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1、品质可靠性测试标准品质可靠性测试标准文件编号:QA-000-111版本/状态:A/00制定:品质管理部审核:批准:发行日期:会审部门签字会审部门签字工程研发院第1页共19页品质可靠性测试标准品质可靠性测试标准第2页共19页目目录录1目的.22编制依据.33执行原则.34适用范围.35术语、定义.36主要职责.37可靠性测试程序.37.1环境测试.37.2静电测试.37.3结构耐久测试.37.4表面装饰涂层测试.37.5元器件可靠性测试.37.6安全器件测试.38最终检验.39备注品质可靠性测试标准品质可靠性测试标准第3页共19页1目的1目的1.1在特定的可接受的环境下不断的催化产品的寿命和疲劳
2、度，评估产品的质量和可靠性；1.2规范可靠性试验作业方法。1.3作为品质对金立产品放行的指导标准2编制依据编制依据2.1GB/T15844.2-1995移动通信调频无线电话机环境要求和试验方法。YD/T1215900/1800MHzTDMA数字蜂窝移动一动通信网通用分组无限业务设备测试方法：移动台2.2GB/T15844.3-1995移动通信调频无线电话机可靠性要求和试验方法。2.3YD/T965-1998电信终端设备的安全要求和试验方法2.4YD1032-2000900/1800MHzTDMA数字900/1800MHzTDMA数字蜂窝移动通信系统电磁兼容性限值和测量方法第一部分：移动台及其辅
3、助设备2.5GB/T17626.21998idtIEC-61000-4-21995电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验2.6YD/T1539-2006移动通信手持机可靠性技术要求和测试方法2.7YDC023-2006800MHzCDMA1X数字蜂窝移动通信设备测试方法：移动台第1部分基本无线指标，功能和性能2.8YDC015-2006800MHzCDMA1X数字蜂窝移动通信网设备技术要求：移动台3执行原则3执行原则金立产品可靠性试验程序及判断标准，严格遵守此程序。4适用范围4适用范围适用于品质对金立产品的出货标准。5术语、定义5术语、定义无6主要职责6主要职责6.1编制、修改、评审、审批、
4、更新职责6.1编制、修改、评审、审批、更新职责可靠性实验室编制、修改、及时更新和协调各公司质量部人员评审本试验程序，由管理层审批。7可靠性测试程序7可靠性测试程序7.1环境测试7.1环境测试样机标准数量：16台试验周期：10天测试目的：通过连续的施加各种测试条件，加速产品的失效，提前暴露潜在问题。试验流程：见下图，其中完成环测后和跌落测试的时间间隔应不超过4小时。品质可靠性测试标准品质可靠性测试标准第4页共19页功能外观检查25跌落试验25温度冲击-40/80高温高湿测试6093%RH跌落试验射频测量射频测量25功能外观检查灰尘试验盐雾试验淋雨试验低温参数试验-20低温存储-30高温存储80高
5、温高湿测试6093%RH湿热循环测试-10/93%RHB环境测试环境测试A产品平均失效寿命测试组合（产品平均失效寿命测试组合（MTBF）A：产品平均失效寿命测试组合：A：产品平均失效寿命测试组合：样机数量：16台7.1.1功能外观检查测试目的：测试预检查测试方法：OQC功能外观检验标准进行检查测试标准：符合成品检验指导书中所有的指标。7.1.2射频测量测试目的：测试预检查测试方法：使用8960/CMU200测试仪，参照射频测试记录表中项目列表，对所有样品进行参数指标预测试并保存测试结果测试标准：射频指标记录表中所有参数指标正常。7.1.3跌落试验测试条件：6cm厚水泥地板，2.4寸及以下LCD
