《f3快速键-参数设定介面(2007[1][1].9.10)》由会员分享，可在线阅读，更多相关《f3快速键-参数设定介面(2007[1][1].9.10)（5页珍藏版）》请在金锄头文库上搜索。
1、錫膏偏移量錫膏容許長寬，用於避免短路誤判(檢測框外計算強制在所設定之錫點忽略不計)自動學習短路檢測方向計算體積Search Range.上面”畫數”,下面” 百分比 ”雜訊消除短路參數設定過濾白線，用灰階方式將 Search Range 內所設定之灰階值以上雜訊濾除過濾白線印錫斜率過大修正錯誤部份再重新檢測算長條圖中超過所設定之參數即被濾除，單位um不檢測設定錫點為群組錫高最高高度Area 面積Volume 體積Height 高度元件名稱及錫點位置錫點群組排除陰影(面積過小且有錫尖)排除影像中突然亮點或暗點的部份實測面積小於檢測框面積時，且上方Width&Length 條件也設為 Inspec
2、t，則判定為Fail(避免印錫少且又畸型的情況)在搜尋範圍內有其他錫點則判定為 Fail檢測出高度較低的連錫短路搜尋起使位置外，如果锡点的面积达到 30个像素点，會被判定為Fail，單位 pixel補償高度，將所實際檢測高度再家上所定參數，單位 um短路搜尋起使位置，預設值為 0，表示檢測框Search Range 距離之一半向外檢測短路，不為 0，則以檢測框外所設定參數距離開始檢測，單位 pixel2007/9/10 製F3 快速鍵- 參數設定介面Height MethodAverage 表示以平均值計。Medium 表示以中位數計。Max Count 表示以最多的錫點高度計。Max Hei
3、ght 表示以最大高度計。建議用在直方圖顯示三個峰值時可指定判定方式。Base MethodAverage 表示以平均值計。Medium 表示以中位數計。Base Hight 表示以最大高度計。Base Low 表示以最小高度計。Scan ModeHigh Resolution 表示要使用高解析度重新掃描功能。系統會先使用原始設定檢測，當設定的檢測框檢測結果為 FAIL 時，會再自動使用高解析度檢測一次。High Exposure 針對比較黑的部分做高曝光時間、取象寬度與掃描速度的設定。各參數需在Program/High Exposure Parameters 中設定。套用元件選項(“類型”指
4、元件的 Type(AOI中的 Type欄位一樣)， ”Type”指檢測框所設定類型)This solder area only-最後選取之檢測框This part-最後選取之檢測框所在的這整個元件Same component-與這個元件相同類型之所有元件的檢測框Same component and type-與這個元件相同類型且與最後選取之檢測框具有一樣 Type之所有檢測框This position an all boards-多連板上與此檢測框同一位置之檢測框更改此位置，所有連板同個位置之檢測框會被變更(不論Type 設定是否相同都會變更且只能選取單一檢測框)R1R1R1 R1R2 R2R
5、2 R2R3 R3R3 R3C0402C0402C0402C0402C0402C0402C0402C0402C0402C0402 C0402C0402W0,Type=0 W1,Type=0W1,Type=0W1,Type=0W1,Type=0W0,Type=0W0,Type=0W0,Type=0W0,Type=0W0,Type=0W0,Type=0W0,Type=0W0,Type=0W0,Type=0W1,Type=0 W1,Type=0W1,Type=0 W1,Type=0W1,Type=0 W1,Type=0W1,Type=0W0,Type=0 W0,Type=0W1,Type=0This
6、 position on same component-與這個元件相同類型且與最後選取之檢測框相同位置之檢測框All active box-所有選取之檢測框All solder area-這片板子上所有檢測框At Strip line-套用在所有位於同一列掃範圍中的檢測框更改此位置，相同類型及檢測框位置就被變更R1R1R1 R1R2 R2R2 R2R3 R3R3 R3C0402R0402C0402R0402C0402R0402C0402R0402C0402C0402 C0402C0402W0,Type=0 W1,Type=0W1,Type=0W1,Type=0W1,Type=0W0,Type=
