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1、 实验应变分析主要的测试方法 电测法 包括电阻、电容、电感测试法 电阻法较常用，具有高灵敏度和精度。因是电信号测 量，易于实现数字化、自动化；可用于不同环境下的 测量；成本低廉。缺点是只能点测量固定方向应变， 不能全域测量。 光测法 包括光弹性、全息干涉、激光散斑干涉、云纹法等 光弹性法应用广泛，是利用偏振光通过具有双折射效 应的透明受力模型从而获得干涉条纹图，可观察全域 应力分布情况；快速测定应力集中系数；内外部边界 应力测量。但周期长、成本高。 机械测试法 利用引伸仪测定试件变形需经过放大。有杠杆式和齿 轮式两种。 电阻应变片的发展与应用 电阻应变片测量技术起源于19世纪。 1856年，汤
2、姆逊对金属丝进行了拉伸试验，发现金属 丝的应变和电阻的变化有一定的函数关系；之后，人 们利用惠斯登电桥来精确地测量电阻的变化。 1938年，E西门斯（ESimmons）和A鲁（ARuse ），制出了第一批实用的纸基丝绕形式电阻应变片。 40年代，出现了可调节的由测量电桥和放大器组成的 电阻应变仪，使电阻应变测量技术在工程技术和科学 实验领域内获得广泛的应用。 1953年P杰克逊利用光刻技术，首次制成了箔式应 变片，随着微光刻技术的进展，这种应变计的栅长可 短至0.178mm 1954年史密斯发现半导体材料具有的压阻效应。 为了克服直流放大器信息的漂移和线性精度度差等缺 点，传统的电阻应变仪都采
3、用交流放大器以载波放 大方式传递信号这种仪器的性能稳定，其精度能满 足一般的测试要求，但它的工作频率受载波频率的限 制，而且存在电容,电感影响，测量精度等问题。 1957年，W.P.Mason，等研制出半导体应变片，其灵 敏系数比金属丝应变片高50倍，现已用于不同环境、 条件下各种类型的电阻应变片，还有用于测量残余应 力和应力集中等的特殊应变片 60年代，出现了采用直流放大器的电阻应变仪。 近来，朝着数字化、自动化方向发展，现已有数字式测 量动、静态数据采集处理系统。目前，各种不同规格、 不同品种的电阻应变片已有二万多种 电阻测量技术可分为静态应变测量和动态应变测量两类 。 恒定的载荷或短时稳
4、定的载荷的测量，称为静态测量； 对载荷在2-1200Hz范围内变化的测量，称为动态测量。 不同的工作温度对电阻应变片和导线等有不同的要求， 一般将应变测量按工作温度分为五个区段： 常温应变测量： 30一60C0 中温应变测量： 60一300C0 高温应变测量： 300C0 低温应变测量： -30一-l00C0 超低温应变测量： -l00C0 线性度 要求输入与输出的关系是线性； 灵敏度 输出的变化量与输入变化量的比值； 滞后现象 输入量增、减时，输出量不同，出明显滞后现象； 灵敏度与分辨率 当输入量由零增大时，能够测量到的最小值称为灵 敏度； 零飘与温飘 输入量不变，环境温度不变，输出量随时间
5、变化成 为零飘；外界温度变化所引起的变化成为温飘； 测量的基本概念 电阻测量应变原理及方法 电阻应变片测量技术 是用电阻应变片测量构件的表面应变，在根据应 力应变关系式，确定构件表面应力状态的一种 实验应力分析方法。 测试过程： 被测部件 应变片 测量电路 放大线路 显示记录 惠斯登电桥 电阻应变片测量应变 电阻应变片 应变片的工作原理 因绝大部分金属丝受到拉伸或缩短时，电阻值会 增大(或减小)，这种电阻值随形变发生变化的现 象，叫做电阻应变效应 电阻应变片就是基于金属导体的电阻应变效应制 成的。 电阻应变片 当电阻丝受到拉伸、压缩时有下式存在 电阻应变片 称为单根金属丝应变灵敏系数。可见二者
6、存在 线性关系。 常有电阻应变片的灵敏系数 电阻应变片 电阻应变片的构造 电阻值下限： 单用一根金属丝作为敏感元件来测量应变，在理 论上是可能的。然而，为了防止电源超载，并使 金属丝中电流所产生的热量不过大，金属丝的电 阻值不能太小，对金属丝的阻值绐定一个下限： 约为100 比如：若用直径为0.025mm、电阻为1000 的金属丝制造一个100 的应变计，就要求单根 丝长为100mm。应变测量时，往往要求测量构件表 面一点处的应变。把电阻丝做成栅状，直接粘贴 于构件表面，就能使电阻丝长度问题及应变片安 装问题得到解决。 电阻应变片的构造 电阻应变片主要由敏感栅、基底、引线、粘结剂 和覆盖层五部
7、分组成。 电阻应变片的构造 电阻应变片性能参数 应变片电阻 在无受力及室温测定下的电阻值。 通常：120；250；300；500；1000 灵敏系数 轴向受力，应变片电阻值的变化与沿轴向应 变的比值。 电阻应变片性能参数 K 是反映电阻应变片对构件表面单位应变所产生 的电阻相对变化量。它的大小主要取决于敏感栅 材料的灵敏系数Ks，但两者又不相等。 原因: 1.由于横栅的存在，使制成敏感栅之后的灵敏系 数小于丝材的灵敏系数,差别的大小与敏感栅的结 构形式和几何尺寸有关。 2.试件表面的变形是通过基底和粘结剂传递给敏 感栅的,电阻丝横界面的几何不均匀等的影响。 电阻应变片的构造 电阻应变片的性能参
8、数 横向效应系数(H): 通常要求应变片的指示应变值只反映构件b 表面的应变片轴线方向上的应变。然而， 应变片的敏感栅中除了有纵栅外，还有圆 弧形或直线形的横栅，横栅的电阻变化是 由于构件表面轴向应变和横向应变共同作 用的结果，因此应变片具有横向效应H。 电阻应变片的参数H 将应变片贴于平面应变场中若沿应变片轴线方 向的应变记为 ，垂直于轴线方向的横向应变 记为 ，剪应变记为 ，则应变片敏感栅的电 阻相对变化可表示为下式： 电阻应变片的性能参数 温度效应： -当电阻应变片安装在无外力作用、无约束的构件表面上时 ，在温度变化的情况下，它的电阻会发生变化的现象，称 为电阻应变片的温度效应。 -温度
9、变化时，应变片敏感栅材料的电阻会发生变化 ，并且，应变片和构件都会因温度变化而产生变形，从而 使应变片的电阻值随温度变化而变化。这种温度效应将影 响电阻应变片测量构件表面应变的准确性。通常，将温度 效应产生的应变片的电阻相对变化所对应的应变量，称为 热输出。 电阻应变片的性能参数 可见，电阻应变片的温度效应主要取决于敏感栅和 构件材料的性能和温度变化范围。但实际上，它还 与基底和粘结剂材料、应变片制造工艺和使用条件 等有关。 热输出 敏感栅材料的电阻温度系数 构件材料的线膨胀系数 敏感栅材料的线性膨胀系数 电阻应变片的性能参数 稳定性 电阻应变片的稳定性是指在工作条件恒定的情下 ，经历规定的时间后，仍能保持原有性能参数的 能力。它是反映电阻应变片长期静态工作能力的 重要性能。通常，电阻应变片的稳定性用应变片 的电阻值漂移和蠕变大小来表示。 应变片的分类： 应变片的分类： 应变片的分类：
