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1、手机整机可靠性测试标准手机整机可靠性测试标准 目录目录 0.短语和参考文献短语和参考文献.3 0.1缩略语.3 0.2术语和定义.3 0.3参考文献.3 1.目的目的.3 2.编制依据编制依据.4 3.适用范围适用范围.4 4.术语，定义术语，定义.4 5.职责描述职责描述.4 6.可靠性测试（可靠性测试（ART）标准）标准.5 6.1加速寿命测试 （Accelerated Life Test）5 6.1.1室温下功能测试 （Functional Test）5 6.1.2跌落测试（Drop Test）.5 6.1.3温度冲击测试（Thermal Shock）5 6.1.4湿热测试（Humidi
2、ty Test）5 6.1.5振动测试（Vibration Test）6 6.1.6静电测试（ESD Test） 6 6.2气候适应性测试 （Climatic Stress Test）. 7 6.2.1室温下参数测试 （Parametric Test）. 7 6.2.2高温/低温工作测试（Parametric Test）.7 6.2.3湿热测试（Parametric Test）.错误！未定义书签。错误！未定义书签。 6.2.4高温/低温存储功能测试（Functional Test）7 6.2.5灰尘测试（Dust Test）. 8 6.2.6盐雾测试（Salt Fog Test）.8 6.3结
3、构耐久测试 （Mechanical Endurance Test）8 6.3.1侧键测试（Side Key Test） 8 6.3.2充电器插拔测试（Charger Test）8 6.3.3电池/电池盖拆装测试（Battery/Battery Cover Test）9 6.3.4耳机插拔测试 （Headset Test）9 6.3.5SD 卡/SIM 卡插拔测试（SD Card Test）9 6.3.6水滴实验（针对电容屏） 10 6.3.7喇叭寿命测试（Speaker life test）10 6.3.8马达寿命测试（Vibration durability test）. 10 6.4表面装
4、饰测试（Decorative Surface Test）.10 6.4.1外壳表面处理测试 10 6.4.2TP 表面硬度测试（TP Hardness Test）.12 6.4.3钢球冲击测试（Ball Drop Test）. 12 6.5特殊条件测试（Special Stress Test）13 6.5.1扭曲测试（Twist Test）13 6.5.2软压测试（Press Test）. 13 6.5.3硬压测试.13 6.5.4循环跌落测试（Micro-drop Test）.14 6.5.5滚筒跌落测试（Free Fall Test）14 6.6其他测试（Other Test） 14 6.
5、6.1螺母测试（Nut Test）. 14 6.6.2I/O 接口试验14 6.6.3耳机插口强力插入测试（Earphone Connector Evaluation Test）15 6.6.4保护盖（耳机塞、I/O 接口塞、RF 塞、螺丝塞等）测试15 6.6.5TP/LENS 测试（TP/Lens Test）.16 6.6.6水煮试验16 7.最终检验最终检验.17 0.短语和参考文献短语和参考文献 0.1缩略语缩略语 无 0.2术语和定义术语和定义 ART：Accelerated Reliability Test（可靠性实验） 0.3参考文献参考文献 序号文件编号日期作者文件题目 1YD
