{PLD可编程逻辑器件}第2章PLD硬件特性与编程技术39831164

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1、,图2-1 基本PLD器件的原理结构图,2.1 PLD 概述,第2章PLD硬件特性与编程技术,2.1.1 PLD的发展历程,2.1 PLD 概述,2.1.2 PLD的分类,图2-2 按集成度(PLD)分类,2.1 PLD 概述,2.1.2 PLD的分类,2.1 PLD 概述,从编程工艺上划分:,2.2.1 电路符号表示,图2-3 常用逻辑门符号与现有国标符号的对照,2.2 低密度PLD可编程原理,2.2.1 电路符号表示,2.2 低密度PLD可编程原理,2.2.2 PROM,图2-9 PROM基本结构,2.2 低密度PLD可编程原理,2.2.2 PROM,PROM中的地址译码器是完成PROM存

2、储阵列的行的选择,其逻辑函数是:,2.2 低密度PLD可编程原理,2.2.2 PROM,2.2 低密度PLD可编程原理,2.2.2 PROM,图2-10 PROM的逻辑阵列结构,2.2 低密度PLD可编程原理,2.2.2 PROM,图2-11 PROM表达的PLD阵列图,2.2 低密度PLD可编程原理,2.2.2 PROM,图2-12 用PROM完成半加器逻辑阵列,2.2 低密度PLD可编程原理,2.2.3 PLA,图2-13 PLA逻辑阵列示意图,2.2 低密度PLD可编程原理,2.2.3 PLA,图2-14 PLA与 PROM的比较,2.2 低密度PLD可编程原理,2.2.4 PAL,图2

3、-15 PAL结构 图2-16 PAL的常用表示,2.2 低密度PLD可编程原理,图2-17 一种PAL16V8的部分结构图,2.2.5 GAL,2.2 低密度PLD可编程原理,GAL即通用阵列逻辑器件,首次在PLD上采用了EEPROM工艺,使得GAL具有电可擦除重复编程的特点,彻底解决了熔丝型可编程器件的一次可编程问题。GAL在“与-或”阵列结构上沿用了PAL的与阵列可编程、或阵列固定的结构,但对PAL的输出I/O结构进行了较大的改进,在GAL的输出部分增加了输出逻辑宏单元OLMC(Output Macro Cell)。,2.3 CPLD的结构与可编程原理,图2-18 MAX7000系列的单

4、个宏单元结构,1逻辑阵列块(LAB),图2-19 MAX7128S的结构,2.3 CPLD的结构与可编程原理,2宏单元,全局时钟信号,全局时钟信号由高电平有效的时钟信号使能,用乘积项实现一个阵列时钟,2.3 CPLD的结构与可编程原理,3扩展乘积项,2.3 CPLD的结构与可编程原理,3扩展乘积项,2.3 CPLD的结构与可编程原理,4可编程连线阵列(PIA),图2-22 PIA信号布线到LAB的方式,2.3 CPLD的结构与可编程原理,5I/O控制块,图2-23 EPM7128S器件的I/O控制块,2.3 CPLD的结构与可编程原理,2.4.1 查找表逻辑结构,图2-24 FPGA查找表单元

5、,2.4 FPGA的结构与工作原理,2.4.1 查找表逻辑结构,图2-25 FPGA查找表单元内部结构,2.4.2 Cyclone系列器件的结构与原理,图2-26 Cyclone LE结构图,图2-27 Cyclone LE普通模式,2.4.2 Cyclone系列器件的结构与原理,2.4.2 Cyclone系列器件的结构与原理,图2-28 Cyclone LE动态算术模式,2.4.2 Cyclone系列器件的结构与原理,图2-29 Cyclone LAB结构,2.4.2 Cyclone系列器件的结构与原理,图2-30 LAB阵列,2.4.2 Cyclone系列器件的结构与原理,图2-31LAB

6、控制信号生成的逻辑图,2.4.2 Cyclone系列器件的结构与原理,图2-32 快速进位选择链,2.4.2 Cyclone系列器件的结构与原理,图2-33 LUT链和寄存器链的使用,2.4.2 Cyclone系列器件的结构与原理,图2-34 LVDS连接,2.5 硬件测试技术,2.5.1 内部逻辑测试,在ASIC设计中的扫描寄存器,是可测性设计的一种,原理是把ASIC中关键逻辑部分的普通寄存器用测试扫描寄存器来代替,在测试中可以动态地测试、分析设计其中寄存器所处的状态,甚至对某个寄存器加以激励信号,改变该寄存器的状态。,2.5.2 JTAG边界扫描测试,2.6 FPGA/CPLD产品概述,2

7、.6.1 Lattice公司CPLD器件系列,2.6.2 Xilinx公司的FPGA和CPLD器件系列,2.6.3 Altera公司FPGA和CPLD器件系列,2.6 FPGA/CPLD产品概述,2.6.4 Actel公司的FPGA器件,2.6.5 Altera公司的FPGA配置方式与配置器件,2.7 编程与配置,表2-2 各引脚信号名称,基于电可擦除存储单元的EEPROM或Flash技术。,基于SRAM查找表的编程单元。,基于反熔丝编程单元。,2.7 编程与配置,2.7.1 JTAG方式的在系统编程,图2-35 CPLD编程下载连接图,2.7 编程与配置,2.7.2 使用PC并行口配置FPG

8、A,Altera的FPGA有如下几种常用编程配置方式: 1配置器件模式,如用EPC器件进行配置。 2PS(Passive Serial被动串行)模式。 3JTAG模式,用于配置SRAM的SOF文件,或JTAG间接对配置器件编程模式。 4AS(Active Serial),这个模式是针对EPCS系列配置器件而 。,2.7 编程与配置,2.7.3 FPGA配置器件,图2-36 FPGA使用EPC配置器件的配置时序,2.7 编程与配置,2.7.3 FPGA 配置器件,图2-37 FPGA的配置电路原理图(注,此图来自Altera资料,中间一上拉线应串1K电阻),2.7 编程与配置,2.7.3 FPGA配置器件,图2-38 EPCS器件配置FPGA的电路原理图,

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