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1、泓域咨询/长春半导体分立器件测试设备项目招商引资方案长春半导体分立器件测试设备项目招商引资方案xxx有限责任公司报告说明半导体设备价值普遍较高，一条制造先进集成电路产品的生产线投资中设备价值约占总投资规模的70%80%，当制程到16/14nm时，设备投资占比达85%，7nm及以下占比将更高。按工艺流程分类，典型的产线上前道、封装、测试三类设备分别占85%、6%、9%。3根据谨慎财务估算，项目总投资8486.26万元，其中：建设投资6620.60万元，占项目总投资的78.02%；建设期利息138.09万元，占项目总投资的1.63%；流动资金1727.57万元，占项目总投资的20.36%。项目正常
2、运营每年营业收入17700.00万元，综合总成本费用14269.09万元，净利润2511.70万元，财务内部收益率22.22%，财务净现值2219.00万元，全部投资回收期5.83年。本期项目具有较强的财务盈利能力，其财务净现值良好，投资回收期合理。项目产品应用领域广泛，市场发展空间大。本项目的建立投资合理，回收快，市场销售好，无环境污染，经济效益和社会效益良好，这也奠定了公司可持续发展的基础。本期项目是基于公开的产业信息、市场分析、技术方案等信息，并依托行业分析模型而进行的模板化设计，其数据参数符合行业基本情况。本报告仅作为投资参考或作为学习参考模板用途。目录第一章 项目背景及必要性8一、
3、集成电路行业概况8二、 半导体测试设备行业概况9三、 半导体测试系统行业壁垒11四、 扩大有效投资加强新基建投资16五、 创建先行先试政策先导区17六、 项目实施的必要性17第二章 行业、市场分析18一、 半导体行业概况18二、 半导体测试系统行业概况20三、 半导体分立器件行业概况21第三章 项目概述24一、 项目概述24二、 项目提出的理由25三、 项目总投资及资金构成26四、 资金筹措方案26五、 项目预期经济效益规划目标27六、 项目建设进度规划27七、 环境影响27八、 报告编制依据和原则28九、 研究范围29十、 研究结论30十一、 主要经济指标一览表30主要经济指标一览表30第四
4、章 建筑技术分析33一、 项目工程设计总体要求33二、 建设方案33三、 建筑工程建设指标35建筑工程投资一览表35第五章 建设方案与产品规划37一、 建设规模及主要建设内容37二、 产品规划方案及生产纲领37产品规划方案一览表38第六章 法人治理39一、 股东权利及义务39二、 董事42三、 高级管理人员46四、 监事49第七章 发展规划分析51一、 公司发展规划51二、 保障措施57第八章 安全生产分析59一、 编制依据59二、 防范措施62三、 预期效果评价66第九章 原辅材料供应67一、 项目建设期原辅材料供应情况67二、 项目运营期原辅材料供应及质量管理67第十章 节能方案说明69一
5、、 项目节能概述69二、 能源消费种类和数量分析70能耗分析一览表71三、 项目节能措施71四、 节能综合评价72第十一章 组织架构分析73一、 人力资源配置73劳动定员一览表73二、 员工技能培训73第十二章 项目投资计划75一、 投资估算的依据和说明75二、 建设投资估算76建设投资估算表80三、 建设期利息80建设期利息估算表80固定资产投资估算表82四、 流动资金82流动资金估算表83五、 项目总投资84总投资及构成一览表84六、 资金筹措与投资计划85项目投资计划与资金筹措一览表85第十三章 项目经济效益评价87一、 经济评价财务测算87营业收入、税金及附加和增值税估算表87综合总成
6、本费用估算表88固定资产折旧费估算表89无形资产和其他资产摊销估算表90利润及利润分配表92二、 项目盈利能力分析92项目投资现金流量表94三、 偿债能力分析95借款还本付息计划表96第十四章 项目风险防范分析98一、 项目风险分析98二、 项目风险对策100第十五章 项目总结分析103第十六章 附表附件105营业收入、税金及附加和增值税估算表105综合总成本费用估算表105固定资产折旧费估算表106无形资产和其他资产摊销估算表107利润及利润分配表108项目投资现金流量表109借款还本付息计划表110建设投资估算表111建设投资估算表111建设期利息估算表112固定资产投资估算表113流动资
7、金估算表114总投资及构成一览表115项目投资计划与资金筹措一览表116第一章 项目背景及必要性一、 集成电路行业概况集成电路芯片根据电路功能的不同可以分为数字芯片和模拟芯片两类。数字芯片是用来产生、放大和处理数字信号的集成电路，能对离散取值的信号进行处理。模拟芯片是用来产生、放大和处理模拟信号的集成电路，能对电压或电流等幅度随时间连续变化的信号进行采集、放大、比较、转换和调制。同时处理模拟与数字信号的混合信号芯片属于数模混合芯片。根据WSTS的数据，2019年全球半导体市场中，集成电路占比超过八成。随着新技术发展和应用领域不断拓展，全球集成电路行业市场规模增长迅猛。根据WSTS统计，从201
8、6年到2018年，全球集成电路市场规模从2,767亿美元迅速提升至3,933亿美元，年均复合增长率高达19.22%；2019年受全球宏观经济和下游应用行业的增速放缓影响，集成电路行业景气度有所下降，全球集成电路市场规模降至3,304亿美元，跌幅达15.99%。但在2020年受益于存储器和传感器业务，全球半导体市场增长5.1%达到4,331亿美元，并有望在2021年同比增长8.4%达到4,694亿美元，随着5G普及和汽车行业的复苏预计未来全球集成电路产业市场规模有望持续增长。我国本土集成电路产业的起步较晚，但在市场需求、国家政策的驱动下，中国集成电路产业销售规模迅速增长。根据中国半导体行业协会统
