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1、开关电源中的硬开关和软开关是针对开关晶体管而言的。硬开关是不管开关管上 的电压或电流，强行接通或关断开关管。当开关管（漏极和源极之间，或者集电极和发 射极之间）的电压及电流较大时，切换开关管，由于开关管状态间的切换（由导通到截 止，或由截止到导通）需要一定的时间，这样就会造成在开关管状态切换的某一段时间 内，电压和电流有一个交越区域，这个交越造成的开关管损耗（开关管的切换损耗）随 开关频率的提高而急速增加。若是感性负载，在开关晶体管关断时会感应出尖峰电压。开关频率越高，关断越快，该感应电压越高。此电压加在开关器件两端，容易造成器件击穿。若是容性负载，在 开关晶体管导通瞬间的尖峰电流大。因此，当
2、开关晶体管在很高的电压下接通时，储 存在开关晶体管结电容中的能量将以电流形式全部耗散在该器件内。频率越高，开通 电流尖峰越大，从而会引起开关管的过热损坏。另外，在次级高频整流回路中的二极管，在由导通变为截止时，有一个反向恢复期，开关晶体管在此期间内接通时，容易产生很大的冲击电流。显然频率越高，该冲击电 流也越大，对开关晶体管的安全运行造成危害。最后，做硬开关运用的开关电源中，开关晶体管会产生严重的电磁骚扰。随着频率 的提高和电路中的 di/dt 和 du/dt 增大，所产生的电磁骚扰也在增大，影响开关电源本 身和周围电子设备的正常工作。上述问题严重阻碍了开关器件（开关晶体管和高频整流二极管）工
3、作频率的提高。近 年来开展的软开关技术研究为克服上述缺陷提供了一条有效的途径。和硬开关工作原 理不同，理想的软关断过程是电流先降小到零，电压在缓慢上升到断态值，所以关断 损耗近似为零。由于器件关断前电流已经下降到零，便解决了感性关断问题。理想的 软开通过程是电压先降到零，电流在缓慢上升到通态值，所以开通损耗近似为零，器 件结电容的电压也为零，解决了容性开通问题。同时，开通时，二极管反向恢复过程 已经结束，因此二极管反向恢复问题不存在。软开关技术还有助于电磁骚扰水平的降低，其原因是开关晶体管在零电压的情况下 导通和在零电流的情况下关断，同时快恢复二极管也是软关断的，这可以明显减小功 率器件的di/dt和du/dt，从而可以减小电磁干扰的电平。一般来说软开关的效率较高（因为没有切换损）;操作频率较高，PFC或变压器体积可以减少，所以开关电源的体积可以做到更小。但成本也相对较高，设计较复杂。
