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1、 参数解说 介绍参数概述表面纹理可由与一定的纹理特性相关的参数来量化。这些参数可按测量的特点类型，被分成几组类型。它们是:Amplitude（幅值）Spacing（间距）Hybrid（混合）R&W（RW）Aspheric（非球面）曲线及相关参数Rk 参数影响表面粗糙度的数字评估是三个特性长度。它们是:取样长度，也被称为Cut-Off Length评价长度，也被称为Assessment Length 或Data Length横向移动长度另外，屏幕上的帮助工具,以一个容易阅读的Exploring Surface Texture（表面形貌浏览）文本描述，其主题详细包括了什么是表面形貌及为什么必需测量
2、它。该文本包括用Form Talysurf仪器提供通常的表面形貌背景信息和测量仪器的特殊测针类型。它也给出了参数的有用信息：它们的来历和使用。对进一步更深的表面评论及其测量，可从Taylor Hobson的手册Precision 2中得到。幅值参数这些是测量在轮廓（Z轴）的垂直位移。这类参数包括:未滤波参数 滤波的粗糙度参数 滤波的波纹度参数间距参数这些参数是沿表面（X轴）对不规则间距的测量，而与不规则的幅值无关。这类参数包括未滤波参数 滤波的粗糙度参数 滤波的波纹度参数混合参数指与表面不规则的幅值参数和间距参数都有关的参数（Z轴和X轴），或者规定了一个量，如面积或体积，被称作Hybrid（混
3、合）参数。这类参数包括:未滤波参数 滤波的粗糙度参数 滤波的波纹度参数曲线及相关参数这些参数是沿表面（X轴）对不规则间距的测量，而与不规则的幅值无关。这类参数包括：原始轮廓轮廓高度幅值曲线PcPmrPmr(c)滤波的粗糙度轮廓高度幅值曲线RcRmrRmr(c)滤波的波纹度轮廓高度幅值曲线WcWmrWmr(c)R加W 参数这些参数与R和W参数相关，被定义在标准BS ISO 12085:1996里面。这些分析包括:PtRARRxSRSARSWSAWWteWAWWx非球面分析参数这些参数与非球面形状的特殊分析有关。这些分析包括: Fig Ra Rt Smx Smn Tilt Xp Xt XvRk参数
4、这些参数从来自于粗糙度测量的材料比曲线的计算而得，并提供以下的值:核心粗糙度深度 = Rk简化的峰高度 = Rpk简化的谷高度= Rvk这些参数被定义在BS ISO 13565 part 2: 1996里面。长度 概述有三个与表面形貌定量评定有关的特性长度。它们是:取样长度，也被称为Cut-Off Length（长度）评价长度也被称为Assessment（评估）Length 或 Data（数据）Length移动长度取样长度, Cut-Off Length这是用来识别不规则表面粗糙度特性的参考线的长度。取样长度是用于在测量箱移动方向识别表现测量轮廓特性的长度。粗糙度和波纹度分析的取样长度等于所选
5、滤波器的波长。未滤波的（原始）轮廓的取样长度等于其评价长度。分析长度A = 启动长度ln = 评价长度C = 结束宽余长度l = 取样长度 E = 横向移动长度F = 被测表面的轮廓评价长度, 评估长度, 数据长度测量方向的移动长度包含了评价表面粗糙度参数的值，它被称为评价长度，或评估长度，或数据长度。它可以含有一个或更多的取样长度。横向移动长度横向移动长度是传感器沿被测表面移动的全部长度。它通常大于评价长度，这是因为必须在每一次移动的末尾留有余量，以确保机械和电气的瞬时冲击能从测量数据中剔除。形状参考形状参考 概述量化粗糙度的主要需求是提供一些与测量轮廓数据相关的基准。在表面计量学里，我们不
6、能测量大多数材料的直径（这属直径计量的领域），但可测量其对理想形状（如一个极佳的平面）的偏差。因此，当进行测量和评价结果时，必须考虑表面的形状。它一开始就把仪器调整到与表面的独特形状相适应。然后用与代表零件理想形状（或与实际接近的近似值）的一个参考线（或几条线）来计算出测量数据。用 Form Talysurf Series 仪器评价的参考有:最小二乘直线最小区域直线基准(仪器硬件参考). 最小二乘圆弧半径，椭圆或双曲线非球面最小二乘直线最小二乘(LS)线一般被用作平均参考线。在表面形貌分析中，最小二乘的最佳直线与评价原始轮廓的测量数据相匹配。LS线的定位使得轮廓上偏离该线的平方和为最小。它是通
7、过轮廓数据而提供的唯一的参考线。最小二乘线（LS line）的图形解释.最小二乘平均线(X-X)使得下式的和为最小。最小区域直线 (MZ)最小区域参考定义了一对直线，这一对平行直线正好包容了整个轮廓，使得在这两条线间的距离（区域）为最小。显示的参考线是这两条线间的平均价位置，所有的参数计算都以此为参考。最小区域（MZ）直线的图形解释注意:该参考线适合于已往任何一种滤波器和取样长度的截取。因此，所显示的有时令人误解。基准(仪器硬件参考)在测量期间,来自传感器的电输出是测针的位移和与测针走过的表面相关的传感器测杆的结合。(也就是，该信号输出是测针跟随表面轮廓和与表面相关的测杆位置改变而升降的结果)