6、跌落高度为1.2m；2.6-2.8寸LCD为1m；3.0-3.4寸LCD跌落高度为0.8m.3.5寸及以上LCD跌0.5m。测试目的：跌落冲击试验样机数量：16台试验方法：将手机处于开机状态进行跌落。进行6个面的自由跌落实验，每个面的跌落次数为1次，每个面跌落之后进行外观、结构和功能检查。对于翻盖手机，其中品质可靠性测试标准品质可靠性测试标准第5页共19页一半样品打开翻盖跌正面和背面(即跌8个面)；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置，跌正面和背面(即跌8个面)。跌落结束后对外观、结构和功能进行检查。检验标准：手机外观，结构和功能符合要求。每跌完一个面进行拔号，应无掉网、关机等不良现象；拨
7、打测试完成后，对每个手机进行快速检测包括活动部件，按键功能，显示功能，触摸屏功能及灵敏度，拍照功能，SPK听筒声音应无异常。间隙张开，其它部件松脱后不借用其它工具用手可以复原的可接受，受力点有水泥沙大小的凹陷、掉涂层、划伤可接受。但涂层不允许有片状脱落、龟裂，掉电及掉SIM卡以微跌为准。掉电池盖不作为不合格项，以手感拆装为准。7.1.4温度冲击测试测试环境：低温箱：-40；高温箱：+80样机数量：16台测试目的：通过高低温冲击进行样品应力筛选试验方法：使用高低温冲击箱，手机带电池，设置成关机状态先放置于高温箱内持续30分钟后，在15秒内迅速移入低温箱并持续30分钟后，再15秒内迅速回到高温箱为
8、一个循环，共循环24次。实验结束后将样机从温度冲击箱（高温箱）中取出，恢复2小时后进行外观、机械和电性能检查。对于翻盖手机，应将一半样品打开翻盖；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。试验标准：手机电性能指标满足要求，活动部件正常，壳件无形变，无龟裂，变色，无氧化，麻点，脱层，缝隙断差变大（断差和间隙在0.1mm以下可接受），装饰片及镜片起翘不均匀。IML材料高温存储温度为60作为允收标准。7.1.5高温高湿参数测试测试环境：+60，93%RH测试目的：高温高湿应用性能测试试验方法：将手机电池充满电，手机处于开机状态，放入温度实验箱内的架子上。持续48H，在此环境下进行电性能检查。对于翻盖
9、手机，应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。检验标准：手机电性能参数指标满足要求，时钟精准，存储信息无丢失，拨打过程中有无掉网、关机等不良现象；拨打测试完成后，对每个手机进行快速检测包括活动部件，按键功能，显示功能，触摸屏功能及灵敏度，拍照功能，SPK听筒声音，镜片和LCD内部、TouchLens内部无水印，水珠，功能正常，外壳无变形。B：环境测试B：环境测试样机数量：10台7.1.6低温参数测试测试环境：-20测试目的：高温/低温应用性能测试试验方法：将手机电池充满电，手机处于开机状态，放入温度实验箱内的架子上，调节温品质可靠性测试标准品质可靠性测
10、试标准第6页共19页度控制器到-20持续4个小时，在此环境下进行电性能参数和功能检查。对于翻盖手机，应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。检验标准：手机电性能参数指标满足要求，时钟精准，存储信息无丢失，拨打过程中有无掉网、关机等不良现象；拨打测试完成后，对每个手机进行快速检测包括活动部件，按键功能，显示功能，触摸屏功能及灵敏度，拍照功能，SPK听筒声音变小，功能正常，外壳无变形。7.1.7高温/低温存储测试环境：-40/+80测试目的：高温/低温应用性功能测试试验方法：将手机处于关机状态，放入温度实验箱内的架子上。持续48个小时之后，恢复至常温，然后
11、进行结构，功能和电性能检查。对于翻盖手机，应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。检验标准：手机电性能指标满足要求，活动部件正常，壳件无形变，无龟裂，变色，无氧化，麻点，脱层，缝隙断差变大（间隙断差0.1mm可接受），装饰片及镜片无起翘不均匀。IML材料高温存储温度为60作为允收标准。7.1.8湿热循环测试测试环境：+40，93%RH；-10测试目的：高湿低温循环应用性能测试试验方法：温度控制器设到+40，93%RH持续1个小时之后，以1小时的速率变化到-10持续1小时后，以1小时的速度变化到+40，93%RH。循环13次。在此环境下进行电性能参数和功
