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1、ICS29.035.99K15中华人民共和国国家标准GB/T 13542.2XXXX代替GB/T 13542.2-2009电气绝缘用薄膜第2部分:试验方法Specification for plastic films for electrical purposes-Patr 2:Methods of test（IEC60674-2:2016，MOD）（本稿完成日期：2020年3月）XXXX - XX - XX发布XXXX - XX - XX实施GB/T 13542.2XXXX前言GB/T 13542电气绝缘用薄膜分为如下几个部分： 第1部分：定义和一般要求； 第2部分：试验方法； 第3部分：电
2、容器用双轴定向聚丙烯薄膜； 第4部分：聚酯薄膜； 第5部分：均衡双轴定向聚萘酯(PEN)薄膜； 第6部分：电气绝缘用聚酰亚胺薄膜。本部分为GB/T 13542的第2部分。本部分修改采用IEC 606742:2016电气用塑料薄膜 第2部分：试验方法。考虑到我国国情，在采用IEC 606742:1988时，本部分做了一些修改。有关技术性差异在它们所涉及的条款的页边空白处用垂直单线标识。为便于使用，本部分做了下列编辑性修改：a） 删除了IEC标准的“前言”和“引言”；b） 用小数点符号.代替小数点符号，；c） 部分受环境影响的试验增加了试验条件；d） 在厚度测量中增加了测量仪器规定及“质量密度法”
3、计算公式；e） 在测“卷绕性”中将“辊的直径为100mm10mm”改为“辊的直径为100mm1mm”；f） 明确“表面粗糙度”方法；g） “拉伸强度和断裂伸长率”测量中增加了试验程序和结果计算；h） “边缘撕裂性”增加了试验程序和示意图；i） 增加2001年第1次修订 “非接触式电极测量”方法（变电容法、变间距法），并细化了计算公式；j） 对“模型电容器法”测“介质损耗因数和电容率”进行细化，并增加计算公式；k） 考虑到我国国情，将电弱点试验方法中铝箔电极的厚度由6m改为7m，另外将施加直流电压由100V/m改为产品标准规定的电压值（200V/m）；l） 考虑到我国国情，“熔点”测量中增加了“
4、弯液面”法；m） “拉力下尺寸稳定性”、“压力下尺寸稳定性”增加了设备及试验示意图；n） “耐高温穿透性”增加了设备、程序及试验示意图；o） 在燃烧性试验中将“试样距燃烧器顶端9.5mm” 改为“试样距燃烧器顶端10mm”。本标准代替GB/T 13542.2-2009。本标准与GB/T 13542.2-2009相比主要变化如下：a）修订了部分规范性引用文件；b）修改了章条编号；c）4.2.2单层法测厚度中测量值由27次改为9次；d) 4.4横向厚度分布和纵向厚度变化, 增加了“通常用红外或激光不接触测量方法测量厚度。若是成膜和收卷厚度变化有要求时，制造商在生产线上安装这种测量装置。测量最小分辨
5、率，准确度和测量表面积（宽度和长度）在产品标准中规定”内容；e) 第7章卷绕性（偏移/弧形和凹陷），增加方法A方法B的原理的内容； f) 第10章“摩擦系数”增加了原理，用IEC TR 60648代替GB/T 10006-1988；g) 第12章拉伸性能, 改为按GB/T 1040.3-2006；第13章边缘耐撕裂性改为按GB/T 1310.2-2009第10章；第14章“内撕裂性”增加了ISO 6383-1 的测量方法；h）第16章表面电阻率改为按GB/T 31838.3-2019,第17章体积电阻率改为按GB/T 31838.2-2019；i）体积电阻率高压电极的直径由27mm改为至少为4
6、0mm；j）增加了第19章“浸渍状态下介质损耗因数”；k）第20章电气强度, 增加按GB/T 1408.2-2016的直流电气强度的测试方法；l）第21章“电弱点”试验由方法C改为方法C1、方法C2或方法C3；m) 第22章耐表面放电击穿，改为按GB/T 22689-2008，第24章“熔点DSC法” 试验方法由IEC 61074:1991改为GB/T 19466.3-2004，第28章耐高温穿透性，改为按GB/T 20631.2-2006 第10章。本部分由中国电器工业协会提出。本部分由全国绝缘材料标准化技术委员会（SAC/TC 51）归口。本部分起草单位：桂林电器科学研究院有限公司、四川东
7、材科技集团股份有限公司、桂林电力电容器有限责任公司、安徽铜峰电子股份有限公司、江门市润田实业有限公司、厦门法拉电子股份有限公司、泉州嘉德利电子材料有限公司等。本部分主要起草人：王先锋、XXX本标准代替的历次版本发布情况为：GB/T 13541-1992，GB/T13542.2-2009。40电气绝缘用薄膜 第2部分:试验方法1 范围GB/T13542的本部分规定了电气绝缘用薄膜的试验方法。本部分适用于电气绝缘用薄膜。2 规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅所注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB
8、/T 1033.1 塑料 非泡沫塑料密度的测定 第1部分：浸渍法、液体比重瓶法和滴定法ISO 1183GB/T 1040.32006 塑料 拉伸性能的测定 第3部分：薄膜和薄片的试验条件ISO 527-3:1995GB/T 1310.2-2009 电气用浸渍织物 第2部分:试验方法( IEC 60394-2:1972,IDT)GB/T 1408.12016 绝缘材料电气强度试验方法 第1部分 工频下试验(IEC 60243-1:2013,IDT)GB/T 1408.22016 绝缘材料电气强度试验方法 第2部分:对应用直流电压试验的附加要求(IEC 60243-2:2013,IDT)GB/T
