ICT教程

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1、Goodix测试培训内容提要,主要内容:GT80X互电容检测基本原理 GT80X互电容测试硬体平台 影响触摸屏性能的关键参数 基于数据的常见问题判断,1.GT80X互电容检测原理,检测原理示意图,ITO图形结构示意图,基本原理:1、驱动电极和感应电极点间存在耦合电容,这个电容称为互电容C,通常为2pf左右。2、GT80X有15条驱动,10条感应,因此共有150个结点参与软件运算。3、每个结点通过ITO图形连接至感应通道,因此每个结点与感应通道间存在阻抗R。4、GT80X驱动电极按串行方式逐一产生激励信号。5、某一驱动产生激励信号时,10条感应线所对应的电路同时对各自的耦合信号进行积分、AD转换

2、。,1.GT80X互电容检测原理,2.GT80X互电容测试软件及硬件环境要求,Microsoft Windows XP 操作系统 USB 接口支持 2.0 标准,供电能力不小于 500mA, 纹波不大于 100mV GuitarTestPlatform 3.0 测试软件 DBG-00 , DBG-01 测试板 测试板与电容触摸屏之间的转接板 电脑接地良好 显示器分辨率要求:长边 800 ,短边 720,2.GT80X互电容测试硬体平台DBG-00,测试版正常工作时,灯亮为绿色,供电,PC与测试板数据通信,复位操作,固件升级接口,来料ITO阻抗测试接口,进行固件升级时,须将该接口短路,然后复位测

3、试,2.GT80X互电容测试硬体平台DBG-01,1、灯亮表示软件运行正常, 2、灯灭表示软件未运行或运行有问题, 3、灯闪烁表示模组接口处存在短路,Sensor测试,模组测试,3.影响触摸屏性能的关键参数,RC常数R:结点至感应通道的阻抗。C:结点处的互电容。1、RC常数直接影响到IC内部积分电路的积分曲线,当RC常数越小,积分时间宽度越小,RC常数越大,积分时间宽度越大。2、RC常数在最佳范围内,如1.5us以内,各结点检测数据将不会有明显的差异(假设ITO膜是完全均匀,走线阻抗一致)。经验表明:GT80X在支持5inch以下的触摸屏时(film工艺或玻璃工艺),各结点数据不会有明显的差异

4、,150个点数据一致性很好。3、当RC超出最佳范围时,数据将会沿感应线方向均匀递减(R增大方向)。经验表明,支持至5inch以上触摸屏,可能会出现沿感应线方向数据递减(从近压合点向远离压合点数据均匀递减)。4、当RC超出最佳范围时,可以通过软件微调积分电路的时间窗口,使得数据递减特性减弱,整屏数据基本接近,达到最佳范围。经验表明,此调整并不是无限制可调,GT801(高压制程)单芯片最大可支持7inch触摸屏(film和玻璃工艺均可,且可采用单侧走线)。,走线阻抗1、正常情况下,所有通道金属走线部分阻抗应该十分接近,但实际上,由于氧化、蚀刻不良等原因经常造成阻抗成倍增大。2、由RC常数一节知道,

5、感应线的R增大(使得RC超过最佳范围)会导致数据递减,因此若感应通道走线部分阻抗过大,会使得整条感应线对应的数据比其它感应线整体偏小。3、驱动线阻抗偏大,会明显导致激励信号传送至ITO图形上的幅度减弱(因为ITO图形的阻抗较小),因此若驱动通道走线部分阻抗过大,会使得整条驱动对应的数据比其它驱动对应的数据偏小。 悬浮块1、感应面存在很多悬浮块,其有两个主要功能:a、使得激励信号的电场更加均匀,使得触摸屏灵敏度具有各向同性;b、对应驱动缝隙处加一个整体悬浮块可改善视觉效果。2、悬浮块与感应线短路,会导致结点处C增大,因此会造成局部结点数据明显偏大(一般为几百点)。 总结1、理论上讲,触摸屏材料均

6、匀性很好,工艺控制一致性好,生产出来模组150个点上的数据应该是完全一致的,没有离散性。2、事实上,材料、工艺或多或少的存在差异,因此触摸屏模组数据总会存在离散性。一般来讲,质量较好的厂家生产出的模组离散性只有2300个点的差异。,3.影响触摸屏性能的关键参数,4.基于数据的常见问题判断,Sensor或模组的数据样式,上述表格为10X15,因此行的方向对应10条感应线,列对应15条驱动线。每一个单元格对应一个结点的采样数据,该结点为表格上行列所在的感应与驱动相交而成。因此:同一行上数据表示该感应线在不同驱动产生激励信号时采样到的信号;同一列上数据表示该驱动产生激励信号时,各感应线上采样到的信号

