《产品整机可靠性试验检验标准 2006-12. 25》由会员分享，可在线阅读，更多相关《产品整机可靠性试验检验标准 2006-12. 25（29页珍藏版）》请在金锄头文库上搜索。
1、 第1页，共29页 检验标准 MLT-SOP-QMD-A068 检验标准 MLT-SOP-QMD-A068 产品整机可靠性试验 产品整机可靠性试验 文件版本：A/0 文件版本：A/0 拟 制： 拟 制： 审 核： 审 核： 批 准： 批 准： 本标准文件属于万利达移动公司所有，限本公司内部使用，以及与本司签署了保密协议书 的供应商使用，严禁使用者转发、复制、散布等。 2007-03-30 发布 2007-03-30 实施2007-03-30 发布 2007-03-30 实施 万利达移动通信设备有限公司发布万利达移动通信设备有限公司发布 第2页，共29页 目 次 目 次 1目的4 2适用范围4
2、3引用标准4 4测试条件4 5试验项目及方法： 5.1 模拟测试5 5.1.1 待机时长测试5 5.1.2 通话时长测试5 5.1.3 振铃声级测试5 5.2 环境适应性测试6 5.2.1 低温贮存6 5.2.2 低温工作6 5.2.3 高温贮存7 5.2.4 高温工作7 5.2.5 高温老化8 5.2.6 恒定湿热8 5.2.7 极限温度充电9 5.2.8 温度变化贮存9 5.2.9 温度变化工作10 5.2.10 温度冲击 10 5.2.11 盐雾 11 5.2.12 自由跌落 11 5.2.13 10CM 跌落12 5.2.10 整箱跌落 12 5.3 寿命试验13 5.3.1 推力13
3、 5.3.2 正面平压13 5.3.3 LCM 挤压13 5.3.4 吊带孔耐力14 5.3.5 机械按键寿命14 5.3.6 机械翻（滑）盖寿命14 5.3.7 触摸屏划线寿命15 5.3.8 触摸屏点击寿命15 1目的4 2适用范围4 3引用标准4 4测试条件4 5试验项目及方法： 5.1 模拟测试5 5.1.1 待机时长测试5 5.1.2 通话时长测试5 5.1.3 振铃声级测试5 5.2 环境适应性测试6 5.2.1 低温贮存6 5.2.2 低温工作6 5.2.3 高温贮存7 5.2.4 高温工作7 5.2.5 高温老化8 5.2.6 恒定湿热8 5.2.7 极限温度充电9 5.2.8
4、 温度变化贮存9 5.2.9 温度变化工作10 5.2.10 温度冲击 10 5.2.11 盐雾 11 5.2.12 自由跌落 11 5.2.13 10CM 跌落12 5.2.10 整箱跌落 12 5.3 寿命试验13 5.3.1 推力13 5.3.2 正面平压13 5.3.3 LCM 挤压13 5.3.4 吊带孔耐力14 5.3.5 机械按键寿命14 5.3.6 机械翻（滑）盖寿命14 5.3.7 触摸屏划线寿命15 5.3.8 触摸屏点击寿命15 第3页，共29页 5.3.9 电池/电池盖插拔（人手） 15 5.3.10 SIM 卡插拔（人手） 16 5.3.11 T-Flash 卡插拔（
5、人手） 16 5.3.12 耳机插拔（人手）16 5.3.13 I/O 口插拔（人手） 17 5.3.14 胶塞插拔（人手） 17 5.3.15 人手翻（滑）盖 17 5.3.16 人手按键 18 5.3.17 手写笔伸缩/插拔（人手）18 5.3.18 摄像头旋转（人手） 18 5.4 电磁兼容性测试19 5.4.1 静电放电抗扰度试验19 5.5 表面处理测试20 5.5.1 耐磨20 5.5.2 附着力20 5.5.3 密着力21 5.5.4 铅笔硬度21 5.5.5 人汗试验22 5.5.6 耐酒精擦拭22 5.5.7 漆膜冲击23 5.5.8 标牌耐久性测试23 5.5.9 弯曲23
6、 5.6 专项寿命测试24 5.6.1 响铃寿命24 5.6.2 马达振动寿命24 5.6.3 MP3 播放寿命24 5.6.4 背光点亮寿命25 5.6.5 发、受话寿命25 5.6.6 GSM 手机时钏对时25 5.7MTBF 平均故障间隔时间测试26 6手机外观、包装和装配检查及基本功能检测： 6.1 外观、包装和装配检查 27 6.2 基本功能检测 27 5.3.9 电池/电池盖插拔（人手） 15 5.3.10 SIM 卡插拔（人手） 16 5.3.11 T-Flash 卡插拔（人手） 16 5.3.12 耳机插拔（人手）16 5.3.13 I/O 口插拔（人手） 17 5.3.14 胶塞插拔（人手） 17 5.3.15 人
