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1、温湿度对电子元器件的危害2011-03-24 14:34:48| 分类： 维修电工 | 标签： |字号大中小 订阅 本文引用自职业管理人 温湿度对电子元器件的危害一、湿度对电子元器件和整机的危害：绝大部分电子产品都要求在干燥条件下作业和存放。据统计，全球每年有 1/4 以上的工业制造不良品与潮湿的危害有关。对于电子工业，潮湿的危害已经成为影响产品质量的主要因素之一。 1集成电路：潮湿对半导体产业的危害主要表现在潮湿能透过 IC 塑料封装从引脚等缝隙侵入 IC 内部，产生 IC 吸湿现象。 在 SMT 过程的加热环节中形成水蒸气，产生的压力导致 IC 树脂封装开裂，并使 IC 器件内部金属氧化，
2、导致产品故障。此外，当器件在 PCB 板的焊接过程中，因水蒸气压力的释放，亦会导致虚焊。 根据 IPC-M190 J-STD-033 标准，在高湿空气环境暴露后的 SMD 元件，必需将其放置在 10%RH 湿度以下的干燥箱中放置暴露时间的 10 倍时间，才能恢复元件的“车间寿命 ”，避免报废，保障安全 。 2液晶器件：液晶显示屏等液晶器件的玻璃基板和偏光片、滤镜片在生产过程中虽然要进行清洗烘干，但待其降温后仍然会受潮气的影响，降低产品的合格率。因此在清洗烘干后应存放于 40%RH 以下的干燥环境中。3其它电子器件：电容器、陶瓷器件、接插件、开关件、焊锡、PCB 、晶体、硅晶片、石英振荡器、SM
3、T 胶、电极材料粘合剂、电子浆料、高亮度器件等，均会受到潮湿的危害。 作业过程中的电子器件：封装中的半成品到下一工序之间；PCB 封装前以及封装后到通电之间；拆封后但尚未使用完的 IC、BGA 、PCB 等；等待锡炉焊接的器件；烘烤完毕待回温的器件；尚未包装的产成品等，均会受到潮湿的危害。 成品电子整机在仓储过程中亦会受到潮湿的危害。如在高湿度环境下存储时间过长，将导致故障发生，对于计算机板卡 CPU 等会使金手指氧化导致接触不良发生故障。 电子工业产品的生产和存储环境湿度应该在 40以下。有些品种还要求湿度更低。 二、企业如何用现代化的手段管理电子产品的存放环境 综上所述，湿度是企业产品质量
4、的致命敌人，那么，企业应该如何来管理电子产品的存放湿度呢？我们先来分析一下，电子产品的生产全过程。电子产品的生产大致可以分成以下几个步骤： 企业应该着重管理原料仓库、生产车间、成品仓库和运输车辆的温湿度。那企业应该怎么来管理呢？传统的管理办法就是：由仓管员或管理人员不定时查看、记录仓库和车间的湿度值，发现异常情况即使用加湿或除湿设备控制仓库、车间的湿度。这样的管理办法比较费时间和人力，而且记录的数据因为有人为的因素，数据不是很客观，这样的方法不太符合现代化企业管理的要求；而在物流方面，企业基本没有办法管理运输车辆上的温湿度变化。那么能有什么样的方法才能使企业管理既科学又规范呢？其实很简单，这些
5、都可以由温湿度自动记录仪来帮你做到！ 如何有效控制保护湿度敏感电子元器件（MSD） 湿度敏感器件（MSD）对 SMT 生产直通率和产品的可靠性的影响不亚于 ESD，所以认识 MSD 的重要性，深入了解 MSD 的损害机理，学习相关标准，通过规范化MSD 的过程控制方法，避免由于吸湿造成在回流焊接过程中的元器件损坏来降低由此造成的产品不良率，提高产品的可靠性是 SMT 不可推脱的责任。 一、MSD 的发展趋势 电子制造行业的发展趋势使得 MSD 问题迫在眉睫。 第一，新兴信息技术的产生和发展，对电子产品可靠性提出了更高的要求。由于对单一器件缺陷率的要求，在装配检测过程中不允许有明显的缺陷漏检率。
