红外光谱实验操作详细介绍

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1、<p>&lt;p&gt;&amp;lt;p&amp;gt;&amp;amp;lt;p&amp;amp;gt;&amp;amp;amp;lt;p&amp;amp;amp;gt;红外光谱样品制备 和测试技术 对于任何样品,只要样品的量足够多, 都可以得到一张红外光谱。红外光谱可 以测定有机物,无机物,聚合物,配位 化合物,也可以测定复合材料,木材, 粮食,饰物,土壤,岩石,各种矿物, 包裹体等等。对于不同的样品要采用不 同的红外制样技术。对于同一样品,也 可以采用不同的制样技术。要得到一张 高质量的光谱图,制样技术或制样技

2、巧 是非常重要的。不同操作者制备相同的 样品,测试得到的光谱可能会差别非常 大。 固体样品的制备和测试 固体样品以各种不同的形态存在,有粉 末样品,有粒状、块状样品,也有薄膜 ,板材样品。有硬度小的样品,也有硬 度大的样品。有很脆的样品,也有非常 坚韧的样品。因此,应该根据固体样品 的形态和测试目的选用不同的制样方法 和测试方法。 固体的常规透射光谱制样方法分为:压 片法,糊状法和薄膜法。 压片法 压片法是一种传统的红外光 谱制样方法,是一种简便易 行的方法,现在仍然是红外 光谱实验室常用的制样方法 。稀释剂有溴化钾和氯化钾 。溴化钾和氯化钾都是卤化 物,所以又称为卤化物压片 法。通常使用溴化

3、钾作为样 品的稀释剂。 溴化钾压片法 1mg 左右样品和150mg左右 KBr 研磨,施加 8 吨左右的压力,压成透明或半透明的薄片 。为了确保一次压片测试成功,粉末样品最 好使用天平称量。质量为1毫克的粉末样品 ,如果不用天平称量,很难估计准确。因为 非结晶状粉末样品很轻,而结晶粒状样品却 很重。光谱的最强吸收峰吸光度在0.5-1.4 之间比较合适。溴化钾粉末用量不需要称量 ,大约150毫克即可。 ? 样品和溴化钾混合物要求研磨到颗粒尺寸小于 2.5微米以下。颗粒尺寸如果在2.5-25微米之 间,就会引起中红外光散射。光散射使光谱基 线倾斜。光的散射与光的波长有关。当颗粒大 于光的波长时,光

4、线照射到颗粒上才会发生散 射。 ? 用不锈钢小扁铲将研磨好的样品和溴化钾混合 物全部转移到压片模具中,并用小扁铲将混合 物铺平。这一步骤非常重要,如果混合物没有 铺平,压出来的锭片会出现局部透明。 ? 混合物装好后,用手指的力量一面旋转压片模 具的压杆,一方面稍加向下的压力使混合物更 加平整。 如果锭片压得又透明又平整,两个侧面非常平行,在测得的 光谱中,靠近400cm-1的低频端会出现干涉条纹,影响谱带 的辨认。 采用溴化钾压片法制样 存在两个致命的缺点 第一个缺点 ? 无机和配位化合物通常都含有离子,样品和溴 化钾研磨,尤其是施加压力,会发生离子交换 ,使样品的谱带发生位移和变形。严重时会

5、向 低频位移十几个波数。 ? 有机物采用溴化钾压片法制样时,在研磨和压 力的作用下,溴化钾与有机物中的极性基团也 会发生相互作用,使红外光谱谱带发生位移和 变形。但与无机物相比,这种位移要小得多, 通常只向低频位移几个波数。 要严格避免用KBr压片法制备样 品。用这种方法制备无机物样品 ,在红外光谱中出现的反常现象 已经进行过广泛的研究。除了和 KBr可能发生阳离子交换外,KBr 压片法由于压力很大,样品的晶 型也可能会改变。用KBr压片法 得到的无机化合物的红外光谱, 在解析时要格外小心。 位移12cm-1 变形 KBr压片法使硫酸根 的反对称伸缩振动 向低频位移12cm-1 硫酸铵 (NH

6、4)2SO4 显微 KBr压片 位移18cm-1 位移22cm-1 氨基乙酸 显微红外法 溴化钾压片法 第二个缺点 用KBr压片法,在3400和1640cm-1 左右会出现水的吸收峰。这是由于 溴化钾研磨时,吸附空气中的水蒸 气造成的。 研磨之前无论溴化钾 烘得多么干,也会出现这种现象。 150mg左右纯KBr研 磨压片得到的光谱 如果无机物样品不含结晶 水,用溴化钾压片法,在 3400和1640cm-1左右也会 出现水的吸收峰。 无水亚硫酸钠的光谱 正二十二烷 如果有机物样品不含 结晶水,用溴化钾压 片法,在3400和 1640cm-1左右也会出 现水的吸收峰。 无机和配位化合物分子中 通常

