《一维面内位移相移电子散斑干涉仪》由会员分享，可在线阅读，更多相关《一维面内位移相移电子散斑干涉仪（8页珍藏版）》请在金锄头文库上搜索。
1、一维面内位移相移电子散斑干涉仪简介：电子散斑干涉术是继全息干涉术之后发展起来的一种实验力学新方法。它舍弃了传统的拍摄冲印照片复杂的湿处理过程，而直接依靠光学成像系统和计算机图像米集处理系统获得干涉条纹。这种方法在工程上已得 到了较广泛的运用。用于解决工程中的强度和刚度问题，并可用于残余 应力测量。一维面内位移相移电子散斑干涉仪能实时观察代表面内位移的干涉条 纹，也可通过相移技术获得被测表面的全场位移分布，可满足实验室科 研和教学的需要。配以稳定的悬臂梁加载实验装置，使得整个系统稳定 可靠，易于调节，能获得很好的教学效果。TS-SI-1XP型一维面内位移相移电子散斑干涉仪光源：半导体激光器（绿光
2、），输出功率20mw,波长532nm。相机：1280x1024 USB2.0数字摄像头。镜头：25mm定焦镜头（标配），可选配其它C接口镜头。 工作距离：400800mm。相移器：10nm。条纹分辨率：1/20级条纹最大范围：150mmx 150mm主要配置：主机：1套532nm半导体泵浦固体激光器（内置）：1个C 接口镜头（f25mm） AVENIR： 1 个TS-1000USB摄像头（内置）：1只600mm*900mm光学平台：1套悬臂梁加载装置：1套条纹实时显示软件、相移软件各一套原理示意当激光照射到漫反射物体 表面时！由于产生的散射 光的互相干涉，其强度将 在空间各点随机起伏J结 果会
3、在暗的空间背景上形 成许蚩亮斑粒J即散斑像。 如果物体产生面商变开兔 可将变形前后物体表面的 散斑像相重合就会产生和 面内变形量相应的相关条 纹,从而可测定出面内变 形4如吶療，-h- -咗m - 煞絶讒n.，啓、：，zm 利屈屣紳.烷他.* 障辞注聃畅沁猊 .?%“.；*.莎:強岭翎翻谕站曲渤g - -七：网.-* Fwyj ；朴.-：I -/f.-.m超沁.-./应用范围可用于面内二维位移场的高精度测量：数字散斑位移检测技术已被广泛地应用于工业检测中，用以提高工业检 测的质量和增强对复杂材料性能的认识：可用来检测几厘米甚至几毫米 样品的面内；检测复合生物材料的特性；检测高温物体的热变形；观
4、察 透明液体中的物理现象，如在水溶液或凝胶体中晶体形成过程时密度、浓 缩梯度的变化等等。教学用于材料力学和实验力学课程的实验教学。科研用于材料和结构的无损检测等。TS-SI-1ZP型一维离面位移相移电子散斑干涉仪一维离面位移相移电子散斑干涉仪能实时观察代表离面位移的干涉条 纹，配以稳定的三点弯曲梁加载实验装置和圆盘受均布载荷（气压）或 集中力实验装置，使得整个系统稳定可靠，易于调节，可以获得很好的 教学效果。主要技术指标光源：半导体激光器（绿光）输出功率20mw,波长532nm相机：1280x1024 USB2.0数字摄像头镜头：25mm定焦镜头（标配），可选配其它C接口镜头 工作距离：400
5、1000mm相移器：10nm条纹分辨率：1/20级条纹最大范围：250mm相移控制精度：0.01V主要配置主机：1套20mW半导体泵浦固体激光器（内置）：1个C 接口镜头（f25mm） AVENIR： 1 个TS-1OOOUSB摄像头（内置）：1只600mm*900mm光学平台：1套圆盘受均布载荷（集中力）实验装置：1套 条纹实时显示软件、相移软件：各一套原理示意维离而测量光路示意图迈克尔逊光路示意图d一缠顱垃触虹輝干歩供是基于迈克尔逊干涉仪的原理开 发完成的，当物体麒銅递时,燃颁、参考光衣勵籃蓉化, 从而使干涉场强度随之产生变化，此时记录下变形煎辰爾垃图 样经过相减处理就可以得到反映位移变化的相关条纹变形前变形岳相关条纹应用范围可用于测量被测物体表面离面微位移分布教学用于材料力学和实验力学课程的实验教学；可演示圆盘受均布载荷时表面离面变形分布。科研用于测量任意试件表面的离面位移分布。
