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1、上海唐辉电子有限公司 上海唐辉电子有限公司 深圳办HX80D25T时钟模块介绍 一、上海唐辉电子有限公司HX80D25T时钟模块特点 工作电压：1.8-5.5V 内置32.768KHz晶振 5ppm精度的数字温度补偿 抗击静电,EMC能力强 可编程频率输出1HZ,32768HZ 内置晶体,对潮湿等 外部影响小 100KHz频率的I2C接口 封装小6DIP封装 低功耗1UA 温度计算读出功能 软件兼容EPSON8025T二、高低温时间数据测试分析 HX80D25T时钟模块测试数据分析70PPM误差测试1次测试2次测试3次测试4次测试5次测试6次测试7次平均值每天误差1号表6.1245.733.9
2、14.656.416.165.885.5520.555 s/d2号表-2.01-0.72-1.59-2.141.63-0.34-0.78-0.850.085 s/d60PPM误差测试1次测试2次测试3次测试4次测试5次测试6次测试7次平均值1号表3.432.6431.432.14.843.583.0028570.3 s/d2号表-0.12-0.20.870.11-0.64-1.25-1.89-0.445710.044 s/d25PPM误差测试1次测试2次测试3次测试4次测试5次测试6次测试7次平均值1号表2.83.153.332.311.231.1-1.381.7914290.179 s/d2
3、号表22.22.511.81.841.891.912.0214290.202 s/d(-27)PPM误差测试1次测试2次测试3次测试4次测试5次测试6次测试7次平均值1号表-1.19-0.32-2.15-1.37-2.94-5.39-3.81-2.452860.245 s/d2号表-2.67-1.57-3.37-2.5-1.58-1.10.48-1.758570.176 s/d HX80D25T时钟模块测试数据分析70PPM误差测试1次测试2次测试3次测试4次测试5次测试6次测试7次平均值每天误差3号表0.342.782.862.762.332.641.972.240.200 S/d4号表1.
4、611.221.121.181.091.11.351.2385710.11s/d60PPM误差测试1次测试2次测试3次测试4次测试5次测试6次测试7次平均值3号表-2.75-3.17-3.53-3.1-3.12-3.01-2.98-3.094290.3 s/d4号表5.224.884.424.084.124.564.764.5771430.44 s/d25PPM误差测试1次测试2次测试3次测试4次测试5次测试6次测试7次平均值3号表21.651.781.951.861.451.561.750.15 s/d4号表11.31.651.451.751.781.911.5485710.13 s/d(-
5、27)PPM误差测试1次测试2次测试3次测试4次测试5次测试6次测试7次平均值3号表0.14-0.47-1.270.340.250.49-1.12-0.234290.018 s/d4号表-0.21-1.57-1.12-0.75-1.58-1.30.48-0.864290.0776 s/d从以上数据分析，时间在-25-70的范围里，是满足1S/D的误差要求的。三、图片 外形尺寸，6mm *18mm *12mm模块为6针安装方式，其中靠近边沿的为第一脚。6，5，4，3，2，1四、应用原理图 五、接口定义序号定义说明132768HZ 输出 可以作为外部一个振荡器使用2SCL通讯接口3SDA通讯接口4
6、VSS模块的电源地5CLK-1S秒信号输出6VCC模块电源，1.8V-5.5V六、材料清单贴片电阻100K 0.5-50PPM-06031R47 热敏电阻RWJ8001-501R48 50K B=3950， 0.5贴片电容10nF 20-16V-06031C47时钟模块HX80D251七、热敏测温电路图。EEP_TEMP:测温电路的控制电压JUD_TEMP:测温电路的AD采样输入八、热敏测温原理。请参考给出的热敏电阻的测试数据表，参考附录二。 从表中可以看出，每一个温度点都有一个特定的电阻值，那么使用上面的测温电路。一般有以下的AD采样值。 温度AD采样温度AD采样温度AD采样温度AD采样-4
7、50X3FF-100X310250X158600X070-400X3D0-50X2D8300X124650X060-350X3C000X284350X0FD700X050-300X3A050X240400X0DA750X046-250X388100X20C450X0BA850X032-200X368150X1C8500X09E-150X343200X18F550X083根据以上的定标数据，可以测量每一次的AD值对应的温度值。使用每5度 温度值之间取固定斜率的办法来分辨温度值。假如每次读出的温度值对应的AD值为TAD第一步首先查询TAD所在的区间，区间分界使用I表示。第二步查询在I区间里的线形点
8、J的位置。T=-45+I*5+J；T 表示当前的温度值。九、32768晶体温度补偿原理。有上图可以看出，晶体32768的温度特性是抛物线特性，在23的顶点假如误差为0，那么随着温度的变化，晶体的误差变化遵循下面的公式。ERR=0。035*（T-T0）（T-T0）；T-当前温度值； T0-23； ERR-PPM误差。十、HX80D25的补偿原理 根据晶体32768的误差值，参考BL5373的补偿原理，可以计算补偿量。请参考BL5373的误差补偿原理，07H寄存器是补偿寄存器。有关BL5373的详细说明，请参考附录三。问题：1、 温度测温的精度是多少？能否直接读出温度值？以上电路的测温精度是2；通
9、过MCU的软件配合，通过485电路可以直接读出当前温度值。2、 在提高HX80D25的性能方面，HX80D25做了那些改进？由于HX80D25T使用了灌封工艺，使32768晶体对外界的潮湿影响减到最小。由于电路的完全封闭，对静电和EMC的抗干扰能力很强。HX80D25与日本KDS签定了长期稳定的供货关系，保证产品的质量。软件上尽量兼容EPSON8025T。3、 HX80D25T为什么需要20S补偿一次，而不是每秒补差一次？由于HX80D25T使用的是数字温度补偿技术，而非模拟温度补偿技术；在32768HZ的每秒补偿一个脉冲的误差为1/32768=30PPM，所以补偿一个脉冲的补偿量对每秒过大。在20秒里进行补偿，30/20=1.5ppm, 能满足精度的调整要求。4、 HX80D25T能在温度满足国网的要求吗？HX80D25完全能够满足电表的时钟要求。在-25-70的范围里。满足1S/D的精度要求。5、 HX80D25T在测量的时候是每秒测量一次误差吗？根据问题3的分析，HX80D25T的误差测量是20秒测量一次。附件一 BL5373数据手册附件二 RWJ8001-50K-0.5% RT对照表
