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1、ICP-OES基本理论基本理论 PerkinElmer 华西区技术支持华西区技术支持 杨日怀杨日怀Page 2 一、一、ICP发射光谱概述及分析原理发射光谱概述及分析原理Page 3 原子发射光谱的历史原子发射光谱的历史Page 4 原子发射光谱分析法的优点原子发射光谱分析法的优点Page 5 原子发射光谱法是根据处于激发态的待测元素原子回到基态时发射的特征原子发射光谱法是根据处于激发态的待测元素原子回到基态时发射的特征谱线对待测元素进行分析的方法。谱线对待测元素进行分析的方法。原子发射光谱法包括了三个主要的过程原子发射光谱法包括了三个主要的过程，即：，即： 由光源提供能量使样品蒸发、形成气态
2、原子、并进一步使气由光源提供能量使样品蒸发、形成气态原子、并进一步使气 态原子激发态原子激发而产生光辐射；而产生光辐射； 将光源发出的复合光经单色器分解成按波长顺序排列的谱线，形成光谱；将光源发出的复合光经单色器分解成按波长顺序排列的谱线，形成光谱； 用检测器检测光谱中谱线的波长和强度。用检测器检测光谱中谱线的波长和强度。 由于待测元素原子的能级结构不同，因此发射谱线的特征不同，据此由于待测元素原子的能级结构不同，因此发射谱线的特征不同，据此可对样品进行定性分析；而根据待测元素原子的浓度不同，因此发射强度可对样品进行定性分析；而根据待测元素原子的浓度不同，因此发射强度不同，可实现元素的定量测定
3、。不同，可实现元素的定量测定。Page 6 1913年年Bohr提出了原子结构学说，其要点如下：提出了原子结构学说，其要点如下：电子绕核作圆周运行，可以有若干个分立的圆形轨道，在不同轨道上运行的电子绕核作圆周运行，可以有若干个分立的圆形轨道，在不同轨道上运行的电子处于不同的能量状态。在这些轨道上运行的电子不辐射能量，即处于定电子处于不同的能量状态。在这些轨道上运行的电子不辐射能量，即处于定态。在多个可能的定态中，能量最低的态叫基态，其它称为激发态态。在多个可能的定态中，能量最低的态叫基态，其它称为激发态原子可以由某一定态跃迁至另一定态。在此过程中发射或吸收能量，两态之原子可以由某一定态跃迁至另
4、一定态。在此过程中发射或吸收能量，两态之间的能量差等于发射或吸收一个光子所具有的能量，即间的能量差等于发射或吸收一个光子所具有的能量，即: h =E2-E1上式称为上式称为Bohr频率条件频率条件。式中，。式中，E2 E1。如。如E2为起始态能量，则发射辐射；为起始态能量，则发射辐射；如如E2为终止态能量，则吸收辐射。为终止态能量，则吸收辐射。h为为planck常数（常数（6.626210-34JS）。）。原子可能存在的定态只能取一些不连续的状态，即电子只能沿着特定的轨道原子可能存在的定态只能取一些不连续的状态，即电子只能沿着特定的轨道绕核旋转。在这些轨道上，电子的轨道运动角动量绕核旋转。在这
5、些轨道上，电子的轨道运动角动量P 必须等于必须等于h/2 的正整的正整数倍。即数倍。即: P = nh/2 （n=1，2，3）此式称为此式称为Bohr量子化规则量子化规则，n称为主量子数据。称为主量子数据。Page 7 n n不同的原子具有不同的能级，在一般的情况下，原子处于能不同的原子具有不同的能级，在一般的情况下，原子处于能不同的原子具有不同的能级，在一般的情况下，原子处于能不同的原子具有不同的能级，在一般的情况下，原子处于能量最低的状态，即基态，当电子或其他粒子与原子相互碰撞，量最低的状态，即基态，当电子或其他粒子与原子相互碰撞，量最低的状态，即基态，当电子或其他粒子与原子相互碰撞，量最
6、低的状态，即基态，当电子或其他粒子与原子相互碰撞，如果其动能稍大于原子的激发能，就可使该气态原子获得一如果其动能稍大于原子的激发能，就可使该气态原子获得一如果其动能稍大于原子的激发能，就可使该气态原子获得一如果其动能稍大于原子的激发能，就可使该气态原子获得一定的能量，从原子的基态过渡至某一较高能级，这一过程叫定的能量，从原子的基态过渡至某一较高能级，这一过程叫定的能量，从原子的基态过渡至某一较高能级，这一过程叫定的能量，从原子的基态过渡至某一较高能级，这一过程叫做激发。做激发。做激发。做激发。+ 激发激发Page 8 n电子返回低能级电子返回低能级n发出特定波长的光发出特定波长的光 D DE=
7、k/l l k =12400 =12400光光+ 发射发射Page 9 n多种能量传输n发射光取决于能级间能量差返回基态发出光+激发态DE = hn = hc/l h = Plancks 常数, n = 频率, c = 光速, l = 波长 原子光谱的产生原子光谱的产生Page 10 激发发射能量 离子激发态 离子基态abcda,b激发c 电离d 离子激发efghe 离子发射f,g,h 原子发射 激发态 l 4l 3l 2l 1 能级图能级图Quantitation in Atomic Emission樣品濃度樣品濃度樣品濃度樣品濃度 光強度光強度光強度光強度电感耦合等离子体发射光谱仪系统电感
8、耦合等离子体发射光谱仪系统光谱仪系统光谱仪系统检测器检测器光学传递光学传递等离子炬管等离子炬管等离子炬等离子炬蠕动泵蠕动泵雾化室雾化室氩气氩气样品样品高频发生器高频发生器数据系统数据系统微处理器微处理器和电子控制系统和电子控制系统废液口废液口雾化器雾化器样品喷射管样品喷射管原子发射光谱仪的发展历程就是寻找高温稳定光源的历程 火花火花交流电弧交流电弧电感耦合等离子体（电感耦合等离子体（ICP）微波诱导等离子体（微波诱导等离子体（MIP）火焰火焰温度：温度：20003000K，稳定性：很好，稳定性：很好温度：温度：40007000K，稳定性：好，稳定性：好温度：温度：40007000K，稳定性：差
9、，稳定性：差温度：温度：60008000K稳定性：很好稳定性：很好直流电弧直流电弧激光激光温度：温度：10000K，稳定性：好，稳定性：好温度：温度：10000K稳定性：很好稳定性：很好Page 14 电感耦合等离子体电感耦合等离子体 ICP 温度高达6000-10000K工作气体氩气溶液进样检出限低稳定性好线性范围宽 ICP- OES 多元素测定Page 15 ICP光源主要优点是：光源主要优点是：检出限低：许多元素可达到检出限低：许多元素可达到1ug/L的检出限的检出限测量的动态范围宽：测量的动态范围宽：5-6个数量级个数量级准确度好准确度好基体效应小：基体效应小：ICP是一种具有是一种具
10、有6000-7000K的高温激发光源，样品又经过化学的高温激发光源，样品又经过化学处理，分析用的标准系列很易于配制成与样品溶液在酸度、基体成分、总盐处理，分析用的标准系列很易于配制成与样品溶液在酸度、基体成分、总盐度等各种性质十分相似的溶液。同时，光源能量密度高，特殊的激发环境度等各种性质十分相似的溶液。同时，光源能量密度高，特殊的激发环境通道效应和激发机理，使通道效应和激发机理，使ICP光源具有基体效应小的突出优点。光源具有基体效应小的突出优点。精密度高：精密度高：RSD0.5%曝光时间短：一般只需曝光时间短：一般只需10-30秒秒原子发射光谱分析所具有的多元素同时分析的特点与其他分析方法逐
