涂层测厚仪作业指导书

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1、1/7涂层测厚仪作业指导书 编号:MHMI0522实施日期: 2011 年 7 月 1 日 版本:1.0受控状态: 起 草: 审 核: 批 准:1目的规范涂层测厚仪的作业规程。2适用范围本文件适用铁 磁 性 钣 金 件 表 面 的 油 漆 层 及 镍 铬 在 内 的 各 种 有 色 金 属 电 镀 层 厚度测量工作。3定义涂层测厚仪的测厚原理:磁性法:当测头与覆盖层接触时,测头和磁性金属基体构成闭合磁路,由于非磁性覆盖层的存在,使磁路磁阻变化,通过测量其变化可导出覆盖层的厚度。涡流法:利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场,当测头与覆盖层接触时,金属基体上产生电涡流,并对测头中的线圈产生反馈作

2、用,通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。4职责质量管理部:负责本文件的制定、完善和执行,负责本检测设备的维护、保养及校正工作。注:本仪器使用者必须先熟读本作业指导书,按照规程进行操作。5仪器各部分介绍5.1.仪器主体各部分名称厦门明翰电气股份有限公司质量环境管理文件2/75.2 测头各部分名称 5.3 屏幕显示说明6.仪器的校准6.1 校准标准片(包括箔和基体)已知厚度的箔或已知覆盖层厚度的试样均可作为校准标准片。简称标准片。6.1.1 校准箔对于磁性方法, “箔”是指非磁性金属或非金属的箔或垫片。 “箔”有利于曲面上的校准,而且比用有覆盖层的标准片更合适。6.1.2 基体6.1.2.1

3、 对于磁性方法,标准片基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与待测试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。为了证实标准片的适用性,可用标准片的基体金属与待测试件基体金属上所测得的读数进行比较。3/76.1.2.2 如果待测试件的金属基体厚度没有超过附表 1 中所规定的临界厚度,可采用下面两种方法进行校准:a) 在与待测试件的金属基体厚度相同的金属标准片上校准;b) 用一足够厚度的,电学性质相似的金属衬垫金属标准片或试件,但必须使基体金属与衬垫金属之间无间隙。对两面有覆盖层的试件,不能采用衬垫法。6.1.2.3 如果待测覆盖层的曲率已达到不能在平面上校准,则有覆盖层的标准片的曲率或置于校准箔下的基体金属的

4、曲率,应与试样的曲率相同。6.2 校准方法本仪器常用的有两种测量中使用校准方法: 零点校准、二点校准。二点校准法又分一试片法和二试片法。6.2.1 零点校准6.2.1.1 在基体上进行一次测量,屏幕显示.m。6.2.1.2 按 ZERO 键,屏显。校准已完成,可以开始测量了。6.2.1.3 重复上述 a、b 步骤可获得更为精确的零点,高测量精度。零点校准完成后就可进行测量了。6.2.2 二点校准6.2.2.1 一试片法这一校准法适用于高精度测量及小工件、淬火钢、合金钢。a) 先校零点(如上述) 。b) 在厚度大致等于预计的待测覆盖层厚度的标准片上进行一次测量,屏幕显示m。c) 用、键修正读数,

5、使其达到标准值。校准已完成,可以开始测量了。4/7注意: 1. 即使显示结果与标准片值相符,按、键也是必不可少的,例如按一次一次。这一点适用于所有校准方法。2. 如欲较准确地进行二点校准,可重复 b、c 过程,以提高校准的精度,减少偶然误差。6.2.2.2 二试片法若两个标准片厚度至少相差三倍。待测覆盖层厚度应该在两个校准值之间。这种方法尤其适用于粗糙的喷沙表面和高精度测量。a) 先校零值。b) 在较薄的标准片上进行一次测量,用、键修正读数,使其达到标准值。c) 紧接着在厚的一个样片上进行一次测量,用、键修正读数,使其达到标准值。校准已完成,可以开始测量了。6.3 基本校准的修正在下述情况下,

6、改变基本校准是有必要的:测头顶端被磨损、新换的测头、特殊的用途。在测量中,如果误差明显地超出给定范围,则应对测头的特性重新进行校准称为基本校准。通过输入 6 个校准值(1 个零和 5 个厚度值),可重新校准测头。a) 在仪器关闭的状态下按住和键再按 ON 键,直到一声长鸣,即进入基本校准状态;b) 先校零值。可连续重复进行多次,以获得一个多次校准的平均值,这样做可以提高校准的准确性;c) 使用标准片,按厚度增加的顺序,一个厚度上可做多次。每个厚度应至少是上一个厚度的 1.6倍以上,理想的情况是 2 倍。例如: 50、100、200、400、800m。最大值应该接近但低于测头的最大测量范围;注意

7、: 每个厚度应至少是上一个厚度的 1.6 倍以上,否则视为基本校准失败。d) 在输入 6 个校准值以后,测量一下零点,仪器自动关闭,新的校准值已存入仪器。当再次开机时,仪器将按新的校准值工作。7. 仪器的使用7.1 基本测量步骤7.1.1 准备好待测试件;7.1.2 将测头插头插入主机的测头插座中,旋紧锁母;7.1.3 将测头置于开放空间,按一下“ON/OFF”键,开机;7.1.4 检查电池电压;说明 1:当主机带着打印机时,打印机上的开关应置于 OFF 处,再按“ON/OFF”键,开机;说明 2:无 BATT 显示,表示电池电压正常;BATT 出现,表示电池电压已低落,应立即充电;开机时若电

