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19）中华人民共和国国家知识产权局汐（12 ）发明专利申请（10）申请公布号CN110298086A（43）申请公布日2019.10.01（21）申请号 CN201910505355.9（22）申请日 2019.06.12（71）申请人 深圳市一博科技股份有限公司地址518000广东省深圳市南山区科技南十二路28号康佳研发大厦12层12H-12I（72）发明人 吴均;黄刚（74）专利代理机构 深圳市远航专利商标事务所（普通合伙）代理人 田志远（51）Int.CI权利要求说明书 说明书 幅图种测试走线DUT性能的仿真方法（57）摘要本发明公开了电路板测试领域中的一种测 试走线 DUT 性能的仿真方法，包括获取 2xthru 线 和2xthru+DUT线的参数；3D仿真拟合2xthru 线；拟合完成后，修改模型，仿真得到 1xthru 线 的参数；在 2xthru+DUT 线中，进行 1xthru 线的 去嵌，得到去嵌之后的 DUT 参数。本发明仅通过 精确的仿真就可以得到DUT的性能，无须购买昂 贵的专业去嵌软件，其与专业的去嵌软件相比， 成本得到了大幅度降低，并且本发明能够得到高