12、能检查。对于翻盖手机，应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。检验标准：手机电性能参数指标满足要求，时钟精准，存储信息无丢失，拨打过程中有无掉网、关机等不良现象；拨打测试完成后，对每个手机进行快速检测包括活动部件，按键功能，显示功能，触摸屏功能及灵敏度，拍照功能，SPK听筒声音，镜片和LCD内部、TouchLens内部无水印，水珠，功能正常，外壳无变形。7.1.9灰尘测试测试环境：室温测试目的：测试样机结构密闭性样机数量：2台试验方法：将手机关机后放入灰尘实验箱内。其体积综合不得超过试验箱的有效空间的1/3，底面积不超过有效水平面积的1/2，试验样品与
13、试验箱内壁距离应不小于100mm。试验箱内的气流速度应能保证试验用灰尘均匀缓慢降在试验样品上，风速最大不超过2m/s。持续8个小时之后，将手机从实验箱中取出，用布和离子风枪清洁后进行检查。对于翻盖手机，应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到限位置。品质可靠性测试标准品质可靠性测试标准第7页共19页试验标准：手机各项功能正常，所有活动元器件运转自如，每个按键按10次不能有INT，声音正常，显示区域没有明显灰尘（距离2.5cm，点0.15mm，数量3个的灰尘数可接）。7.1.10盐雾测试测试环境：355%NaCL测试目的：测试样机抗盐雾腐蚀能力样机数量：2台试验方
14、法：用氯化钠含量为51%的盐溶液，PH值为6.57.2。允许用稀释后的化学纯盐酸或氢氧化钠调整PH值。试验有效空间温度为35C；连续喷雾的试验时间为24H；持续期满后在箱内恢复到正常大气条件，稳定后保持2H，检查。检验标准：外壳表面及装饰件无明显腐蚀，（脱层，氧化2Kg,Fy500g,Fz150g拉力保持1分钟检验标准：不允许脱胶7.5.9电池/电池盖拆装测试测试环境：室温（20-25）；测试目的：电池/电池盖拆装寿命测试测试数量：2台。试验方法：将电池/电池盖反复拆装2000次。进行到500次、800次和1000次时检查手机及电池/电池盖各项功能、及外观是否正常。检验标准：手机及电池卡扣功能
15、正常无变形，电池盖配合手感良好，与壳体有磨痕可接受，不允许与电池表面有磨痕。电池触片、电池连接器应无下陷、变形的现象，电池金手指在拆装10次以内不允许出现磨痕(金属电池盖拆装次数可为1000次)。7.5.10SIM卡拆装测试测试环境：室温（2025）；测试目的：SIM卡拆装寿命测试测试数量：2台手机。试验方法：插上SIM卡，然后取下SIM卡，再重新装上，反复1000次，每插拔100次检查开机是否正常，读卡信息正常。检验标准：SIM卡触片、SIM卡推扭开关正常无下陷、变形，手机读卡功能使用正常。品质可靠性测试标准品质可靠性测试标准第16页共19页7.5.11存储卡插拔测试测试环境：室温（2025
16、）；测试目的：存储卡插拔寿命测试测试数量：2台手机。试验方法：插上存储卡，待手机屏幕出现存储卡标志，然后取下存储卡，再重新装上，反复1000次，每插拔100次需进入卡内测试存储的数据能否正常读取。检验标准：存储卡触片、自锁开关正常，手机存储卡检测功能及读卡功能使用正常。7.5.12耳机插拔测试（HeadsetTest）测试环境：室温（2025）；测试目的：耳机插拔寿命测试测试数量：2台手机。试验方法：将手机处于开机状态，耳机插在耳机插孔内，然后拔出，反复3000次。进行到2000、2500次和3000次时各检查一次。完成后人手1000次检验标准：实验后检查耳机插座无焊接故障，耳机插头无损伤，使用耳机通话接收与送话无杂音（通话过程中转动耳机插头），耳机插入手机耳机插孔时不会松动（可以承受得住手机本身的重量）。7.5.13铃声老化测试测试环境：室温（2
