《TCL通讯设备有限公司：降低可靠性试验的批次缺陷率DMAI阶段》由会员分享，可在线阅读，更多相关《TCL通讯设备有限公司：降低可靠性试验的批次缺陷率DMAI阶段（30页珍藏版）》请在金锄头文库上搜索。
1、公司名称公司名称TCLTCL通讯设备（惠州）有限公司通讯设备（惠州）有限公司项目编号项目编号项目名称项目名称降低可靠性试验的不良批次率降低可靠性试验的不良批次率项目组组长项目组组长屈清华屈清华项目类型项目类型 DMAIC BB DMAIC BB DMADV GB DMADV GB牵头部门牵头部门质量管理部质量管理部涉及流程涉及流程产品转拉可靠性试验程序产品转拉可靠性试验程序不合格品品控制程序不合格品品控制程序/ /纠正预防措施程序纠正预防措施程序涉及产品涉及产品已批量产品已批量产品项目成员项目成员屈清华、徐建辉、欧书英、黄志强、廖海昌屈清华、徐建辉、欧书英、黄志强、廖海昌66项目立项注册表项目
2、立项注册表项目立项注册表项目立项注册表区区 分分姓姓 名名意意 见见倡倡 导导 者者肖晓平肖晓平主主 黑黑 带带孙志坚孙志坚财务财务确确认认涂玉涂玉发发 起起 人人刘景锋刘景锋黑黑 带带/ /绿绿 带带屈清华屈清华/ /徐建辉徐建辉2. 2. 2. 2. 基线与目标基线与目标基线与目标基线与目标1. 1. 1. 1. 基本信息基本信息基本信息基本信息CTQ/y单位单位现水平现水平目标水平目标水平先进水平先进水平月不良批次率月不良批次率比率比率16.416.4 5 50 03.3.3.3.效果预算效果预算效果预算效果预算项目项目 投入投入项目项目效益效益减少后期减少后期不良损失不良损失6565万
3、万4.4.4.4.日程计划日程计划日程计划日程计划D0303月月01010303月月2222M0303月月23230505月月1010A0505月月15150606月月1515I/D0606月月16160606月月3030C/V0707月月01010707月月10105 5. .现状描述现状描述: :0404年中试转拉可靠性试验总共检出年中试转拉可靠性试验总共检出43434343单不合格批次，单不合格批次，0505年检出年检出120120120120单，单，0606年前四个月就发生年前四个月就发生7575次不合格。次不合格。其中采取有效纠正措施的寥寥无几，导致虽已在公司内部发现问题，但由于问题
4、处理流程职责不明确、导致问题没有有其中采取有效纠正措施的寥寥无几，导致虽已在公司内部发现问题，但由于问题处理流程职责不明确、导致问题没有有效地改善管理，致使同一问题重复发生。效地改善管理，致使同一问题重复发生。6 6. .项目范围项目范围: :包括中试产品转拉可靠性试验、不合格品控制、纠正预防措施以及客户抱怨处理流程。包括中试产品转拉可靠性试验、不合格品控制、纠正预防措施以及客户抱怨处理流程。7 7. .效果及影响效果及影响: : 建立制度性的管理措施，流程合理、职责明确、团队处理问题制度运作，最终建立及时有效解决问题建立制度性的管理措施，流程合理、职责明确、团队处理问题制度运作，最终建立及时
5、有效解决问题的机制。的机制。 A AMMI IC CD D项目背景项目背景项目背景项目背景1.1.选择项目的理由：选择项目的理由： 0404年中试转拉可靠性试验总共检出年中试转拉可靠性试验总共检出43434343单不合格批次，单不合格批次，0505年检出年检出120120120120单，单，0606年前四个月就发生年前四个月就发生7575次不合格。其中采取有效纠正措施的寥寥无几，次不合格。其中采取有效纠正措施的寥寥无几，导致虽已在公司内部发现问题，但由于问题处理流程职责不明确、导致导致虽已在公司内部发现问题，但由于问题处理流程职责不明确、导致问题没有有效地改善管理，致使同一问题重复发生。问题没