6、/T 1539-2006 中华人民共和国通信行业标准移动 通信手持机可靠性技术要求和测试方 法 2 3 4 1.目的目的 评估产品的质量和可靠性。 2.编制依据编制依据 2.1 GB/T 2421-1999电工电子产品环境试验第一部分：总则 2.2 GB/T 15844.2-1995移动通信调频无线电话机环境要求和实验方法 2.3 GB/T 15844.3-1995移动通信调频无线电话机可靠性要求及实验方法 2.4 GB/T 2423.1-2001电工电子产品环境试验第 1 部分：实验方法 试验 A：低温 2.5 GB/T 2423.1-2001电工电子产品环境试验第 2 部分：实验方法 试验
7、 B：高温 2.6 GB/T 2423.1-2001电工电子产品环境试验第 2 部分：实验方法 试验 Ed：自由跌落 2.7 GB/T 2423.10-1995电工电子产品环境试验第 2 部分：实验方法 试验 Fc 和导则：振动 2.8 GB/T 2423.3-93电工电子产品基本环境试验规程 试验 Ca：恒定湿热试验方法 2.9 信息产业部科技司- 移动电话机入网检验细则，2000 年 10 月发布 3.适用范围适用范围 适用于卓普通讯研发的所有产品及其配件。 4.术语，定义术语，定义 ART：Accelerated Reliability Test（可靠性实验）。 5.职责描述职责描述 5
8、.1 可靠性测试工程师 5.1.1 产品可靠性具体测试项目的执行、跟踪； 5.1.2 可靠性实验室的日常管理； 5.1.3 实验机器的日常维护； 5.1.4 实验室数据库的管理。 5.1.5 制定可靠性测试程序及标准； 5.1.6 定义产品可靠性测试计划； 5.1.7 可靠性测试设备的开发、维护。 5.1.8 跟踪可靠性测试报告，并跟进失效问题的分析和解决；。 5.2 项目工程师 5.2.1 提出可靠性测试的需求； 5.2.2 对可靠性测试出现的问题及时解决和反馈。 6.可靠性测试（可靠性测试（ART）标准）标准 6.1加速寿命测试加速寿命测试 （Accelerated Life Test）
9、6.1.1 室温下功能测试室温下功能测试 （Functional Test） 测试环境：室温（25C） 测试数量：10台 测试方法：将手机处于开机状态，然后在室温下进行功能检查。 检验标准：手机各项功能正常。 6.1.2跌落跌落测试测试（Drop Test） 测试条件：室温，大理石地面，2.4寸及以下的显示屏：1.2m； 2.42.8寸： 1.0m； 3.03.5： 0.8；3.5以上：0.6m 测试数量：2台 测试方法：将手机处于开机状态，进行6个面的自由跌落实验，每个面的跌落次数为1次，跌 落两个循环，跌落之后进行外观、机械和电性能检查。 手机跌落顺序如下：正面-背面-左侧-右侧-顶部-底
10、部。 检验标准：手机各项功能正常，内存无丢失，外壳无变形、破裂、掉漆，显示屏无破碎，内 部元件无脱落。 备注：电池备注：电池/电池盖脱落、掉卡（重装后可以识卡）为参考，可以不记录为问题电池盖脱落、掉卡（重装后可以识卡）为参考，可以不记录为问题 6.1.3温度冲击测试（温度冲击测试（Thermal Shock） 测试环境：低温箱：-30C ；高温箱：+70C 测试数量：2台 测试方法：将手机设置成关机状态放置于高温箱内持续60分钟后，在15秒内迅速移入低温箱 并持续60分钟，循环24次。实验结束后将样机从温度冲击箱中取出，并恢复2小时后进行外观、机械和 电性能检查。 检验标准：手机各项功能正常，
11、内存无丢失，结构及外壳无异变。 6.1.4湿热测试（湿热测试（Humidity Test） 测试环境：+60C，90%RH 测试数量：2台 测试方法：将手机处于带电池关机状态（不插卡），手机斜放45度角（一半显示屏朝上，一 半显示屏朝下）在温度实验箱内的架子上，持续48个小时之后取出，将手机放置在常温环境下恢复4小 时，然后进行外观、机械和电性能检查。 检验标准：手机各项功能正常，内存无丢失，结构及外壳无异变。 6.1.5振动测试（振动测试（Vibration Test） 测试数量：3台 测试条件：振幅：0.38mm/振频：1030Hz；振幅：0.19mm/振频：3055Hz 测试方法：将手机
