人员的负担。 注) 不能进行位移的连续测量 通过变更曲面反光镜的高度，环形照明的照射角度可以在3080范围内任意设定。可有效增 强倾斜面及微小段差面的边缘。 PRL可
10、单独设定前后左右的光量。可通过控制照射方向，增强需要光阴影测量的边缘。 物镜 PRL 照明 IC 组件上金属镀层的上、下厚度测量 4 象限 LED 照明装置 抛物面反射镜 环形反射镜 工件上面 物镜 可通过能够独立控制各个 光线强度的4 象限 LED 照明 装置实现均匀照明。 通过控制在 Z 轴上能独立移动的 2 种 反射镜的位置可以调整照射角度。 Top Bottom RightLeft Top Bottom RightLeft Top Bottom RightLeft Top Bottom RightLeft 激光光源半导体激光峰值波长690nm 激光安全性依照Class2 (JIS C6
11、802:2011, EN/IEC60825-1:2007) 标准 自动聚焦方式物镜同轴方式(刀口法) 适用物镜 QV-HR1xQV-SL1xQV-HR2.5xQV-SL2.5xQV-5x 跟踪范围 * 6.3mm (3.15mm) 6.3mm (3.15mm) 1mm ( 0.5mm ) 1mm ( 0.5mm ) 0.25mm (0.125mm) *进行自动跟踪聚焦时，为防止撞到工件，请务必设定软件上下限极限。 跟踪范围会因工件表面形状及反射率而不同。 Z轴自动跟踪 物镜 聚焦 工件表面 聚焦 7 程序控制电动转塔 QV的程序控制电动转塔具有卓越的倍率再现性能， 适合高精度测量。 标准规格
12、1 、 2 、 6 的组合规格。 1 、 2 、 4 的组合规格、或 1 、 2 、 4 、 6 的组合规格可接 受特殊定制。 物镜从0.5X-25X规格丰富齐全，可以选择适合被 测物的光学系统。 物镜的初次登录可以使用选件 校准片 和 补偿片 进行简单操作，也可以在以后追加购买。 PRO机型 程序控制电动 转塔 显示屏倍率*1 1529587287144173290430580720870144017304300 视场(mm) 12.549.4 6.274.7 3.132.35 2.491.86 2.091.56 1.240.93 1.040.78 0.620.47 0.410.31 0.3
13、10.23 0.250.18 0.200.15 0.120.09 0.100.07 0.040.03 物镜0.5X 物镜1X 物镜2.5X 物镜5X 物镜10X*2 物镜25X*2 *1 QVPAK Ver10以后版本显示器的大小可以变换。上表显示器倍率是使用22寸宽屏液晶显示器时等倍表示时候的参考值。 *2 物镜10倍、物镜25倍和电动转塔2X以及6X组合使用时，对于不同的测量物有时会发生照明不足的情况。 *3 PRO3机型的综合倍率相当于PRO机型的1.34倍。视场相当于0.75倍。 PPT1X 视场2.491.86mm PPT2X 视场1.240.93mm PPT6X 视场0.410.3
14、1mm QV HR2.5X PPT1X 视场6.274.70mm PPT2X 视场3.132.35mm PPT6X 视场1.040.78mm QV HR1X PPT1X 视场1.240.93mm PPT2X 视场0.620.47mm QV-5X PPT6X 视场0.200.15mm QV-HR10X PPT1X 视场0.620.47mm PPT2X 视场0.310.23mm PPT6X 视场0.100.07mm 物镜 QV用各种物镜 8 提高观察功能的彩色相机规格(PRO3机型) 为了提高观察功能而搭载彩色CCD相机的PRO3机型。 PRO3规格使用了高分辨率的3CCD相机，可保证画面内高分辨
15、力下的高精度测量。 印刷电路板 QFP组件的插脚IC组件LCD彩色滤网 树脂成型品 多功能控制盒 追求高操作性的多功能控制盒。 紧急停止开关 4 位状态显示LED 变速控制旋钮 可以应对ISO10360-7的精度保证 QUICK VISION的部分机型可以满足ISO10360-7:2011的 精度保证 精度保证项目 长度测量误差 EU,MPE 探测误差 PF2D,MPE 长度测量误差E 树脂成形品 IC组件 加工面的倒角部分 QV系列标配了高性能影像对焦，并通过影像对焦保证了精度。丰富的对焦工具可根据不同的表面性状及测量位置选择最 适合的焦点，可实现高信赖性的高度测量。高速的自动对焦速度，实现
16、了提高了综合的测量效率。 高性能多种自动对焦 表面聚焦 影像聚焦系统可用于测量各种区域 尺寸的高度。其优点在于，即使在 树脂成型表面或机械加工表面等非 常粗糙处，也不影响聚焦效果。 图案聚焦 进行图案投影的图案聚焦系统即使 在对比度很低的透明物体或镜面上 也能实现清晰聚焦，可有效测量印 刷电路板防护层或聚酰亚胺表面的 高度。 边缘聚焦 影像聚焦(边缘聚焦) 系统能够在 边缘位置准确聚焦。 多点自动聚焦 多点自动聚焦可以任意设定多个焦 点位置和大小、角度。1次的调焦 动作就能获得多个高度信息，高度 测量和平面测量都很高效。 9 QV ELF 小型CNC影像测量系统 QUICK VISION ELF QV ELF 规格 QV ELF 边缘检出能力及测量软件QVPAK的功能和性能，都毫 不逊色于高端机型QV APEX， 超越了传统小型
