齐纳安全栅要求

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1、 齐纳安全栅要求 9 二极管安全栅 9.1 概述 二极管安全栅中的二极管用于限制施加到本质安全电路上的电压，可靠限流电阻用于限制流入本质安全电路的电流。二极管安全栅组件用作本质安全电路和本质安全电路之间作为接口设备，应承受 11.1(11.1 二极管安全栅的例行试验 11.1.1 成品安全栅,每只成品安全栅应进行例行试验，检查每个安全栅元件正常运行情况，及任何熔断器的阻值应符合要求。如果为本实验目的而需要安全栅内部设置跨接线，则此跨接线的拆除应不影响本质安全性能。)规定是例行试验。安全栅承受瞬态故障的能力应按 1 0. 8(10.8 二极管安全栅和分流器的型式试验用下列试验验证安全栅或安全分流

2、器能否承受瞬态过程的影响。 具有可靠额定值的电阻器应认为能够承受来自规定的预期瞬态过程。 二极管应有制造商技术说明书或通过下列试验表明能够承受峰值电压 Um 除以熔断器电阻（最低环境温度时）及其串联的可靠电阻阻值之和的电流。 每一种型式的二极管在其使用方向（齐纳二极管为齐纳方向）应能承受重复 5 次持续时间为 50uS 的矩形电流脉冲试验，每两次间隔为 20mS。脉冲幅值由 Um 峰值除以熔断器在最低环境温度是“冷态”电阻（加在电路中串联的可靠电路阻值）确定。在制造商数据表明在该电流下预先击穿时间大于 50uS 时，该电流脉冲宽度将变成实际预先击穿时间。在实际击穿时间不可能从制造商获得现场数据

3、时，10 只熔断器应承受上述预期电流，并测定预先击穿时间。如果该值大于 50uS 可以使用该值。 应在该试验前和试验后用相同的电流测量二极管电压，测试电流应用元件制造商规定的电流。测量电压之差应不大于 5%（5% 的差值包括试验设备的测量部确定度） 。试验时观察到的升压的最高电压，应认为是用上述对半导体限流器件同样方法施加的一系列脉冲的峰值电压。上述器件试验结束后，应对照元件制造商规定的技术参数进行一致性核对。 对特定制造商制造的同一类器件，仅需要对具有特定电压的典型样品进行试验，以证明该类器件符合要求。)的规定试验。 仅装有两只二极管或二极管组件的“ ia”保护等级的安全栅，如果二极管已经按

4、 11.1.2(11.1.2“ia”等级安全栅的双重化二极管，在下列试验前后，根据二极管制造商的规定，在室温条件下测量二极管端电压： a)每只二极管承受 150温度试验，历时 2H ； b)每只二极管承受 10.8 规定脉冲电流试验。) 的规定做了例行试验，应认为是符合 8.6(8.6 分流安全组件 P31 当二极管或齐纳二极管用作可靠分流安全组件的分流元件时，它们至少应形成两个并联的二极管 通路。 “ia”保护等级的安全组件，在应用第 5章的要求时，仅应考虑一个二极管的故障。二极管的额定值应能承载短路故障下在其安装处流过的电流。 注 1：为防止连接断开时产生火花点燃，可按 6.3.4（6.3

5、.4 通过浇封化合物的间距，浇封化合物应符合 6.6（6.6 浇封 当采用浇封化合物时符合下列要求： a)浇封化合物或设备的生产商应规定浇封化合物温度额定值，该额定值至少等于任何被浇封的元件能达到的最高温度。或者，如果较高温度不会对浇封化合物造成任何使防爆型式失效的损坏，则此浇封化合物额定温度高的温度也可以接受。 b)如果任何裸露带电部件从浇封化合物中凸出，则浇封化合物自由表面的 CTI 值至少应为表 5 规定的值。 c)只有通过 10.6.1（浇封化合物：用直径为 6mm 平端金属试棒，在浇封化合物暴露表面上垂直施加 30N 力，保持 10S，这时，浇封件不得出现损坏，永久性变形或大于 1m

