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1、一、选择题,1. .当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（D）。 A. 光电子；B. 二次荧光；C. 俄歇电子；D. （A+C）3. 最常用的X射线衍射方法是（ B ）。 A. 劳厄法；B. 粉末多晶法；C. 周转晶体法；D. 德拜法。 4. 测定钢中的奥氏体含量，若采用定量X射线物相分析，常用方法是（ C ）。 A. 外标法；B. 内标法；C. 直接比较法；D. K值法。,5. 可以提高TEM的衬度的光栏是（B ）。A. 第二聚光镜光栏；B. 物镜光栏；C. 选区光栏；D. 其它光栏。6. 如果单晶体衍射花样是正六边形，
2、那么晶体结构是（ D ）A. 六方结构；B. 立方结构；C. 四方结构；D. A或B。8. 仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是（ B ）。A. 背散射电子；B. 二次电子；C. 吸收电子；D.透射电子。 9透射电镜的两种主要功能：（ b ）（a）表面形貌和晶体结构 （b）内部组织和晶体结构 （c）表面形貌和成分价键 （d）内部组织和成分价键,11. X射线衍射方法中最常用的方法是（ b ）。 a.劳厄法；b粉末多晶法；c周转晶体法。13. X射线物相定性分析方法中有三种索引，如果已知物质名时可以采用（ c）。a哈氏无机数值索引 ；b. 芬克无机数值索引；c. 戴维无机字母索引。14. 能
3、提高透射电镜成像衬度的可动光阑是（ b ）。 a第二聚光镜光阑 ；b. 物镜光阑 ；c. 选区光阑。15. 透射电子显微镜中可以消除的像差是（ b ）。a球差 ；b. 像散 ；c. 色差。16. 可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是（a ）。a高阶劳厄斑点 ；b. 超结构斑点；c. 二次衍射斑点。17. 电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是（ b ）。a背散射电子；b.俄歇电子 ；c. 特征X射线。,18. 中心暗场像的成像操作方法是（ c ）。a以物镜光栏套住透射斑；b以物镜光栏套住衍射斑；c将衍射斑移至中心并以物。19. 对于面心立方晶体来说，下面
4、（c ）个晶面可能会产生衍射斑点 a（100）；b（110）；c（111）；d. (211),二、填空题： 1.电子衍射产生的复杂衍射花样是 高阶劳厄斑、超结构斑点、二次衍射、孪晶斑点和菊池花样。2. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生 连续谱 X射线和 特征谱 X射线。3. 产生衍射的必要条件是 满足布拉格方程 ，充分条件是 衍射强度不等于0 。4. 电磁透镜的像差包括球差、像散和色差。6. 电子探针包括波谱仪和能谱仪两种仪器。7. 今天复型技术主要应用于 萃取复型 方法来揭取第二相微小颗粒进行分析。8. X射线管主要由 阳极、阴极、和 窗口 构成。,德拜照相法中的底片安装方法有： 正装
5、、 反装 和 偏装 三种。测钢中残余奥氏体的直接比较法就属于X射线物相分析方法中的 定量 分析方法。透射电子显微镜的分辨率主要受 衍射效应 和 像差 两因素影响。扫描电子显微镜常用的信号是 二次电子 和 背散射电子。,三、判断题,1透射电镜图像的衬度与样品成分无关。 （ ） 2扫描电镜的二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。（ ） 3透镜的数值孔径与折射率有关。 （ ） 4放大倍数是判断显微镜性能的根本指标。 （） 5在样品台转动的工作模式下，X射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角速度的二倍。（ ）6. 电子衍射和X射线衍射一样必须严格符合布拉格方程。（ ）7.扫描电子显微镜的衬度和透射电镜
6、一样取决于质厚衬度和衍射衬度。（ ）8.实际电镜样品的厚度很小时，能近似满足衍衬运动学理论的条件,这时运动学理论能很好地解释衬度像。（ ）9.倒易矢量能唯一地代表对应的正空间晶面。（ ）10产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处于激发状态。（ ）,四、证明题：,证明衍射分析中的厄瓦尔德球图解与布拉格方程等价。证明：以入射X射线的波长的倒数为半径作一球（厄瓦尔德球），将试样放在球心O处，入射线经试样与球相交于O*；以O*为倒易原点，若任一倒易点G落在厄瓦尔德球面上，则G对应的晶面满足衍射条件产生衍射。证明：如图，令入射方向矢量为k（k = 1/），衍射方向矢量为k，衍射矢量为g。则