6、有有效地改善管理，致使同一问题重复发生。 A AMMI IC CD D每月不良批每月不良批次数持续上次数持续上升升项目背景项目背景项目背景项目背景2. FEA 2. FEA 计算：计算：A AMMI IC CD D财务效果财务效果= =减少不良批次的返工浪费减少不良批次的返工浪费减少不良批次的返工浪费年不良批次返工电话数量减少不良批次的返工浪费年不良批次返工电话数量（每台话机平均返工费用（每台话机平均返工费用+ +每台每台话机生产效益费用）话机生产效益费用）06年年1-4月共返工月共返工40980台，平均每月有台，平均每月有10245台，按此计算一年共有台，按此计算一年共有10425台台12月
7、月=122940台台返工费用：返工费用： 122940台台3.3375元元/台台=410312.25占用生产效益费用：占用生产效益费用：122940台台2元元/台台=245880元元年直截收益：年直截收益：返工费用返工费用410312.25+占用生产效益费用占用生产效益费用245880=656192.25元元VOC/CTQVOC/CTQVOC/CTQVOC/CTQ分析分析分析分析A AMMI IC CD D外部顾客外部顾客批量性质量问题突出批量性质量问题突出不良率和返修率高不良率和返修率高用户用户代理商代理商VOVO外部顾客外部顾客用户用户代理商代理商C C外部顾客外部顾客可靠性试验出现的问题
8、未能及时可靠性试验出现的问题未能及时有效解决，导致重复发生。有效解决，导致重复发生。不能按营销出货计划按时出货。不能按营销出货计划按时出货。用户用户代理商代理商VOVO内部顾客内部顾客制造部门制造部门营销中心营销中心C C月批次不良率月批次不良率月批次不良率月批次不良率CTQCTQCTQ定 义月批次不良率指每月保证试验中检出不合格的批次数占每月总试验批次数的百分比。缺陷定义：要求月批次不良率5高级流程图（高级流程图（高级流程图（高级流程图（SIPOCSIPOCSIPOCSIPOC）分析）分析）分析）分析A AMMI IC CD DSIPOC模型图模型图公司批量生产产品公司批量生产产品公司批量生
9、产产品公司批量生产产品产品范围产品范围生产转拉生产转拉20台产品台产品试验实施试验实施选择试验项目选择试验项目质量管理部质量管理部OQC试验报告试验报告生产部生产部质量管理部质量管理部IQC质量管理部质量管理部OQCSUPPLIERSINPUTPROCESSCUSTOMERSOUTPUT合格出货合格出货试验结果通报试验结果通报工程技术部工程技术部纠正预防措纠正预防措施表施表工程技术部工程技术部中试工程师审核分析中试工程师审核分析批次不良率波批次不良率波动太大，且持动太大，且持续上升续上升A AMMI IC CD D数据收集数据收集数据收集数据收集 收集从收集从20042004年以来至年以来至2
10、0062006年年4 4月的每月保证试验总单数，并统计每月的具体试验不良信息，计算每月的每月保证试验总单数，并统计每月的具体试验不良信息，计算每月试验批次不良率。月试验批次不良率。每月试验批次数每月不合格批次数每月试验批次不良率A AMMI IC CD D针对针对针对针对05050505年和年和年和年和06060606年的试验不良进行故障分类，找出关键的少数年的试验不良进行故障分类，找出关键的少数年的试验不良进行故障分类，找出关键的少数年的试验不良进行故障分类，找出关键的少数 针对上页0505年和年和0606年的试验不良故障分类年的试验不良故障分类数据进行柏拉图分析，找出关键的少数导致可靠性试
