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1、1X射线探伤机校验规程1目的：确保射线检测质量活动所使用的X射线探伤仪性能的符合性和有效性。2适用范围：本规程适用于额定管电压小于等于300kVX射线探伤机的校验.3 引用标准3.1 JB/T74131994携带式工业X射线探伤机3。2 JB/T4730.22005承压设备无损检测第二部分:射线检测4 职责4。1公司生产部负责组织指导校验人员实施校验,并负责校验记录的审核.4.2校验人员由RTII级人员承担，校验人员应熟悉X射线探伤仪的结构、工作原理和使用方法，熟悉本规程的引用标准，能正确按本规程方法进行校验工作，编制校验报告。4.3无损检测技术负责人对校验报告进行审核。5 校验用标准试块及器
2、具5。1线型像质计：校准用线型像质计应符合JB/T79021995标准.5。2标准试块：材质应为Q235钢或其它碳素钢，规格为200mmX100mm，表面粗糙度RaW6。3um, 试块厚度应满足表1至表2的相应要求，其厚度允许公差为0。 2mm.表1携带式定向X射线探伤机额定管电压/kv额定管电流/ mA对钢穿透力/ mm2505三393005三50表2携带式周向X射线探伤机额定管电压/kV额定管电流/ mA对钢穿透力/ mm2505237平靶管3005247平靶管5。3 X射线机支架系统定位误差应小于2mm。5. 4黑度计测量误差应小于5.5。5 X光胶片和观片灯：结合照像质量及曝光时间等因
3、素对其类型进行选择5.6其他校验设备见表3表3名称和测量范围最小分度值秒表0。1s钢尺 01000mm1.0mm6 校验6。1校验项目和校验方法6。1.1校验项目6。1.1.1首次校验：新购置安装使用的或修理后的X射线探伤机，进行的校验.6.1。1.2后续校准校验：在有效期范围内的校验。6。1。1.3校验项目:穿透力，辐射角,计时器误差、透照灵敏度的测定.6.1。2校验方法6.1.2.1穿透力校验a）将X光胶片裁成80mmX360mm,至焦点600mm，胶片长边方向与X射线管轴线方向平行.定向射 线机，胶片中心偏离辐射中心（1465）mm处拍片；周向射线机，中心沿周向辐射场中心线，绕管轴线 每
4、90拍一张胶片，穿透力取其中最低值.b）胶片前方紧贴放置表1表2相应要求的标准试块，增感屏用0.03mmPb，试块四周按表4规定 的铅当量遮挡。表4额定管电压/kv铅当量/ mm Pb500.41001。41502。12003.62506.33009。3c）采用额定管电压、额定管电流进行曝光，携带式X射线探伤机曝光5min.d）将曝光后的胶片进行暗室处理，显影、定影液的配制及冲洗时间和温度等条件，按不同类型X 光胶片暗室处理条件规定要求进行。e）干燥后的胶片用黑度计测量黑度值Di。在胶片中心区域至少测5点，取其算术平均值D。胶片 本底黑度应不大于0.3,D值最小不应小于1.5.6。1。2。2辐
5、射角的校验a）定向X射线探伤机辐射角的校验将校验的X射线探伤机放置在支承架上，窗口对准地面，地面应用厚度为6mm的铅板屏蔽，使X 光管轴线（射线机长度方向轴线和宽度方向）与地面平行，焦点距铅板表面600mm；在铅板上找出窗口 正投影的中心点,并通过此点划出与射线机长度方向和宽度方向的平行线，两平行线交于窗口在铅板上 正投影的中心点;训练X射线机至额定值，将装好胶片的暗袋（胶片为360mmX80mm、增感屏前后屏均 为0.5mm）放置在铅板划好的两条线上，每条线上各放三个暗袋，两线交点处的暗袋上应摆放中心标记, 暗袋搭接处应摆放搭接标记调整X射线机管电压至额定值的50%,管电流为额定值进行透照，
6、将已透照 好的胶片进行暗室处理并干燥，在观片灯上进行测量底片上中心标记至底片黑度变化区黑度较大的边 界处的距离S （径向）和S h（横向），S = Si+Sh/2,并按e=tg-1分别计算X射线机的径向和横向辐 jh射角。式中e角为x射线机的辐射角。b）周向X射线探伤机的径向辐射角校验将校验射线机立放于地面， 使射线机外壳红色带的中心距地面 一定高度，并以此高度在距焦点 600mm的0、90、180、270位置各放置一个装好胶片的暗袋，胶片长度方向应平行于射线机长 轴方向，其他校验程序及方法同定向机校验.6.1.2。3计时器误差校验将校验射线机上的计时器分别调到0.5,1, 5min等位置，开
7、机的同时启动秒表，在射线机的计时 器停止同时停止秒表，每个位置上测量3次，计算其算术平均值与设定值之差。取其与设定值之比最大 者为计时器误差。6.1。2.4透照灵敏度校验a）测量要求同穿透力校验，采用JB/T7902-1999线型像质计中的R10系列，用2个规格相 同、材质标记为FE的线型像质计（参阅JB/T 47302005承压设备无损检测表5像质计的选用）， 贴附在按表1表2要求的相应试块边缘区域X射线机一侧，像质计的细线朝外.按要求曝光并处理胶片。b）底片上，在黑度均匀区（一般是邻近焊缝的母材金属区能够清晰地看到长度不小于10mm的连 续的金属丝影像时，则该丝认为是可识别的。7 校验记录
