测厚仪分类及用途

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1、测厚仪分类及用途测厚仪(thicknessgauge)是用来测量物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续测量产品 的厚度(如钢板、钢带、纸张等)。这类仪表中有利用a射线、B射线、y射线穿透特性的 放射性厚度计;有利用超声波频率变化的超声波厚度计;有利用涡流原理的电涡流厚度计; 还有电容式厚度计等。而利用微波和激光技术制成厚度计,目前还处在研制、试验阶段。测厚仪(thickness gauge )是用来测量物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续测量产 品的厚度(如钢板、钢带、纸张等)。这类仪表中有利用a射线、B射线、y射线穿透特性 的放射性厚度计;有利用超声波频率变化的超声波厚度计;有利用涡流原理

2、的电涡流厚度计; 还有电容式厚度计等。而利用微波和激光技术制成厚度计,目前还处在研制、试验阶段。科技名词定义中文名称:测厚仪英文名称:thickness gauge测厚仪分类:X射线测厚仪纸张测厚仪 薄膜测厚仪涂层测厚仪 在线测厚仪超声测厚仪压力测厚仪白光干涉测厚仪电解式测厚仪机械接触式测厚仪X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特 性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心, 采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,达到要求的轧制厚度。主要应用行业:有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工.纸张测厚仪:适用于

3、4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。 薄膜测厚仪:用于测定薄膜、薄片等材料的厚度,测量范围宽、测量精度高,具有数据 输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。涂层测厚仪:用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度.超声波测厚仪:超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发 射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过精确测量超声波 在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各 种材料均可采用此原理测量。测厚仪测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量,0北.ftl* CCN21. 68efie

4、風瀛IEiT-JBUT300超声波测厚仪当探头发射超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过精确测量 超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传 播的各种材料均可采用此原理测量。涂层测厚仪的详细介绍涂层测厚仪HS2200涂层测厚仪HS2200 涂层测厚仪 1、测量速度快2、精度高3、稳定性好4、保修3年5、平时使用无须校准.6、低价位HS2200采用了磁性测厚方法,HS2200镀层测厚仪无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合 金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)。HS2200 镀层测厚仪能广泛地应用在电

5、镀、防腐、航天航空、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测 领域。是材料保护专业必备的仪器。HS2200镀层测厚仪一种便携式测量仪,它能快速、无 损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。使用环境温度:040C电源:镍氢电池 3V外型尺寸:120X80X30mm重量: 200g测量范围:01250p m测量误差:(2%H+1)1%二点校准精度主要功能二种校准方法: 一点校准、二点校准显示分辨率:1p m存储:存储100个数据统计量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(N0)、标准偏差(S.DEV) 有两种测量方式:连续测量和单次测量有两种关

6、机方式:手动关机和自动关机有删除功能:对粗大误差及错误设置可进行删除处理; 有音乐铃声随时对操作进行提示有电源欠压指示功能 ,背光设置.错误提示功能纸张测厚仪性能特点及参数该仪器适用于 4mm 以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。技术指标:1测量范围:0-3mm2测量精度:0.001mm3. 接触压力:10010kpa4. 接触面积:20.05cm2非接触式纸张测厚仪 最近英国真尚有公司研发出了新的非接触式测量方法,可以实现对纸张的非接触式测 量,避免对纸张造成形变引起误差。非接触式测厚仪的测量原理 使用两个纸张厚度传感器安装在被测物(纸张)上下方,将传感器固定在稳定的支架上

7、, 确保两个传感器的激光能对在同一点上。随着被测物的移动传感器就开始对其表面进行采 样,分别测量出目标上下表面分别与上下成对的激光位移传感器距离,测量值通过串口传输 到计算机,再通过我们在计算机上的测厚软件进行处理,得到目标的厚度值。涂镀层测厚仪分类: 涂镀层测厚仪根据测量原理一般有以下五种类型:1.磁性测厚法:适用层磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢,铁,银,镍。此种方法测 量精度高。2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种较磁性测厚法精度低。3.超声波测厚法:目前辆还没有此种方法测量涂镀层厚度的,国外个别厂家有这样的仪器,适用多层涂镀层厚度的测量或者是以上两种方法