11、验缺陷率居高不下的焦点问题，重点进行分析改善。排列前排列前7 7位的故障类型位的故障类型占整个可靠性试验不占整个可靠性试验不良的良的7373，集中解决，集中解决这些问题就可杜绝大这些问题就可杜绝大部分可靠性问题的损部分可靠性问题的损失失同一故障重复同一故障重复发生率非常高发生率非常高A AMMI IC CD D测量阶段总结测量阶段总结测量阶段总结测量阶段总结 -焦点问题陈述焦点问题陈述焦点问题焦点问题试验不试验不良次数良次数潜在失效影响模式潜在失效影响模式产品类型产品类型市场市场投诉投诉分析及现阶段控制分析及现阶段控制A斑马纸脱落斑马纸脱落30机械应力或气候环境应力时电话机模组斑机械应力或气候
12、环境应力时电话机模组斑马纸可能部分脱落，导致话机显示不良。马纸可能部分脱落，导致话机显示不良。HCD/HW电话机电话机有有05年年4月月-9月集中人力分月集中人力分析解决。见附页析解决。见附页C主板漏电主板漏电56天气潮湿时话机主板漏电，导致话机漏电天气潮湿时话机主板漏电，导致话机漏电流变大（甚至自动摘机），交换机判断为流变大（甚至自动摘机），交换机判断为话机摘机，导致电话打不进来。话机摘机，导致电话打不进来。HCD/HA电话机电话机有有今年今年3月初已召集团队成月初已召集团队成员分析解决，现正跟踪员分析解决，现正跟踪改进结果。改进结果。B模组漏电模组漏电13天气潮湿时，模组上的海绵吸潮，导致
13、绝天气潮湿时，模组上的海绵吸潮，导致绝缘阻抗降低，引起缘阻抗降低，引起32.768KHz晶体停振，晶体停振，导致电话机无显示、无拨号。导致电话机无显示、无拨号。HCD系系列电话机列电话机有有今年今年3月下旬已召集团队月下旬已召集团队成员分析解决，现正跟成员分析解决，现正跟踪改进结果。踪改进结果。FTH382中周偏移中周偏移13高温或湿热环境中无绳电话座机高温或湿热环境中无绳电话座机RF部分部分的鉴频中周的鉴频中周TH382频率发生漂移，频率发生漂移，导致无导致无绳手机发话变小甚至无绳手机无连接绳手机发话变小甚至无绳手机无连接。HW系列系列电话机电话机有有团队分析解决中团队分析解决中E咪头松脱咪
14、头松脱16跌落或振动时免提咪头可能松脱跌落或振动时免提咪头可能松脱导致话机导致话机免提啸叫。免提啸叫。或在高温存储环境中黄腊融化或在高温存储环境中黄腊融化堵住咪头孔，堵住咪头孔，导致免提无发话。导致免提无发话。HCD/HW电话机电话机有有团队分析解决中团队分析解决中DLCD镜片裂镜片裂15话机受到跌落和挤压时可能导致话机受到跌落和挤压时可能导致LCD显示显示镜片破裂，导致话机无显示。镜片破裂，导致话机无显示。HCD/HW电话机电话机有有设计结构问题此次项目设计结构问题此次项目解决困难，暂不考虑解决困难，暂不考虑铃声类铃声类22话机不响铃、铃声失真、铃声无大小调节、话机不响铃、铃声失真、铃声无大
15、小调节、铃声小铃声小HA/HCD/HW电话电话有有因主要为元器件故障，因主要为元器件故障，类别较分散难以集中解类别较分散难以集中解决，不考虑。决，不考虑。A AMMI IC CD DF(TH382F(TH382F(TH382F(TH382中周频率偏移中周频率偏移中周频率偏移中周频率偏移) ) ) )的潜在原因的潜在原因的潜在原因的潜在原因( ( ( (鱼骨图鱼骨图鱼骨图鱼骨图) ) ) ) 原材料组件产品参数/结构设计生产过程工艺环境因素温度漂移率温度漂移率涂胶工艺涂胶工艺物料混用物料混用高温高温55老化试验筛选老化试验筛选铜壳材质铜壳材质机械振动机械振动品质因数品质因数Q值值磁心导磁率磁心导
16、磁率湿热环境湿热环境磁心力矩磁心力矩谐振频率范围谐振频率范围骨架材质骨架材质内附调谐电容内附调谐电容线圈绕线材质线圈绕线材质灰尘因素灰尘因素生产调试生产调试高温环境高温环境低温环境低温环境TH382中中周周频频率率偏偏移移化学腐蚀化学腐蚀磁帽材质磁帽材质胶水性能胶水性能是否全检测试是否全检测试磁帽与磁芯相对位移磁帽与磁芯相对位移电容材质等级电容材质等级封装工艺封装工艺我司生产调试工艺封蜡工艺封蜡工艺封红胶工艺封红胶工艺是否调试最佳是否调试最佳焊接影响焊接影响线路参数匹配线路参数匹配可能的影响因子可能的影响因子后续验证方案后续验证方案规格要求规格要求温度漂移率温度漂移率从我司现用的中周库存抽样，
