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相控阵探伤工艺流程1、设备器材:由左至右 耦合剂(甘油)、探头、探伤仪、对比试块2、检测灵敏度调整(对比试块:CIRF-II,人工缺陷:(p0.5长横孔;波高:50%)3、工件检测过程中4、无缺陷显示(有少许杂波)
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