11、个元素原子发射光谱分析所具有的多元素同时分析的特点与其他分析方法逐个元素单独测定相比，无论从效率的经济，技术等方面都具有很大的特点。这也是单独测定相比，无论从效率的经济，技术等方面都具有很大的特点。这也是ICP原子发射光谱分析取得很大进展的原因之一。原子发射光谱分析取得很大进展的原因之一。Page 16 ICP辅助气辅助气冷却气冷却气等离子体等离子体RF线圈线圈雾化气雾化气+ 样品气溶胶样品气溶胶 环型电流环型电流Page 17 炬管的组成：三层石英同心管组成（如上图）。冷却（等离子）氩气以外管内壁相炬管的组成：三层石英同心管组成（如上图）。冷却（等离子）氩气以外管内壁相切的方向进入切的方向进
12、入ICP炬管内，有效地解决了石英管壁的冷却问题。防止其被高温的炬管内，有效地解决了石英管壁的冷却问题。防止其被高温的ICP烧熔。炬管置于高频线圈的正中，线圈的下端距中管的上端烧熔。炬管置于高频线圈的正中，线圈的下端距中管的上端2-4mm，水冷的线圈连，水冷的线圈连接到高频发生器的输出端。高频电能通过线圈耦合到炬管内电离的氩气中。当线圈接到高频发生器的输出端。高频电能通过线圈耦合到炬管内电离的氩气中。当线圈上有高频电流通过时，则在线圈的轴线方向上产生一个强烈振荡的环形磁场如图所上有高频电流通过时，则在线圈的轴线方向上产生一个强烈振荡的环形磁场如图所示。开始时，炬管中的原子氩并不导电，因而也不会形
13、成放电。当点火器的高频火示。开始时，炬管中的原子氩并不导电，因而也不会形成放电。当点火器的高频火花放电在炬管内使小量氩气电离时，一旦在炬管内出现了导电的粒子，由于磁场的花放电在炬管内使小量氩气电离时，一旦在炬管内出现了导电的粒子，由于磁场的作用，其运动方向随磁场的频率而振荡，并形成与炬管同轴的环形电流。原子、离作用，其运动方向随磁场的频率而振荡，并形成与炬管同轴的环形电流。原子、离子、电子在强烈的振荡运动中互相碰撞产生更多的电子与离子。终于形成明亮的白子、电子在强烈的振荡运动中互相碰撞产生更多的电子与离子。终于形成明亮的白色色Ar-ICP放电，其外形尤如一滴刚形成的水滴。在高度电离的放电，其外
14、形尤如一滴刚形成的水滴。在高度电离的ICP内部所形成的环形内部所形成的环形涡流可看作只有一匝的变压器次级线圈，而水冷的工作线圈则相当于变压器的初级涡流可看作只有一匝的变压器次级线圈，而水冷的工作线圈则相当于变压器的初级线圈，它们之间的耦合，使磁场的强度和方向随时间而变化，受磁场加速的电子和线圈，它们之间的耦合，使磁场的强度和方向随时间而变化，受磁场加速的电子和离子不断改变其运动方向，导致焦耳发热效应并附带产生电离作用。这种气体在极离子不断改变其运动方向，导致焦耳发热效应并附带产生电离作用。这种气体在极短时间内在石英的炬管内形成一个新型的稳定的短时间内在石英的炬管内形成一个新型的稳定的“电火焰电
15、火焰”光源。光源。样品经雾化器被气动力吹散击碎成粒径为样品经雾化器被气动力吹散击碎成粒径为1-10um之间的细粒截氩气由中心管注入之间的细粒截氩气由中心管注入ICP中，雾滴在进入中，雾滴在进入ICP之前，经雾化室除去大雾滴使到达之前，经雾化室除去大雾滴使到达ICP的气溶胶微滴快速地的气溶胶微滴快速地去溶、蒸发和原子化。去溶、蒸发和原子化。 ICPICP光源的装置及其形成光源的装置及其形成光源的装置及其形成光源的装置及其形成Page 18 ICP光源的气流光源的气流ICP光源自问世以来主要是在氩气氛中工作的，三股气流所起的作用各不相同，光源自问世以来主要是在氩气氛中工作的，三股气流所起的作用各不
16、相同，它们分别是：它们分别是：冷却气：沿切线方向引入外管，它主要起冷却作用，保护石英炬管免被高温冷却气：沿切线方向引入外管，它主要起冷却作用，保护石英炬管免被高温所熔化，使等离子体的外表面冷却并与管壁保持一定的距离。其流量约为所熔化，使等离子体的外表面冷却并与管壁保持一定的距离。其流量约为0-20L/min，视功率的大小以及炬管的大小、质量与冷却效果而定，冷却气也，视功率的大小以及炬管的大小、质量与冷却效果而定，冷却气也称等离子气。称等离子气。辅助气：通入中心管与中层管之间，其流量在辅助气：通入中心管与中层管之间，其流量在0-2L/mim，其作用是，其作用是“点燃点燃”等离子体，并使高温的等离
17、子体，并使高温的ICP底部与中心管，中层管保持一定的距离，保护中心底部与中心管，中层管保持一定的距离，保护中心管和中层管的顶端，尤其是中心管口不被烧熔或过热，减少气溶胶所带的盐管和中层管的顶端，尤其是中心管口不被烧熔或过热，减少气溶胶所带的盐分过多地沉积在中心管口上。另外它又起到抬升分过多地沉积在中心管口上。另外它又起到抬升ICP，改变等离子体观察度的，改变等离子体观察度的作用。作用。雾化气：也称载气或样品气，作用之一是作为动力在雾化器将样品的溶液转雾化气：也称载气或样品气，作用之一是作为动力在雾化器将样品的溶液转化为粒径只有化为粒径只有1-10um的气溶胶，作用之二是作为载气将样品的气溶胶引
18、入的气溶胶，作用之二是作为载气将样品的气溶胶引入ICP，作用之三是对雾化器、雾化室、中心管起清洗作用。雾化气的流量一般，作用之三是对雾化器、雾化室、中心管起清洗作用。雾化气的流量一般在在0-2L/min。Page 19 等离子体（等离子体（Plasma）一词首先由一词首先由Langmuir在在1929年提出，目前一般年提出，目前一般指电离度超过指电离度超过0.1%被电离了的气体，这种气体不仅含有中性原子和分被电离了的气体，这种气体不仅含有中性原子和分子，而且含有大量的电子和离子，且电子和正离子的浓度处于平衡状子，而且含有大量的电子和离子，且电子和正离子的浓度处于平衡状态，从整体来看是处于中性的
19、。从广义上讲像火焰和电弧的高温部分、态，从整体来看是处于中性的。从广义上讲像火焰和电弧的高温部分、火花放电、太阳和恒星表面的电离层等都是等离子体。火花放电、太阳和恒星表面的电离层等都是等离子体。等离子体可以按温度分为高温等离子体和低温等离子体两大类。当温等离子体可以按温度分为高温等离子体和低温等离子体两大类。当温度高达度高达106-108K时，所有气体的原子和分子完全离解和电离，称为高时，所有气体的原子和分子完全离解和电离，称为高温等离子体；当温度低于温等离子体；当温度低于105K时，气体部分电离，称为低温等离子体。时，气体部分电离，称为低温等离子体。 Page 20 ICP光源的特性光源的特