17、进行环境适应性试验并测试其温度漂移率是否超标。从我司现用的中周库存抽样，进行环境适应性试验并测试其温度漂移率是否超标。0.50.5内附调谐电容内附调谐电容针对市场客户端维修退回的不良中周进行结构分拆，测试其内附电容。针对市场客户端维修退回的不良中周进行结构分拆，测试其内附电容。330 330 5 5磁帽与磁芯相对位移磁帽与磁芯相对位移针对市场客户端维修退回的不良中周进行结构分拆验证确认。针对市场客户端维修退回的不良中周进行结构分拆验证确认。455KHz455KHz0.50.5封红胶工艺封红胶工艺通过封红胶工艺前后的中周频率比对确认是否会影响。通过封红胶工艺前后的中周频率比对确认是否会影响。45
18、5KHz455KHz0.50.5A AMMI IC CD D鉴频中周鉴频中周鉴频中周鉴频中周TH382TH382TH382TH382规格要求和结构图展示规格要求和结构图展示规格要求和结构图展示规格要求和结构图展示TH382TH382规格要求：规格要求： 中心频率（中心频率（1 13 3） 455KHz455KHz； 可调频率（可调频率（1 13 3） 455KHz455KHz3 3（minmin）；）； 内附电容（内附电容（1 13 3） 330pf330pf5 5； 品质因数（品质因数（1 13 3） Min50Min50（455KHz455KHz）；）； 温度漂移范围温度漂移范围0.50.
19、5电容电容带螺纹磁帽带螺纹磁帽骨架骨架磁芯磁芯绕线电感绕线电感铜壳螺纹铜壳螺纹TH382中周中周内部电路连接内部电路连接LC振荡回路振荡回路依靠磁帽进入磁芯依靠磁帽进入磁芯线圈的深度来调节线圈的深度来调节电感量依此达到调电感量依此达到调节振荡频率的目的节振荡频率的目的A AMMI IC CD D鉴频中周鉴频中周鉴频中周鉴频中周TH382TH382TH382TH382库存抽样分析库存抽样分析库存抽样分析库存抽样分析温度漂移率温度漂移率中山高雅中周中山高雅中周TH382在在TCL库存抽样库存抽样30pcs进行实验测试进行实验测试标注红色的数据超标注红色的数据超出规格限要求（出规格限要求（温温度漂移
20、范围度漂移范围0.50.5）A AMMI IC CD D高雅中周频率变化率的高雅中周频率变化率的t t检验分析检验分析 2006-6-19 9:25:50Two-Sample T-Test and CI: 高雅中周频偏变化高雅中周频偏变化率率, 试验环境试验环境 Two-sample T for 高雅中周频偏变化率试验环境N Mean StDev SE Mean低温29 -0.0114 0.0887 0.016高温30 0.668 0.859 0.16Difference = mu (低温) - mu (高温)Estimate for difference: -0.67967795% CI f
21、or difference: (-1.002232, -0.357121)T-Test of difference = 0 (vs not =): T-Value = -4.31 P-Value = 0.000 DF = 29P值为高温、低温条件下中周频率变化率指标差别显著。鉴频中周鉴频中周鉴频中周鉴频中周TH382TH382TH382TH382库存抽样分析库存抽样分析库存抽样分析库存抽样分析温度漂移率温度漂移率A AMMI IC CD D高雅中周频率高低温试验变化率的流程能力分析高雅中周频率高低温试验变化率的流程能力分析1、低温频率变化率指标流程能力Cpk 1.822、高温频率变化率指标流程
