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1、Juno DTS 1000 硬件系统说明书硬件系统说明书 1 JUNO 分立器件测试系统 DTS 1000 JUNO 分立器件测试系统 DTS 1000 硬件部分测试系统 测试说明书 硬件部分测试系统 测试说明书 Juno DTS 1000 硬件系统说明书硬件系统说明书 2 概要 概要 DTS 1000 系统测试机通过与分选机 探针台连接 可实现半导体分立器件的高速测试 分 选 该系统可测器件包括晶体管 场效应管 MOS FET 二极管 Diode 稳压管二极管 Zener 通过增加选件 Option 可测试可控硅 SCR 稳压管 3Terinal Regulater Shunt Regula
2、tor 放电管 TVS 等等 系统具有良好的扩展性 电压可扩展最大到 3000 伏 V 电流最大到 200 安 A 并且系统配置灵活 可为不同客户进行最经济的系统配置 为客 户特殊器件专门设计软 硬件 可将测试数据转换成 EXCEL 格式 方便客户进行数据交换 测试系统由测试主机 DTS 1000 测试接口盒 HDXXXX 及控制用电脑 PC 构成 测试主机 测试主机 主机中包括器件的偏置部分 测量部分 CPU 部分及外部接口 I F 部分 标准测试主机 可测如下器件 二极管 纳二极管 晶体管 MOS FET 接合型 FET 增加选件 可测器件为 可控硅 三端双向可控硅 三端双向可控硅开关件
3、三端稳压器 D GATE FET 霍尔器件等 测试接口盒 测试接口盒 接口盒中包括含所测器件各端子间的继电器网路及小电路测量回路 根据不同需要有不同的 测试接口盒供选择 接口盒体积小 便于安装 在接口盒上增加选件 可作为手动测试站 控制用电脑 控制用电脑 PC 用英文 Windows98 系统 测试控制软件为 JUNO 公司自行研发的专用系统 操作极为方便 外型尺寸 D iscrete Se miconductor Test Syste m Mode l TESTOPEF A ILPASS ST AT I O N J U N O TESTOPEFAILP ASS ST AT I O N AB
4、I F 1 0 1 0 M A I N 1 0 1 0 OPR ATE SVSI B IBV C ICV E IEV G O UR D B E C O N D IT I O N J U N O STAT I O N H D 1200 DTS 1000 500 250 65 160 DTS 1000 测试系统的特点 DTS 1000 测试系统的特点 多种系统配置 根据不同客户需要 为客户提供既经济又高效率的系统组合 一个测试主机带 2 个分选机 一个测试主机带 2 个分选机 Hand ler Hand ler Co mputer DTS 1000 H D 1200 H D 1200 Juno D
5、TS 1000 硬件系统说明书硬件系统说明书 3 图一 二个测试主机带 4 台分选机 二个测试主机带 4 台分选机 DTS 1000 DTS 1000 Co mputer Hand ler Hand ler Hand ler Hand ler H D 1200 H D 1200 H D 1200 H D 1200 图二 二个测试主机带二台快速分选机 二个测试主机带二台快速分选机 DTS 1000 DTS 1000 Co mputer Hand ler Hand ler H D 1200 H D 1200 图三 二个测试主机配接在一台分选机的 2 个站 做分时测试及 Q 测试 二个测试主机配接在
6、一台分选机的 2 个站 做分时测试及 Q 测试 DTS 1000 DTS 1000 1st 2nd Handler Co mputer H D 1200 H D 1200 图四 二个测试主机接在分选机的一个站上 测一个封装内有 2 个 Chips 的器件在一个站上可完成 测试 Juno DTS 1000 硬件系统说明书硬件系统说明书 4 DTS 1000 DTS 1000 CTU 1000 1st 2nd Prober Co mputer H D 1200 H D 1200 图五 系统良好的扩展性 系统良好的扩展性 可增加选件 适应各种器件测试 在硬件方面可通过增加选件 实现多种器件的测试 软
7、件方面可为客户增加特殊项 目 还可跟外部测试机的连接 如热电阻测试仪 电容测试仪等 并可以进行交换 数据 高速测试 高速测试 通过各种提高处理能力的方法 提高产能 UPH 分时测试 参照 4 图 用于器件测试时间很长的场合 配置 2 台 DTS 1000 在一 台分选机的 2 个测试站上 将测试程序分成在两台 DTS 1000 上进行测试 第一个 测试站的数据被送到地二个测试站 在第二个测试站进行综合分类 从而使测试时 间减半 平行测试 参照 5 图 适合于分选机在同一时间 同一个位置 同时测试多芯器 件 最大可以 8 个同时测试 或探针台 PROBER 在一个位置进行多芯 MULTI DTE
8、 测试 这样可以用测一个器件的时间测试几个器件 测试时间可以大幅度 缩短 分选机 HANDLER 探针台 PROBER 接口 I F 简单 该系统有灵活多变的外设接 口 I F 可适应不同厂家的分选机 探针台 打开 DTS 1000 前门 在门背面的线路上 用跳线的方法可以选择改变逻辑信号的设定 输出电压的设定 负载电阻的选择等全部 的设定 小型化的测试接口盒 DTS 1000 系统的测试接口盒非常小巧 可很方便地放置在离测 试站很近的地方 可有效的减短测试连接的长度 并可根据客户的要求 改变测试接口 盒的大小 维修简单 对于测试系统而言 继电器 RELAY 的失效率相对交高 JUNO 的测试