9、14092006 测定电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法(IEC 60250:1969,MOD)GB/T 7196 用液体萃取测定电气绝缘材料离子杂质的试验方法eqv IEC 60589GB/T 10006 塑料薄膜和薄片摩擦系数测定方法IEC TR 60648GB/T 10582 测定因绝缘材料而引起的电解腐蚀的试验方法IEC 60426:2007,IDTGB/T 10580-2015 固体绝缘材料在试验前和试验时采用的标准条件(IEC 60212:2010,IDT)GB/T 11026(所有部分) 确定电气绝缘材料耐热性的导则 制订老化试验方
10、法和评价试验结果的总规程GB/T 11999 塑料薄膜和薄片耐撕裂性试验方法 埃莱门多夫法ISO6383-2GB/T 13542(单项材料规范所有部分)电气绝缘用薄膜GB/T 19466.3-2004 塑料 差示扫描量热法(DSC) 第3部分：熔融和结晶温度及热焓的测定ISO 11357-3:2011GB/T 20631.2-2006 电气用压敏胶粘带 第2部分:试验方法IEC 60454-2:1994(2007),IDT GB/T 22689-2008 测定固体绝缘材料相对耐表面放电击穿能力的推荐试验方法(IEC 60343:1991,IDT)GB/T 31838.2-2019 固体绝缘材料
11、 介电和电阻特性 第2部分：电阻特性(DC方法) 体积电阻和体积电阻率IEC 62631-3-1,IDTGB/T 31838.3-2019 固体绝缘材料 介电和电阻特性 第3部分：电阻特性(DC方法) 表面电阻和表面电阻率IEC 62631-3-2,IDTISO 534 纸和板 厚度、密度和体积的测量ISO 6383-1 塑料薄膜和薄片耐撕裂性试验方法 裤性撕裂法ISO 4591；1992 塑料 薄膜和薄板 以重量分析技术（重量分析厚度）测定试样的平均厚度和整卷的平均厚度和量度ISO 4592：1992 塑料 薄膜和薄板 长度和宽度的测定ISO 4593：1993 塑料 薄膜和薄板 机械扫描测
12、定厚度3 预处理条件和试验条件3.1 取样从薄膜卷上取样时，应至少先剥去最外三层薄膜，取样时的环境条件同试验条件，并按性能要求制样。3.2 预处理条件除非产品标准或本部分中个别试验另有规定外，取样前，样品薄膜卷应在232，相对湿度50%5%的条件下至少放置24h。取好的试样应在该条件下处理1h。3.3 试验条件除非产品标准或本部分中个别试验另有规定外，试验应在温度232、相对湿度50%5%、环境洁净度不大于3000级的条件下进行。4 厚度4.1 概述厚度应按GB/T 13542(单项材料规范所有部分)产品标准要求采用下列规定中的一种或几种方法进行测定。4.2 机械法4.2.1 概述给出两种方法
13、，一种用单层法，另一种用叠层法。4.2.2 单层法4.2.2.1 原理根据ISO 4593，用精密千分尺或立式光学计测量单张试样的厚度。4.2.2.2 测量仪器薄膜厚度小于100m时，用立式光学计或其他合适的测厚仪测量。采用直径为2mm的平面测帽或曲率半径为25mm50mm的球面测帽。测量压力为0.5N1N。薄膜厚度大于或等于100m时，可用千分尺测量。仪器精度：薄膜厚度小于15m时，精度不低于0.2m；薄膜厚度大于或等于15m但小于100m时，精度不低于1m；薄膜厚度大于或等于100m时，精度不低于2m。4.2.2.3 测量沿样品宽度方向切取三条约100mm宽的薄膜（当膜卷宽度小于400mm
14、时，可适当多取几条），试样不应有皱折或其它缺陷。按ISO 4593的要求，用平面或球面测帽的千分尺，测量试样的厚度。在试样上等距离共测量9点，试样宽不小于300mm，沿试样长方向两测量点间不少于50mm。对未切边的卷，测量点应离薄膜边缘50mm，对已切边的卷，测量点应离薄膜边缘2mm。4.2.2.4 结果取测量值的中值作为试验结果，并报告最大值和最小值。4.2.3 叠层法4.2.3.1 测量仪器千分尺：精度为1m，直径为6mm的平面测帽，测力为6N10N。4.2.3.2 测量按ISO 534对叠层厚度进行测量，与多片测量结果不同。薄膜叠层试样数量为4个，每个叠层试样由12层薄膜组成。其制备方法
15、如下：从离膜卷的外表面约0.5mm厚处时切取，并沿薄膜样条的长度方向缠绕于洁净的样板（推荐尺寸为：250mm200mm，其中200mm为板的长度方向尺寸）。在测量之前去掉叠层的最外层和最内层（实际测量10层），再进行测量。4.2.3.3 结果叠层试样测量厚度除以10，得到单层薄膜厚度，取其平均值作为试验结果，并报告最大值和最小值。4.3 重量法（质量密度法）4.3.1 用重量法测定样的平均厚度4.3.1.1 原理：按ISO 4591中的第3章，根据测定的质量、面积和密度计算样品的厚度。4.3.1.2 测量仪器分析天平 感量 0.1mg钢板尺 分度值 0.5mm4.3.1.3 测量在薄膜卷上取三片长方形试样，每片质量约300mg。用钢板尺测量试样面积，用分析天平测量试样质量。按本部分第5章规定测量试样的密度。4.3.1.4 结果每个测量值的结果按式（1）计算：