6、 第二，封装技术的不断变化导致湿度敏感器件和更高湿度等级的敏感器件的使用量在不断增加。比如：更短的发展周期、越来越小的封装尺寸、更细的间距、新型封装材料的使用、更大的发热量和尺寸更大的集成电路等。 第三，面阵列封装器件（如：BGA,CSP ）使用数量的不断增加更明显的影响着这一状况。因为面阵列封装器件趋向于采用卷带封装，每盘卷带可以容纳非常多的器件。与 IC 托盘封装相比，卷带封装无疑延长了器件的曝露时间。第四，虽然贴装无铅化颇具争议，但随着它的不断推进，也会给 MSD 的等级造成重大影响。无铅合金的回流峰值温度更高，它可能使 MSD 的湿度敏感性至少下降 1 或 2 个等级，所以必须重新确认
7、现在的所有器件的品质。 由于产品大量定制化和物料外购化的大举推进。在 PCB 装配行业，这种现象转变为“高混合 ”型生产。通常，每种产品生产数量的减小导致了生产线的频繁切换，同时延长了湿度敏感器件的曝露时间。每当生产线切换为其他产品时，许多已经装到贴片机上的器件不得不拆下来。这就意味着，大量没有用完的托盘器件和卷带器件暂时储存起来以备后用。这些封装在托盘和卷带里的没有用完的湿度敏感器件，很可能在重返生产线并进行最后的焊接以前，就超过了其最大湿度容量。在装配和处理期间，不仅额外的曝露时间可以导致湿度过敏，而且干燥储存的时间长短也对此有影响。 二、湿度敏感器件 根据标准，MSD 主要指非气密性(N
8、on-Hermetic)SMD 器件。包括塑料封装、其他透水性聚合物封装（环氧、有机硅树脂等）。一般 IC、芯片、电解电容、LED 等都属于非气密性 SMD 器件。 MSD 的湿度敏感级别按 J-STD-020 标准分为 6 大类。其首要区别在于Floor Life（车间寿命）、体积大小及受此影响的回流焊接表面温度。影响 MSL 的因素主要有Die attach material/process、Number of pins、Encapsulation (mold compound or glob top)material/process、Die pad area and shape、Body
9、 size、Passivation/die coating、Leadframe/substrate/and/or heat spreader design/material/finish、Die size/thickness、Wafer fabrication technology/process、Interconnect、Lead lock taping size/location as well as material 等。 工程研究显示，经过温度曲线设置相同的焊接炉子时，体积较小的 SMD 器件达到的温度要比体积大的器件的温度高。因此体积偏小的器件会被划分到回流温度较高的一类。虽然采用热
10、风对流回流焊可以减小这种由于封装大小造成的温度差异，但这种温度差异还是客观存在的。这里提到的“体积” 为长宽 高，这些尺寸不包括外部管脚，温度指的是器件上表面的温度。 湿度敏级别为 1 的，不是湿度敏感器件。 三、湿度敏感危害产品可靠性的原理 在 MSD 暴露在大气中的过程中，大气中的水分会通过扩散渗透到湿度敏感器件的封装材料内部。当器件经过贴片贴装到 PCB 上以后，要流到回流焊炉内进行回流焊接。在回流区，整个器件要在 183 度以上 30-90s 左右，最高温度可能在 210-235 度（SnPb 共晶），无铅焊接的峰值会更高，在 245 度左右。在回流区的高温作用下，器件内部的水分会快速
11、膨胀，器件的不同材料之间的配合会失去调节，各种连接则会产生不良变化，从而导致器件剥离分层或者爆裂，于是器件的电气性能受到影响或者破坏。破坏程度严重者，器件外观变形、出现裂缝等（通常称作“爆米花”）。像 ESD破坏一样，大多数情况下，肉眼是看不出来这些变化的，而且在测试过程中，MSD 也不会表现为完全失效。 四、MSD 涉及的制造工艺 MSD 只会在采用 Convection、Convector/IR、IR、VPR 的 Bulk Reflow 工艺过程受到影响，当然，在通过局部加热来拆除或者焊接器件的工艺过程中-如“ 热风返工”的工艺中也要严格控制 MSD 的使用。其他诸如穿孔插入器件或者 So