7、有g = 2ksin。g=1/d；k=1/，2dsin=。即厄瓦尔德球图解与布拉格方程等价。,五、简答题,2.透射电镜中如何获得明场像、暗场像和中心暗场像？答：如果让透射束进入物镜光阑，而将衍射束挡掉，在成像模式下，就得到明场象。如果把物镜光阑孔套住一个衍射斑，而把透射束挡掉，就得到暗场像，将入射束倾斜，让某一衍射束与透射电镜的中心轴平行，且通过物镜光阑就得到中心暗场像。,4.试述X射线衍射单物相定性分析的基本步骤？答：单相物质定性分析的基本步骤是：（1）计算或查找出衍射图谱上每根峰的d值与I值；（2）利用I值最大的三根强线的对应d值查找索引，找出基本符合的物相名称及卡片号；（3）将实测的d、
8、I值与卡片上的数据一一对照，若基本符合，就可定为该物相。5. 分别说明成像操作与衍射操作时各级透镜（像平面与物平面）之间的相对位置关系。答：成像操作时中间镜是以物镜的像作为物成像，然后由投影镜进一步放大投到荧光屏上，即中间镜的物平面与物镜的像平面重合；衍射操作是以物镜的背焦点作为物成像，然后由投影镜进一步放大投到荧光屏上，即中间镜的物平面与物镜的背焦面重合。,9. 试简单说明电子束入射固体样品表面激发的主要信号、主要特点和用途。答：主要有六种：1)背散射电子:能量高；来自样品表面几百nm深度范围；其产额随原子序数增大而增多.用作形貌分析、成分分析以及结构分析。2)二次电子:能量较低；来自表层5
9、10nm深度范围；对样品表面化状态十分敏感。不能进行成分分析.主要用于分析样品表面形貌。3)吸收电子:其衬度恰好和SE或BE信号调制图像衬度相反;与背散射电子的衬度互补。吸收电子能产生原子序数衬度，即可用来进行定性的微区成分分析.4)透射电子：透射电子信号由微区的厚度、成分和晶体结构决定.可进行微区成分分析。5)特征X射线: 用特征值进行成分分析，来自样品较深的区域 6)俄歇电子:各元素的俄歇电子能量值很低；来自样品表面12nm范围。它适合做表面分析。,10布拉格方程 2dsin=中的d、分别表示什么？布拉格方程式有何用途？答：dHKL表示HKL晶面的面网间距，角表示掠过角或布拉格角，即入射X
10、射线或衍射线与面网间的夹角，表示入射X射线的波长。该公式有二个方面用途：（1）已知晶体的d值。通过测量，求特征X射线的，并通过判断产生特征X射线的元素。这主要应用于X射线荧光光谱仪和电子探针中。（2）已知入射X射线的波长， 通过测量，求晶面间距。并通过晶面间距，测定晶体结构或进行物相分析。,12何为晶带定理和零层倒易截面? 说明同一晶带中各晶面及其倒易矢量与晶带轴之间的关系。答：晶体中，与某一晶向uvw平行的所有晶面（HKL）属于同一晶带，称为uvw晶带，该晶向uvw称为此晶带的晶带轴，它们之间存在这样的关系：取某点O*为倒易原点，则该晶带所有晶面对应的倒易矢（倒易点）将处于同一倒易平面中，这
11、个倒易平面与Z垂直。由正、倒空间的对应关系，与Z垂直的倒易面为（uvw）*,即 uvw(uvw)*，因此，由同晶带的晶面构成的倒易面就可以用（uvw）*表示，且因为过原点O*，则称为0层倒易截面（uvw）*。,13试述获取x射线衍射花样的三种基本方法及其用途？答：获取衍射花样的三种基本方法是劳埃法、旋转晶体法和粉末法。劳埃法主要用于分析晶体的对称性和进行晶体定向；旋转晶体法主要用于研究晶体结构；粉末法主要用于物相分析。14简要说明多晶（纳米晶体）、单晶及非晶衍射花样的特征及形成原理。答：单晶花样是一个零层二维倒易截面，其倒易点规则排列，具有明显对称性，且处于二维网络的格点上。因此表达花样对称性
12、的基本单元为平行四边形。单晶电子衍射花样就是(uvw)*0零层倒易截面的放大像。多晶面的衍射花样为：各衍射圆锥与垂直入射束方向的荧光屏或照相底片的相交线，为一系列同心圆环。每一族衍射晶面对应的倒易点分布集合而成一半径为1/d的倒易球面，与Ewald球的相惯线为园环，因此，样品各晶粒hkl晶面族晶面的衍射线轨迹形成以入射电子束为轴、2q为半锥角的衍射圆锥，不同晶面族衍射圆锥2q不同，但各衍射圆锥共顶、共轴。非晶的衍射花样为一个圆斑。,给出简单立方、面心立方、体心立方以及密排六方晶体结构电子衍射发生消光的晶面指数规律。答：常见晶体的结构消光规律简单立方 对指数没有限制（不会产生结构消光）f. c. c h. k. L. 奇偶混合b. c. c h+k+L=奇数h. c. p h+2k=3n, 同时L=奇数体心四方 h+k+L=奇数,
