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1、实验四连续系统串联校正一、实验目的1. 加深理解串联校正装置对系统动态性能的校正作用。2. 对给定系统进行串联校正设计，并通过模拟实验检验设计的正确性。二、实验仪器1EL-AT-II型自动控制系统实验箱一台2计算机一台三、实验内容1串联超前校正（1）系统模拟电路图如图4-1 ，图中开关S断开对应未校情况，接通对应超前校正。图 4-1 超前校正电路图（2）系统结构图如图4-2 图 4-2 超前校正系统结构图图中 Gc1（s）=2 2（0.055s+1 ）Gc2（ s）= 0.005s+1 2 串联滞后校正（1）模拟电路图如图4-3 ，开关 s 断开对应未校状态，接通对应滞后校正。图 4-3 滞后
2、校正模拟电路图（2）系统结构图示如图4-4 图 4-4 滞后系统结构图图中 Gc1(s）=10 10（ s+1）Gc2（s）= 11s+1 四、实验步骤1. 启动计算机，在桌面双击图标 自动控制理论 运行软件。2. 测试计算机与实验箱的通信是否正常, 通信正常继续。如通信不正常查找原因使通信正常后才可以继续进行实验。超前校正：3. 连接被测量典型环节的模拟电路( 图 4-1) 。 电路的输入U1接 A/D、 D/A 卡的 DA1输出，电路的输出U2接 A/D、 D/A 卡的 AD1输入。检查无误后接通电源。4. 开关 s 放在断开位置。5. 选中 实验课题连续系统串联校正超前校正 菜单项 ,
3、鼠标单击将弹出参数设置窗口。 系统加入阶跃信号。参数设置完成后鼠标单击确认测量系统阶跃响应，并记录超调量p 和调节时间ts 。6. 开关 s 接通，重复步骤5, 将两次所测的波形进行比较。并将测量结果记入下表1 中：滞后校正：7. 连接被测量典型环节的模拟电路( 图 4-3) 。 电路的输入U1接 A/D、 D/A 卡的 DA1输出，电路的输出U2接 A/D、 D/A 卡的 AD1输入。检查无误后接通电源。8. 开关 s 放在断开位置。9. 选中 实验课题连续系统串联校正滞后校正 菜单项 , 鼠标单击将弹出参数设置窗口。 系统加入阶跃信号。参数设置完成后鼠标单击确认测量系统阶跃响应，并记录超调量p 和调节时间ts 。10. 开关 s 接通，重复步骤9, 将两次所测的波形进行比较。并将测量结果记入下表2中：五、实验结果及分析1.将实验中测得的曲线、数据及理论计算值，整理列表。表格 1超前校正系统指标校正前校正后阶跃响应曲线% Tp（秒）Ts（秒）表格 2滞后校正系统指标校正前校正后阶跃响应曲线% Tp（秒）Ts（秒）2、实验分析（比较校正前后系统的阶跃响应曲线及性能指标，说明校正装置的作用。）六、实验心得