20、性趋肤效应趋肤效应：高频电流在导体上传输时，由于导体的寄生分布电感的作用，：高频电流在导体上传输时，由于导体的寄生分布电感的作用，使导线的电阻从中心向表面沿半径以指数的方式减少，因此高频电流的传使导线的电阻从中心向表面沿半径以指数的方式减少，因此高频电流的传导主要通过电阻较小的表面一层，这种现象称为趋肤效应。等离子体是电导主要通过电阻较小的表面一层，这种现象称为趋肤效应。等离子体是电的良导体，它在高频磁场中所感应的环状涡流也主要分布在的良导体，它在高频磁场中所感应的环状涡流也主要分布在ICP的表层。的表层。从从ICP的端部用肉眼即可观察到在白色圈环中有一亮度较暗的内核，俗称的端部用肉眼即可观察
21、到在白色圈环中有一亮度较暗的内核，俗称“炸面圈炸面圈”结构。这种结构提供一个电学的屏蔽筒，当试样注入结构。这种结构提供一个电学的屏蔽筒，当试样注入ICP的通的通道时不会影响它的电学参数，从而改善了道时不会影响它的电学参数，从而改善了ICP的稳定性。的稳定性。 S=1/(f)1/2 ( S: 趋肤层深度趋肤层深度 f: 高频电源频率高频电源频率)通道效应：通道效应：由于切线气流所形成的旋涡使轴心部分的气体压力较外周略低，由于切线气流所形成的旋涡使轴心部分的气体压力较外周略低，因此携带样品气溶胶的载气可以极容易地从圆锥形的因此携带样品气溶胶的载气可以极容易地从圆锥形的ICP底部钻出一条通底部钻出一
22、条通道穿过整个道穿过整个ICP。通道的宽度约。通道的宽度约2mm，长约，长约5cm。样品的雾滴在这个约。样品的雾滴在这个约7000K的高温环境中很快蒸发、离解、原子化、电离并激发。即通道可使的高温环境中很快蒸发、离解、原子化、电离并激发。即通道可使这四个过程同时完成。由于样品在通过通道的时间可达几个毫秒，因此被这四个过程同时完成。由于样品在通过通道的时间可达几个毫秒，因此被分析物质的原子可反复地受激发，故分析物质的原子可反复地受激发，故ICP光源的激发效率较高。光源的激发效率较高。Page 21 当有高频电流通过线圈时，当有高频电流通过线圈时，产生轴向磁场，这时若用高产生轴向磁场，这时若用高频
23、点火装置产生火花，形成频点火装置产生火花，形成的载流子（离子与电子）在的载流子（离子与电子）在电磁场作用下，与原子碰撞电磁场作用下，与原子碰撞并使之电离，形成更多的载并使之电离，形成更多的载流子，当载流子多到足以使流子，当载流子多到足以使气体有足够的导电率时，在气体有足够的导电率时，在垂直于磁场方向的截面上就垂直于磁场方向的截面上就会感生出流经闭合圆形路径会感生出流经闭合圆形路径的涡流，强大的电流产生高的涡流，强大的电流产生高热又将气体加热，瞬间使气热又将气体加热，瞬间使气体形成最高温度可达体形成最高温度可达10000K的稳定的等离子炬。感应线的稳定的等离子炬。感应线圈将能量耦合给等离子体，圈
24、将能量耦合给等离子体，并维持等离子炬。当载气载并维持等离子炬。当载气载带试样气溶胶通过等离子体带试样气溶胶通过等离子体时，被后者加热至时，被后者加热至6000-10000K，并被原子化和激发，并被原子化和激发产生发射光谱。产生发射光谱。Page 22 ICP各区域的温度各区域的温度Page 23 ICP各区域的分布各区域的分布 ICPICP发射过程发射过程等離子体等離子体(電漿電漿)的分布的分布环状结构可以分为若干区，各区的温度不同，性状不同，辐射也不同。环状结构可以分为若干区，各区的温度不同，性状不同，辐射也不同。（1）焰心区）焰心区 感应线圈区域内，白色不透明的焰心，高频电流形成的涡流区，
25、温度感应线圈区域内，白色不透明的焰心，高频电流形成的涡流区，温度最高达最高达10000K，电子密度高。它发射很强的连续光谱，光谱分析应电子密度高。它发射很强的连续光谱，光谱分析应避开这个区域。试样气溶胶在此区域被预热、蒸发，又叫避开这个区域。试样气溶胶在此区域被预热、蒸发，又叫预热区预热区。等離子体等離子体(電漿電漿)的分布的分布（2）内焰区）内焰区 在感应圈上在感应圈上10 -20mm左右处，淡蓝色半透明的炬焰，温度约为左右处，淡蓝色半透明的炬焰，温度约为6000 -8000K。试样在此原子化、激发，试样在此原子化、激发， 然后发射很强的原子线和离子线。这是光谱分析所利用的区域，称为然后发射
26、很强的原子线和离子线。这是光谱分析所利用的区域，称为测光区测光区。测光时在感应线圈上的高度称为观测高度。测光时在感应线圈上的高度称为观测高度。（3）尾焰区）尾焰区 在内焰区上方，无色透明，温度低于在内焰区上方，无色透明，温度低于6000K，只能发射激发电位较的只能发射激发电位较的谱线。谱线。Page 26 电感耦合等离子体光谱仪的发展（ICP-OES） 单道单道+多通道多通道多通道多通道全谱直读全谱直读摄谱仪摄谱仪平面光栅平面光栅+相板相板 （1970）全谱，但不能直读全谱，但不能直读凹面光栅凹面光栅+光电倍增管光电倍增管直读，但不能同时测量背景，不是全谱直读，但不能同时测量背景，不是全谱平面
27、光栅平面光栅+光电倍增管光电倍增管直读，但不能同时测量背景，不是全谱直读，但不能同时测量背景，不是全谱中阶梯光栅中阶梯光栅+固体检测器固体检测器单道扫描单道扫描后全谱直读时代后全谱直读时代全谱直读全谱直读开机即用开机即用Page 27 全谱直读光谱仪简图全谱直读光谱仪简图精湛的光学系统精湛的光学系统Page 28 光學系統Page 30 Optima SCD Optical System ModulesDual-View Optics (Optima 5300DV shown)Transfer Optics Module Input Optics ModuleVIS Optics Module
28、UV Optics ModulePage 31 两维色散后的谱线排列两维色散后的谱线排列Page 32 两维色散后可见两维色散后可见/紫外光谱分布紫外光谱分布0.1mmOne Subarray (shown sideways)Image Pattern on UV SCDWavelength within the OrderHighLowOrder NumberWavelengthHighLowLowHigh13012011010090807060Pb 220.353Cu 221.458P 177.433Sc 357.635Cross-Disperser Grating DispersionE
29、chelle Grating Dispersion167nm403nmICP/OES 測試流程圖離子線躍遷 注釋注釋注釋注釋: : 氬氣等離子体可提供的激發能為氬氣等離子体可提供的激發能為氬氣等離子体可提供的激發能為氬氣等離子体可提供的激發能為15.75ev 15.75ev ( (電子伏特）電子伏特）電子伏特）電子伏特）Ar用用ArAr做工作气体的优点：做工作气体的优点：ArAr为单原子惰性气体，不与试样组份为单原子惰性气体，不与试样组份形成难离解的稳定化合物，也不象分形成难离解的稳定化合物，也不象分子那样因离解而消耗能量，有良好的子那样因离解而消耗能量，有良好的激发性能，本身光谱简单。激发性
