热分析,dsc,tga

上传人:wt****50 文档编号:51010881 上传时间:2018-08-12 格式:PPT 页数:35 大小:158.50KB
返回 下载 相关 举报
热分析,dsc,tga_第1页
第1页 / 共35页
热分析,dsc,tga_第2页
第2页 / 共35页
热分析,dsc,tga_第3页
第3页 / 共35页
热分析,dsc,tga_第4页
第4页 / 共35页
热分析,dsc,tga_第5页
第5页 / 共35页
点击查看更多>>
资源描述

《热分析,dsc,tga》由会员分享,可在线阅读,更多相关《热分析,dsc,tga(35页珍藏版)》请在金锄头文库上搜索。

1、第二章 热分析 2.1 概述一 定义国际热分析协会(简称ICTAC)的命名委 员会于1977年给的定义是:热分析是在程序温 度控制下测量物质的物理性质与温度关系的一 类技术。定义中的程序控制温度是指按照某种 规律加热或冷却,通常是线性升温或线性降温 。定义中的物质包括原始试样和在测量过程中 由化学变化生产的中间产物及最终产物。l二 热分析技术的分类l 我们主要讨论测定的物理量是质量 时的热重法(TG)及微商热重法(DTG) 、测定物理量是温度时的差热分析法 (DTA)和测定物理量是焓(热量)时的差 示扫描量热法(DSC),DSC法由两种,一 种是功率补偿型DSC,另一种是热流型 DSC。 l三

2、 热分析的主要用途2.2差热分析法 (DTA)和差示扫 描量热法(DSC) 分析 l1 差热分析的定义l差热分析法 (DTA)是在程序控制温度 下测量物质(S)与参比物(R)之间温 度差与温度关系的一种技术。l 这种技术用数学表达式表示为:T=TS-TR=f(T或t)l lDTA曲线以温度为横 坐标,从左到右逐渐 增加;以温度差为纵 坐标,向上表示放热 ,向下表示吸热。l图示如右:l2 DTA的测定原理l测定原理:概括的讲,当被测试样与惰性 参比物,在相同条件下受热,用线性程序温度 控制,一定速度使其升温,如果试样在升温中 没有热焓的变化,则试样与惰性参比物温度相 等,即两者温差T=TS-TR

3、=0;如果试样随温度 升高,发生了玻璃化转变、结晶、熔融、氧化 、交联、降解等物理和化学变化,则在某一温 度下产生一定的热效应,即吸收或放出热量使 试样与惰性参比物温度不同,两者温差T=TS- TR 0,差热分析就是测定试样与惰性参比物之 间温差T随温度T的变化,从而得到“差热曲线 ”。l具体的讲,DTA 基本原理图如右 图所示:R-参比物 S-试样 l3 DTA的仪器组成主要由三大部分组成(对照刚才的基 本原理图):l被测物质的物理性质检测装置部分,也 称主体部分;l温度程序控制装置部分;l显示记录装置部分;l此外,还有气氛控制和数据处理装置部分 l4 DTA的定量分析经验公式:H=KAl式

4、中:A峰面积;K校正系数(传热 系数);H反应热效应lA的求法:l数格子数l求积仪l微机处理TTl 在DTA分析中,由于K与样品支持器 的几何形状及热传导率有关,可以用已 知热效应H0的标准物质来校正,而求出 K值。二 DSC的测试原理与仪器组成 l1 DSC的定义:差示扫描量热法(Differential Scanning Calorimetry,简称DSC)的定义是在程序 控制温度下测量输给物质与参比物的 功率差与温度关系的一种技术。根据所 用测量方法的不同这种技术又可分为 功率补偿差示扫描量热法(功率补偿DSC) 和热流型差示扫描量热法(热流型DSC)。l l这种技术用数学表达 式表示为

5、:dH/dt=f(T或t)lDTA曲线也以温度或 时间为横坐标,从左 到右逐渐增加;以热 流率dH/dt为纵坐标 (dH/dt是单位时间 内试样的热焓变化) 。向上表示吸热,向 下表示放热。图示如右:l2 DSC的基本原理在前面介绍的DTA有两个缺点:一,试样 在产生热效应时,升温速率是非线性的,从而 使校正系数K值变化,难以进行定量分析;二 ,试样产生热效应时,由于与参比物、环境的 温度有较大差异,因而三者之间会发生热交换 ,这样就降低了对热效应测量的灵敏度和精确 度,由于这两个缺点,使得DTA技术难以进行 定量分析工作,只能进行定性或半定量分析工 作。为了克服DTA的缺点,发展了差示 扫描

6、量热法,即DSC。该法由于对试样 产生的热效应能及时得到应有的补偿, 使得试样与参比物之间无温差、无热交 换;而且试样升温速率始终跟随炉温线 性升温保证了校正系数k值恒定。因此 ,不仅对测量灵敏度和精度都大有提高 、而且也能进行热量的定量分析工作。l与DTA相比,功率补偿 型DSC多一个功率补偿 单元和在坩埚底下多一 个补偿加热丝。l功率补偿型DSC原理图 (外加热 )如右图所示l3 DSC的仪器组成DSC在仪器结构组成上与差热分析 非常相似,常见的外加热式功率补偿型 DSC与DTA的主要区别是前者在试样S侧 和参比物R侧下面分别增加一个功率补偿 加热丝(或称加热器),对照功率补偿 型DSC原

