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1、Touch Panel的经验分享,電容屏的原理,電容屏应用案例分享,電容屏的結構,Clean Room 制程,電容觸控屏的結構,Glass Substrate：基本上所有的绝缘材料都可以用做基板，玻璃和PET是最常用的選材X/Y-axis：材料一般都選用ITO（導電且透明）,这些電極连线是感应器的重要部分，它的特性決定著感应度或者敏感度。一般在基板的下方增加一層屏蔽層，因為觸控ITO模塊的最大干擾源就是來自LCD 的信號干擾Glass Cover：一般選用介电常数高且儘量薄，這樣信噪比會好。玻璃是個不錯的選擇Insulating Layer：隔絕X電極和Y電極,透明导电材料,ITO：ITO 是
2、Indium Tin Oxides的缩写。ITO 是一种N型氧化物半导体-氧化铟锡,ITO薄膜即铟锡氧化物半导体透明导电膜,通常有两个性能指标:电阻率和透光率。特性是当厚度降到1800个埃（埃10-10米）以下时会突然变得透明，透光率为80，再薄下去透光率反而下降，到300埃厚度时又上升到80。 一般是通过真空离子溅射工艺将ITO薄膜镀到塑料或者玻璃上。在氧化物导电膜中，以掺Sn的In2O3(ITO)膜的透过率最高和导电性能最好,而且容易在酸液中蚀刻出细微的图形.其中透过率以达90%以上,ITO中其透过率和阻值分别由In2O3与Sn2O3之比例来控制,通常Sn2O3:In2O3=1:9. 电阻
3、式触摸屏和电容式触摸屏都用到ITO材料。,电容触摸屏工作原理,普通电容式触摸屏的感应屏是一块四层复合玻璃屏，玻璃屏的内表面和夹层各涂有一层导电层，最外层是一薄层矽土玻璃保护层。当我们用手指触摸在感应屏上的时候，人体的电场让手指和和触摸屏表面形成一个耦合电容，对于高频电流来说，电容是直接导体，于是手指从接触点吸走一个很小的电流。这个电流分从触摸屏的四角上的电极中流出，并且流经这四个电极的电流与手指到四角的距离成正比，控制器通过对这四个电流比例的精确计算，得出触摸点的位置。,電容式觸摸屏的工作原理: 偵測手指的靜電電容對感測面所帶來的電容變化.在電容式觸摸屏中,一邊的電極是ITO透明導電膜,另一邊
4、的電極便是手指.C = r 0 S/d电容器是由两端的极板和中间的绝缘电介质构成的。,電容屏的原理,電容屏的原理,定义:手指觸摸時電容增加C總=Cp/Cf,檢測電容量的變化, 確定觸摸點的位置. 电容屏按工作原理可分为:自电容和互电容. 目前Notebook/pad用的为互电容,TP IC 工作原理,電容式觸控IC的作用就是通過一定的電路結構量測出由於手觸摸引起的電容變化量，目前常用的方法有以下4種： 1.開關電容法 2.充電轉換法 3.張弛震盪法 4.串聯電容分壓法張弛震盪法為例講解（NB/PAD为此方法),TP IC 工作原理,1,2,TP IC 工作原理,TP IC 工作原理,ATMEL
5、 IC Power sequence :,XVDD 10V for drive touch X line,VDD 2.7V for driver IC,VDDXVDD,Lesson learn： NPI 阶段要review VDD, XVDD的上电时序,即VDD power要先于XVDD,以免导致IC烧坏。 Solution : 修改TP_PWR_EN的延時电路,TP ESD 防护,Lesson learn： NPI 阶段要review VDD, XVDD的上电时序,即VDD power要先于XVDD,以免导致IC烧坏。 Solution : 修改TP_PWR_EN的延時电路,TP board
6、 须导入ESD 防护措施,電容屏应用案例,NEO Model电容屏应用：,Clean Room Touch Test,FA Touch test,NEO Model电容屏配置(分析touch工具由Atmel提供),Atmel IC + touch,NEO Clean Room Touch Test,Clean room test touch icon,Scan touch barcode,Touch self test,touch module test,Touch module assembly,Check cosmetics,第一间,第三间,packing,repair,repair,Fa
7、il,Fail,Pass,Pass,第一间： 温度: 湿度:,第三间： 温度: 湿度:,NEO Clean Room Touch Test,Scan touch barcode,Touch self test,touch module test,Touch module assembly,Check cosmetics,第一间,第三间,packing,repair,repair,Fail,Fail,Pass,Pass,NEO FA Touch Test,FA Output refs Result,FA & Clean Room check refs差异,1, 两张table都可以反应touch
8、功能是否正常.2, Clean Room使用的为Atmel提供的应用软件,生成表格 的初使值为0. FA编写是Atmel提供的命令,生成表格的 初使值为16384. 3, 16384为Atmel内部的加密算法.即FA如果测试出某列 或行为16384时,也表示touch 连接Open.,Clean Room Output refs Result,Finish assembly, insert LAN cable,Enter WINPE 4.0 environment,checksum and check PID,write Configure and PID,save gold referenc
9、e,Fail,check refs and delta/CHKSUM and PID,Fail,touch function test,Fail,packing,Pass,Pass,Pass,repair,PQC test,Fail,Run in,NEO FA Touch Test,Fail symptom of delta Result over spec,爆点, 会在屏幕上一直闪烁,导致触屏无功能.,Root Cause: 机器在做校准时, 屏幕某块区域被(保护膜或手指)触碰到,导致校准失效.被触碰区域因delta over而产生爆点,Corrective Action: 重新做校准,确保
10、屏幕在校准时不会被任何事物干扰。,Finish assembly, insert LAN cable,Enter WINPE 4.0 environment,checksum and check PID,write Configure and PID,save gold reference,Fail,check refs and delta/CHKSUM and PID,Fail,touch function test,Fail,packing,Pass,Pass,Pass,repair,PQC test,Fail,Run in,NEO FA Touch Test,待测试状态,测试pass状态
11、,测试说明:1,测试田字框时,手指触摸屏幕,将红色区域划成绿色为pass。2,测试十指时,十指同时触摸屏幕,停留1-2秒,测试界面消失为pass。,待测试状态,测试pass状态,Finish assembly, insert LAN cable,Enter WINPE 4.0 environment,checksum and check PID,write Configure and PID,save gold reference,Fail,check refs and delta/CHKSUM and PID,Fail,touch function test,Fail,packing,Pass,Pass,Pass,repair,PQC test,Fail,Run in,Touch Test SPEC Summary,
