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1、国家工科电工电子基础教学基地 国 家 级 实 验 教 学 示 范 中 心,实验4.2 半导体器件的图测方法 P105,实验目的：,了解测量电路元件VCR特性的逐点测试方法；,学习半导体管特性图测方法的基本原理；,掌握用晶体管特性曲线求参数的方法 ；,电子技术实验基础,电子科大国家级实验教学示范中心,电子技术实验基础,电子科大国家级实验教学示范中心,电路元件的VCR特性的逐点测试方法,线性电阻元件的VCR特性：,过原点的一条直线:,I,U,电子技术实验基础,电子科大国家级实验教学示范中心,电路元件的VCR特性的逐点测试方法,半导体二极管的VCR特性：,正向特性:,I,U,反向特性:,反向击穿特性
2、,电子技术实验基础,电子科大国家级实验教学示范中心,电路元件的VCR特性的逐点测试方法,如何获得VCR特性曲线?, 描点,I,U,电子技术实验基础,电子科大国家级实验教学示范中心,BJT的共射输出特性曲线的逐点测试方法,BJT的共射输出特性曲线：,测试过程： 每固定一个iB值，改变Ec使uCE从零逐步变化到某一定值，测出一组uCEiC的值，描绘出一条iB为一固定值的iC =f（uCE）的曲线；再改变一个iB值，重复上述过程，可得到另一条曲线。以此类推，便可得到不同iB时对应的一组共发射极晶体管的输出特性曲线。,电子技术实验基础,电子科大国家级实验教学示范中心,半导体管特性图示仪：,半导体管特性
3、的图测法,是一种利用电子扫描原理，在示波管的荧光屏上直接显示半导体管特性曲线的仪器。,为了进行所谓动态测量，可用集电极扫描电压代替可调直流电源EC，用一个阶梯波电压发生器代替提供基极电流的可调直流电源Eb，得到如下图所示的动态测量系统。,动态测量系统：,用集电极扫描电压代替可调直流电源EC，用一个阶梯波电压发生器代替提供基极电流的可调直流电源Eb。,电子技术实验基础,电子科大国家级实验教学示范中心,电子技术实验基础,电子科大国家级实验教学示范中心,图示仪原理框图：,半导体管特性的图测法,电子技术实验基础,电子科大国家级实验教学示范中心,测试台部分,Y轴作用部分 X轴作用部分,阶梯信号部分,集电
4、极扫描信号部分,图示仪面板主要有:,测试台部分,阶梯信号部分,集电极扫描信号部分,Y轴作用部分 X轴作用部分,电子技术实验基础,电子科大国家级实验教学示范中心,现代电子技术实验,实验内容,电子技术实验基础,电子科大国家实验教学示范中心,1 测量线性电阻的VCR特性,选择一个线性电阻插入插座中，在电阻两端逐渐增加电压至5V，观察波形。根据波形，绘出该电阻的特性曲线。 注：测试时功耗电阻置于1k,2 测量稳压二极管的正向特性和反向特性,在同一座标上绘出二极管正反向特性曲线。并测试出以下参数： （a）正向导通（门槛）电压。 （b）反向稳定电压Vz（IR=5mA时）。 （c）反向电流IR（VR =5V
5、时）。,电子技术实验基础,电子科大国家实验教学示范中心,实验内容,3 测量晶体管的输出特性,（a）调节图示仪有关控制件，测绘输出特性曲线。 （b）在曲线上标出饱和区、截止区和放大区。 （c）设VCE =5V，适当选择和记录IBQ，测量 、 。,iC,IC,IC,VCE =5V,4测量三极管的输出特性,电子技术实验基础,电子科大国家实验教学示范中心,现代电子技术实验,下次预习,实验7.1 单管放大器的研究与测试 （P167）,教材7.2晶体管放大电路实验分析 P157 模拟电路基础的 3.2、 3.3 节 P61P80 教材实验7.1 P145,思考： 1. 在BJT放大电路中，直流电源的作用是什么？ 2. 放大器主要技术指标有哪些？它们的物理意义？ 3. 试着自拟放大器技术指标的实验测试方案？,电子技术实验基础,电子科大国家实验教学示范中心,
