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1、TS16949程序文件应用测量系统分析程序1目的和范围为控制与测量系统变差有关的因素的稳定性和正确性，了解变差的来源，减少或避免系统本身不必要的变差，提高测量数据的质量，确保测量系统满足规定的要求。本程序适用于公司所有测量系统的分析与管理。2 术语2.1 测量系统：用来对被测特性赋值的操作、程序、量具、设备、软件以及操作人员的集合；用来获得测量结果的整个过程。2.2重复性：是指由一个评价人，采用一种测量仪器，多次测量同一零件的同一特性时获得的测量值变差。2.3再现性：是由不同的评价人，采用相同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差。2.4稳定性：是测量系统在某持续时间内测量同一基
2、准或零件的单一特性时获得的测量值总变差。2.5 偏倚：测量结果的观测平均值与基准值的差值。2.6 线性：线性是在量具预期的工作量程内，偏倚值的差值。2.7零件变差：测量过程中各零件测量平均值的变差。3 职责3.1技术质量部负责实施测量系统分析和报告。3.2生产采购部负责配合测量系统分析工作。4 工作程序4.1 计量型测量系统操作程序对计量型测量系统的五性展开分析，具体操作程序为：4.1.1偏倚法：1）运用时机: A 生产线本仪器仅供固定的一个人使用； B 本仪器可自动测量。2）特点:简单,测量范围小, 未能考虑到人的因素.故适用于人的因素影响甚微的测量系统；3）可接受判定: 是否10%4）如果
3、偏倚较大,从以下方面查找原因: A 基准的误差;B 磨损的零件; C 制造的仪器尺寸不对;D 仪器测量了错误的特性; E 仪器校准不当 F 使用仪器不当5）分析步骤：4.1.2线性法：1） 运用时机: A、生产线本仪器仅供固定的一个人使用，测量对象为同一产品族的产品； B、 本仪器可自动测量，测量对象为同一产品族的产品；2）特点: 适合对同一产品族、人员不发生变更的测量系统；3）可接受判定: 是否10%4）如果数值较大,从以下方面查找原因: A 上限和下限内仪器未正确校准;B 最小或最大值校准量具的误差; C磨损的量具;D 仪器固有的设计特性；5）分析步骤：4.1.3稳定性法：1）运用时机:
4、适合对受时间影响大的测量系统;2）可接受判定: 是否10% 3）如果数值较大,从以下方面查找原因: A 环境影响大；B 磨损的量具;4）分析步骤：4.1.4重复性和再现性分析法：1）运用时机: 适用性最广;2） 可接受判定: 是否RR30%3） 如果数值较大,从以下方面查找原因: A、 查找占总变差最大的因素;B 分析该因素中的主要影响者; C 降低该影响; D 直至使变差降低至可以接受的范围内；4）分析步骤：4.1.5计数型测量系统的小样法：1)可接受判定: 任何一种不一致的测量结果都将被认为是失效的，该测量系统仍不可以接受。2)如果数值不理想, 从以下方面查找原因: A 测量者的资格和能力
5、；B 零件一致性；C 测量方法的一致性；3) 分析步骤：4.2测量系统分析的时机4.2.1控制计划中涉及到的测量系统须做MSA分析。4.2.2当影响测量系统变差的因素（人员、量具、方法和环境）发生较大变化时，应重新做测量系统分析。4.3测量系统分析的准备4.3.1按控制计划中所提及的测量系统，技术质量部制定测量系统分析计划。规划测量系统的研究对象、方法、内容、进度要求及人员等。4.3.2技术质量部选择的评价人应从检验员和日常操作该量具的人中挑选。4.3.3被测零件应代表整个过程的变差，并随机编号。4.3.4测量时应采用标准的盲测，并且测量方法、步骤应一致。4.4当测量系统综合分析的结果不能满足规定要求时，由公司办公室组织通过人员培训、调整检测设备、改善测试环境等方法予以改进，使之达到要求。4.5对于测量范围较大、使用中需对各种规格、尺寸、性能进行测量、试验的器具或设备，除了做稳定性、重复性、再现性外，还应做偏倚性和线性分析。4.6技术质量部负责编写测量系统分析报告，并传递相关部门。5相关记录Q/DM71501 测量系统分析计划Q/DM71502 测量系统分析报告
