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1、材料分析测试方法 A课程教学大纲课程英文名称：Materials Analysis Techniques (A)课程编号：113990090课程类别：专业课课程性质：必修课学 分：4学 时：64（其中：讲课学时：48 实验学时：16 上机学时: ）适用专业：材料物理开课部门：材料科学与工程学院一、课程教学目的和课程性质材料分析测试方法（A）是为材料物理本科专业学生开设的专业必修课之一。材料分析测试方法是关于材料成分、结构、微观形貌、缺陷等方面的现代分析测试技术及其有关理论基础的科学。现代分析测试方法在材料生产过程中原材料的检测、产品质量监控以及新材料的研究与开发等方面具有重要的作用，它们既是材
2、料分析测试的手段，也是材料科学研究必不可少的方法，是材料物理专业学生必备的专业知识之一。通过本课程的教学，使学生系统地了解材料现代主要分析测试方法的基本原理、仪器设备、样品制备及应用，掌握常见分析测试技术所获信息的解释和分析方法，使学生能够独立（或与专业分析测试人员一起）拟定材料分析测试方案，进行材料分析和研究工作，为学生毕业后从事材料生产、检测、研发以及进一步深造打下良好的基础。本课程的总体要求是，学生通过本课程的学习，能够：1掌握电磁辐射、电子束和离子束等探针信号与物质的相互作用所产生的信息及根据这些信息建立的分析测试方法；2掌握 X 射线衍射分析、电子衍射分析、透射电子显微分析、扫描电子
3、显微分析、电子探针显微分析、紫外可见吸收光谱分析、红外吸收光谱分析和热分析的基本原理、仪器设备、样品制备、主要功能、测试结果的分析方法和应用；3熟悉俄歇电子能谱分析、X 射线光电子能谱分析的基本原理、仪器设备、样品制备、主要功能和应用；4了解紫外光电子能谱分析、拉曼光谱分析、扫描探针显微分析、原子吸收光谱分析、原子发射光谱分析、原子荧光光谱分析、分子荧光光谱分析、核磁共振谱分析、穆斯堡尔谱分析、X 射线荧光光谱分析、电子自旋共振谱分析、场离子显微分析、原子力显微分析、质谱和二次离子质谱分析等方法的基本原理、主要功能和应用。二、本课程与相关课程的关系前修课程：高等数学、大学物理、无机及分析化学、
4、物理化学、晶体学、量子力学、固体物理、材料科学基础等。后继课程：材料物理专业综合实验、毕业论文等。三、课程的主要内容及基本要求（一）理论学时部分前言 （1 学时）知 识 点 本课程的性质、主要内容及其与其它课程的关系等。重 点 材料分析测试方法的主要内容及相关方法。基本要求 了解本课程的性质、主要内容及其与本专业其它课程的关系。第一章 电磁辐射与材料结构 （2 学时）知 识 点 电磁辐射与物质波：电磁辐射与波粒二象性，电磁波谱，物质波；材料结构基础：原子结构与电子量子数，原子能态与原子量子数，原子基态、激发、电离及能级跃迁，分子总能量与能级结构，分子轨道与电子能级，分子的振动与振动能级，原子的
5、磁矩，原子核自旋与核磁矩，固体的能带结构，干涉指数，倒易点阵，晶带。重 点 物质波，分子总能量与能级结构，分子轨道与电子能级，分子的振动与振动能级，干涉指数，倒易点阵，晶带。难 点 原子能态与原子量子数、原子的磁矩，原子核自旋与核磁矩，干涉指数，倒易点阵，晶带。基本要求1、识 记：波数、分子振动、伸缩振动、变形振动（或弯曲振动，或变角振动） 、晶带。2、领 会：描述电磁波的波动性与微粒性的物理参数，电磁波的波动性与微粒性的关系，电磁波谱的分区及各区电磁波的波长范围、能量范围、频率范围及产生机理，物质波的德布罗意关系式，多电子原子中电子与电子相互作用和偶合方式，分子轨道的形成与分子轨道的类型，分