7、都含结晶水或羟基,结晶 水或羟基的吸收峰会与溴化钾 吸附空气中的水吸收峰重叠在 一起。当空气的湿度较大时, 就很难判断是否含有结晶水或 羟基。 显微 Na2CO3 KBr Na2CO3 显微 Na2CO3.10H2O 碳酸钠有0,1,7,10个结晶水之分 光谱中出现水的吸收峰可能有三个 原因: (1) 样品吸附空气中的水,称为 吸附水; (2)溴化钾和样品一起研磨时,溴 化钾吸附空气中的水; (3)样品本身含有结晶水。 对于吸附水,可用低温烘干 的方法,例如,将样品放入40 烘箱中过夜;也可以用真空干燥 的方法。但这两种方法都有可能 使样品中的结晶水脱掉。 样品名称:C60(OH)n 真空干燥

8、后,用显微红 外判断C60是否接上了 OH基团 用KBr压片法如何 从光谱中消除因KBr吸 附水产生的两个吸收峰 ? 消除水吸收峰的方法 ? 样品和溴化钾研磨后,将研磨好的粉末在 红外灯下烘烤半个小时以上,再进行压片 。在施加压力之前最好先抽真空。压好的 片应尽快测试光谱。这样做只能部分地而 不能彻底消除光谱中水的吸收峰。 ? 在相同条件下,用纯KBr粉末研磨压片,测 试光谱,将光谱保存在硬盘中。以后可以 用这张光谱作为参考光谱,从样品光谱中 减去水的吸收峰,参考因子选 1 左右。这 样可以得到较为满意的结果。 ? 背景扣除法:用KBr粉末研磨压片作为背景 。 (A)不添加样品的溴化钾光谱;(

9、B)不含结晶水或羟基的样品光谱; (C)不含结晶水或羟基样品差减后的光谱 糊状法 糊状法是在玛瑙研钵中将待测样 品和糊剂一起研磨,将样品微细 颗粒均匀地分散在糊剂中测定光 谱。最常用的糊剂有石蜡油(液 体石蜡)和氟油。用石蜡油或氟 油与样品一起研磨的方法又叫做 石蜡油研磨法或氟油研磨法。 石蜡油研磨法 石蜡油 ( Mineral oil 或Nujol ) 研 磨法可以非常有效地避免溴化钾压片 法存在的两个致命缺点,即不会发生 离子交换,又不会吸附空气中的水汽 。使用石蜡油研磨法还有另外两个优 点:(1)制样速度快;(2)样品和 石蜡油一起研磨时,石蜡油在样品表 面形成薄膜,保护样品使之与空气隔

10、 绝。 石蜡油研磨法存在两个缺点: (1)石蜡油是饱和碳氢化合物,是 混合物,C 原子的个数约十几个。 由于是碳氢混合物,在样品光谱中 会出现碳氢吸收峰,在30002850 ,1460,1375,720cm-1区间的碳 氢吸收峰会干扰样品的吸收峰;(2 )样品用量较溴化钾压片法用量多 ,至少需要几毫克样品。 石蜡油 ( Mineral oil 或Nujol )的光谱 石蜡油研磨的好处是: (1)不会使谱带变形 (2)不会使峰位发生位移 对于非极性基团的振动 频率,峰位不会发生位 移;对于极性基团,如 C=O的伸缩振动,峰 位会位移几个cm-1. 柠檬苦素 柠檬苦素 石蜡油 显微 无水Na2SO

11、4光谱 石蜡油研磨 显微 制样方法 将几毫克样品放在玛瑙研钵中, 滴加半滴石蜡油研磨。石蜡油加 得越少越好。研磨好后,用硬塑 料片将样品刮下,涂在两片溴化 钾晶片之间,不要加垫片。 薄膜法 薄膜法分为: (1)溶液制膜法 (2)热压制膜法 溶液制膜法 ? 将样品溶解于适当的溶剂中,然后将溶液 滴在红外晶片(如溴化钾、氯化钠、氟化 钡等)、载波片或平整的铝箔上,待溶剂 完全挥发后即可得到样品的薄膜。 ? 溶液制膜法所选用的溶剂应是容易挥发的 溶剂。溶剂极性比较弱,与样品不发生作 用。样品在溶剂中的溶解度要足够大。所 配制的溶液浓度一般为1-3%。浓度过低, 制得的薄膜会太薄,浓度过高,制得的薄