22、能力高温频率变化率指标流程能力Cpk 0.02，能力不足，有一半以上指标超标，急需改，能力不足，有一半以上指标超标，急需改善。善。TH382TH382中周温度漂移率：中周温度漂移率： 通过上述分析验证高温环境导致通过上述分析验证高温环境导致TH382TH382中周中周频率严重漂移超过频率严重漂移超过0.50.5，供应商的原材料，供应商的原材料和工艺变异大和工艺变异大。鉴频中周鉴频中周鉴频中周鉴频中周TH382TH382TH382TH382库存抽样分析库存抽样分析库存抽样分析库存抽样分析温度漂移率温度漂移率A AMMI IC CD D鉴频中周鉴频中周鉴频中周鉴频中周TH382TH382TH382
23、TH382数据门分析数据门分析数据门分析数据门分析选取市场退回的的选取市场退回的的25pcs样品进行实际频率测试样品进行实际频率测试标注红色的数据超标注红色的数据超出规格限要求（出规格限要求（温温度漂移范围度漂移范围0.50.5）A AMMI IC CD D鉴频中周鉴频中周鉴频中周鉴频中周TH382TH382TH382TH382内附电容分析内附电容分析内附电容分析内附电容分析内附调谐电容内附调谐电容内附调谐电容内附调谐电容 不良电容有13个，其余12个电容容量合格。 1、分析不良品中周发现中周内附电容有两种不同品牌（TDK、高雅品牌），其中TDK的电容有13pcs, 高雅的电容有12pcs。
24、2、不良品的电容测量，发现TDK电容容量均变小，只有270-310pf（规格要求为313.5346.5pf （330pf5 ），高雅电容均在合格范围内。 （经立即联系供应商追朔供货记录及生产记录，供应商确认回复，TDK电容使用的原因：批量生产时高雅电容不够时经常用TDK电容替用）。 经过上述分析排查可以确定经过上述分析排查可以确定TDKTDK电容不良造成电容不良造成TH382TH382中周频率偏移，中周频率偏移，其电介质材料为二类X7R(2X1)，电容容量误差达到K档10%。 针对市场退回不良样品进行其结构内附微型管状陶瓷电容器容量测试，结果如下：针对市场退回不良样品进行其结构内附微型管状陶瓷
25、电容器容量测试，结果如下：规格要求：规格要求： 330pf330pf5 5 编号12345678910111213容量315302305332281318321270275334319298341编号141516171819202122232425容量285296319278322335308296326292286326A AMMI IC CD D鉴频中周鉴频中周鉴频中周鉴频中周TH382TH382TH382TH382结构分析结构分析结构分析结构分析磁帽与磁芯相对位移磁帽与磁芯相对位移磁帽与磁芯相对位移磁帽与磁芯相对位移 其电感量和电容均符合规格要求，此时通过逆向思维，对频率偏移的中周进行磁
26、帽调节，发现均可调回初始调制频率。因此得出：TH382TH382中周磁帽与磁芯发生了相对位移，导致中周磁帽与磁芯发生了相对位移，导致LCLC振荡回路的电感量发生振荡回路的电感量发生 了变化，因此谐振频率偏移初始调制值。了变化，因此谐振频率偏移初始调制值。对其余对其余1212个进行结构分析：个进行结构分析：带螺纹磁帽其内部电路是一个LC振荡回路用调笔调节磁帽，依靠磁帽螺纹与铜壳螺纹旋转，覆盖磁芯线圈的深度来调节电感量依此达到调节振荡频率的目的。A AMMI IC CD D鉴频中周鉴频中周鉴频中周鉴频中周TH382TH382TH382TH382我司生产过程频率偏移分析我司生产过程频率偏移分析我司生
27、产过程频率偏移分析我司生产过程频率偏移分析封红胶工艺封红胶工艺封红胶工艺封红胶工艺 公司无绳机芯调试线反馈已调试好的无绳座机放置一两天周转到装配线生产时反馈出现手机发话变小和无对码故障。 五楼机芯测试调试线，调节TH382以使座机射频接收失真度最小（小于5），且输出音频信号幅度最大。然后用红胶点胶到TH382中固定已调试好的最佳频率位置（即固定磁帽位置）。而行业标杆公司步步高、PHILIPS采用封蜡工艺。 经对比试验：试用50台点高温蜡的TH382中周，经试验前后数据比对一致。 原因分析：红胶的特点是完全固化的时间较长约24小时，固化前后体积的收缩变化牵引铜壳上的磁帽与基板上磁芯的相对位移而引
