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1、第 1 页2023-1-9高拓微电子技术技术文档TPDEM1试验指导书前言本试验制指导书围绕TPDEMO1 上的各个功能模块开放 15 个试验。前十个为根底试验， DEMO 程序供给传统的汇编单文件风格的代码以及说明文档，以供教学使用。后五个为综合试验，是在前面 10 个试验的根底上的进一步提高。DEMO 程序均承受比较类C 语言的多文件风格编写的。本试验制指导书的全部 DEMO 程序均以 PIC16F877A 芯片为例编写的，假设是其他型号的芯片请自行移植代码。1第 2 页2023-1-9高拓微电子技术技术文档名目TPDEM1 开发试验板概述3一、根底试验5试验一I/O 口流水灯功能试验5试
2、验二MCU 内部EEPROM 读写试验5试验三SPI 驱动数码管显示试验6试验四热敏电阻试验7试验五光敏电阻试验8试验六AD 键盘试验9试验七1602 LCD16*2液晶显示试验10试验八RS2332 串口通信试验12试验九24C01I2C 接口试验13试验十外部中断试验14二、综合试验15试验一AD 键盘综合试验15试验二实时时钟综合试验16试验三I2C 综合试验16试验四外部中断综合试验17试验五RS232 串口通信综合试验182高拓微电子技术技术文档第 3 页2023-1-9TPDEM1 开发试验板概述TPDEM1 (一般版见图 1，I/O 口接口是插针的形式；高校版见图 2，I/O 口
3、接口是插孔的形式)开发试验板硬件承受模块化设计 ,便于用户灵敏组成科研工程所需的硬件构造。硬件有：1，RS232 通信接口;2，2X16 字符型 LCD 液晶显示器;3，2 位应用 74HC595 串并转换的 LED 数码管;4，串行存储芯片 24C01；5，用 RA0 即可实现 9 键输入的模拟键盘;6，V/F 转换电路;7，8 位 LED 发光二极管用于显示器件引脚凹凸电平或其它用途;8，8 位拨码开关用于把握状态的输入；9，32.876Hz 的时钟晶振电路；10， 利用热敏电阻和光敏电阻构成的温度和光强检测电路；11， 外部大事触发电路；12， 单片机通用复位电路;13， DIP18-
4、DIP20- DIP28-DIP40 通用插座, 可放置 8、14、18、20、28、40 管脚的 PIC 芯片；14， ICSP 接口；15， 可用于添加硬件的试验区。图 1一般版3第 4 页2023-1-9高拓微电子技术技术文档图 2高校版TPDEM1 开发试验板可协作MPLAB ICD2 使用见图3，也可协作PICMATE2023和 PICMATE2023 使用。图 3TPDEM1 与 ICD2 的连接4高拓微电子技术技术文档第 5 页2023-1-9一、根底试验试验一I/O 口流水灯功能试验一、试验目的：1，对单片机有初步感性生疏；2，通过对 I/O 口相关存放器的设置，能够娴熟的操作
5、单片机的I/O 口。二、试验原理：单片机相应的I/O 口设置为输出口，输出高电寻常LED 点亮，反之，LED 不亮。利用软件延时的方法实现 05S 延时，实现 LED 流水灯的效果。本试验只演示 16F877A 的A 口流水灯试验。其他B 口、C 口、D 口、E 口流水灯试验请自行学习，参考代码见文件夹start demo RBOUT、RCOUT、RDOUT、REOUT。如图 11 所示，八个LED，高电平点亮，可用于I/O 口及其它信号状态的观测。5三、试验连线：图 11PORTA05 按挨次连接五个 LED。RA4 为开漏输出，需外接上拉电阻。RA6，RA7 为晶振脚，试验板上不对外开放这
6、两个口。四、试验步骤：1. 依据以上的试验连线正确连线。2. 试验板 TPDEM1 上 40PIN IC 座上插上芯片 PIC16F877A-I/P，连接好 ICD2假设用PICMATE 2023 仿真，则插上PICMATE2023 配套 40PIN 仿真线，进展仿真。3. 试验板TPDEM1 上电假设协作PICMATE2023 并在电源设置选择FROM PICMATE5V，可无视此步骤。4. 翻开 MPLAB IDEV7.62 软件，完成工程的建立，文件的命名，文件的编辑，芯片的选择和配置位的设置， 工具的选择和设置， 编译器的设置。或者直接翻开start demoRAOUTRAOUT.mc
7、p工程。5. 编译工程，下载程序，运行程序。五、试验现象：全速运行程序，可看到五个LED 循环点亮。间隔时间 0.5S。试验二MCU 内部 EEPROM 读写试验一、试验目的：1，了解PIC 芯片EE 区操作原理；2，生疏如何实现最简洁的EE 区读写。二、试验原理：PIC 的很多MCU 均在MCU 内部集成一块EE 区，可以在程序运行期间对其进展读写， 到达与外括的EEPROM 一样的效果比方 24C02。PIC 操作EE 区，最安全的方法是关掉总中高拓微电子技术技术文档第 6 页2023-1-9断操作，然而某些系统如此操作会引起整个系统的崩溃，因此我们一般实行写入后读回校验的方式看EE 区读
