无损检测最终

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1、无损检测实验 超声波探伤实验 超声波探伤是产品质量检验的一项重要技术。 它具有如下优点:灵敏度高,设备轻巧、操作方 便、探测速度快、成本低、对人体无害等。故被 广泛应用。 本次探伤试验中采用压电法来产生超声波, 压电法是利用压电晶体来产生超声波的。 另外本次试验采用“单收发”模式,即探伤时 是使用一个探头,这个探头同时起接收和发射超 声波作用。 仪器简介 实验仪实验仪 器及用具 CTS22A型超深波探伤仪伤仪 ; CSKIA 、CSKIIA型标标准试块试块 ; 直探头头2.5Z20N、斜探头头2.5Z1010 A60标标准回波探 头头BH50; 耦合剂剂; 游标标卡尺。 仪器的调节与使用 CT

2、S22A型超声探伤仪伤仪 系携带带式A型脉冲反射式超 声探伤仪伤仪 器,可用交流或电电池供电电工作。 本仪仪器采用高性能器件和高亮度内刻度示波管,具有 工作频频率范围宽围宽 ,探伤伤灵敏度高,稳稳定性好,显显示波形清 晰和小型、省电电、方便等特点。 仪仪器可用于金属和部分非金属材料的超声无损检测损检测 , 尤其适用于流动动性大的野外或高架空探伤伤作业业。 仪器面板图及旋钮说明如图图3-1 CTS22A 面板图图 影响探伤波形的因素及缺陷大小、位置、性质的判断 一、耦合剂的影响 耦合剂的作用是将超声波导入工件,一般采用液体。它的声阻 应与工件的声阻相同或接近,以获得最大的入射能量。 二、工件的影

3、响 工件表面光洁度的影响 工件表面光洁度愈高,探头与工件接 触愈好,声波导入工件的能量多。因此高的表面光洁度对声波耦 合有利。 工件内部组织及化学成分的影响,不同工件组织对超声的能量 衰减是不同的。(在钢中与铸铁中的区别) 工件形状的影响,图图2-18与2-19。 缺陷存在情况的影响 缺陷的位置,同一缺陷,由于离探测面的距离不同 ,缺陷波高度与缺陷大小的关系变化如图2-22 缺陷大小,在相同的埋藏深度,不同的缺陷大小时, 缺陷波的高度变化也有所差异。 缺陷形状的影响 缺陷性质的影响 缺陷与声束的相对方向 缺陷表面的粗糙程度 缺陷的指向性 实验内容 一、试试件尺寸测测量试试件1(CSK-A)宽宽

4、与高的测测量 对对比于游标标卡尺的测测量结结果,进进行误误差分析 二、测测量试试件1上缺陷的位置 三、试试件2(CSK-A)上两个圆圆弧半径的测测量 在试试件2上,利用斜探头头,通过仪过仪 表上波 程结结果的记记 录录,直接读读出半径大小。 四、薄件衰减系数的测测定(试试件2)了解 试件宽高的测量 利用直探头 耦合剂 始波 底波 距离a(宽、高) 厚度测量波程图 试件缺陷的位置的确定 确定缺陷位置必须解决缺陷在探测面上的投影位置(即X、Y方向的 数值)以及缺陷存在的深度(即Z方向上的数值),如图所示。 探测表面 Y X 缺陷 Z 缺陷的位置,大小和性质的确定 直探头 斜探头 h=s L h=S*cosr 入射角r S S S 缺陷位置测量波程图(直探头) 试件2上半径的确定 确定参数r与R ,利用斜探头头 试件2上半径波程图图 薄件衰减系数的测测定 薄工件衰减系数只存在介质质衰减,因此通常采用比较较多次反 射回波高度的方法,测测定衰减。其衰减系数: 式中,m、n超声波的底面反射次数; Hm、Hnm和n此底面反射波高度; d试块试块 的厚度。 参数确定 m、n超声波的底面反射次数; Hm、Hnm和n此底面反射波高度;

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