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1、SJ/T10675-2002电子及电器工业用二氧化硅微粉1 范围 本标准规定了电子及电器工业用二氧化硅微粉（以下简称“硅微粉”）的产品分类、技术要求、试验方法及检验规则、标志、包装、运输和贮存。 本标准适用子以天然脉石英为原料生产的用于电子及电器工业中环氧树脂浇注料、灌封料、塑封料、包封料、工程塑料、涂料、硅橡胶以及电焊条保护涂层等用硅微粉。2 规范性引用文件下列文件的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本
2、适用于本标准。GB 191-2000 包装储运图示标准GB 602-88 化学试剂 杂质测定用标准溶液的制备GB 6284-86 化工产品中水分含量测定的通用方法 重量法GB 6678-86 化工产品采样总则GB 6908-86 锅炉用水和冷却用水分析方法 电导率测定GB 9724-86 化学试剂pH值测定通则GB /T1534-1994 滑石物理检验方法SJ3228.2-89 高纯石英砂分析方法通则SJ3228.3-89 高纯石英砂灼热适量的测定SJ3228.4-89 高纯石英砂中二氧化硅的测定SN/T0483-1995 进出口石英石（砂）化学分析方法3 术语和定义下列术语和定义适用于本标准
3、：3.1 中位粒径 diameter median粒度分布重量累积占50%时微粒的直径.um。4 分类和标记4.1分类见表l。表1分 类型 号规 格主要适用范围普通硅微粉PG3004006001000普通活性硅微粉PGH300400600电工行业1 000电工级硅微粉DG3004006001 000电工级活性硅微粉DGH3004006001 000电子级结晶型硅微粉JG3004006001 000电子级结晶型活性硅微粉JGH300400600电子行 业1 000电子级熔融型硅微粉RG3004006001 000电子级熔融型活性硅微粉RGH3004006001 0004.2 标记规格为400，熔
4、融活性硅微粉，标记为RGH-400。5 要求5.1 外观：白色粉末、无杂质颗粒，无结团。5.2 产品粒度分布应符合表2的要求。表 2规格中位粒径D50m比表面积c/g累积粒度30021.0025.001 7002 10050m 75%40016.0020.002 1002 40039m 75%60011.0015.002 4003 00025m 75%10008.0010.003 0004 00010m 65%5.3 产品理化技术指标应符合表3 的要求表 3指标 产品项目POPGHDGDGHJGJGHJGJGHRGRGHRGRGH优等品合格品优等品合格品含水量%0.100.08密度103kg/
5、m32.650.052.200.05化学成分%灼烧失量0.200.150.100.08SiO299.4099.6099.7099.6599.8099.75Fe2O30.0300.0200.0100.008Al2O30.200.150.10憎水性（min）304545454545无定形SiO29895水萃取液电导率Uscm3051010155101015Na+ ppm2023582358CI ppm2023582358PH值6.58.05.57.5SJ/T 10675-20025.4 抽样 按GB 6678+6.6的规定，确定采样单元采样时，应将采样器垂直插入包装袋中心料层深度的3/4处采样，取
6、样总重不少于1 kg并将采出的样品混匀后按四分法缩分至不少T250 g，再分成二份，一份供检验用，一份留样。保存三个月备查。6 试验方法6.1 试验条件 按SJ 3228.2-89的规定进行6.2 外观的检查 用目视检查。6.3 含水量的测定 按GB 6284-86的规定进行。6.4 密度的测定 按GB/T 15344-1994中第5.5的规定进行6.5 灼烧失量的测定 按SJ 3228.3 -89的规定进行。6.6 二氧化硅含量的测定 按SJ 3228.4-89的规定进行。6.7 三氧化二铁含量的测定 按SN/0483 -1995中第3.4的规定进行。6.8 三氧化二铝含量的测定 按SN/T