30、能，本身光谱简单。样品进样系统样品进样系统把样品溶液转变成气溶胶把样品溶液转变成气溶胶,通入等离子体中通入等离子体中样品进样条件通过电脑控制样品进样条件通过电脑控制根据不同的样品及应用选择根据不同的样品及应用选择 To ICP雾化器雾化器样品样品solution氩气 To generate sample droplets by nebulization and to introduce only fine droplets in the plasma. 样品进样系统样品进样系统雾化系统雾化系统雾化器雾化器Nebulizers十字交叉雾化器Cross flow Nebulizers 同心圓雾化器
31、Gem-cone Nebulizers超音波雾化器UltraSonic Nebulizers SampleAr nebulizer gasConcentric nebulizerSampleAr nebulizer gasCross flow nebulizerCross-Flow Nebulizer PE 標准配備標准配備適用所有的樣品適用所有的樣品 Oils/OrganicsOils/Organics All acids (HNO3, HCL) All acids (HNO3, HCL) dilute and conc.dilute and conc. Up to 10 % dissolv
32、e solids Up to 10 % dissolve solids (100 micron)(100 micron)Usually run at 1.5 ml/min. pump Usually run at 1.5 ml/min. pump rateratePrecision on the order of 1%Precision on the order of 1%非常容易清洗，維護保養且耐用非常容易清洗，維護保養且耐用非常容易清洗，維護保養且耐用非常容易清洗，維護保養且耐用 Meinhard Concentric Nebulizer同心圆气动雾化器同心圆气动雾化器Best Preci
33、sion and Detection Limits0.5% PrecisionD.L. 40 % lower than cross-flowPump rate of 2 ml/min.Can clog easilyFairly fragile: Do not ultrasonicateClean with warm solution of 20% HNO3: Do not boil!Gem -Cone High Solid Nebulizer同心圆高盐雾化器同心圆高盐雾化器Can be used for most applicationsOilsBrinesViscous samplesPla
34、ting bathsHandles dissolved solids to 25 % (1 mm)Totally inertPump rate of 2 ml/min.UltraSonic Nebulizer超声波雾化器超声波雾化器Uses 1.4 MHZ frequency to shatter droplets to less than 5 microns. Extremely high efficiency10 times standard system.Detection limits will improve 6 - 20 fold.High costDoes not handle
35、high solids. 适于分析低含量的样品，但样品的基体含量也必须很低，适于分析低含量的样品，但样品的基体含量也必须很低，否则会带来很大的记忆效应。与传统的气动雾化器相比，否则会带来很大的记忆效应。与传统的气动雾化器相比，超声雾化器的检出限可以改善超声雾化器的检出限可以改善10倍左右。倍左右。Spray ChambersScott - Type Double Pass Chamber Scott Double-Pass Spray ChamberSeparates the small droplets (10 microns) from the larger dropletsSmall d
36、roplets travel through center tube, large droplet drop out of center tube and into the drain 2 - 4% efficientDurable and inertCleaned with 10-20% warm not boiling HNO3Can run most any solvent Very efficient.40% higher efficiency than a Scott-TypeExcellent Rinse-out Detection limits improve by a fact
37、or of 2 over a Scott-Type Clean with hot mineral acids Cyclonic Spray Chamber Cyclonic spray chamber Nebulizer Spray PatternsGoodConcentric PatternPulse evenly with pumpBadSkewedSputteringMaintenanceMaintenance GemTips forCross-FlowNebulizerClean with soap and water, rinse thoroughly; or use a 2% so
38、lution of nitric acid.GemTip orGemConeNebulizer/End CapAssemblyClean with soap and water; rinse thoroughly.Concentric Glass(MEINHARD)NebulizerDo not use an ultrasonic cleaner. Do not use cleaning wire. See Concentric Glass Nebulizer later in the manual.Injectors and End CapInjectors:Injectors:Alumin
39、aAluminaQuartzQuartzSapphireSapphire ICP InjectorsSample injectors have different IDs for use with different solvents.The more volatile the solvent, use a smaller ID sample injector. 0.8, 1.2, 1.6 & 2.0 mm internal diameter完全快速完全快速-可调试样品进样系统可调试样品进样系统注射器注射器样样品品雾化系统雾化系统火火炬炬可調整的位置可調整的位置 进进气气口口便于拆卸的炬管模块