12、膜又会太厚。 ? 滴在载波片上制得的薄膜必须剥离才能 测定。因为载波片在2500cm-1以下不透 红外光。滴在铝箔上制得的薄膜如果剥 离不下来,可以用40,3摩尔/升的 NaOH溶液将铝箔溶解掉,薄膜就漂在液 面上。取出晾干既可用于测试。 ? 溶液滴在溴化钾晶片上制得的薄膜可以 直接测定。如果测得的样品光谱吸光度 太低,可以往溴化钾晶片上继续滴加溶 液;如果吸光度太高,可以往溴化钾晶 片上滴加溶剂溶解掉部分样品。 热压制膜法 ? 热压制膜法可以将较厚的聚合物薄 膜热压成更薄的薄膜,也可以从粒 状、块状或板材聚合物上取下少许 样品热压成薄膜。 ? 热压模具可以购买,也可以自制。 购买的薄膜制样器

13、(Film Maker) 可以将少许聚合物热压成15,25, 50,100,250,500微米厚的薄膜, 薄膜直径为20毫米。 热压模具可以画图加工制作 。用硬质合金钢加工上、下 两块压模板,再加工一个开 口的套环即可用于热压制膜 。制膜时,将压模板放在电 热板上加热,待样品融化或 变软时,将压模板取下,乘 热用压片机施加2吨左右的压 力,即可压制出薄膜。 液体样品的制备和测试 液体样品又分为: (1)有机溶液样品 (2)水溶液样品 液池种类 ? 可拆式液池 ? 固定厚度液池 ? 可变厚度液池 有机液体测试的窗片材料 ? 用于有机液体的红外光谱测试, 并不是所有的液池材料都适用。 通常使用溴化

14、钾和氯化钠作为窗 片材料。 ? 溴化钾晶片的硬度小,容易碎裂 。测试样品时,液池架上的螺丝 拧得太紧或几个螺丝用力不均匀 ,都可能将夹在液池架中的晶片 拧裂。 多次反射ATR附件 ? 水平ATR附件 衰减全反射附件 ? 适合于测定样品的表面性质,如聚合物 ? 适合于测定液体样品,胶状样品,柔软样品 ? 适合于测定薄膜等 ? 适合于快速定性分析 红外光在晶体内表面发生全反射时,一方 面反射光强等于入射光强,另一方面在 晶体外表面附近产生驻波,称为隐失波 (evanescent wave) ? (1)样品折射率越高,穿透深度越 深 ? (2)入射角越大,穿透深度越浅 ? (3)光谱波数越高,穿透深

15、度越浅 ? (4)晶体折射率越大,穿透深度越 浅 ? 有机物折射率一般小于1.5,所以 ATR测得的深度为约1微米。 对测得的ATR光谱进行ATR校正 ATR校正前的乙醇ATR光谱 ATR校正后的乙醇ATR光谱 欧米采样器实际上是一个 ATR附 件,普通 ATR附件采用的是多 次衰减全反射,而欧米采样器的 有效部分是一次衰减全反射。欧 米采样器的晶体通常采用锗晶体 ,被测样品放在晶体的表面上。 红外显微镜的 性能特点 ? 灵敏度高 ? 1. 使用灵敏度高的MCT/A 检测器。 ? 2. 在微小的区间内,光通量大。 ? 3. 样品用量纳克级(几纳克100 纳克 )。 ? 4. 只要肉眼能看得见,

16、或者用放大镜能 看得见的样品就能测试 分析对象广泛 除了气体样品以外,其它任何样 品都可以使用显微红外方法进行测 定。微量液体,纸张,木头,树叶 ,泥土,矿石,包裹体,出土文物 ,塑料,橡胶,纤维,牙齿,金刚 砂,等等。 思考题 ? 红外光谱可以分析那些样品?一般有那 些制样方法,分别适用于什么样品? ? 溴化钾的作用是什么?用溴化钾压片时 应注意什么? ? 衰减全反射光谱的原理,适用于分析什 么样品? (任选两题回答,发邮件至 shaom ) &amp;amp;amp;lt;/p&amp;amp;amp;gt;&amp;amp;lt;/p&amp;amp;gt;&amp;lt;/p&amp;gt;&lt;/p&gt;</p>

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