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1、原子荧光光谱与X射线 荧光光谱分析Atomic Fluorescence and X ray Fluorescence Spectrometry原子荧光分析原理 原子荧光的产生气态的自由原子吸收特征波长的光辐射 后，原子外层电子从基态或低能态跃迁到高能态，约在10-8秒内，又跃迁回到基 态或低能态，同时以光的形式放出能量 ，此现象称为原子荧光。原子荧光分析原理 原子荧光的类型1、共振荧光原子发射的荧光的波长与其吸收光的波长相同。原子荧光分析原理 原子荧光的类型2、非共振荧光荧光波长与激发光的波长不同。非共振荧光又可分为：原子荧光分析原理 A. 直跃荧光 激发态的原子直接回到基态或高于基态的亚
2、稳态时所发射的荧光。原子荧光分析原理 B. 阶跃荧光 激发态的原子线已非辐射的方式失去部 分能量降到较低能量的激发态，然后去 激发产生荧光。原子荧光分析原理原子荧光分析原理 3、敏化荧光处于激发态的原子不直接产生荧光，而是通过与另一原子发生碰撞，自身去激发，同时，使被碰撞的原子激发 ，并发出荧光。 4、多光子荧光两个以上的光子使原子成为激发态，然后再发射荧光。原子荧光分析原理激光制冷与原子钟精度 斯托克斯直线跃迁Pb 283.3 504.8(nm) 反斯托克斯直线跃迁In 451.1 410.2(nm)固体材料激光制冷原子荧光分析原理 在分析中，共振荧光应用最多，其次是 非共振荧光。 共振荧光
3、的强度大，灵敏度高，但自吸 严重，线性范围较窄。 非共振荧光易克服激发光散射及自吸现 象，线性范围宽。X射线荧光分析原理 X射线照射物质时，将产生散射（弹性 和非弹性）和吸收现象。照射物质的X射 线称为初级X射线；吸收X射线后再次发 射出的X射线称为次级X射线，即荧光X 射线。荧光X射线的波长取决于吸收初级 X射线的元素的原子的内层结构。因此， 根据次级X射线的波长可进行元素的定性 分析；次级X射线的强度元素的含量有关 ，X射线荧光分析原理确定次级X射线的强度与原子浓度之间的关系 ，即可进行定量分析。 特征谱线的产生初级X射线照射试样，样品中的原子的内层电 子吸收初级X射线的能量，同时自身被逐
4、出至 原子外壳层，并在其原壳层留下空位。当较外 层的电子跃迁回到该空位，将辐射出一定频率 （能量）的特征谱线。特征谱线的频率决定与 参与跃迁的两能级间的能量差，= E/h。X射线荧光分析原理 谱线的强度与电子跃迁始态的内量子数 有关.内量子数较大的支能级所包含的电 子轨道数多，则谱线的强度比较大。如K1谱线是电子从L(J=3/2)跃迁到K层 所产生的谱线， K2是电子从 L(J=1/2)跃迁到K层所产生的谱线。但 L只能容纳两个电子（2J+1 = 2),而 L可容纳四个电子（2J+1 = 4)。X射线荧光分析原理 故电子从L支能级跃迁到K层的几率是从L 跃迁到K层的两倍，所以， K1和 K2的
5、强度比 是 2:1。显然，在同一谱线系中，各谱线强度 比是确定的，其中，系谱线的强度仅次于系 。 特征X射线谱（荧光X射线谱）来自原子的内 层电子跃迁，与元素的化学状态无关，是各种 元素所固有的，它与元素的原子序数有关。X射线荧光分析原理 H.G.Moseley详细研究各元素特征X射线 谱波长与原子序数Z的关系，发现如下 关系： =1/(Z-S)2k2k，S为常数。显然，只有测出特征X射线 谱的波长，即可求出产生该射线的元素 。X射线荧光分析原理 X射线荧光分析的特点1、分析迅速，从放置样品，到打印出结果仅需几分钟。2、样品前处理简单，固体、液体样品都可以直接测定而无需溶样，如陶瓷、矿物及煤渣等。3、可分析元素范围广，从4Be92U的所有元素皆可直接测定。且不破坏样品。X射线荧光分析原理4、线性范围宽，同一实验条件下，从几个ppm 100%都能分析。5、谱线简单，光谱干扰少。6、可对多层镀膜的各层镀膜分别进行成分和膜厚分析。