6、子总能量的构成和能级结构，双原子分子的振动模型弹簧谐振子模型，多原子分子振动的类型（模式） ，核自旋量子数与原子的质量数及原子序数的关系，能带的形成，能带结构的基本类型及相关概念，用能级示意图表示光谱项的光谱支项与塞曼能级。3、简单应用：电子波波长的计算，干涉指数与晶面指数的关系及其表示方法，晶带轴指数与晶面指数之间的关系。4、综合应用：倒易矢量的基本性质与立方晶系晶面间距与晶面夹角的计算。第二章 电磁辐射与材料的相互作用 （3 学时）知 识 点 概述：辐射的吸收与发射，辐射的散射，光电离；各类特征谱基础：原子光谱，分子光谱，光电子能谱，俄歇电子能谱，核磁共振谱等；X 射线的产生及其与物质的相
7、互作用：X 射线的产生与 X 射线谱，X 射线与物质的相互作用，X 射线的衰减，X射线的防护。重 点 辐射的吸收与发射，分子光谱和电子能谱基础，X 射线与物质的相互作用。难 点 辐射的散射，X 射线的衰减。基本要求1、识 记：辐射的吸收、吸收光谱、辐射的发射、荧光、磷光、发射光谱、荧光（磷光）光谱、辐射的散射、散射基元、瑞利散射、拉曼散射、X 射线相干散射、X 射线非相干散射、光电效应、光电子能谱、分子光谱、紫外可见光谱（电子光谱） 、红外光谱、红外活性与红外非活性、K 系特征辐射、 K射线、K 射线、短波限、吸收限、线吸收系数、质量吸收系数。2、领 会：辐射吸收的本质和条件、辐射发射的前提、
8、辐射激发的方式，拉曼散射的本质，晶体中的电子散射，光电离，光电子发射过程及其能量关系，俄歇电子的产生（俄歇效应） ，核磁共振现象，连续 X 射线谱的特征，特征 X 射线的产生机理和莫塞菜(Moseley)定律，X 射线谱系，X 射线的衰减，X 射线的防护。3、简单应用：光谱法的分类，原子光谱的常用类型，分子光谱的常用类型，红外光谱的光谱选律（选择定则） ，光电子能谱图的表示方法，俄歇电子的标识，俄歇电子能谱图的表示方法。4、综合应用：X 射线与物质相互作用及据此建立的主要分析方法。第三章 粒子（束）与材料的相互作用 （2 学时）知 识 点 电子（束）与材料的相互作用：散射，电子与固体作用产生的
9、信号，电子激发产生的其它现象；离子（束）与材料的相互作用：散射，溅射与二次离子。重 点 电子的散射，电子与固体作用产生的信号及建立的主要分析方法。难 点 离子散射，溅射。基本要求1、识 记：连续 X 射线，特征 X 射线，散射角（ 2） ，电子吸收，二次电子，俄歇电子，背散射电子，吸收电流（电子） ，透射电子，溅射，二次离子。2、领 会：物质对电子散射的基元、种类及其特征，二次电子的产额与入射角的关系3、简单应用：入射电子产生的各种信息的深度和广度范围。4、综合应用：电子与物质相互作用产生的主要信号及据此建立的主要分析方法，离子束与物质相互作用产生的主要信号及据此建立的主要分析方法。第四章 材
10、料分析测试方法概述 （2 学时）知 识 点 衍射分析方法概述：X 射线衍射、电子衍射；光谱分析方法概述：原子发射光谱，原子吸收光谱，原子荧光光谱，紫外可见吸收光谱，红外吸收光谱，分子荧光光谱，分子磷光光谱，X 射线荧光光谱，核磁共振谱，拉曼光谱等；电子能谱分析方法概述：X 射线光电子能谱，紫外光电子能谱，俄歇电子能谱；电子显微分析方法概述：透射电子显微镜，扫描电子显微镜，电子探针 X 射线显微分析；色谱、质谱及电化学分析方法概述。重 点 X 射线衍射、电子衍射、紫外可见吸收光谱、红外吸收光谱、透射电子显微镜、扫描电子显微镜和电子探针 X 射线显微分析的用途。基本要求1、识 记：比较名词、术语：