40、包含石英炬管、刚玉或者石英材料的入射管、雾室、便于拆卸的炬管模块包含石英炬管、刚玉或者石英材料的入射管、雾室、雾化器和端帽，所有这些都集成在一个组件里。这个模块可以快速地从雾化器和端帽，所有这些都集成在一个组件里。这个模块可以快速地从进样系统室中拆卸出来，可调节的基座可以将炬管前后调节达进样系统室中拆卸出来，可调节的基座可以将炬管前后调节达8mm。观测视窗观测视窗观测方式观测方式垂直观测垂直观测可根据分析元素调整观测位置，可根据分析元素调整观测位置，干扰比干扰比 水平观测低，动态线性水平观测低，动态线性范围比水平也高范围比水平也高1-2个数量级。个数量级。尤其是对于高盐度或者复杂基体尤其是对于
41、高盐度或者复杂基体更为合适。更为合适。 水平观测水平观测由于光通量大，灵敏度高，但是由于光通量大，灵敏度高，但是由于光通量大，灵敏度高，但是由于光通量大，灵敏度高，但是相应的干扰也大些，因此尾焰去相应的干扰也大些，因此尾焰去相应的干扰也大些，因此尾焰去相应的干扰也大些，因此尾焰去除技术就相当关键。检出限一般除技术就相当关键。检出限一般除技术就相当关键。检出限一般除技术就相当关键。检出限一般比比比比radial-viewingradial-viewing观测灵敏度高观测灵敏度高观测灵敏度高观测灵敏度高3-103-10左右。左右。左右。左右。 双向观测双向观测-轴向观测轴向观测 (水平观测水平观测
42、)DV Optics ICP 发射光源水平观测反射镜孔径 反射镜入口狹縫(part of Input Optics)Motorized adjustment aims Large Toroidal Mirror toward Axial Window for Axial View双向观测双向观测-径向观测径向观测球面鏡BaffleICP 發射光源平面鏡大環形反射鏡孔徑光蘭小環形反射鏡入口狹縫Motorized adjustment aims Large Toroidal Mirror toward Flat Mirror for Radial View观测视窗观测视窗Axial viewing
43、Axial viewingRadial viewingRadial viewingDual Viewl最佳方便性l同一个方法可以同时使用两种观测方式l简化样品稀释步骤l提高线性动态范围l最小基质干扰l最佳检测极限Detailed View of Plasma Emission ZonesPHZ (Pre Heating Zone)IRZ (Initial Radiation Zone)NAZ (Normal Analytical Zone) Dominantly Ionic Emission Primary zone for excited statesTail Plume NAZShear
44、Gas PositionPHZIRZConcentrationEmission IntensityCalibration With Tail PlumeRemovednDecay to Ground State Emission IntensityConcentrationSelf AbsorptionCalibration ViewedThrough Tail Plume等离子体剪切气等离子体剪切气減少自吸帶控制分析光路范圍減少基質效應剪切气位置剪切气位置Shear GasPage 66 OPTIMA5X00DV开机程序开机程序通风，氩气，空气压缩机，（吹扫用氮气）水循环器接通OPTIMA5
45、X00DV电源，启动WINLAB32软件待仪器初始化结束。（仪器初始化所须时间取决于仪器开机时初始温度和实验室环境温度，不表示仪器好坏。）Page 67 吹扫气（吹扫气（Purge Gas）当使用低于当使用低于190nm波长分析前，波长分析前，必须提前用必须提前用Purge gas（氮气）（氮气）吹扫光学室和光学通道。吹扫光学室和光学通道。吹扫速度分两种，快速吹扫速度分两种，快速8升升/分，分，常速常速1.5升升/分。分。初次吹扫可以快速吹扫几小时后初次吹扫可以快速吹扫几小时后转入常速。转入常速。定期吹扫光学室可以保护光学镜定期吹扫光学室可以保护光学镜面，避免不良气体或水汽侵蚀。面，避免不良气
46、体或水汽侵蚀。Page 68 Diagnostics（诊断）（诊断）-光谱仪光谱仪System-Diagnostic-Spectrum 进入光谱仪诊断提供光谱仪Firmware版本，光学室温度，检测器温度等光谱仪硬件信息。纪录光谱仪工作流程。Page 69 Diagnostics（诊断）（诊断）-RF GeneratorSystem-Diagnostic-RF Generator 进入射频发生器诊断。提供射频发生器Firmware版本，功率，气体流量，雾化气压力等硬件信息。纪录射频发生器工作流程。Page 70 点等离子矩点等离子矩点炬前先检查蠕动泵进样和排液，气体压力，通风，切割气压力，冷点
47、炬前先检查蠕动泵进样和排液，气体压力，通风，切割气压力，冷却水循环器。却水循环器。氩气质量会影响点炬，实验室留存一瓶氩气质量会影响点炬，实验室留存一瓶99.999%高纯氩，在不能点炬高纯氩，在不能点炬时使用。时使用。点炬过程全部自动进行，操作人员可以通过观测窗观测，意外情况时，点炬过程全部自动进行，操作人员可以通过观测窗观测，意外情况时，按紧急红色按钮停止点炬过程。按紧急红色按钮停止点炬过程。Page 71 点炬失败的后续操作点炬失败的后续操作假如点炬失败必须记录当时显示的信息。并根据信息提示检查。假如点炬失败必须记录当时显示的信息。并根据信息提示检查。点炬失败必须报修前，在点炬失败必须报修前
48、，在Diagnostics（RF Generator）里）里Save Log 保存保存俩个文件（俩个文件（Black Box Log / Incident Log）并传给维修工程师。两个文件）并传给维修工程师。两个文件的路径：的路径：C：/PE/Temporary filePage 72 Page 73 手动设定气体流量功率和进样量手动设定气体流量功率和进样量气体流量，射频功率和进样量都可以手动设定。设定后按气体流量，射频功率和进样量都可以手动设定。设定后按APPLY生效。生效。分析样品时这手动设定气体流量功率和进样量些参数自动转为方法里设定的分析样品时这手动设定气体流量功率和进样量些参数自动