9、计，2020年中国集成电路产业销售额为8,848.00亿元，同比增长17.00%。根据海关总署的数据，从2015年起，国内集成电路产品进口额已连续五年位列所有进口商品的第一位，2020年中国进口集成电路5,435亿块，同比增长22.1%。在国内集成电路市场需求不断扩大的背景下，自产能力和规模不足，导致该行业存在较严重的进口依赖，市场供需错配状况亟待扭转，集成电路国产化的空间巨大。二、 半导体测试设备行业概况以封测为界，半导体测试包括晶圆检测（CP,CircuitProbing）和成品测试（FT,FinalTest）。无论是晶圆检测或是成品检测，要测试芯片的各项功能指标均须完成两个步骤：一是通过
10、探针台或分选机将芯片的引脚与测试机的功能模块连接起来，二是通过测试机对芯片施加输入信号，并检测输出信号，判断芯片功能和性能是否达到设计要求。半导体测试设备主要包括测试系统（也称为“测试机”）、探针台和分选机三种设备，其中测试系统是检测设备中最重要的设备类型，价值量占比约为63%：根据SEMI的统计，2018年国内测试系统、分选机和探针台市占率分别为63.1%、17.4%和15.2%，其它设备占4.3%。根据工艺环节不同，测试系统主要用于晶圆测试和成品测试。晶圆检测是指在晶圆出厂后进行封装前，通过探针台和测试系统配合使用，对晶圆上的芯片进行功能和性能的测试。测试结果通过通信接口传送给探针台，探针
11、台据此对芯片进行打点标记，形成晶圆的Map图。该环节的目的是在芯片封装前，尽可能的将无效的芯片标记出来以节约封装费用。成品测试是指芯片完成封装后，通过分选机和测试系统配合使用，对芯片进行功能和电参数性能测试，保证出厂的每颗芯片的功能和性能指标能够达到设计规范要求。测试结果通过通信接口传送给分选机，分选机据此对被测试芯片进行标记、分选、收料或编带。该环节是保证出厂每颗集成电路功能和性指标能够达到设计规范要求。根据Gartner的统计数据，2016年至2018年全球半导体测试设备市场规模为37亿美元、47亿美元、56亿美元，年复合增长率约为23%，2019年受到全球半导体设备景气度下降的影响，市场
12、规模下降至54亿美元。根据SEMI的统计数据，2020年全球测试设备市场规模约60.1亿美元，2021年及2022年全球半导体测试设备市场规模预计将分别达到75.8亿美元及80.3亿美元。三、 半导体测试系统行业壁垒1、技术壁垒半导体测试系统涵盖多门学科的技术，包括计算机、自动化、通信、电子和微电子等，为典型的技术密集、知识密集的高科技行业，用户对测试系统的可靠性、稳定性和一致性要求较高，由于芯片技术和复杂程度不断提升，测试设备企业须具有非常强大的研发能力，产品持续迭代升级，方可应对客户不断提高的测试参数和功能以及效率要求。半导体测试系统的技术壁垒也比较高。具体技术壁垒如下：随着制造成本的提升
13、，测试效率要求不断提高，测试系统的并行测试能力不断提升。在相同的测试时间内，并行测试芯片数量越多，则测试效率越高，平均每颗芯片的测试成本越低。此外，随着并行测试数越多，对测试系统的功能、测试系统资源同步能力、测试资源密度和响应速度及并行测试数据的一致性及稳定性要求就越高。随着封装技术的发展，功能复杂的混合信号芯片越来越多，通常内部含有MCU系统、数模/模数转换系统、数字通信接口、无线通信接口、无线快充、模拟信号处理或者功率驱动系统等；另一方面，随着汽车电子和新能源下游应用的推广，功率半导体和第三代半导体器件不仅需要测试直流参数，还需要测试更多范围的动态参数，对于测试机系统的功能模块要求也越来越
14、高。随着芯片的技术和封装水平的提升，对测试系统测试精度的要求不断提升。客户对测试系统各方面的精度要求在提升，测试电压精确到微伏（V）、测试电流精确到皮安（pA）、测试时间精确到百皮秒（100pS）。对于极小电流和极小电压的测试，测试设备要通过一些技术诀窍来克服信号干扰导致测试精度偏差的难题。因此，从测试系统的设计来看，每个元器件的选择、电路板的布局到系统平台结构的设计都需要深厚的基础储备和丰富的测试经验。随着大功率器件及第三代半导体功率器件的广泛应用，芯片的电路密度和功率密度更大，功率半导体测试系统的电流/电压及脉宽控制精度的测试要求不断提高。企业要具备较强的研发能力，能够快速响应客户的技术要
15、求，实现产品技术的升级和迭代。测试系统软件须满足通用化软件开发平台的要求，符合客户使用习惯。从技术层面来看，某个系列的测试系统会称为一个测试平台，在这个系列的测试平台上，测试系统能够满足某大类（如模拟或数模混合信号）芯片的测试需求，客户可以根据具体不同应用要求的芯片在测试平台上进行测试程序的二次开发。因此，随着集成电路产品门类的增加，客户要求测试设备具备通用化软件开发平台，方便客户进行二次应用程序开发，以适应不同产品的测试需求。测试系统对数据整合、分析能力的提升以及与客户生产管理系统集成要求的提升。一方面，客户要求测试设备对芯片的状态、参数监控、生产质量等数据进行大数据分析，另一方面，随着测试功能模块的增多，整套测试系统的各个测试模块测试的数据须进行严格对应合并，保证最终收取的数据与半导体元芯片严格一一对应，并以最终合并的数据进行分析对被测的芯片进行综合分档分级。如：汽车电子