7、。,4.基于数据的常见问题判断,RC常数在最佳范围内的正常样品,数据特征如下:1、整屏数据离散性较小,只有2300个点差异。2、无论是同一行还是同一列,数据差异性均较小。,4.基于数据的常见问题判断,RC常数超出最佳范围内的正常样品,数据特点:1、同一驱动与不同感应形成的结点(即列方向)采样数据接近,这是由于驱动ITO图案宽,阻抗小,激励信号基本无衰减;另外同一驱动与不同感应形成的结点RC常数接近。2、同一感应与不同驱动所形成的结点(即行方向),采样数据呈匀速递减,这主要是由于远离感应压合点处的结点RC增大,导致数据衰减。3、特点2的现象反馈给给IC厂商,以便技术人员调整配置信息。(当然这个调

8、整不是无限的),4.基于数据的常见问题判断,问题一:驱动开路 数据特征如下:1、列方向(即同一根驱动)对应的数据不稳定,一般较小(只有几个点至几十个点不等),但也有可能个别值较大(如1023,2047,3047等),一般这些较大的值会在较大值和较小值间跳动。2、一般与其相邻的两列(相邻的两根驱动)数据明显偏大。3、请用万用表检测,以进行确认是IC焊接开路、压合开路还是走线划伤。,4.基于数据的常见问题判断,问题2:驱动与驱动或地短路 数据特征:驱动与驱动或地短路的数据特征同驱动开路的数据特征类似,因此仅凭数据无法确定到底是哪一种故障,请用万用表检测以确定。从实际经验来看,开路的情况要多于短路的

9、情况。,4.基于数据的常见问题判断,问题3:驱动走线阻抗过大或“虚压接”数据特征:1、列方向(即同一根驱动对应的数据)数值整体偏小,一般为几百个点或明显比其它驱动少几百个点。2、请用万用表或阻抗测试工具测试走线阻抗或各个驱动的阻抗。3、通常阻抗过大的原因是由于走线被严重氧化,或走线有划伤、压接阻抗过大引起。,4.基于数据的常见问题判断,问题4:驱动ITO图形损伤数据特征:1、当发生断裂性的划伤,列方向(同一根驱动方向)数据有部分正常,而从某个点以后就全都不正常(明显偏小或几乎没有)。2、可能的原因为驱动划伤或ITO图形蚀刻不良,导致驱动ITO图形损伤。3、请在显微镜下观察,以确定问题。,问题5

10、:感应通道开路数据特征:1、行方向(同一条感应线对应的数据)数据很小(为3,5等)或较大数据(如1026,1024,2047等),且多数数据相同。2、可能是由于IC焊接不良、压合开路、走线被划伤等原因造成,请用万用表分段检测确定。,4.基于数据的常见问题判断,问题6:感应通道与感应通道或地短路感应通道与感应通道短路的可能性较小,由于物理上两者相距较远,但有可能走线短路或压合导致短路。感应与感应短路从数据上不能反映出来,但可以通过画线或阻抗测试工具测试出来。感应通道与地短路数据特征:数据特征与感应同开路类似,因此要确定具体原因需用万用表检测。问题7:感应线与悬浮块短路 数据特征: 1、局部数据明

11、显比其它地方大,呈突变状态。 2、产生的原因可能是悬浮块与感应线短路,相当于增大了该区域感应线的面积, 使得结点电容增大。 3、这种问题会导致局部线性变差。 4、请在显微镜下观测,以确定原因。,4.基于数据的常见问题判断,4.基于数据的常见问题判断,问题8:感应线阻抗偏大或感应压接阻抗偏大数据特征:1、行方向(一根感应线对应不同驱动的结点数据)数据整体明显偏小,阻抗越大值越小。2、用万用表等阻抗测试工具进行测试确认。,4.基于数据的常见问题判断,4.基于数据的常见问题判断,问题9:感应通道IT0划伤 数据特征: 1、行方向(即感应通道与不同驱动的结点)有部分数据正常,而从某个点开始,数据突然变小成几个点、几十个点或变为固定值(1026、2047等)。 2、引起此问题的原因是感应通道ITO图形有划伤,请用万用表检测确认。,4.基于数据的常见问题判断,问题10:局部ITO有损伤数据特征:1、局部数据明显偏小,或孤立点数据明显偏小。2、可能是驱动ITO有损伤(如蚀刻不良),导致该位置电场削弱;也可能是感应面悬浮块 有损伤(如蚀刻不良造成),导致该位置电场削弱。3、这种故障会导致局部线性不好。4、要确定具体原因,请在显微镜下观测。,谢谢,

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