9、系统 软件 SOFTWARE 具有 RELAY CHECK 功能 方便客户快速检查失效的继电器 系统软件 中的 DEBUGGER 功能具有多种方法便于维修 简要规格 电压 电流 999V 20 0A 通道 2 通道 测试器件 三极管 二极管 齐纳二极管 MOS FET 接口型 FET 等 电源电压 AC 200 240V 50Hz 60Hz Juno DTS 1000 硬件系统说明书硬件系统说明书 5 消耗电力 250VA 外形尺寸 DTS 1000 500 宽 X670 深 X250 高度 mm 接口箱 65 宽 X272 深 X187 高度 mm 测试主机规格 偏置 Forcing Bia
10、s 数 项 标准 3 个 3 位 D A Converter 偏置 Bias 回路 标准规格 High Voltage Generator 999V 50ma 1 回路 Voltage 接地安装端子 连接 DTS 1XXX 的 GND 安装端子 CN A 模拟信号输入插座 连接 DTS 1XXX 的 CN A Juno DTS 1000 硬件系统说明书硬件系统说明书 9 3 系统各组成之间的连接 3 1 标准系统 标准的连接图示意如下 背面示意图 A ST ATI O N C N LC N L C N AC N A B STATI O N A STATI O NA ST ATI O NA ST
11、 ATI O NA STATI O N HA N DLERI F A C I N A UX T O P C Ser ial1Ser ia l2 P C DTS 1000 C N L C N A C N L C N A H D 1200 A ST ATI O N C N LC N L C N AC N A B STATI O N A STATI O NA ST ATI O NA ST ATI O NA STATI O N HA N DLERI F A C I N A UX T O P C DTS 1000 C N L C N A C N L C N A H D 1200 所用电缆名 Cable
12、名称 1 C06 09F 09F CROSS 906 9 PIN RS 232C CABLE 2 POWER CABLE 3 HANDELER I F CABLE 4 CBL 0004 50 PIN 通信 CONNECTOR 5 CBL 0006 20 PIN 通信 CONNECTOR Juno DTS 1000 硬件系统说明书硬件系统说明书 10 4 分选机 Handler 接口 I F DTS 1000 只须在面板内侧的 I F 板 PCB 0010 上的 JUMP 及 SW 进行一些简单改动 就可满足 不同外部设备的要求 4 1 DTS 1000I F 回路图 以下各图 图 1 2 3
13、4 为 I F 板 PCB 0010 的线路示意图 注意 L E D 灯 DI 接到分选机的 TEST START 信号时亮 TPI 用于确认输出的 TEST END 信号长度 其逻辑与 DIP SW 设定有关 FI 用于保护测试机电源 VCC 有 Reset 机能 4 2 输入信号 TEST START 等 输入信号的回路 TEST START 信号图示如下 通过设定 JP2 5 Pin JUMP 和 JP4 2 Pin JUMP 在藕合管 OPTICAL COUPLE PC2 的输入上加 5mA 以上的电流 TEST START 信号有效 脉冲宽度要求为 1ms VCC1 及 GNDI 的
14、设定参照 4 5 电源 接地设定 图 1 4 3 输出信号 TEST END BIN 信号等 输出信号的回路 TEST END 信号图如下 图 2 5V R3 EF1 4 750J C1 R1 EF1 4 1KJ D1 TLR108A T REQ R SIGNAL TEST REQUEST 15 JP2 R6 EF1 4 750J PC2 PC813 3 41 2 VCC1 GND1 JP4 OPTION SOPTION 1 JP30 JP32 R45EF1 4 1KJ R37EF1 4 1KJ GND1 R43 EF1 4 750J PASS S FAIL S PASS JP35 FAIL
15、VCC1 R35 EF1 4 750J R39 EF1 4 750J JP46 PC10 PC847 1 2 3 4 5 6 7 89 10 11 12 13 14 15 16 R33EF1 4 1KJ TP1 JP39 JP44 R31 EF1 4 750J R41EF1 4 1KJ JP41 JP37 T END STEST END Juno DTS 1000 硬件系统说明书硬件系统说明书 11 TEST END 信号设定有高电平 低电平之分 详细参照 4 4TEST END 分类信号的逻辑及类的设 定 SWI TEST END 信号是 3ms 的脉冲信号 分类信号及其他信号 通过 SWI
16、 的设定 可以选择脉冲或电平 Level 方式 VCC1 及 GND1 用 4 5 电源 接地的设定 JP30 2PIN 的 JUMP 和 JP32 2pin 的 JUMP 用于选择是否选用限流电阻 4 4TEST END 分类信号的极性和种类的设定 SWI I F 板子 PCB 0010 的 DIP SWI 按下表设定 SW NO 信号名 ON OFF 内容 1 TEST END HIGH LOW TEST END 信号的正极 负极设定 2 HVLSE LEVEL 分类信号的脉冲 电平设定 3 SROT BCD BIN 分类信号编码设定 4 未使用 通常 ON 设定 5 未使用 通常 ON 设定 6 7 NOT USE 8 4 5 电源 接地的设定 接口回路使用的 VCCI 及 GND1 通过设定接口 I F 板 PCB 0010 的 JP33 及 JP42 来选 择用测试机电源 T VCC T GND 或分选机电源 H VCC H GND T VCC T GND 测试机电源 接地 H VCC T GND 分选机电源 接地 图 3 另外 使用测试机电源时可选择 5V 和 13V 用接