12、开机放入振动箱。X、Y、Z三个轴向分别振动1个小时之后取出然后进行外 观、机械和电性能检查。 检验标准：手机各项功能正常，内存无丢失，尤其是显示屏和SPL，外壳无严重损伤（如掉 漆），内部元件无脱落。 6.1.6静电测试（静电测试（ESD Test） 测试环境：周围温度：15C35C，相对湿度：3060，大气压：86K 106KPa 测试条件：接触放电，+/-4KV，+/-6KV；手持终端 空气放电， +/-8KV，+/-10KV 测试数量：2台 测试方法： 将样机放置静电测试台的绝缘垫上，并且用充电器加电使手机处于充电状态（样机与绝缘 垫边缘距离至少 2 英寸；两个样机之间的距离也是至少 2
13、 英寸） 打开静电枪，综测仪（如果条件允许连接综测试仪进行测试，否则实网呼叫“112”或拔打 “10086”/“10010”进行测试）。手机连接综测试仪，调节放电方式，分别选择接触放电和空气放电的对应 级别，空气放电是先按住开关再让圆形枪头靠近测试位置（距离小于 3mm，但不能碰触到），松开放 电；接触放电是先让尖形枪头接触放电位置，再按开关放电。对手机指定部位放电 10 次，每测试一 次，同时手机对地放电一次。做完一个部位的测试，检查手机功能、内存、信号和灵敏度，并观察手机 在测试过程中有无死机，通信链路中断，LCD 显示异常，自动关机及其他异常现象 样机应与综测仪建立起呼叫连接的状态下进行
14、各个放电方式、级别和极性的测试，建立呼 叫时可呼“112”或拔打“10086”/“10010” 建立起呼叫。 样机放电点的定义：接触放电仅对于样机的金属部件、金属装饰件、金属材料或有金属性 能的涂层，Lens 等放电；空气放电对于样机经常被直接接触到的有缝隙的地方,如对翻盖底壳/面壳、大 小 LCD 四周、受话器、主机按键、侧键、主机底壳、耳机口&尾插口、转轴处等。空气放电前，去除所 有的塞子，如充电器耳机塞子等。 检验标准： 接触放电标准： 6KV，手机要求功能正常工作，不允许有屏闪，屏抖，黑线，横纹，竖纹，屏无显示，变 暗，变黑，重新启动，关机，通讯链路断等以及其它未描述到的现象，如出现以
15、上现象在不重新开机的 情况下可很快自我恢复则判定为通过，否则视为不通过； 空气放电标准： 10KV，手机要求能正常工作，不允许有屏闪，屏抖，黑线，横纹，竖纹，屏无显示，变 暗，变黑，重新启动，关机，通讯链路断等以及其它未描述到的现象，如出现以上现象在不重新开机的 情况下可很快自我恢复则判定为通过，否则视为不通过。 备注：静电释放位置的确定要依据产品的具体情况进行定义，并不局限于上述所列位置。备注：静电释放位置的确定要依据产品的具体情况进行定义，并不局限于上述所列位置。 6.2气候适应性测试气候适应性测试 （Climatic Stress Test） A： 一般气候性测试：一般气候性测试： 6.
16、2.1室温下参数测试室温下参数测试 （Parametric Test） 测试环境：室温 测试数量：2台 测试方法：使用参数测试仪，参照附件（1）项目列表，对所有样品进行电性能指标测试。 检验标准：所有附件（1）中电性能指标正常，功能正常。 6.2.2高温高温/低温低温工作工作测试（测试（Parametric Test） 测试环境：-20C/+55C 手持机 测试数量：2台 测试方法：将手机处于开机状态，放入温度实验箱内的架子上。分别持续4个小时之后（与环 境温度平衡），然后在此环境下进行电性能检查，检查项目见附表（1）。 检验标准：手机电性能指标满足要求，功能正常，內存无丢失，外壳无变形。 6.2.3 高温高温/低温存储功能测试（低温存储功能测试（Functional Test） 测试环境：-30C/+70C 测试数量：2台 测试方法：将手机处于关机状态，放入温度实验箱内的架子上。在高温持续24个小时后转至 低温持续24个小时后取出，并放置2小时恢复至常温，然后进行功能检查。 检验