8、都无法测量的场合。但一般价格 昂贵,测量精度也不高。 4.电解测厚法:此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需 要破坏涂镀层,一般精度也不高。测量起来比较其他几种麻烦。5.放射测厚法:此处仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上),适用于一些特殊场合。国内目前使用最为普遍的是第1/2两种方法。磁性测厚仪磁性测厚仪一体式仪器结构,可以单手操作。它采用电磁感应原理,适用于测量各种磁性 金属基体上非磁性覆盖层的厚度,可以测量钢铁上的各种电镀(镀镍除外)、涂层、珐琅、 塑料等覆盖层厚度,还可用于测量各种金属箔(如铜箔、铝箔、金箔等)和非金属薄膜(如 纸张、塑料等)的厚度。本仪器可用于生产检验、验收检验

9、及质量监督检验。符合国家标准。涡流测厚仪涡流测厚仪是一种小型仪器,采用涡电流测量原理,可以方便无损地测量有色金属基体 上的油漆、塑料、橡胶等涂层,或者是铝基体上的阳极氧化膜厚度等。该仪器广泛应用于机 械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。涡流测量原理高频交流信号在测头线圈中产生电磁场,测头靠近导体时,就在其中形成涡流。测头离 导电基体愈近,则涡流愈大,反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间 距离的大小,也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属 基材上的覆层厚度,所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯,例 如铂镍

10、合金或其它新材料。与磁感应原理比较,主要区别是测头不同,信号的频率不同,信 号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样,涡流测厚仪也达到了分辨率O.lum,允许 误差1%,量程10mm的高水平。采用电涡流原理的测厚仪,原则上对所有导电体上的非导电 体覆层均可测量,如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆,塑 料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性,通过校准同样也可测量,但要求两者的导 电率之比至少相差3-5倍(如铜上镀铬)。虽然钢铁基体亦为导电体,但这类任务还是采用 磁性原理测量较为合适。如何选购测厚仪:1、塑料上的铜、铬层:建议用库仑法测厚仪(会破坏镀层)或X射线测厚

11、仪(无损测量),如 铜层在10m200m可考虑电涡流法测厚仪(无损测量)。2、金属件上镀锌层:如在钢铁基体上应使用经济的磁感应法测厚仪(无损测量)。其它金 属基体用库仑法测厚仪(会破坏镀层)或X射线测厚仪(无损测量)。3、铁基体上的电泳漆,油漆应使用经济的磁感应法测厚仪(无损测量)。其它金属基体上 的电泳漆,油漆应使用经济的电涡流法测厚仪(无损测量)。4、干膜是指己固化了的油漆涂层。5、镀铬层参考 2 项、 1 项。6、车内外饰件喷漆只有用切锲法(PIG,会破坏涂层),超声波法(无损测量)可测10微米 以上涂层,但有时测不到。测厚仪使用主意事项 测厚仪的测试方法主要有:磁性测厚法,放射测厚法,

12、电解测厚法, 涡流测厚法,超声波测厚法。在做测厚的时候要注意以下八点:1.在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。 2.在测量的时候要注意,侧头与试样表面保持垂直。3 在进行测试的时候要注意基体金属的临界厚度,如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚 度的影响。4.在测量的时候要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠 的。5. 测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场,如果会将会干扰磁性测厚法。6. 测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量,因为一般的测厚仪试件表面形状的 忽然变化很敏感。7. 在测量时要保持压力的恒定,否则会影响测量

13、的读数。8. 在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触,因此超声波测厚仪在进行对 侧头清除附着物质。各类测厚仪参考标准:HG/T 3240-1987 搪瓷测厚仪技术条件HG/T 3240-2007 电脑膜层测厚仪HG/T 3241-1989 内孔涂层测厚仪技术条件HG/T 3241-2007 电脑内孔膜层测厚仪JJF 1126-2004 超声波测厚仪校准规范JJG (轻工) 87-1992 便携式地毯测厚仪检定规程JJG (轻工) 88-1992 数显式地毯测厚仪检定规程JJG 403-1986 超声波测厚仪JJG 480-1987 X 射线测厚仪检定规程JJG 480-2007 X 射线测厚仪检定规程JJG 818-1993 电涡流式测厚仪(试行)JJG 889-1995 磁阻法测厚仪NJ 372-1985 轮辋用测厚仪ZB N 13003-1987 搪瓷测厚仪技术条件ZB N 72023-1989 内孔涂层测厚仪技术条件ZB N 77001-1989 超声测厚仪 通用技术条件

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