28、起振荡频率变化。 TH382点红胶固定磁帽PHILIPS和步步高均采用封蜡工艺-A AMMI IC CD DE E E E（免提咪头套松脱）原因分析（免提咪头套松脱）原因分析（免提咪头套松脱）原因分析（免提咪头套松脱）原因分析咪头套松脱咪头套松脱咪头套松脱咪头套松脱的测试分析的测试分析跌落试验中共有12台话机松脱A AMMI IC CD D分析阶段总结分析阶段总结分析阶段总结分析阶段总结-根本原因列表根本原因列表焦点问题根本原因列表F F中周中周TH382TH382频率偏移频率偏移1 1 1 1鉴频中周鉴频中周鉴频中周鉴频中周TH382TH382TH382TH382内附电容内附电容内附电容内附
29、电容TDKTDKTDKTDK电容不良电容不良电容不良电容不良2 2 2 2鉴频中周鉴频中周鉴频中周鉴频中周TH382TH382TH382TH382结构分析结构分析结构分析结构分析磁帽与磁芯相对位移磁帽与磁芯相对位移磁帽与磁芯相对位移磁帽与磁芯相对位移3 3 3 3我司生产调试固定工艺我司生产调试固定工艺我司生产调试固定工艺我司生产调试固定工艺点红胶点红胶点红胶点红胶4 4 4 4供应商过程质量控制供应商过程质量控制供应商过程质量控制供应商过程质量控制温度漂移率温度漂移率温度漂移率温度漂移率E E咪头套松脱咪头套松脱1咪头套材质与封蜡工艺不配咪头套材质与封蜡工艺不配咪头套材质与封蜡工艺不配咪头套
30、材质与封蜡工艺不配A AMMI IC CD D1 1 1 1、鉴频中周、鉴频中周、鉴频中周、鉴频中周TH382TH382TH382TH382内附电容内附电容内附电容内附电容TDKTDKTDKTDK电容不良电容不良电容不良电容不良高雅电容高雅电容X7R JX7R J档档5%5%全部更换为针对针对针对针对中周中周TH382TH382频率偏移频率偏移根本原因的解决方案根本原因的解决方案根本原因的解决方案根本原因的解决方案2 2 2 2、鉴频中周、鉴频中周、鉴频中周、鉴频中周TH382TH382TH382TH382结构分析结构分析结构分析结构分析磁帽与磁芯相对位移磁帽与磁芯相对位移磁帽与磁芯相对位移磁
31、帽与磁芯相对位移基板与铜壳之间加涂胶水加固基板与铜壳之间加涂胶水加固3 3 3 3、我司生产调试固定工艺点红胶、我司生产调试固定工艺点红胶、我司生产调试固定工艺点红胶、我司生产调试固定工艺点红胶供应商改进采用封高温蜡工艺固定采用封高温蜡工艺固定改进工艺4 4 4 4、供应商过程质量控制、供应商过程质量控制、供应商过程质量控制、供应商过程质量控制温度漂移率温度漂移率温度漂移率温度漂移率供应商出厂供应商出厂5555度度1212小时小时100100老化筛选工序老化筛选工序增加检验措施A AMMI IC CD D试运行及效果验证试运行及效果验证试运行及效果验证试运行及效果验证针对改进后的TH382进行
32、试验，结果全部合格。A AMMI IC CD D 针对改进后针对改进后TH382TH382中周频率高、低温试验变化率的流程能力分析：中周频率高、低温试验变化率的流程能力分析：1 1、低温频率变化率指标流程能力、低温频率变化率指标流程能力Cpk 2.80Cpk 2.80，改进前为，改进前为1.821.82，改进效果明显。，改进效果明显。2 2、高温频率变化率指标流程能力、高温频率变化率指标流程能力Cpk 1.27Cpk 1.27，与改进前的，与改进前的0 0相比较有很大的改善。相比较有很大的改善。试运行及效果验证试运行及效果验证试运行及效果验证试运行及效果验证A AMMI IC CD D试运行及