7、理图(外加热),此外,还增 加一个功率补偿放大器。4 DSC(DTA)使用中注意的要点l取样方面l试样的纯度l水分干扰影2.3 影响DTA和DSC曲线的因素 总的来说,有三大因素:l一、是仪器方面的因素l二、是操作条件的影响l三、是试样方面的因素 l一 是仪器方面的因素l1 样品支持器样品支持器对热量从热源向样品传递 及对发生变化的试样内释出或吸收热量 的速率和温度分布都有着明显的影响。 所以样品支持器是与DTA曲线的形状、 峰面积的大小和位置等直接有关的因素 之一。l2 热电偶位置及其形状对DTA曲线峰形、峰面积及峰在温度 轴上的位置、影响最大的是热电偶的接 点位置、类型和大小。l3 试样容

8、器皿影响试样容器皿的材料、大小、重量和几 何形状以及使用后遗留的残余物的清洗 程度,对DTA(DSC)曲线都会有影响。l4 电子仪器的工作状态的影响影响最大的是仪器低能级微伏直流 放大器的抗干扰能力、稳定性和对信号 的响应能力等。l二 是操作条件的影响l1 升温速率的影响在线性升温时,较快 的升温速率通常导致TP ( 峰顶温度)向高温移动和 峰幅增大,如右图所示:l2 气氛的影响当试样的变化过程 中有气体释出或能与气氛 组分作用时,气氛对差热 曲线的影响就特别显著。l例:气氛对SrCO3热分解 的影响图如右图所示: l 3 灵敏度、走纸速度的影响DTA或DSC的灵敏度是指记录仪的满 刻度量程范

9、围。改变灵敏度,就是改变 放大倍数,相当于放大或缩小DTA( DSC)曲线的纵坐标刻度,使峰形增高 或减低。改变走纸速度,实际上相当于放大或 缩小DTA(DSC)曲线的横坐标刻度, 使峰形变宽或变窄。但灵敏度和走纸速度均与试样本质变 化没有任何联系,只与信号检测和记录 方式有关。l三 是试样方面的因素l1 试样量的影响一般而言,试样量增加,峰面积增 加,分辨率下降,并使基线偏离零线的 程度增加。l2 试样的粒度、形状的影响粒度对DTA曲线的影响主要是物理 变化和熔化以及反应动力学因素。一般 试样粒度对差热曲线的影响服从以下基 本规律:有气体参加的反应,粒度减小,反应 速率将因表面和活性点的增加

10、而加快,峰 温则随之降低粒度改变也可因影响反 应(或产物)气体的扩散阻力和粒子间的气 体浓度而使峰形和峰温改变。 般是, 装填粒度小的试样常不利于气体扩散,从 而易使峰形扩张和峰温向高温方向移动。粉碎试样过程中试样晶体可能会发 生结晶度下降和缺陷增多、至使试样内能 增加,峰温向低温移动和峰面积减小。 般认为、当粒度小于1m时,应考虑这种 影响。相对而言,大容重样品和紧密装填 的试样有较好的导热性,试样内的温度 梯度也较小。对于高温区的差热峰因热 幅射是传热的主要途径,所以受试样粒 度的影响也就不太显著。几何形状影响:大块粒状的使峰形 扩张,扁平状的峰形尖锐。 l3 样品装填方式的影响DTA(D

11、SC)曲线峰面积与样品的 热传导率成反比;而样品的热传导率又 依赖于样品颗粒大小的分布和样品填装 的疏密,即与接触的程度有关。对于无 机样品可以事先研磨,过筛;对于高分 子样品要尽力作到均匀。l4 试样结晶度的影响结晶度增加会大大影响熔融峰的大 小(使熔融峰变小)。l5 参比物和稀释剂的影响作为参比物的条件是在实验的温度 范围内是热惰性的。稀释剂是某种惰性 物质。所谓稀释通常就是把参比物以某 种方式加入到试样中。在使用稀释剂时 一定要注意是否与试样起反应,最好先 作一个不稀释的DTA(DSC)曲线以资 对照。2.4 热重法(TG)和微商热 重法(DTG) l一 热重法和微商热重法定义热重法(T

12、G)是在程序控制温度下 ,测量物质的质量与温度关系的一种技 术。用数学表达式为:wf(T或t)式中:W为物质重量,T为温度,t为时 间。 l由TG试验获得的曲线, 称热重曲线(TG曲线) ,如右图所示:它是以重量为纵坐标 (由上到下质量减少), 以温度(或时间)为横坐 标(由左到右增加)。l 微商热重法(DTG) 是将热重法得到的热重曲 线对时间或温度一阶微商 的方法。即由热重分析测 量热重曲线失重变化率随 温度或时间变化关系。记 录的曲线为微商热重曲线 ,简称DTG曲线,如下所 示: l二 TG和DTG的测试原理及仪器组成由上述TG(DTG)定义,可知其简单 原理。粗略的说:热重分析技术就是把 物质放在炉子里进行加热称量的技术。 也可在降温下称量。能够进行这种测量 的仪器就是热天平。即其测试原理是将 试样在真空或其它气氛中加热,并在加 热过程中连续称取试样的重量。从结构组成,此种技术同样由三部 分组成:(1)程序控制温度装置,(2)称量 天平,(3)记录显示装置。(1)和(3)是热分 析技术中共性部分。这里主要讨论第二 部分即热天平。因此其基本原理也即热 天平的原理。 上皿式零位型热天平的结构图 现以较常见的试样皿位于称量机构上面的(即上皿式)零位型天 平(见下图)为例来进一步说明热天平的工作原理。

展开阅读全文
相关资源
正为您匹配相似的精品文档
相关搜索

最新文档


当前位置:首页 > 生活休闲 > 社会民生

电脑版 |金锄头文库版权所有
经营许可证:蜀ICP备13022795号 | 川公网安备 51140202000112号