11、元素定性分析与物相定性分析；元素定量分析与物相定量分析；物相定性分析与化合物结构定性分析；化合物结构定性分析与结构分析；化合物定性分析与定量分析；元素分析与组分分析；晶体结构分析与物相定性分析；表面结构分析、表面结构缺陷分析与表面化学分析；微区结构分析与微区形貌观察。2、领 会： 熟悉 X 射线衍射、电子衍射、紫外可见吸收光谱、红外吸收光谱、透射电子显微镜、扫描电子显微镜和电子探针 X 射线显微分析的用途；了解原子发射光谱、原子吸收光谱、原子荧光光谱、核磁共振谱、拉曼光谱、X 射线光电子能谱、紫外光电子能谱、俄歇电子能谱、色谱、质谱及电化学分析方法的用途。3、简单应用：为材料的某一分析项目选择
12、较合适的分析测试方法。4、综合应用：为某一材料或某类材料的多个分析项目拟定分析测试方案、选择分析测试方法。第五章 X 射线衍射原理 （3 学时）知 识 点 衍射方向：布拉格方程，衍射矢量方程，厄瓦尔德图解，劳埃方程；衍射强度：一个电子的散射强度，原子散射强度，晶胞衍射强度，小晶体散射与衍射积分强度，多晶体衍射积分强度，影响衍射强度的其它因素。重 点 布拉格方程、晶胞衍射强度。难 点 衍射强度理论。基本要求1、识 记： 掠射角（布拉格角） 、散射角、衍射角、结构因子、系统消光、点阵消光、结构消光。2、领 会： 布拉格方程的导出，衍射矢量方程、厄瓦尔德图解和劳埃方程，X射线衍射强度的处理过程，3、
13、简单应用：布拉格方程的意义与应用，简单结构的结构因子的计算方法，X 射线衍射的充分必要条件。4、综合应用：影响衍射方向和衍射强度的因素。第六章 X 射线衍射方法 （3 学时）知 识 点 多晶体衍射方法：照相法，衍射仪法；单晶体衍射方法概述。重 点 照相法，衍射仪法。难 点 衍射矢量方程，单晶体衍射。基本要求1、识 记：选靶，滤波，衍射花样的指数化，连续扫描法，步进扫描法。2、领 会：X 射线衍射方法的种类，德拜（ Debye）法成像原理与衍射花样特征，多晶 X 射线仪的工作原理、结构组成、各部分的作用，测角仪的聚焦原理，多晶体衍射仪计数测量方法及其适用范围，单晶衍射的方法。3、简单应用：德拜（
14、Debye ）法样品制备方法，靶和滤波片的选择方法，摄照参数的选择，测量参数的选择。4、综合应用：衍射花样的测量、计算和指数化。第七章 X 射线衍射分析的应用 （2 学时）知 识 点 物相分析，点阵常数的精确测定，宏观应力的测定，晶体取向的测定等。重 点 物相分析分析、点阵常数的精确测定。难 点 物相定量分析 宏观应力的测定、晶体取向的测定。基本要求1、识 记： X 射线物相分析、X 射线物相定性分析（物相鉴定） 、X 射线物相定量分析2、领 会：X 射线物相定性分析（物相鉴定）的基本原理、方法和步骤，X 射线物相定量分析的基本原理和方法3、简单应用：影响点阵常数测量误差的因素及消除或减小的方
15、法，点阵常数精确测定的方法及用途。4、综合应用：混合物相的鉴定，X 射线物相定性分析方法。第八章 透射电子显微分析 （6 学时）知 识 点 透射电子显微镜工作原理及构造：工作原理，构造，选区电子衍射；样品制备：间接样品（复型）的制备，直接样品（粉末、晶体薄膜）的制备；透射电镜基本成像操作及像衬度：成像操作，像衬度；电子衍射原理：电子衍射基本公式，多晶电子衍射成像原理与衍射花样特征，多晶电子衍射花样的标定，单晶电子衍射成像原理与衍射花样特征，单晶电子衍射花样的标定；透射电子显微镜的典型应用及其它功能简介。重 点 工作原理与组成，选区电子衍射，样品制备，成像操作像衬度，电子衍射基本公式，多晶电子衍射成像原理与衍射花样特征，多晶电子衍射花样的标定，单晶电子衍射成像原理与衍射花样特征，单晶电子衍射花样的标定，透射电子显微镜的典型应用。难 点 单晶电子衍射成像原理，单晶电子衍射花样的标定，复杂电子衍射花样。基本要求1、识 记：电子透镜、明场像，暗场像，中心暗场像，复型，质厚衬度，衍射衬度。2、领 会：透射电子显微镜的工作原理、结构与组成，电子衍射基本公式的导出，选区电子衍射的操作程序，透射电镜的成像操作方式，质厚衬度和衍射衬度原理，电子衍射的类型与特点，复杂电子衍射花样的类型及其特征。3、简