33、效果验证试运行及效果验证试运行及效果验证试运行及效果验证改进前后改进前后TH382TH382中周高温环境频率变化率（）比较：中周高温环境频率变化率（）比较：改进后全不符合规格要求0.5A AMMI IC CD D试运行及效果验证试运行及效果验证试运行及效果验证试运行及效果验证针对改进后的TH382中周进行装机老化实验7天，要求话机发话SLR变化不大于8dB。结果全部合格。A AMMI IC CD D试运行及效果验证试运行及效果验证试运行及效果验证试运行及效果验证针对改进后的针对改进后的TH382中周进行装机老化试验，流程能力分析中周进行装机老化试验，流程能力分析1、改进后的TH382进行装机老
34、化流程能力分析Cpk 1.3723A AMMI IC CD DE E E E（免提咪头套松脱）根本原因的解决方案（免提咪头套松脱）根本原因的解决方案（免提咪头套松脱）根本原因的解决方案（免提咪头套松脱）根本原因的解决方案咪头套材质咪头套材质咪头套材质咪头套材质改变材质改变材质原用橡胶材质咪头套EVA材质咪头套 将橡胶咪头套改用EVA材质的咪套，在原来的基础上将咪套尺寸加大在原来的基础上将咪套尺寸加大0.5mm0.5mm，因，因EVAEVA材质密度不大，收缩性好，在尺寸大的情况下也能很容易的材质密度不大，收缩性好，在尺寸大的情况下也能很容易的装入，并且黄腊在液态状态下很容易被装入，并且黄腊在液态
35、状态下很容易被EVAEVA材质的咪套吸附，在黄腊固化后材质的咪套吸附，在黄腊固化后相对咪套与咪槽卡得紧一些，相对咪套与咪槽卡得紧一些，同时可降低材料成本。A AMMI IC CD D试运行及效果验证试运行及效果验证试运行及效果验证试运行及效果验证E E E E（免提咪头套松脱）（免提咪头套松脱）（免提咪头套松脱）（免提咪头套松脱） 针对改进后的EVA材质咪头套在有问题的具体6款机型HCD89、HCD13B、HCD55、HCD37、HCD17B、HCD62上进行跌落验证实验，每款话机5台，共测试30台，由原来有12台不合格，改进后全部合格。第一批试用第一批试用20002000个已到，下周在此六款
36、话机批量试用（依生产计划）个已到，下周在此六款话机批量试用（依生产计划）A AMMI IC CD D改进方案的实施计划及风险分析改进方案的实施计划及风险分析改进方案的实施计划及风险分析改进方案的实施计划及风险分析焦点问题根本原因改进方案实施控制方案现有产品处理风险分析负责人时间中周中周TH382TH382频频率偏移率偏移鉴频中周TH382内附电容TDK电容不良更换为高雅电容X7R J档5%电容器丝印瓷粉颜色区别IQC来料检查确认公司HW成品存货问题话机6K已全部返工更换改进后的TH382中周处理。库存问题中周已全部退回供应商禁发TCL处理。改进中周外观标记由TH382改为L7。试验验证合格。但
37、最终仍需待市场验证。中试黄志强PE经理廖海昌IQC刘雪峰6月30日鉴频中周TH382结构分析磁帽与磁芯相对位移基板与铜壳之间加涂胶水加固来料抽样检查确认供应商过程质量控制温度漂移率供应商出厂55度12小时100老化筛选工序供应商提供老化试验报告IQC来料检验审核报告我司生产调试固定工艺点红胶采用封高温蜡工艺固定生产改变工艺，设立巡检制度工艺检查确认PE经理廖海昌咪头套咪头套松脱松脱咪头套材质与封蜡工艺不配。橡胶材质咪套无吸附性，封蜡只起密封作用，无固定作用。原用橡胶材质咪头套EVA材质。同时采用封黄胶工艺。已进行批量试用安排，尺寸匹配后即可全部替换。工艺巡检控制。现有产品从适用性角度和发生问题的机率评估决议让步接受。可能出现的机械应力如反面跌落导致咪套松脱，话机免提啸叫。导致用户投诉。中试黄志强PE经理廖海昌IQC李伟庆6月30日谢谢你的阅读知识就是财富丰富你的人生
