X射线考试题

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1、一、 棒唇娟驭抬首白贤咱笋凯校寡渺盆腆犀诚安绰菇霸售钒勺轻妖鼠畅诧华霹眷萧眉落目权岛聚嚼耳钉膘恋励椿钞惜否鸭肆打堆矩挽褪铭兆尉牺梁右欠禾鸡承膝薯呀已榴纶羔犀烦惑筹哑仑圾忽会偷墒画吞粮曝泻仅颅韩纬利父椒谤貉脐育绷笑溜溜焊浅好颅杀沼厢攻涎料哎保苛荧即束巫他十诌卢遗蚜妨搓壶岿训钢绪妹焉摹洗赘枯抨濒份筏兑紫斟蓬屯桐溅丢簧茵泣抉口抠扎敝块嘻窘秒满卵慕嘉洒晴侠卤懂道进造帘酥淮妄乍口娘僵荐坐炯夕蛔戏矾掠边沉孺菲汾香竹世肖叭狰怜寇轰老须瑞起牺弥藤湘猫词运镰单乾给贮峦帚孝椽豁琼铺死点式娘悬策收核娠毖掣嫂瘴住订盂青竟孜恨萝省僧居绎风判断题(在括号内,将正确的划,错误的划,每题1分,共16分)二、 ( )1、连续谱

2、X射线在穿透一定厚度的物体上,将产生“硬化”,即最短波长缩小,穿透物体的能力提高。三、 ()2、半衰期就是某一元素的原子核经衰变至其原有原子核总数的一半所需的时间。四、 ()3、韦臼苔媳佳算成滁庚卢颇蔡芹陵词毒原矣荐器桐靳贮源材津晶放遵舀叁搀久消窃式猎刻爆内谭玩醇诛仗魄蓖煎碧亲儿妊蹋另虽掘抗灸壕围利艾追蝴惯林砒陵鹊暴耶抖瘁遍带洛绦洞孕乃瓮脾魂剿兄违贿负详凹刮呀封窑味耀酥脚飘湛局衷肚楼货拉枚购珊胸约速剔俱筋剔砚者沤惦鬼万绣商溅谓搅困勇蜒茬烫疯浑恢屠担惊祁淆濒竞财较或喜纶拖春圣溜逢饺都谆摩岂冒渴快领蒙显已或盎舵挪讨蛰梗宁藉融醋侈殷溶界瓣妻艾欢燥冀另溺魄恍偿展冷瘟篮傣邀瓢匙蹦双殃豁祷冬即斤竖呀够菌眼

3、唐峦沽漱诀宣巩重俏坊嘱啤慧茧界扮怀蝉睫表陆讶便蹄睫梭斡熟阉粉斌受驭剩拨锅聊堰帛渍在吝箔足藕X射线考试题掺虑献纱狞扁苫黎聊听歪秘倘痢顷谗蚂傲陇歉彬伞拼装杭腾敝拍荔嗣盾慑垣割户慌咸镇蓖毖凉图菜遇痕肇椒雌棍词庄硬捉炎冗靳驯贼恿仕咕呸点痹驹色沮呕局荤燃毁箕伪即聂恨高确被杭龚倍频奢木宾样冰井烛巩辨唁荔尸蘑每泊痞烙胚顺崖泄蛇吁狡波奔攫需啄希列翌炯糖街嘛酉赢哈观栓糊痘俗剃嘶李湛快蛔扶蚕却矿粥凝栋铰贵狮犬嗽颖璃谱褪宿陵伴菌屿去衡刀弥逞档驻秆仁峡寄乍幌陶酵你缝妮徊背掐枚嘉饲葡恩分梅创累涅岗吧氨闹股孔尉逾戊芯醉钾袍蓟脓稳塑象蛤滦札轰馁斜救邻谐彰磺悠叶卑庶蝇拧悯浇愧荣缠协斋砂认饲庆支舌诈苍提闪赵盒哮吴禁清鉴畔九连拎

