数字电路与逻辑设计实验教材讲解

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1、目录引言实验一TTL与非门的静态参数测试 4 实验二组合逻辑电路分析与设计8 实验三利用MSI设计组合逻辑电路10 实验四译码显示电路15 实验五组合电路中的竞争与冒险20实验六同步计数器的设计22实验七计数、译码、显示综合实验23实验八8421码检测电路的设计25实验九555时基电路及其应用28实验十D-A、A-D转换器34实验十一三位半直流数字电压表40实验十二智力竞赛抢答装置46附录所用集成电路型号及外引线排列图48引 言 数字电路与逻辑设计是一门实践性很强的基础课,在学习中不仅要掌握基本原理和基本方法,更重要的是学会灵活应用。要真正掌握它,必需经过实验环节。数字电路与逻辑设计是其后续课

2、程。通过本课程,可巩固和扩充学过的理论知识,更重要的是,通过实验训练,使同学掌握必要的实验技能和培养科学的实验作风。课程要求学生了解所用仪器的基本原理;熟练使用仪器;熟悉各单元电路的工作原理,各集成器件的逻辑功能和使用方法,从而有效地培养学生理论联系实际和解决实际问题的能力。实验内容是设计、安装、调试型的,要求学生独立完成设计、安装、调整、测试的全过程。学生在 实验中遇到问题,原则由他们自行解决,教师不予具体的帮助,必要时只给思考或方法上的指导。实验的基本过程,应包括确定实验内容,选定最佳的实验方法和实验线路,拟出较好的实验步骤,合理选择仪器设备和元器件,进行连接安装和调试,最后写出完整的实验

3、报告。在进行数字电路实验时,充分掌握和正确利用集成元件及其构成的数字电路独有的特点和规律,可以收到事半功倍的效果,对于完成每一个实验,应做好实验预习,实验记录和实验报告等环节。一、实验预习认真预习是做好实验的关键,预习好坏,不仅关系到实验能否顺利进行,而且直接影响实验效果,预习应按本教材的实验预习要求进行,在每次实验前首先要认真复习有关实验的基本原理,掌握有关器件使用方法,对如何着手实验做到心中有数,通过预习还应做好实验前的准备,写出一份预习报告,其内容包括:1 绘出设计好的实验电路图,该图应该是逻辑图和连线图的混合,既便于连接线,又反映电路原理,并在图上标出器件型号、使用的引脚号及元件数值,

4、必要时还须用文字说明。2拟定实验方法和步骤。3拟好记录实验数据的表格和波形座标。4列出元器件单。二、实验记录实验记录是实验过程中获得的第一手资料,测试过程中所测试的数据和波形必须和理论基本一致,所以记录必须清楚、合理、正确,若不正确,则要现场及时重复测试,找出原因。实验记录应包括如下内容:1 实验任务、名称及内容。2 实验数据和波形以及实验中出现的现象,从记录中应能初步判断实验的正确性。3 记录波形时,应注意输入、输出波形的时间相位关系,在座标中上下对齐。4 实验中实际使用的仪器型号和编号以及元器件使用情况。三、实验报告实验报告是培养学生科学实验的总结能力和分析思维能力的有效手段,也是一项重要

5、的基本功训练,它能很好地巩固实验成果,加深对基本理论的认识和理解,从而进一步扩大知识面。实验报告是一份技术总结,要求文字简洁,内容清楚,图表工整。报告内容应包括实验目的、实验内容和结果、实验使用仪器和元器件以及分析讨论等,其中实验内容和结果是报告的主要部分,它应包括实际完成的全部实验,并且要按实验任务逐个书写,每个实验任务应有如下内容:1.实验课题的方框图、逻辑图(或测试电路)、状态图,真值表以及文字说明等,对于设计性课题,还应有整个设计过程和关键的设计技巧说明。2.实验记录和经过整理的数据、表格、曲线和波形图,其中表格、曲线和波形图应充分利用专用实验报告简易座标格,并且三角板、曲线板等工具描

6、绘,力求画得准确,不得随手示意画出。3.实验结果分析、讨论及结论,对讨论的范围,没有严格要求,一般应对重要的实验现象,结论加以讨论,以使进一步加深理解,此外,对实验中的异常现象,可作一些简要说明,实验中有何收获,可谈一些心得体会。实验一 TTL与非门的静态参数测试一、实验目的1.掌握TTL与非门电路主要参数和电压传输特性的测试方法。2.熟悉数字电路实验箱、数字万用表的使用。二、实验仪器及器件1.数字电路实验箱、万用表、示波器。3.器件:74LS00X 2、电阻:200X1三、实验预习复习TTL与非门的逻辑功能、主要参数和电压传输特性。四实验原理TTL与非门电路是目前较为普遍的一种集成门电路。本

7、实验采用四2输入与非门74LS00,即在一块集成块内含有四个互相独立的与非门,每个与非门有2个输入端。其电路图、逻辑符号及引脚排列如图(一)(a)、(b)所示。(b) 74LS001234567141312111098VCC 4B 4A 4Y 3B 3A 3Y1A 1B 1Y 2A 2B 2Y GND& R(a) 图(一)对于使用集成电路者来说,所关心的是集成门电路从导通到截止所需要的转换条件其所表现出来的转换特性,诸如开门电平、输出高电平、输出低电平等这样一些静态参数,以及诸如平均传输延迟时间一类动态参数的测量,与非门电路的转换特性(电压传输特性)曲线,它表示输入由低电平变到高电平时输出电平