49、转为方法里设定的参数。参数。当需要在分析时采用与方法设定不同的参数，可以使用当需要在分析时采用与方法设定不同的参数，可以使用Override Method 。选用选用Override Method 时方法中相应参数值无效，方法原设定参数不变。时方法中相应参数值无效，方法原设定参数不变。Page 74 Page 75 紧急按钮的使用紧急按钮的使用Emergency （紧急按键）在计算机意外锁死或炬焰意外时迅速关断等离子炬电源。按键按过后处在锁定态，呈断续闪光。再按一次键，可以释放回正常态，不再闪光。使用过紧急按钮后，除释放其回到正常态外，还要在软件中复位：System-Reset emergen
50、cy plasma off-OK否则不能点炬。Page 76 光谱仪控制光谱仪控制(一）一）System-Spectrometer Control 进入光谱仪控制。吹扫气，观测，和光闸都可以手动控制。选用Override Method 可以使方法中同类选择作废。观察位置可以手动改变，一般都采用轴向（15，0），经向（15）Detector Calibration是指检测器暗电流校准，结果会存入计算机。一般情况不需重复做。当重装软件后必须重做此校准。Page 77 光谱仪控制（二）光谱仪控制（二）Align View是校准入射光方向，使入射到狭缝的光强最大。在重装炬是校准入射光方向，使入射到狭缝
51、的光强最大。在重装炬管后校准用。管后校准用。校准时要使用校准时要使用1ppm Mn溶液或其他指定溶液，不能在喷纯水条件下溶液或其他指定溶液，不能在喷纯水条件下做此项校准。做此项校准。在径向和轴向分别做此项校准，仪器将自动保存校准结果。只有在重在径向和轴向分别做此项校准，仪器将自动保存校准结果。只有在重新安装炬管后，才需要重新校准。新安装炬管后，才需要重新校准。Page 78 光谱仪控制（三）光谱仪控制（三）。 Wavelength Calibration 用于校准波长，分UV和VIS两部分。校准时必须用随机标准溶液。UV使用N0582152，VIS使用N9302946。当再次选此窗口时，显示上
52、次校准的时间和结果。波长校准结果存在计算机里，重装软件后必须重做此校准。Page 79 光谱仪控制（四）光谱仪控制（四）Hg Realign 是使用内置汞灯测量是使用内置汞灯测量253.652nm谱线，测量结果会纠正谱线，测量结果会纠正因温度的变化造成的谱线偏移，在室温变化较大情况下，使用此功能因温度的变化造成的谱线偏移，在室温变化较大情况下，使用此功能有防止峰漂的明显效果有防止峰漂的明显效果Hg 253.652nm的强度可能会变化，只能留作参考的强度可能会变化，只能留作参考Page 80 编辑方法编辑方法(一一 )编辑方法可采用软件实时帮助：F1或者Help-Active Window He
53、lpNew-Method 可以选择有机/无机/特定条件，它会影响点炬的参数。键入元素和波长的几种方法。分析元素和内标元素。Page 81 编辑方法（二）编辑方法（二）读数参数：自动方式采用预曝光决定积分时间；人工方式采用用户设定的积分时间。介绍Read Delay 和 ReplicatesSever Window 不能改变，Auto Window是预曝光观测的区间，可以改变。Sampler是指等离子矩的条件，介绍各参数。介绍Peristaltic 和 AutosamplerPage 82 编辑方法（三）编辑方法（三）Spectral Peak Processing 指光谱信息处理，一般采用峰面
54、积/三点/背景校准点Define Standards 设定标样系列。可以设定样品空白，重校标样点，标准曲线类型，是否扣除空白等功能。Check 和 OK QC 用于使用自动进样器分析时，在线回收率测试和质量控制，请参考在线帮助（Help-Active Window Help）Page 83 编辑方法（四）编辑方法（四）Options 选择结果显示的内容，Save With Result 是把方法连同分析结果一起保存，请采用此方式。编辑完成的方法可以检查：Edit Check Method ，可以按波长重新排列次序以节省分析时间：Edit Sort by Wavelength编辑完成的方法应被命
55、名后保存，否则此方法产生的结果都不能被保存。Page 84 手动分析手动分析假如要保存结果须首先选择数据组名称：Open-在Name框内键入名称-OK 样品名称直接键入ID框内，details可以输入制样参数，让仪器计算固体样的含量。Read Delay Time 是指样品从容器到达等离子矩并且稳定的时间，在方法里已设定。可以Override Method 后，在此重新设定。Page 85 结果显示框结果显示框选择Result后会显示结果框。Result显示的项目是方法里OPTION内选定的。结果框会连续无选择显示分析结果，可以选择其中页面打印。清除全部显示：Analysis-Clear Re
56、sult DisplayPage 86 光谱图显示框光谱图显示框工具图表的Spectrum可打开光谱图显示框，用来实时显示分析时获得的谱图。由于显示框可以实时反映样品情况，建议在分析时同时打开光谱显示框。要改变显示的颜色和排列：Option-Spectrum Display要清除显示内容：Analysis-Clear Spectrum DisplayPage 87 检查光谱框（一）检查光谱框（一）工具栏内Examine 是用于检查已经保存的光谱图和设定MSF文件用。设定MSF文件请使用下列途径获取资料：Help-Contents and Index-键入MSF-DisplayData-sele
57、ct data set （即显示已经储存的数据组名称）-选择样品名称和元素名称-显示光谱图Page 88 检查光谱框（二）检查光谱框（二）需要时重新移动光标线到峰高位置设定峰值：method-set peak wavelength需要时添加，移动或去除背景校准点。把修改数据存回方法：1：导入原方法 File-Import from Result Library-选择本数据组名称-OK2：Method-Update method Parameters-Update and Save methodSet peak Wavelength将在以后使用该方法时对此波长进行额外定标，对其他方法或本方法其他
58、元素的峰位不产生影响。Page 89 检查光谱框（三）检查光谱框（三）移动光标到峰位后，假如使用移动光标到峰位后，假如使用Adjust Wavelength 会对检测器重新标会对检测器重新标定，即把光标线位置定标为光谱图上方的值，这种定标会对以后所有定，即把光标线位置定标为光谱图上方的值，这种定标会对以后所有方法和相邻位置都有影响。执行时需慎重。方法和相邻位置都有影响。执行时需慎重。Page 90 自动进样器分析（一）自动进样器分析（一）自动进样器分析须提前设置样品信息：Saminfo-填入各个位置样品信息-保存样品信息文件使用自动分析须对分析中QC样品和回收率试验的结果进行评判和预置，Met