8、写是否成功。本试验演示对EE 区操作的根本步骤。三、试验连线：无。四、试验步骤：1. 试验板 TPDEM1 上 40PIN IC 座上插上芯片 PIC16F877A-I/P，连接好 ICD2假设用PICMATE 2023 仿真，则插上PICMATE2023 配套 40PIN 仿真线，进展仿真。2. 试验板TPDEM1 上电假设协作PICMATE2023 并在电源设置选择FROM PICMATE5V，可无视此步骤。3. 翻开 MPLAB IDEV7.62 软件，完成工程的建立，文件的命名，文件的编辑，芯片的选择和配置位的设置， 工具的选择和设置， 编译器的设置。或者直接翻开start demoE
9、EPROMEEPROM.mcp 工程。4. 编译工程，下载程序，运行程序。五、试验现象：全速运行程序，停顿后，读EE 区，假设 10H 单元写入BVAL 值0X41， 则写EE 区成功。假设R_DATA单元，即 22H 单元值为BVAL 值 0x41,则读EE 区正确。试验三SPI 驱动数码管显示试验一、试验目的：1，了解用硬件SPI 方式驱动数码管显示的方法；2，了解PIC 串口同步模式与 51 类 MCU 的区分。二、试验原理：目前多流行承受串转并芯片进展段码驱动，比方 74HC164，74HC595，位码可以承受分别的三极管或者集成IC ULN2023，ULN2803 来驱动。串行芯片的
10、驱动可以承受 MCU 的 SPI方式，或者 IO 模拟，51 类 MCU，可以承受串口同步模式驱动，由于PIC 芯片的串口同步模式是时钟下降沿发送数据，不能直接驱动串转并芯片。本试验通过MCU 硬件SPI 方式，驱动数码管，实现数码管的静态显示。如图 13 所示，由两个 74HC595 和两个共阴极数码管组成，利用同步串行口SSP 部件 SPI 方式来传送数据。6高拓微电子技术技术文档第 7 页2023-1-9图 13三、试验连线：SRCLK 接 PORTC3，RCLK 接 PORTC4，SER 接PORTC5四、试验步骤：1. 依据以上的试验连线正确连线。2. 试验板 TPDEM1 上 40
11、PIN IC 座上插上芯片 PIC16F877A-I/P，连接好 ICD2假设用PICMATE 2023 仿真，则插上PICMATE2023 配套 40PIN 仿真线，进展仿真。3. 试验板TPDEM1 上电假设协作PICMATE2023 并在电源设置选择FROM PICMATE5V，可无视此步骤。4. 翻开 MPLAB IDEV7.62 软件，完成工程的建立，文件的命名，文件的编辑，芯片的选择和配置位的设置， 工具的选择和设置， 编译器的设置。或者直接翻开start demoSPI_877ASPI.mcp 工程。5. 编译工程，下载程序，运行程序。五、试验现象：全速运行程序，可看到两个数码管
12、循环显示“0、1、2、3、4、5、6、7、8、9、A、b、c、d、E、F”。试验四热敏电阻试验一、试验目的：1，了解用模拟SPI 方式驱动数码管显示的方法；2，了解热敏电阻的工作原理；3，学习 16F877A 的AD 模块的使用。二、试验原理：如图 14 所示，R101 为NTC负温度系数热敏电阻，室温20 摄氏度时阻值约为10K，R101 的阻值随温度的上升而降低，则RA1 采样到的电压值越大7高拓微电子技术技术文档第 8 页2023-1-9图 1-4本试验将AD 采集到的数值转换为ASCII 码的形式送到两个数码管显示。承受模拟 SPI 的方式驱动数码管显示，由于芯片全部在时钟上升沿完成动
13、作，故需在低电平期间完成数据的变化。三、试验连线：SRCLK 接 PORTB5，RCLK 接 PORTB4，SER 接PORTB3四、试验步骤：1. 依据以上的试验连线正确连线。2. 试验板 TPDEM1 上 40PIN IC 座上插上芯片 PIC16F877A-I/P，连接好 ICD2假设用PICMATE 2023 仿真，则插上PICMATE2023 配套 40PIN 仿真线，进展仿真。3. 试验板TPDEM1 上电假设协作PICMATE2023 并在电源设置选择FROM PICMATE5V，可无视此步骤。4. 翻开 MPLAB IDEV7.62 软件，完成工程的建立，文件的命名，文件的编辑
14、，芯片的选择和配置位的设置， 工具的选择和设置， 编译器的设置。或者直接翻开start demoHEATHEAT.mcp工程。5. 编译工程，下载程序，运行程序。五、试验现象：全速运行程序，将显示热敏电阻四周接触到的局部温度，一般为空气温度，转变热敏电阻接触的温度，将看到数码管显示不同温度。本试验一秒钟采集一次温度。试验五光敏电阻试验一、试验目的：1，了解光敏电阻的工作原理；2，学习 16F877A 的AD 模块的使用。二、试验原理：如图 15 所示，所用的光敏电阻在正常的室内光强下大约是100K，环境光亮度越低则 RA2 采样到的电压值越小8高拓微电子技术技术文档第 9 页2023-1-9图 1-5开启A/D 转换模块并等待转换完毕,将采样值与设定的临界值进展比较,依据比较的结果来把握RB2 脚电平；三、试验连线：PORTB2 连接 LCD 的引脚A。四、试验步骤：1. 依据以上的试验连线正确连线。2. 试验板 TPDEM1 上 40PIN IC 座上插上芯片 PIC16F877A-I/P，连接好 ICD2假设用PICMATE 2023 仿真，则插上PICMATE2023 配套 40