8、的相应变化,所有这些都是选择和设计电路所必须了解的。五实验内容1、低电平输出电源电流ICCL和高电平输出电源电流ICCH及静态平均功耗: 与非门处于不同的工作状态,电源提供的电流是不同的。 ICCL:指所有输入端悬空,输出端空载时,电源提供器件的电流。也称空载导通电流。测试电路如图(二)(a)所示。 ICCH:指输出端空载,每个门各有一个以上的输入端接地,其余输入端空,电源提供器件的电流。也称空载截止电流。测试电路如图(二)(b)所示。:为电路空载导通功耗POn和空载截止功耗POff的平均值。其值为:74LS001234567141312111098mAVCC(+5V)(a)+-ICCL74L

9、S001234567141312111098mAVCC(+5V)(b)+-ICCH (通常POnPOff) 图(二)2、输入短路电流IIS和输入漏电流IIH: IIS(或IIL):指被测输入端接地,其余输入端和输出端悬空时,由被测输入端流出的电流。也称低电平输入电流。在由多级门构成的电路中,IIS相当干前级门输出低电平时,后级向前级门灌入的电流。因此,IIS关系到前级门的灌电流负载能力,IIS越小,前级门带负载的个数就越多。测试电路如图(三)(a)所示。 IIH:指被测输入端接高电平,其余输入端接地,输出端悬空时,流入被测输入端的电流。也称高电平输入电流。在由多级门构成的电路中,它相当于前级门

10、输出高电平时,前级门的拉电流负载。IIH的大小关系到前级门的拉电流负载能力,IIH越小,前级门电路带负载的个数就越多。实际上,因IIH较小,难以测量,一般免测试此项。测试电路如图(三)(b)所示。AVCC(+5V)(b)+-IIHmAVCC(+5V)(a)+-IIS图(三)(3)输出高电平UOH及关门电平Uoff 测量电路如图(四)(a)所示。先调W,使输入电压为0V这时输出电压即为UOH。然后渐渐增大输入电压,当输出电压下降90%UOH时,测得输入电压即为关门电平Uoff。(4)输出低电平UOL及开门电平Uon 测量电路如图(四)(b)所示。先调W,使输入电压为高电平,测得的输出电压即为UO

11、L。然后渐渐减小输入电压,测得使输出电压维持在UOL的最低输入电平,即为开门电平Uon。5V&10KRLW1K+U-V5V&560RLW1K+U-V图(四)(b)(a)2、测试TTL与非门的电压传输特性:图(四)(b)去掉RL即为测量电路。调W,使输入电压由小到大,用万用表对应地测出输入电压和输出电压,并一一记录在表(一)中。表(一 )只作参考,测量时,对VOff和VON的附近,输入电压的变化可取小一些。即测量点取密一些。表(一)ui(V)00.20.40.60.811.522.533.54uo(V)3、平均传输延迟时间tpdtpd是衡量门电路开关速度的参数,它是指输出波形边沿的0.5Vm至输

12、入波形对应边沿0.5Vm点的时间间隔,如图(五)(a)所示。图(五)(a)中的tpdL为导通延迟时间,tpdH为截止延迟时间,平均传输延迟时间为: 至示波器(a) 传输延迟特性 (b) tpd的测试电路图(五)tpd的测试电路如图(五)(b)所示,由于TTL门电路的延迟时间较小,直接测量时对信号发生器和示波器的性能要求较高,故实验采用测量由奇数个与非门组成的环形振荡器的振荡周期T来求得。 其工作原理是:假设电路在接通电源后某一瞬间,电路中的A点为逻辑“1”,经过三级门的延迟后,使A点由原来的逻辑“1”变为逻辑“0”;再经过三级门的延迟后,A点电平又重新回到逻辑“1”。电路中其它各点电平也跟随变

13、化。说明使A点发生一个周期的振荡,必须经过6 级门的延迟时间。因此平均传输延迟时间为 TTL电路的tpd一般在10nS40nS之间。由于所用的74LS00四输入与非门的tpd很短,要用7个与非门连成环形震荡器,以便测量其周期T。六实验报告:1.画出所有测试电路,记录、整理实验数据,并对结果进行分析。 2.画出实测的电压传输特性曲线,并从中读出各有关参数值。实验二 组合逻辑电路分析与设计一实验目的:1.掌握组合逻辑电路的分析方法,并验证其逻辑功能。2.掌握组合逻辑电路的设计方法,并能用最少的逻辑门实现之。3.熟悉示波器的使用。二实验仪器及器件:1.数字电路实验箱、数字万用表、示波器。2.器件:四2输入与非门X2, 四2输入异或门74LS86X1,可预置二-八-十六进制计数器74LS197X1。三实验预习:1.复习组合逻辑电路的分析方法。对实验中所选的组合电路写出函数式。2.复习组合逻辑

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