12、cket 固定的器件，以及仅仅通过加热管脚来焊接的工艺（在这种焊接过程中，整个器件吸收的热量相对来讲要小的多。）等。 五、MSD 标识和跟踪 要控制 MSD，首先要考虑的就是器件的正确标识。绝大多数情况下，器件制造商在 MSD 封装和防潮袋标识方面做了很多有益的工作。但是并非所有的厂商都遵循IPC/JEDEC 标签标识方面的指导原则，实际上 MSD 的标识是各种各样，有的仅仅采用手写在包装袋上来注明 MSL，有的则用条形码来记录 MSL，有些就没有任何标示，或者是收到物料时器件没有进行防潮包装。如果收到物料时，器件没有进行防潮包装，或者包装袋上没有进行恰当的标识，那么这些物料很可能被认为是非湿
13、度敏感的，这就很危险了。避免这种情况的唯一措施就是建立包括所有 MSD 的数据库，以确保来料接受或来料检测时物料是被正确包装的。除了通过观察原包装上的标签，没有其他更便利的措施来获得给定器件的湿度敏感性信息，因此，建立和维护 MSD 数据库本身就是一个挑战性的工作。 其次，一旦把器件从防潮保护袋中拿出来，就很难再次确认哪些是湿度敏感器件。为了获得任何可能的控制措施，很有必要为物料处理人员和操作工提供便利和可靠的方法以获得物料编码以及相关的信息，包括湿度敏感等级。根据 JEDEC/EIAJ 标准规定，大部分 MSD 都被封装在塑料 IC 托盘内。不幸的是，IC 托盘没有足够的空间来贴标签，大多数
14、情况下，人们直接把几张纸或者不干胶标签贴在货架、喂料器、防潮柜或者袋子上来区分每种托盘。经过不同的流程以后，器件相关的所有信息必须从原始的标签完整的保留下来。在跟踪托盘物料封装和由此导致的人为错误的过程中，会遇到巨大的困难，有过 SMT 生产线经历的人对此深有感触。 再者，MSD 分为六类，根据标准，每一类控制方法也相差很大；同时，一个生产工厂内的操作人员上千人，每个人的认知水平和知识水平都不一样，所以要保证每个人都对 MSD 了如指掌，操作不出现任何失误，实在是一个庞大的工程。 在实际的操作中，简单而实用的标识方法是：首先，对所有与此操作相关的人员不断培训和考核，至少保证其知道 MSD 是怎
15、么一回事。其次，直到 MSD 规范操作的规章制度，奖罚分明。再者，建立 MSD 准数据库，由专人负责定期将 MSD 列表发布给相关部门。根据实际的生产情况，大多数 MSD 的 MSL 为 3 级，为了简化操作，除了特别指明外，所有 MSD 以 Level 3 的方法进行处理和操作，这样就使得 MSD 的标识非常简单。如果采用 SAP 系统，物料在入库的时候，收获库会在每盘物料的包装上贴上一个 SAP 标签（SAP 标签包括物料编码、物料描述等信息，格式是死的），操作人员会根据 MSD 列表中列出的 MSD 清单，把所有 MSD 的标签都使用醒目的黄色标签，其他物料全部使用白色标签。SAP 标签
16、是唯一的，而且与每种物料一一对应，不论物料走到哪里，SAP 标签也跟到哪里，从而保证 MSD 受到全程标识和跟踪。 为了确保物料在特定的时间内组装，组装人员可能会完全依靠物流管理层来进行控制，这是最糟糕的做法。在某些时期，这种做法还可以接受，但随着器件制造工艺的变化和产品多样化的激增，这种做法的危害性也随之增加。由于组装人员根本没有对器件的存储和使用信息进行跟踪，所以他们也不知道物料曝露了多久，更不了解已经超过拆封寿命的 MSD 的比例是多少。 这种做法的危害到底有多大，下面是一个例子。假设每块成品需要一个 BGA，现在取出一盘（卷带包装）BGA，和大部分 PBGA 一样，其湿度等级为 4，拆封寿命 72小时。这就意味着，一旦器件被装到到贴片机上，生产线的生产率必须大于 12 块/小时。为了在器件失效以前完成生产，一天 24 小时，必须连续三天不停机生产。同时必须考虑 SMT 生产线上料调试（可望不进行离线上料）以及其他常见的情况所导致的器件曝露时间，如生产计划的变化，缺料和机器故障等。其次，还必须考虑