7、0W0,Type=0W0,Type=0W0,Type=0W0,Type=0W0,Type=0W0,Type=0W0,Type=0W0,Type=0W1,Type=0 W1,Type=0W1,Type=0 W1,Type=0W1,Type=0 W1,Type=0W1,Type=0W0,Type=0 W0,Type=0W1,Type=0R1R1R1 R1R2 R2R2 R2R3 R3R3 R3C0402R0402C0402R0402C0402R0402C0402R0402C0402C0402 C0402C0402W0,Type=0 W1,Type=0W1,Type=0W1,Type=0W1,Typ
8、e=0W0,Type=0W0,Type=0W0,Type=0W0,Type=0W0,Type=0W0,Type=0W0,Type=0W0,Type=0W0,Type=0W1,Type=0 W1,Type=0W1,Type=0 W1,Type=0W1,Type=0 W1,Type=0W1,Type=0W0,Type=0 W0,Type=0W1,Type=0檢測走向更改此位置，同檢測行的所有檢測框都會被變更Same side in this part-在這個元件上最後選取之檢測框位在同一邊的所有檢測框(必須先設定好方向)Same type in this part-在這個元件上與最後選取之檢測框具
9、有相同 Type的所有檢測框(必須先設定好 Type)Same side in same component-與這個元件相同類型與最後選取之檢測框具位於同一邊之所有檢測框(必須先設定好方向)更改此位置，針對選取的元件同方向之檢測框會被變更(用於 IC 類型)更改此位置，針對選取的元件同 Type 之檢測框會被變更(用於 IC 類型)QFP220U1W0,Type=1W1,Type=0W2,Type=0W3,Type=0W4,Type=1W5,Type=1W6,Type=0W7,Type=0W8,Type=0W9,Type=1W10,Type=1W11,Type=0W12,Type=0W13,T
10、ype=0W14,Type=1W15,Type=1W16,Type=0W17,Type=0W18,Type=0W19,Type=1U1W0,Type=1W1,Type=0W2,Type=0W3,Type=0W4,Type=1W5,Type=1W6,Type=0W7,Type=0W8,Type=0W9,Type=1W10,Type=1W11,Type=0W12,Type=0W13,Type=0W14,Type=1W15,Type=1W16,Type=0W17,Type=0W18,Type=0W19,Type=1U1W0,Type=1W1,Type=0W2,Type=0W3,Type=0W4,Ty
11、pe=1W5,Type=1W6,Type=0W7,Type=0W8,Type=0W9,Type=1W10,Type=1W11,Type=0W12,Type=0W13,Type=0W14,Type=1W15,Type=1W16,Type=0W17,Type=0W18,Type=0W19,Type=1U2W0,Type=1W1,Type=0W2,Type=0W3,Type=0W4,Type=1W5,Type=1W6,Type=0W7,Type=0W8,Type=0W9,Type=1W10,Type=1W11,Type=0W12,Type=0W13,Type=0W14,Type=1W15,Type=
12、1W16,Type=0W17,Type=0W18,Type=0W19,Type=1QFP220QFP220 QFP220更改此位置，針對選取的元件同方向之檢測框會被變更Same type in same component-與這個元件相同類型且最後選取之檢測框具有一樣 Type之所有檢測框(必須先設定好 Type)U1W0,Type=1W1,Type=0W2,Type=0W3,Type=0W4,Type=1W5,Type=1W6,Type=0W7,Type=0W8,Type=0W9,Type=1W10,Type=1W11,Type=0W12,Type=0W13,Type=0W14,Type=1W15,Type=1W16,Type=0W17,Type=0W18,Type=0W19,Type=1U2W0,Type=1W1,Type=0W2,Type=0W3,Type=0W4,Type=1W5,Type=1W6,Type=0W7,Type=0W8,Type=0W9,Type=1W10,Type=1W11,Type=0W12,Type=0W13,Type=0W14,Type=1W15,Type=1W16,Type=0W17,Type=0W18,Type=0W19,Type=1QFP220 QFP220更改此位置，針對選取的元件同 Type 之檢測框會被變更