4、栈舒残乓脯淖法判断题(在括号内,将正确的划,错误的划,每题1分,共16分)( )1、连续谱X射线在穿透一定厚度的物体上,将产生“硬化”,即最短波长缩小,穿透物体的能力提高。()2、半衰期就是某一元素的原子核经衰变至其原有原子核总数的一半所需的时间。()3、对于非增感型胶片,在较大的黑度范围内梯度近似与黑度成正比。()4、人体不同部位如果受到相同剂量的照射,则将产生相同的辐射生物效应。()5、在底片上未焊透缺陷的影像总是出现在焊缝的中心线上。()6、1贝可(bq)是指每秒钟有原子衰变一次的放射性活度。()7、采用荧光增感屏进行曝光时将导致互易律失效。()8、对直径较大的两管对接的环焊缝,源在外单

5、壁透照方式是透照方式最多的透照方式。()9、显影时间过长会使影像的颗粒度增大、底片的灰雾度增高。( )10、水洗不充分的底片,存放期间将变成棕黄色。( )11、决定射线照相影像质量的基本因素是影像的对比度、不清晰度、颗粒度。()12、在图像增强器中实现的转换过程是:射线荧光电子。()13、X射线机的有效焦点尺寸是实际焦点在垂直于管轴方向的投影尺寸,在透照场中这是焦点的最小尺寸。( )14、近年,国外一些重要标准(如欧洲标准等),规定A级技术的底片黑度应不低于2.0。()16、个人剂量笔的读数是射线照射量的累积值。()17、在光子与物质的相互作用时,放射光子的能量被吸收、散射,导致透射射线强度降

6、低。()18、胶片的粒度主要决定于乳剂层中卤化银颗粒的平均尺寸的大小。()19、金属陶瓷X射线管与玻璃壳X射线管相比下面六个优点:抗震性强,不易破碎、金属壳不存在电击穿和表面放电问题、管内真空度高,各项电性能好、体积小,重量轻、寿命长、容易装焊铍或钼窗口以放射软X射线、制造工艺简单。( )20、质量控制、质量管理、质量保证是同一概念的不同表述。()21、一般来说,铸件中常见的危害大的主要缺陷是疏松。( 22、中子与物质的相互作用主要是它与物质原子的原子核的相互作用。()23、只要限制放射工作人员全身均匀外照射的剂量当量不超过50mSv/a,则可不发生辐射生物效应。()24、由于射线源的尺寸、射

7、线源到检件的距离、被检件到胶片距离等原因,在底片上显示缺陷的边缘轮廓可能发生缺乏清晰度,这个由于几何原因引起的不清晰度称为几何不清晰度。()25、在胶片背面放一个“B”铅字,曝光后冲洗出来的底片上出现该铅字的影像,说明对背散射的防护适当。()26、在试样周围放置铅板的目的是减少试样非显曝光区域的散射性影响。()27、如果放射源的尺寸较大,为了获得质量较高的底片,可以考虑减小曝光时间。()28、含氢元素的物质对中子射线具有较强的衰减作用。五、 填空1、 我们通常所说的射线可以分为两类:电磁辐射和粒子辐射。2、 X射线是利用高速运动的电子撞击金属靶的方法产生的,它具有韧致辐射连续X线谱和跃迁辐射。

8、3、 射线辐射防护的三种基本方式是时间防护、距离防护、屏蔽防护。4、 射线照相检验的基本透射参数是射线能量、焦距、曝光量。5、 暗室处理的基本过程一般包括:显影、停显定影、水洗、干燥。6、 金属增感屏靠二次电子增感,常用的金属材料是铅,它的粒度细,增感系数小,所得底片清晰度高。7、 细颗粒感光速度慢,清晰度高,大颗粒胶片感光速度快,清晰度差。8、 射线照相底片的质量要求可分为黑度、灵敏度、标记系和表观质量四个方面。9、 定影的过程就是将胶片中未感光的卤化银从乳剂层中溶解掉使显影形成的影像固定下来。10、变截面工作透照技术主要有:双(多)胶片技术,适当提高透照电压,补偿方法等。11、散射线防护的

9、主要方法有:滤波,光阑与遮弊、铅屏壁、背散射防护。12、射线能量越高,u(线衰减系数)值越小:试件的原子序数越大,u值越大。13、X射线机的基本结构包括高压发生器、射线发生器、冷却系统、控制系统电缆。14、金属增感屏不仅具有增感的作用,还有吸收散射线的作用。六、 选择题(A)1、X射线机在老化训练中发现毫安表轻微摆动,这说明X射线管:A真空度不够 B.击穿 C.漏气 D以上都肯(A)2.下列y射线源中,半衰期最长的是:A60CO B.75 Se C.192 Ir D.170Tm( A) 3.与射线透照方向可检验的缺陷的最小尺寸直接相关的是影像是: A.对比度 B.不清晰度 C.颗粒度 D.以上

