实验五TTL TSL门的功能测试

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1、图 11.1 74LS 芯片逻辑符号36V 电压由图 111(b)实验五TTL TSL门的功能测试、译码器和数据选择器应用一、实验内容1TTL TS门的功能测试三态输出缓冲器 74LS126 的逻辑符号如图 111,图中C端为缓冲器的控制端.令C为高电平(3.6V), VI分别取0V3.6V, 用直流电压表测出相应的 V0 值。再令C为低电平(0v), V1分别取0V,3. 6V,测出V0端相应的值.将实验的结果填 入下表11. 1中。若将74LS126芯片和74LS00芯片接成图11. 2所示电路。C取不同的逻辑电平.改变V1和B端的输入电平值,测出TSL门的输出V0的值,将结果填入下表11

2、. 2中。表111C0V3.6VVl(v)03.603.6Po(v)Ut74LS12&74LS80& d 图 11. 2表 11. 2C0V3.6VV1(V)03.603.6V0(V)B=0VB=36V2. 74LS126三态总线缓冲器的应用用三态门74LS126实现的四路信号经一报母线传送的电路如图11. 3所示。图中DB为数据总线。四路信号V1V4经74LS126和DB相连。信号V1, V2 取自学习机连续脉冲发生器的 Sc、Sd。 V3=+ 5 V, V4=0。控制端C1C4接学习机开关S1S4.令S1S4,轮流为高电平,则TSL门轮流 打开,信号V1V4将依次出现在数据总线上.用双踪示

3、波器观察数据总线DB和输出端V1V4上的波形,以验证电路的功能。按表7. 1输入电平分别置位、填输出状态表图 7。1输入输出使能选择GBAY0 Y1 Y2 Y3HXXLLLLLHLHLLHH表 713译码器功能测试将 74LS139 译码器按图 71 接线2译码器转换将双 2一 4线译码器转换为38线译码器。(1)画出转换电路图。(2)在学习机上接线并验证设计是否正确。(3)引设计并填写该3 一 S线译码器功能表,画出输入、输出波形。3.数据选择器的测试及应用 将双4选1数据选择器7LS153参照图7. 2接线.测试其功能并填写功能表( 2)将学习机脉冲信号源中固定连续脉冲 4 个不同频率的信

4、号接到数据选择器4个输入端,将选择端置位,使输出端可分别观察到4种不同频率脉冲信号.(3)选用数据选择器和两输入与非门实现逻辑函数L = A + BC + BC,画出 该逻辑电路图,并通过实验加以验证。图 7. 2表 72选择端数据输入端输出控制输出B AC0C1C2C3GYX XX X X XHL LL X X XLL LH X X XLL HX L X XLL HX H X XLH LX X L XLH LX X H XLH HX X X LLH HX X X HL三、思考题1在所示的电路中.你是怎样判断74LS126芯片的输出是处在高阻态的? 在74LS26输出为高阻的情况下用直流电压表测量V0的值.试比较在接和不接与 非门74LS00时其值有何不同?当B端加不同电平时,又有何不同?(根据实验测 到的数值进行分所)2. 译码器和数据选择的主要用途有哪些?如何保证电路正常工作?

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