无损检测公式总结

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1、无损检测公式总结 无损检测公式总结第一章射线检测1各种形状焦点尺寸d圆形和方形焦点d=a；椭圆形和长方形焦点d=（a+b）/2d的范围一般在0.5?5mm之间2放射性元素衰减定律A=A0e-A0放射性物质的初始活度（Bq）；A经过时间以后放射性物质的活度（Bq）；e自然对数的底；衰变常数（s-1）。 3除Bq以外，也常用Ci表示放射性活度，它们之间的换算关系为1Ci=3.71010Bq。 4半衰期1/21/2（ln2）/=0.693/（s）5单波长射线的强度与透照厚度tA之间应遵循如下的指数衰减规律I=I0e-t式中射线的线性衰减系数（mm-1）6半价层tA1/2的数学表达式tA1/2（ln2

2、）/=0.693/7射线照相的象质计灵敏度计算式K=/t100%K以百分数表示的象质计灵敏度；tA实际的射线透照厚度（mm）；底片上可以识别的最细金属线的直径（mm）。 8黑度强度为J0的可见光沿法向入射到照相底片上的某点，设透过底片的可见光强度为J，则该点的黑度为D=lg(J0/J)式中的J/J0称为透光率9胶片的感光度S S1/HS HS-片基加灰雾黑度再加2.00黑度所需的曝光量(Gy)。 10胶片特性曲线的平均斜率Gm定义为Gm=(D2D1)/(lgH2lgH1)=2.0/(lgH2lgH1)式中D1-片基加灰雾黑度再加1.50的黑度；D2-片基加灰雾黑度再加3.50的黑度；H1-产生

3、D1黑度所需的曝光量(Gy)；H2-产生D2黑度所需的曝光量(Gy)。 11讨论射线硬度对底片影像质量的影响lgIt-lgI0t=-0.434tA；lgH=-0.434tA；重要D-0.434GtA；D为透照反差，“”号表示底片黑度随透照厚度的增加而减小。 重要tA/tA=2.3D/GtAtAmin即人能从底片上观察到的透照厚度的最小变化，称为该照相底片的绝对灵敏度，tAmin/tA则为其相对灵敏度。 12几何不清晰度Ug=L2d/L1d焦点尺寸（mm）；L2胶片至工件上表面的距离（mm）；L1射线源到工件上表面的距离（mm）13考虑射线照相几何因素的影响，式(1-15)应写为tAmin/tA

4、=0.023/GtA式中的1，称为几何修正系数。 Ug越小，就越大14重要考虑散射线对透照灵敏度的影响tAmin/tA=0.023（1+n）/GtA n散射线比例，即胶片接受的散射线的强度与入射射线强度之比超声波检测1声速C（m/s）、波长（m）和频率f（Hz）之间的关系C=f2近场长度可近似表示为ND2/4D直探头压电晶片的直径（mm）；N近场长度（mm）；超声波波长（mm）。 3零值指向角0声束边缘的声压为其轴线声压的10的指向角可表示4反射和折射定律5就有机玻璃/钢界面而言，第一临界角LI27,第二临界角LII57.56超声波在无限大界面垂直入射界面的声压反射率Rp和声压透射率Dp Rp

5、=Pr/Pe=（Z2-Z1）/（Z2+Z1）；Dp=Pd/Pe=2Z2/（Z2+Z1）声压往复透过率Ep的表达式为Ep=4Z1Z2/（Z1+Z2）27声阻抗为Z1的均匀介质中存在声阻抗为Z2的大面积薄层（公式不用记，但简化结论要知道）垂直入射时声压反射率d薄层界面的厚度（mm）;2薄层界面内超声波的波长（mm）1）当d为1/42的奇数倍时，Rp取极大值；2）当d为1/22的整数倍时，Rp取极小值。 3）焊缝中由裂纹形成的薄层界面而言，Z2 在这一条件下如果d很小8声阻抗分别为Z1和Z3的两种介质之间存在声阻抗为Z2的大面积薄层当Z2不很小且d为212的整数倍时声压往复透过率Ep=4Z3Z1/（Z3+Z1）2d0表示增益，n0表示衰减。 14在1:1水平定位条件下，缺陷至斜探头入射点的水平距离l可直接从荧光屏时基线上读出，继而不难算出缺陷在检测平面下的埋藏深度h直射法h=l/K一次反射法h=2t-l/K t为母材厚度15记。 内容仅供参考