59、hod的Checks和QC就是为此设置的，详细请参考HelpPage 91 自动进样分析（二）自动进样分析（二）工具栏Auto用于自动分析，在Set Up页键入方法名，样品信息名和结果数据组名或不选用样品信息文件，直接在Location框内键入XX-YY（表示分析从XX到YY位样品）在Analysis页内按Rebuild List产生新表后即可选择做全部分析/只做标准曲线/只分析样品。Analysis-Auto Sampler提供进样针上提，下降，移到清洗位等快速功能。更详细信息参考Help。Page 92 数据再处理（数据再处理（Reprocessing）（一）（一 )Reprocessin
60、g是对已经储存的分析数据在不同的条件下，重新处理是对已经储存的分析数据在不同的条件下，重新处理以求得更好的结果。未储存的数据不能再处理。以求得更好的结果。未储存的数据不能再处理。Reprocessing不修改原始的数据，原始数据在操作系统里不允许作不修改原始的数据，原始数据在操作系统里不允许作修改。修改。当光谱峰校准，移动背景校准点，改变标准曲线类型和峰面积点数等，当光谱峰校准，移动背景校准点，改变标准曲线类型和峰面积点数等，可以对原始数据重新处理而不需要重新分析样品。可以对原始数据重新处理而不需要重新分析样品。Page 93 数据再处理（数据再处理（Reprocessing）（二）（二）数据
61、再处理步骤：数据再处理步骤：调入原方法：调入原方法：File-Import from result library-选择数据组选择数据组-OKReproc-Browse-选择数据组选择数据组-Reprocess经过再处理可以显示图谱，结果，可以再保存。经过再处理可以显示图谱，结果，可以再保存。Page 94 Page 95 自动关机和开机功能自动关机和开机功能System-Auto shutdown/Start up提供自动分析结束后仪器自动关机和下次自动开机功能。选择Shutdown后根据需要选择时间，是否熄矩等。选择Start Up后根据需要选择时间，是否点炬等。Page 96 熄矩和退出
62、软件熄矩和退出软件完成分析后应清洗进样系统，清洗时间和样品有关，一般可以先喷完成分析后应清洗进样系统，清洗时间和样品有关，一般可以先喷2-5%HNO3大约大约5分钟，再喷去离子水大约分钟，再喷去离子水大约5分钟分钟 。样品基体复杂的要。样品基体复杂的要延长清洗过程。延长清洗过程。结束后在结束后在Plasma框熄矩，熄矩后仪器将保持框熄矩，熄矩后仪器将保持Plasma和和Aux气体气体1到到2分钟冷却炬管，此时应继续保持提供氩气。分钟冷却炬管，此时应继续保持提供氩气。排出雾室内余液，停止蠕动泵，松开蠕动泵管。排出雾室内余液，停止蠕动泵，松开蠕动泵管。先退出软件，然后关断仪器电源。先退出软件，然后
63、关断仪器电源。Page 97 离线离线Winlab32File-Utilities-Winlab Off-line可以进入可以进入Winlab脱机操作脱机操作Programs-Perkin Elmer Winlab32-Winlab Off-Line也可以进入也可以进入Winlab脱机操作。脱机操作。 Winlab32 Off-line 提供除控制仪器硬件以外的全部功能，提供除控制仪器硬件以外的全部功能，建立方法和各种文件，检查光谱图，数据再处理打印等。建立方法和各种文件，检查光谱图，数据再处理打印等。Winlab32 Off-line 可以在仪器进行分析的同时执行各种可以在仪器进行分析的同时
64、执行各种任务。任务。Page 98 Page 99 数据库管理（一）数据库管理（一）File-Utilities-Data Manage可以进入数据库管理可以进入数据库管理Programs-Perkin Elmer Winlab32-Data Manage也可以进入数据库管理。也可以进入数据库管理。Data Manage用于设计，打印报告，输出数据，检查和删除方法或数用于设计，打印报告，输出数据，检查和删除方法或数据组，整理数据库等据组，整理数据库等数据库必须定期压缩保存数据数据库必须定期压缩保存数据/ /删除已保存数据删除已保存数据/ /整理数据库，否则库整理数据库，否则库存量太大，会影响分
65、析速度，甚至联机错误。存量太大，会影响分析速度，甚至联机错误。Data Manage 提供删除无用方法和数据组的唯一手段，不能在提供删除无用方法和数据组的唯一手段，不能在Windows操作系统内删除上述资料。操作系统内删除上述资料。Page 100 Page 101 数据库管理（二）数据库管理（二）Archive 提供压缩保存数据组功能：提供压缩保存数据组功能： 选择数据组选择数据组-Archive-选择目录和名称选择目录和名称-OKRestore 提供取回数据组功能：提供取回数据组功能： Restore-选择目录和名称选择目录和名称-OKDelete 提供删除数据组唯一方法：提供删除数据组唯
66、一方法： 选择数据组选择数据组-Delete-OKCheck 提供检查数据库功能，检查数据库只能在提供检查数据库功能，检查数据库只能在Winlab32 / Winlab32 Off-line都关闭时进行都关闭时进行Page 102 Page 103 Page 104 数据库管理（三）数据库管理（三）Delete提供删除无用方法的唯一途径：提供删除无用方法的唯一途径：Library Category-Methods-OK-选择被删方法名选择被删方法名-DeletePack提供整理数据库功能，删除无用数据组后必须整理数据库，否则提供整理数据库功能，删除无用数据组后必须整理数据库，否则总库容量无任何
67、改变。总库容量无任何改变。执行执行Pack前须关闭前须关闭Winlab32和和Winlab32 Off-linePage 105 Page 106 数据库管理（四）数据库管理（四）Report/Export用来打印或输出选定数据组用来打印或输出选定数据组选定数据组选定数据组-Report/Export-按照显示做选项按照显示做选项详细请参考详细请参考HelpPage 107 仪器保养（一）仪器保养（一）仪器保养请参考仪器保养请参考hardware Guide（随机资料）第五章（随机资料）第五章 Maintenance仪器维护记录手册仪器维护记录手册(随机手册）随机手册）ICP-OES Inst
68、rument Maintenance Log提供日常维护记录表供参考提供日常维护记录表供参考Page 108 等离子发射光谱仪日常的维护保养细节等离子发射光谱仪日常的维护保养细节Page 109 等离子发射部分的维护等离子发射部分的维护.按下此螺丝来松开雾化器的氩气管Page 110 等离子发射部分的维护等离子发射部分的维护拆移进样毛細管Page 111 卸下雾化室的排液管。注:卸下的排液管需要清洗，在必要的时候換新的管。Page 112 打开样品室边门,紧握进样盘以逆时针方向旋使“小雨珠水滴旋至“Page 113 紧握整个进样盘緩慢地向外拔移。使整个进样系統放置于垫有白紙桌面。注:当石英炬管
