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1、星载计算机抗辐射加固技术作者：华更新， 王国良， 郭树玲作者单位：北京控制工程研究所,北京,100080刊名：航天控制英文刊名：AEROSPACE CONTROL年，卷(期)：2003 ，21(1)引用次数：3次参考文献(9条)1. C I Underwood . J W Ward Observation of Single- Event Upsets in Non- Hardened High- Density SRAM inSun Synchronous Orbit Surrey Satellite Technology 19922. M. E. Fraeman . J. R. Hayes
2、 . D. A. lohr. B. W. Ballard, R. L. Williams R. M. HenshawExperience withCustom Processors in Space Flight Applications 19913. P M O Neill. G D Badhwar Single Event Upsets for Space Shuttle Flights of New General PurposeComputer Memory Devices 19944. Test Report for Single Event Effects ofthe 80386D
3、X Microprocessor (JPL) NASA- CR- 1945095. 杨孟飞 检测80C86 发生SEU 的方法研究 19956. 唐民 同步轨道气象卫星用80C31 微控制器单粒子效应敏感度评估 19957. 华更新 386ex 芯片单粒子效应试验 19998. 华更新 查看详情 19999. 曹洲 查看详情 1999相似文献(5条)1.会议论文卫新国. 章斌. 樊友诚 . 秦晓强 . 盖建宁 . 朱新忠 . 陈明清 十五星载计算机抗辐射加固技术研究 通过九五星载计算机抗辐射加固技术的研究和应用,采用了系统级抗辐射加固技术和软件抗单粒子翻转加固技术设计的FY-1C 、D 两颗气
4、象卫星和两套星载计算机 (含星载软件 )目前均已在轨正常运行了五年和二年 ,星载计算机工作稳定正常 ,星载计算机中记录故障次数的遥测参数表明星载计算机没有发生故障 (或成功的屏蔽了故障 ).2.学位论文辛明瑞 面向空间应用的容错RISC 处理器体系结构研究2006 我国目前星载计算机使用的微处理器不具备单粒子翻转(SEU ，SingleEvent Upset)的容错能力，导致必须依靠系统级的容错设计达到空间应用的可靠性要求，制约了系统实时性能的提高，难以满足卫星与深空探测技术发展的需要。 论文以星载计算机的需求为背景，重点研究应用于空间辐射环境中高性能微处理器的容错体系结构，提出了一套完整的微
5、处理器片上容错设计方案，并研究其实现技术，设计实现了两款具有自主知识产权的能够容忍单粒子翻转故障的高性能微处理器芯片，并流片成功。 论文取得了如下的创新性研究成果： 1 、全面分析了 SEU 对微处理器危害的机理，提出了一个体系完整的微处理器片上容错设计方案，并在LSFT32 系列微处理器芯片的设计中进行了实验验证。 2 、提出了一种连续纠错的流水线结构，能够连续检测并纠正寄存器文件中的数据错误，并及时更新寄存器文件。 3 、提出了一种自主恢复的存储器控制器结构，设计了具有自动回写的存储器控制器，数据错误处理完全不需要处理器的干预。 4 、提出了一种可控的片上故障注入机制，提供了软件可控的故障
6、模式，有力地支持了容错技术的验证。 5 、利用 0.5mCMOS工艺抗辐射工艺库和定制存储器，研制了我国第一个辐射加固型32 位RISC 微处理器芯片 LSFT3201(BM3801)，主频 25MHz，抗辐射总剂量指标达到 300krad(Si)；在LSFT3201的基础上通过集成浮点处理单元，改进流水线纠错结构和故障注入机制，利用0.18m 常规CMOS工艺，研制成功能容忍单粒子翻转故障的浮点微处理器芯片LSFT3202(BM3802)，主频达到 175MHz。 LSFT-32 系列容错微处理器的研制成功，对于缓解我国航天领域对国外抗辐射加固微处理器的依赖，将起到积极的作用。3.会议论文隋
7、厚堂 星上计算机的单粒子事件和控制1996 该文讨论了星载计算机的单粒子事件，给出了单粒子事件在中央处理器（）、存储器及其它各类器件中出现时所产生的故障形式以及危害程度，讨论了各种防护措施。给出了器件选择的一般过程、原则和器件选择判决树。4.会议论文章斌. 卫新国 星载计算机抗辐射加固技术2007 本文介绍了星载计算机的抗辐射加固设计技术,以型号卫星为背景 ,从系统设计、 CPU 板设计、抗闩锁、三模冗余、软件加固设计等方面讨论了可以工程中应用的加固措施。5.学位论文张庆祥 利用HIRFL 评估半导体器件单粒子效应敏感度的研究2002 用55MeV/u 的Ar离子对国内第一台专用的单粒子效应加
8、速器模拟实验装置的注量探测器、能量探测器以及均匀度探测器进行了刻度.利用高能Xe 离子获得了静态存储器 IDT71256 的单粒子翻转饱和截面和单粒子闭锁截面,在国内首次得到了该器件完整的 -LET 曲线.并用改进的 FOM方法预示了该器件以及其它常用宇航器件的在轨翻转率;用FOM公式、 Barak 经验公式和 Larry模型推算这些器件的质子饱和截面 ,并对三种方法推算的结果进行了比较;探讨了利用 HIRFL 提供的高能 C 离子来模拟质子引起的单粒子效应的可能性;利用翻转截面与离子入射角度的关系估算了IDT71256 敏感区的厚度以及聚酰亚胺膜的厚度 ,获得了截面与离子沉积能量的关系 ,临
9、界沉积能量与临界 LET 值吻合 ,聚酰亚胺膜的厚度与对同类器件测量的结果一致;研究了离子入射角度对多位翻转的影响 ,在高LET 值轰击下以及高能离子掠射的情况下 ,IDT71256 多位翻转的比例可以高达 70 ,对于MBU, 敏感区中沉积的总能量及其分布范围是两个重要的参数 ;IDT71256 单粒子翻转截面的角度效应主要是多位翻转的贡献;对实验中各种误差来源进行了分析 .部分研究结果已经应用于星载计算机系统的抗辐射加固设计 ,建立的实验方法和理论模型为利用 HIRFL 开展宇航器件单粒子效应敏感度的评估奠定了坚实的基础.引证文献(4条)1. 赵丹. 徐国栋 . 刘源 可重构技术的航天应用与星载计算机设计期刊论文-哈尔滨工程大学学报 2009(5)2. 贾志宏. 向宏文 . 蔡震波 . 耿立红 . 孙才红 . 李怀锋 商用ADSP-21060L总剂量辐照试验与分析期刊论文-宇航学报2007(3)3. 姜秀杰. 孙辉先 . 王志华 . 张利 商用器件的空间应用需求、现状及发展前景期刊论文-空间科学学报 2005(1)4. 杨雅 星载嵌入式计算机系统可靠性技术研究学位论文硕士 2005本文链接： http:/ 年6月10日