7、 0483 -1995中第3.3.12的规定进行6.9 惜水性的测定6.9.1 原理 活性硅微粉表面有一层硅烷偶联剂膜，具有憎水性基团，因此活性硅微粉有疏水性，当其放置静止水面上时，沉降时间不同，借此测定其憎水性6.9.2 装置 a) 电热烘箱(0300)； b) 分析天平(精度0.1 mg); c) 计时器。 d) 孔径0.3 mm(60目)，直径10 cm的样筛； e)1000 ml烧杯。6.9.3测定 在1 000 ml烧杯内倒入800 ml水，待水静止后，准确称取（1105烘至恒重）试样2g于样筛中，用筛-轻轻将试样均匀地筛在静止水的表面后开始计时，待试样全部沉入水中后，计时完毕。此段
8、时间为憎水性能值( min)。6. 10 无定形二氧化硅含量的测定6. 10.1原理 无定形二氧化硅与晶态二氧化硅在特征x射线照射下，各自具有特有的x射线散射花样，其散射强度与含量成比例。本方法采用x射线衍射阶梯扫描方式，确定根据标准样品测出的系数Ka值继而测得样品中无定形二氧化硅的含量。6. 10.2 装置 a) 多晶x射线衍射仪 带微机并有阶梯扫描方式功能的多晶x射线衍射仪一台，x射线发生器的管压管流稳定偏差不大 于0.03%，仪器的综合稳定偏差不大于1%，测角精度在0.012Q以内。 b) 纯度大干99.99%标样 把单晶水晶粉碎研磨，用沉降法取粒径为25 um的纽份，在500退火处理2
9、h后备用。 c) 无定形二氧化硅标样 把非品态石英玻璃粉碎研磨，用沉降法取粒度25 um的组份，在120烘干后备用。6. 10.3 测定6. 10.3.1 Ka值的测定和计算取水晶标样与无定形二氧化硅标样，按重量比0.5：0.5、0.4：0.6、0.3：0.7、0.2：0.8、O.l：0.9、0.05：0.95组成六个样品，混合均匀后，在2= (1035)(Cu Kd)辐射范围内，用阶梯扫描方式收集强度数据，在同样实验条件下，再收集无定形二氧化硅标样与未装样品的空白样品架散射强度，扣除空白样品架散射后，以无定形二氧化硅标样散射曲线为标准，利用分峰软件，将晶态与非品态散射分离开来，算出积分面积后
10、求得六个样品的Ka值，取平均值得到标准Ka值。Ka值按公式（1）计算： Ka=Ca(1)式中： Sa无定形二氧化硅散射的积分面积； Sc结晶二氧化硅散射峰面积和； Ca样品中无定形二氧化硅所占的百分数。6.10.3.2 式样的测定和计算把待测试样研磨成50um以下，与测定Ka值相同的光路条件与阶梯扫描范围，收集待测试样散射强度曲线，扣除空白样架散射后，利用分峰软件，把散射曲线中晶态与非晶态散射分离开来，获得各自的积分面积。无定形二氧化硅含量（X）按公式（2）计算： X=Kax100%(2)式中： Sa无定形二氧化硅散射的积分面积； Sc结晶二氧化硅散射峰面积和； Ka测得的标准Ka值。6.11
11、 水萃取液的制备6.11.1试剂 无钠去离子水6. 11. 2仪器 a) 聚乙烯瓶；b) 磁力搅拌器； c) 分析天平(精度0.1 mg) d) 量筒(250 ml精度l ml)。6. 11. 3 试样制备 a) 称取在(1105)下恒重试样20 g于聚乙烯瓶中，加入200 ml无钠去离子水后，室温下在磁力搅拌器上搅拌30 min. b) 静止30min后，测定电导率、Na+、及pH值。612 电导率的测定 按GB 6908-86的规定进行。6. 13 水萃取液中钠的测定6. 13.1 原理 利用测量钠离子活度原理，当钠电极进入溶液时，钠电极与溶液产生电位差，此电位差取决于溶液中钠的活度用一支
12、有固定电位的参比电极测得其电势，从而求得钠的活度 6.13.2试剂和材料 a) 氯化钾(0.1 M)； b) 无钠去离子水；c) 二异丙胺(0.2 M);d) 钠标准溶液(0.0001 M)：称取0.1170 g经250350干燥2h的基准氯化钠，溶于2 000 ml无钠去离子水中，将此溶液再用重量法稀释10倍： e) 聚乙烯杯(250 ml)。6. 13.3装置 a) 钠离子水浓度计； b) 钠功能玻璃电极： c) 甘汞电极O.1 N6. 13.4 测定 a) 钠离子浓度计的操作应按使用说明书要求进行： b) 在聚乙烯杯内加水萃取液约100 ml，蒋滴加=滴二异丙胺(0.2 M)，将钠功能玻璃电极，甘汞电极(0.1 N)同时浸入被测液中，打开测量开关读出读数。 c) 在另一聚乙烯杯内加100 ml去离子水做空白试验。6.13.5计算 钠离子的含量按公式(3)计算：