6、m 的位移。浇封化合物有自由表面时，为了保证浇封化合物具有一定的刚性，且不易碎裂，浇封化合物表面应在 20+10，使用 GB3836.1-2010 附录 C 所诉的试验装置进行 下列之一冲击试验: 1.对于 I 类设备，在浇封化合物形成外壳的一部分并且用于隔离爆炸性气体环境时，所使用的最低冲击能量为 20J。 2对于其它电气设备，所使用的最低冲击能量为 2J，试验后浇封化合物应保持完好并且不会出现永久性变形，表面出现的微小裂缝可忽略）试验的材料的自由表面可以不加保护地暴露直接外壳的部分。d)除非所有带电部件，元件和底全部被浇封化合物浇封，否则浇封化合物应粘附所有带电部件，元件和衬底。 e)应规

7、定浇封化合物的名称和生产商给出的型号规格。 另外，当采用浇封化合物降低热元件（如，二极管和电阻器）的点燃能力时，浇封化合物的体积和厚度应能将浇封化合物的最高表面温度降至所要求的值。 ）的要求。对于需要浇封的部件，浇封的带电部件和元件到浇封化合物的自由表面之间的最小间距应至少为表 5第 3 列（P20 ）规定值的一半，最少为 1mm，如果浇封化合物直接接触或粘附于符合表 5 第 4(P20)列要求的绝缘材料外壳，则不需要其他间隔。 浇封电路的绝缘应符合 6.3.1.2 的要求。(P19) 10.6 .3 隔板 隔板应能承受用直径为 6mm 的固体试棒施加的至少30N 的力，这个力应施加在隔板中心

8、附近并至少保持 10S，隔板不应产生其功效的变形。 浇封或距离元件的损坏，应认为是一个单独计数故障。 注 1：进一步的要求在附录 D（P86）中给出。 ）的规定浇封。 注 2：正常工作时，组件内使用的分流元件可以导通。 当元件用熔断器保护时，熔断器应符合 7.3(P28)规定，并且元件应能承受 1. 7 In 的电流。 )的可靠组件。这样，在应用第 5（P11 ）章的要求时，应仅考虑一只二极管故障。 在“ic” 保护等级的安全栅内，最低要求有单只齐纳二极管和一个限流电阻器，这些元件的额定值应基于 Um 确定。 9.2 结构 9.2.1 安装 安全栅的结构应确保在多个安全栅安装在一起时，可明显察

9、觉其任何不正确的安装，例如采用不对称的安装形态或用颜色区分。 9.2.2 接地用连接件 对于安全栅，除应具有地电位电路的连接以外，至少还应具有另一个附加接地连接件，或连接一根横截面积不小于 4 平方毫米的绝缘导线作为附加接地连接。 9.2.3 元件的保护 应采用 6.3.4(6.3.4 通过浇封化合物的间距，浇封化合物应符合6.6（6.6 浇封 当采用浇封化合物时符合下列要求： a)浇封化合物或设备的生产商应规定浇封化合物温度额定值，该额定值至少等于任何被浇封的元件能达到的最高温度。或者，如果较高温度不会对浇封化合物造成任何使防爆型式失效的损坏，则此浇封化合物额定温度高的温度也可以接受。 b)

10、如果任何裸露带电部件从浇封化合物中凸出，则浇封化合物自由表面的 CTI 值至少应为表 5（P20）规定的值。 c)只有通过 10.6.1（浇封化合物：用直径为 6mm 平端金属试棒，在浇 封化合物暴露表面上垂直施加 30N 力，保持 10S，这时，浇封件不得 出现损坏，永久性变形或大于 1mm 的位移。浇封化合物有自由表面 时，为了保证浇封化合物具有一定的刚性，且不易碎裂，浇封化合物 表面应在 20 正负 10，使用 GB3836.1-2010 附录 C（P84）所诉的 试验装置进行下列之一冲击试验: 1.对于 I 类设备，在浇封化合物形成外壳的一部分并且用于隔离 炸性气体环境时，所使用的最低冲击能量为 20J. 2对于其它电气设备，所使用的最低冲击能量为 2J，试验后浇封化 合物应保持完好并且不出现永久性变形，表面出现的微小裂缝壳忽）试验的材料的自由表面可以不加保护地暴露直接外壳的部分。 d)除非所有带电部件，元