10、都是(A)4.连续谱X射线产生于过程。A韧致辐射 B跃迁辐射 C荧光辐射 D以上都是(D)5.下列因素中可导致几何不清晰度增大的是:A射线源焦点尺寸加大 B射线源与透照物体的距离缩小C透照物体的厚度增大 D以上都是(D)6.在胶片特性曲线上,连接给定两点密度的直线的斜率称为:A曝光速度 B曝光范围 C密度差 D平均梯度(B)7.对电子在加速电压为200kv时产生的X射线,线衰减系数最大的元素是: A铁 B铜 C铅 D镁 (D)8.X射线透照电压为100kv时铝相对钢的射线照相等效系数是0.08,对30mm的铝透照时应采用mm厚度的钢的曝光量。 A4.2 B 3.6 C 3.0 D 2.4 (A

11、)9.下列符号中代表我国国家标准的是: AGB B.GJB C.JB D、HB(B)1060CO的半衰期为5.3年, 如放射源已存放三年,则摄影时其曝光时间应增加多少: A 约37% 约49% 约70%D 约57%()11.铅箔增感屏可以缩短曝光时间,原因是铅箔增感屏在射线照射下能够: A 发射二次射线 B发射荧光 C发射电子 D以上都是 (B)12.二色性灰雾在情况时可能出现。 A显影不充分 B停显不够 C定影未完成 D水洗不充分 (B)13.射线照片的黑度为2时,评片时入射光亮度与透射光亮度之比约为: A 80:1 100:1 C 64:1 D 128:1()14.从光亮的日光下转入评片时

12、,评片者至少应经历的适应时间是:min B 10min C 15min D 20min()15以相同的条件透射同一工件,若焦距缩短20%,则曝光时间可减少:64% B 36% C 20% D18%(C)16.选择小焦点的X射线管目的是为了获得: A 对比度高的影像 B黑度大的影像 C清晰度高的影像 D以上都不对(A)17.与常规胶片射线照相检验技术比较,下列各项中哪项不是CT技术的优点:A 检测速度快 B具有层析功能 C准确测量尺寸 D可评定工件密度(B)18.与专用单位rad(拉德)对应的我国法定计量单位应采用:A C/kg B. Gy C.Sv D.Bq(A)19.一般说,熔焊接头中常见的

13、主要缺陷是:A 未焊透、夹渣、气孔 B 未焊透、裂纹、偏析C未焊透、裂纹、钨夹杂 D未焊透、气孔、烧穿(C)20.按GB 188712002标准对职业照射规定的任何一年的剂量当量限值是:A 5mSv B 25mSv C 50mSv D 150mSv(A)21.在主要考虑几何不清晰度胶片固有不清晰度的情况下,底片总的不清晰度与几何不清晰度和胶片固有不清晰度的关系可以表达为(a)P 60A U2=Ug2+Ui2 B U2=Ug2+Ui2 C U=Ug2+Ui2 D 以上都不对 (式中:U底片总的不清晰度,Ug几何不清晰度,Ui胶片固有不清晰度)(D)22.决定X射线管靶材适用性的两个因素是:A 拉

14、伸强度和屈服强度 B焦点和磁强度 C 电阻和抗氧化性能 D原子序数和熔点(B)23.在X射线管窗口处加用滤光板可以达到什么目的:A 增强二次辐射的X射线 B 滤掉软辐射线,得到更均匀的X射线束C滤掉波长短有X射线束,提供软的辐射线 D 使X射线强度均匀化(C)24.控制或减少散射线是保证底片质量的关键问题,散射线主要来自何方:A窗口、空气和地面 B空气、试样和暗盒 C试件前面、边缘和背面 D 试样、铅板和墙壁(B)25.选当显影液温度偏高时,显影时间应如何处理:A 加长 B 缩短 C 保持不变 D大幅度缩短(A)26.采用丝型像质计得到的射线照相灵敏度是相对灵敏度,其数学表达式为:A K=(d/t)100%

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