8、池电压不足则显示 BATT 约 1 秒钟后自动关机。说明 3:长期不用时应将电源开关按出。使用时记住将电源开关按入后再按“ON/OFF”键开机。开机时正常情况下,开机后显示上次关机前的测量值;如:5/7其中:“NON-FERROUS” - N 型测头、 “FERROUS” - F 型测、 “D” - 直接方式“数字” - 上次关机前的最后一次测量值。7.1.5 是否需要校准仪器,如果需要,选择适当的校准方法进行;7.1.6 测量迅速将测头与测试面垂直地接触并轻压测头定位套,随着一声鸣响,屏幕显示测量值,提起测头可进行下次测量;7.1.7 关机在无任何操作的情况下,大约 23min 后仪器自动关

9、机。按一下“ON/OFF”键,立即关机。说明1. 如果在测量中测头放置不稳,显示一个明显的可疑值,按 CLEAR 键可删除该值;说明2. 重复测量三次或更多次后,按 STATS 键,将依次显示五个统计量,即:平均值( MEAN)、标准偏差(S.DEV)、测量次数(NO.)、最大测量值( MAX)、最小测量值(MIN )。7.2 各项功能及操作方法7.2.1 测量方式(单次测量连续测量) 7.2.1.1单次测量测头每接触被测件1 次,随着一声鸣响,显示一个测量结果;7.2.1.2 连续测量不提起测头动态测量,测量过程中不伴鸣响,屏幕闪显测量结果;7.2.1.3两种方式的转换方法是:开机状态下,按

10、住STATS 键3 秒后,屏显“- - - -” 后再松开按键,则已转入新的测量方式。7.2.2 工作方式(直接方式成组方式) 7.2.2.1直接(DIRECT)方式 此方式用于随意性测量,测量值暂存在内存单元(共有99个存贮单元) ,当存满99个存贮单元时,新的测量值将替掉旧的测量值,也就是说总是最新的99个测量值参与统计计算。 7.2.2.2成组方式( APPL) 此方式便于用户分批记录所测试的数据,一组最多存99个数值,总共五组,可存495个数值。每组当存满99个数值时,屏幕将显示“FFFF” ,此时,仍可进行测量,但是测量值只显示不存储,也不参与统计计算。需要时,可删除该组数据,再进行

11、新的测量 。7.2.2.3 两种方式的转换方法是:仪器开机后,自动进入直接工作方式,工作方式区显示“D” 。按“FILE”键,然后再按键,仪器进入成组方式,工作方式区显示“APPL” 。用、键可选择组号。8.仪器使用须知8.1 影响因素的有关说明8.1.1 基体金属磁性质磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中,低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的) ,6/7为了避免热处理和冷加工因素的影响,应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。8.1.2 基体金属电性质基体金属的电导率对测量有影响,而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体

12、金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。8.1.3 基体金属厚度每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度,测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表 1。8.1.4 边缘效应本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。8.1.5 曲率试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此,在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。8.1.6 试件的变形影响测量精度的因素测头会使软覆盖层试件变形,因此在这些试件上测出可靠的数据。8.1.7 表面粗糙度基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大,影响增大。粗糙表面会引起

13、系统误差和偶然误差,每次测量时,在不同位置上应增加测量的次数,以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙,还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后,再校对仪器的零点。8.1.8 磁场周围各种电气设备所产生的强磁场,会严重地干扰磁性法测厚工作。8.1.9 附着物质本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感,因此,必须清除附着物质,以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。8.1.10 测头压力测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数,因此,要保持压力恒定。8.1.11 测头的取向测头的放置方式对测量有影响。在测量中

14、,应当使测头与试样表面保持垂直。8.2 仪器使用注意事项8.2.1 基体金属特性对于磁性方法,标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。对于涡流方法,标准片基体金属的电性质,应当与试件基体金属的电性质相似。8.2.2 基体金属厚度检查基体金属厚度是否超过临界厚度,如果没有,可采用 3.3)中的某种方法进行校准。8.2.3 边缘效应不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行测量。8.2.4 曲率7/7不应在试件的弯曲表面上测量。8.2.5 读数次数通常由于仪器的每次读数并不完全相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异,也要求在任一

15、给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此。8.2.6 表面清洁度测量前,应清除表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,但不要除去任何覆盖层物质。8.3 保养与维护8.3.1 环境要求严格避免碰撞、重尘、潮湿、强磁场、油污等。8.3.2 电池充电当电池电压过低时,即屏幕上出现“BATT”提示标志时,应尽快给仪器充电。充电方法如下:8.3.2.1 关机;8.3.2.2 将电源适配器的充电插头插入仪器充电插座中, 然后将电源适配器接到 220V/50Hz 市电上,充电指示灯(绿)和快充指示灯(红)均点亮;8.3.2.3 当快充指示灯(红)熄灭时,表明电池已被充满。正常情况大约充电 2.5 小时即可充满,最长充电时间不要超过 3 小时。8.3.2.4 拔下充电插头。8.4 本仪器符合 ISO14000 环境管理要求,使用中不会对对环境安全造成影响。9附录附录 1 文件发放对象文件发放对象 文件发放形式电子档文本附录 2 相关表单/文件:附录 3 文件类型: 类受控文件(机密文件) 类受控文件附录 4 文件版本情况: 不需要代替旧文件/表单 代替旧文件/表单,编号为: 修订次 修 改 内 容 修订日期

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