8、。因此,如果输出真实的表现了表面，那么测杆必须沿与表面精确平行的直线而横向移动(因此必须消除传感器测杆的相对运动)。通常，有两种带动传感器的方法。它们是skid（导头）或 independent datum（独力基准）。在仪器所带的资料“Exploring Surface Texture（探究表面形貌）”中，有导头用处的论述。一个独力的精确的直线基准，是与Form Talysurf 系列仪器的横向单元一致的。一个独力直线基准的用处是，使得所有不规则表面的粗糙度，波纹度和形状可以被测量和分析。测杆的垂直测量范围(即，测针所允许的最大偏斜)限制了分析零件形状的范围。XX 横向基准最小二乘圆弧被测表
9、面的半径可由与测量数据相匹配的一个圆弧而决定。该位置使得从轮廓到该圆弧的线的偏差的平方和未最小。然后可计算出该圆弧的半径。其使用的原理类似于计算最小二乘直线时所讲的。绝对最小二乘圆弧使用该选项，使得形状误差可用用户指定的参考半径来计算。当选择LS Arc Absolute（绝对最小二乘圆弧）时,用户必须在分析对话框的形状栏里，按Form Qualifiers ox（形状限定）输入参考半径的尺寸LS半径的图形解释最小二乘圆弧(r-r)的位置使得下式的和为最小，然后可以计算出半径R，未滤波参数未滤波参数-概述原始轮廓数据(有时称为未滤波数据)含有所有被测表面的粗糙度和波纹度特性，它只随采集数据的方
10、法和仪器的校准修正系数而改变。这些数据真正代表什么，将取决于数据的采集方法。影响它的几个因素是:测针顶尖的尺寸和形状。由于测针顶尖影响着表面特性并防碍（由于其尺寸或形状）对实际轮廓表面的全面跟踪，因此需要对表面数据进行一些滤波。当用合适的测针进行表面形貌的测量时，这种影响通常是很小的。当测量形状时，有时需首选一个长的测针，目的是为了在分析时剔除一些表面形貌特性。测量时用合适的刹车块或不用刹车块（与独立基准有关）。使用刹车块的仪器仅用作测量表面形貌（粗糙度和波纹度）。形状测量必需以一个独立的直线基准为参考。被测表面的长度当测量一个表面的长度时,测量长度应该与实际是一样长的。这样能得到最合适的形状
11、，并提供足够的数据量进行精确的分析。用Form Talysurf 系列仪器评价的未滤波参数有:Pa, Pq, Pp, Pv, Pt, Psk, Pku, Pda, Pdq, Plq, PS, PSm, Pz, Pz(JIS), Plo, Pc, Pdc, Pmr,Pmr(c), PHSC, PPc, Pvo标准BS ISO 3274:1996 包含了接触（测针）仪器的名词特性。标准ISO 4287: 1997 包含了表面形貌：轮廓方法术语，定义和表面形貌参数。轮廓高度幅值曲线高度幅值曲线说明了在测量轮廓数据中出现相同高度的峰的频率。从这个图可得到原始轮廓，粗糙度和波纹度的分析，这与在材料比中的
12、分析显示是一致的。轮廓高度幅值曲线的解释A =材料比曲线 B =幅值分布曲线C =峰的幅值 D =等幅值峰出现的个数。PaPa是普遍认可的，最常用的粗糙度国际参数。它是指在评价长度内，轮廓偏离平均线的算术平均。Pa的图形解释从数学意义讲，Pa是在全部评价长度内，轮廓偏离平均线的算术平均值。形象化说明Pa来源的方法如下:A 平均线 X-X 与测量数据相匹配B 在评价长度ln内且在平均线以下的轮廓部分，被翻转然后放在该平均线以上。C Pa 是在原始平均线以上，轮廓的平均高度。Pa的局限性不同特性的表面可能产生相同的Pa值。Pc 基础轮廓的原始平均高度。该参数是在评价长度内，基础轮廓的高度的平均值。
13、在评估长度内，最大峰谷距的10%被作为峰高的辨别标准，而间隔是评价长度的1%。这些参数被定义在ISO 4287 1997 para.4.1.4中。Pc的图形解释 原始算术平均斜率是被测轮廓数据的算术平均斜率(与所选的基准线有关)。也就是,在评价长度内，轮廓变化速率绝对值的算术平均。这里，dz/dx是轮廓的瞬时斜率。Slope的图形解释估计轮廓局部斜率的公式，在ISO 4287中有详细说明:上述公式所用滤波器的采样间隔在ISO 3274 para 3.2.9中有规定，这里zi是第i个轮廓点的高度，是相邻轮廓点之间的间距。 Pdc (Pdc) 选择分开轮廓的水平面是两个材料比水平面之间的垂直距离。
14、该参数被定义在ISO 4287 1997 para 4.5.3中。Pdc (Pdc)的图形解释两个材料比值之间的距离(Pmr0 和 Pmr1)。Pdq 原始均方根是在评价长度内，纵坐标斜率dz/dx的均方根值。这里，是在任意点的轮廓的斜率，这些参数被定义在ISO 4287 1997 para. 4.4.1中。请看Pda斜率的图形解释。PHSC 原始高点计数高点计数参数量化了全部轮廓峰（在评价长度内）的数量，这些峰指超过设置的与平均线平行的参考线边框之上的峰。该参考线可被设置为在最高峰以下所选择的深度，在平均线之下或之上所选择的距离。高点计数的图形解释A = 参考线 B = 平均线ln = 评价长度 D = 未计数的峰Pku原始峰度概率密度函数Pku (Pku)峰度是轮廓高度幅值曲线关于评价线的形状（尖锐程度）的度量，它被评价为：在评价长度内，纵坐标值Z(x)的四次方与PRq(Pq)的四次幂的商。 Pku的应用该参数很大程度上受到孤峰或孤谷的影响，并且如果被测表面的尖峰均匀地分布在平均线之上和之下，这些孤峰或孤谷可被发现。它提供了表面轮廓的尖峰的测量，并且