69、向外移時要特別小心，防止石英炬管与感应线圈、保护帽的碰撞造成损坏。假如石英保护帽破损，必须更换。Page 114 用右手姆指推下进样管固定卡簧，再使用左手將进样管及雾化室取出，并将进样管及雾化室分开。推下卡黄Page 115 緩慢拧开石英炬管帽(knurled Nut)。Knurled Nut:N0776027Page 116 將石英炬管拆出。注: 1.此时須注意O-ring 的位置 2.注意O-ring 和帽放置一 边需要清洗。 3.注意石英炬管为碎品，須 放置平穩。09902223N0776028Page 117 紧握雾化室和注射管將它們分离，注意O-ring 的位置。注: O-ring
70、需要清洗。09921028Page 118 擰開注射管的帽，注意其O-ring 的位置。注:此O-ring、帽、接注射管部份需要清洗。09902207N0776014Page 119 拧开雾化器上的两个螺帽，将雾化器分成雾化室和雾化帽两部分Page 120 将进样管的螺帽及雾化器的螺帽分别拧开，取出雾化喷嘴及密封圈注：如用户需购买雾化喷嘴必须一套购买，无单个购买号N069067609921045Page 121 將石英炬管上的O-ring 和帽移开，并將点火铜箔清除，以清洗。N0775297N0770338Page 122 將石英炬管、进样管、雾化室等裝入烧杯中于清洗。Page 123 配制3
71、%5%的硝酸溶液加入烧杯置于超声波掁荡器中清洗10分钟注:清洗完仍然有附着物残存，可將硝酸的浓提高至20%加以清洗。Page 124 清洗完毕后，再用去离子水清洗各部分Page 125 使用吹风机將石英炬管的内外表面吹干Page 126 最后将所有部件装配回原样。请注意：在装配时注意进样管与内层炬管段面的距离，正常是1至2mmPage 127 仪器保养（二）仪器保养（二）根据实验室实际情况，可以记录特定元素的强度和根据实验室实际情况，可以记录特定元素的强度和BEC作为通常标准。推荐作为通常标准。推荐使用使用Mn257.610nm，新仪器新仪器BEC是是0.04ppm BEC Mn=Ib X C
72、 / (Ia Ib )Ia: Mn标样强度标样强度 ；Ib：背景强度背景强度 ；C：标样浓度标样浓度（ppb）Mn BEC方法可以在方法库里找到方法可以在方法库里找到下述因素会影响点炬成功：下述因素会影响点炬成功：空压机每天放水；氩气质量；雾室洁净；空压机每天放水；氩气质量；雾室洁净；下述参数可以帮助判断灵敏度问题：下述参数可以帮助判断灵敏度问题：Neb. Back pressure;蠕动泵管质量；蠕动泵管质量；view align.; Initialize Optics;石英窗洁净；石英窗洁净；Page 128 仪器保养（三）仪器保养（三）仪器保养集中在进样系统和矩室，请按照仪器保养集中在进
73、样系统和矩室，请按照Hardware Guide定期保养。定期保养。仪器后板上两个空气过滤网定期检查，必要时更换。仪器后板上两个空气过滤网定期检查，必要时更换。炬管，炬管，Injector，石英窗，喷嘴，蠕动泵管都需定期检查，必要时更，石英窗，喷嘴，蠕动泵管都需定期检查，必要时更换或清洗。换或清洗。示范炬管，观测窗，雾化器拆装。介绍点炬铜箔，石英帽。（注意石示范炬管，观测窗，雾化器拆装。介绍点炬铜箔，石英帽。（注意石英帽必须完整，否则更换）空气过滤网更换。英帽必须完整，否则更换）空气过滤网更换。上述零件如须清洗，请参考硬件手册。上述零件如须清洗，请参考硬件手册。（Hardware Guide
74、Maintenance）Page 129 仪器保养（四）仪器保养（四）水循环器水质变色时需更换循环水。水循环器水质变色时需更换循环水。Polyscience使用使用PE循环水循环水P/N N0776099 空气压缩机每次用完后应放水，空气过滤器内假如有水，也应该放水，空气压缩机每次用完后应放水，空气过滤器内假如有水，也应该放水，否则会影响切割气流通，以致影响点炬。否则会影响切割气流通，以致影响点炬。Page 130 仪器保养（五）仪器保养（五）消耗品可以根据消耗品可以根据P/N（PE订货号）向订货号）向PE上海维修服务电话联系。上海维修服务电话联系。（8008205046）或）或021-387
75、69510 -3204以下方法可获得以下方法可获得P/N：替换件包装袋替换件包装袋/盒上都印盒上都印P/N（如（如N0775300）Hardware Guide载有大量消耗品载有大量消耗品P/NPE Catalog (Winlab32 光盘内有此资料）光盘内有此资料）上述方法不能查到时，向客服中心咨询上述方法不能查到时，向客服中心咨询Tel：8008205046-3205 021-38769510-3111Page 131 仪器保养（六）仪器保养（六）PE除了日常维修外，还提供仪器除了日常维修外，还提供仪器PM（预防性维护），（预防性维护），IQOQ（安装（安装认证认证/操作认证）操作认证）I
76、PV（仪器性能校验），仪器软硬件升级等多种增值服务。另外，还（仪器性能校验），仪器软硬件升级等多种增值服务。另外，还提供客户定制提供客户定制VIP服务合约计划，为广大客户使用仪器提供专业而强服务合约计划，为广大客户使用仪器提供专业而强有力的技术支持及服务保障。有力的技术支持及服务保障。Page 132 仪器移动仪器移动光学仪器需要搬动时，需预先通知维修站，根据搬动路途情况，工程光学仪器需要搬动时，需预先通知维修站，根据搬动路途情况，工程师会提出具体意见。必要时要把光学部件调整到安全位置。师会提出具体意见。必要时要把光学部件调整到安全位置。Page 133 仪器报修须知仪器报修须知仪器报修须通知
77、以下相关信息仪器报修须通知以下相关信息1：仪器系列号（仪器后板铭牌）：仪器系列号（仪器后板铭牌）2：仪器故障现象和显示的错误信息：仪器故障现象和显示的错误信息3：故障前后相关情况：故障前后相关情况ICP-OES分析参数设置分析參數設定分析參數設定分析參數設定選擇波長選擇波長1.打開元素周期表打開元素周期表2.選擇所需波長選擇所需波長分析參數設定分析參數設定Delay Time 延遲時間延遲時間設定為設定為30秒秒Repicates積分次數積分次數設定為設定為2次次分析參數設定分析參數設定設定檢量線溶液設定檢量線溶液1.檢量線空白檢量線空白2.標准溶液的個數標准溶液的個數3.試劑空白試劑空白分析參數設定分析參數設定設定檢量線濃度設定檢量線濃度分別輸入檢量線分別輸入檢量線溶液的濃度溶液的濃度分析參數設定分析參數設定稱量的固體樣品時，稱量的固體樣品時，將濃度將濃度mg/L改為改為mg/kg分析參數設定分析參數設定保存方法保存方法Page 142 PerkinElmer公司（公司（PE公司）公司）谢谢谢谢!