8、7。1校验人员应按记录表式内容对测试数据认真记录，复校人员应核对测试步骤、方法及所有测试信 息数据，并对不符合项进行复校7。2校验人员应依据验收标准或产品标准规定指标逐项对测试数据进行评定，做出评价结论。7.3 无损检测技术负责人应对校验结论不符合项进行复校监督，并对复校评价结论意见进行确认。7.4 校验记录由生产部存档保管。8 记录报告表式X射线机校验结果7_校验项目 射线机编号辐射角计时器误差穿透力透照灵敏度校验时间：校验人：审核人：2超声波探伤仪校验规程1 目的：使超声波仪器性能指标、试块几何尺寸满足标准、规范要求。2 适用范围：适用于本公司所有在用模拟、数字式超声波探伤仪;超声用标准、
9、对比试块.3 引用标准3.1 JB/ T4730-2005承压设备无损检测3。2 JB/ T79131995超声波检测用钢制对比试块的制作与校验方法3.3 JB/ T9214-1999 A型脉冲反射式超声探伤系统工作性能、测试方法3。4 JB/ T10061-1999 A型脉冲反射式超声波探伤仪通用技术条件3.5 JB/ T100631999超声探伤用1号标准试块技术条件4 校验要求4.1 A型脉冲反射式超声波仪器垂直线性、水平线性主要性能校验周期，仪器每使用三个月校验一次, 将校验结果进行记录存档。4。2校验人员应持有国家相关部门颁发的超声波检测II级或III级资格。4.3 A型脉冲反射式探
10、伤仪 垂直线性误差不大于5%，水平线性误差不大于1 %。5 校验步骤5.1 超声波用标准试块校验前应检查试块表面不应有锈蚀、明显划伤、碰伤等缺陷。5。2超声波用标准试块几何尺寸、形位公差及表面粗糙度应符合有关标准的规定。 5。3垂直线性校验。5.3.1测试所用器材2。5MHz或5MHz直探头。5。3.2测试步骤5.3。2.1 将仪器抑制开关置于“0”，连接探头并将探头固定在试块上，调节探伤仪,使荧光屏上显示 的反射孔垂直刻度波高达100% （不饱和），且衰减器至少有30dB的衰减余量。5.3。2。2调节衰减器，依次记下每衰减2dB时孔波幅度的百分数，直至26dB。然后将孔波幅度实测值 与表中所
11、列理论值相比较，取最大正偏差d 与最大负偏差d 之绝对值的和为垂直线性误差Ad。（+） （-） d = | d丨 + ld I Ad为垂直线性误差，（+） （-）理论值表：衰减量dB02468101214161820222426波高理论值 （%）10079.463o 150.139.831o 625.120.015o 812o 510.07.96o 35.05。3。2.3将底波幅度调为垂直刻度的100%，重复按5.3。2项的测试。5。4水平线性校验5。 4. 1测试所用器材2.5MHz或5MHz直探头。5。4。2 测试步骤5。4。2。1连接探头并根据被测探伤仪中扫描范围档级的要求将探头固定于适
12、当厚度的试块上，再调节探伤仪，使示波屏上显示多次无干扰底波。5.4。2.2分别将底波调到相同（如垂直刻度的80%）的条件下，使第一次底波B1的前沿对准水平刻度“2”，第五次底波B5的前沿对准水平刻度“10”；然后在依次将每次底波调到上述相同幅度时,分别读取第二、三、四次底波前沿与水平刻度“4”、“6”、“8”偏差L,然后取其最大偏差L，利用水平计算 n max公式计算出水平线性误差AL=|L I /0o8BX100%，AL为水平线性误差，； B为水平全max刻度数。5.4。2。3在探伤仪扫描范围的每个档级,至少应测试一种扫描速度下的水平线性误差。5。5动态范围校验5.5。1调抑制至”0”。 5
13、。5.2将满幅度100某波高用衰减器衰减到刚能识别的最小值所需衰减的分贝值就是动态范围.5.6灵敏度余量校验5。6。1仪器与直探头灵敏度余量的测试 5.6.5.1仪器增益至最大，抑制至0，发射强度至”强，连接探头,并使探头悬空，调衰 减器使电噪声电平10%,记下此时的衰减器的读数NdB.5.6。1.2将探头对准200/2平底孔调衰减器使2平底孔回波高达50%，记下此时衰减器读 数dB。则仪器与探头的灵敏度余量N为N = N2 N/dB）5。 7盲区校验直探头置于CSK- IA试块50孔的两侧面,5mm侧面处有独立回波，则盲区小于或等于5mm。若此处无 独立回波，而在另一侧面（10mm）处有独立
14、回波，则盲区在510mm之间。若此处仍无独立回波，则盲 区大于是10mm。5. 8分辨力校验5.8。1 抑制至”0”，探头置于CSKIA试块阶梯的另一面，使示波屏上出现85、91. 100三个反 射回波A、B、Co5。8.2左右移动探头，使85、 91两处回波幅度相等并为2030%满刻度.5o 8o 3调节衰减器，使85、91两波峰间的波谷上升到原来波峰高度，此时衰减器所释放的dB 数即为以dB值表示的超声探伤系统的分辨力.5.9 仪器校验时若发现仪器或试块出现超差，应立即停用并向设备管理人员报告.6 校验记录6。1校验人员应按记录表式内容对测试数据认真记录，复校人员应核对测试步骤、方法及所有测试信 息数据，并对不符合项进行复校6.2校验人员应依据验收标准或产品标准规定指标逐项对测试数据进行评定，做出评价结论。6 。 3无损检测技术负责人应对校验结论不符合项进行复校监督，并对复校评价结论意见进行确认。 6。4校验记录由生产部存档保管。7 记录表式超声波探伤仪校验结果、7_校验项目 探伤仪器编号垂直线性水平线性动态范围灵敏度余量盲区分辨力校验时间： 校验人： 审核人：30 磁粉探伤仪校验规程1 适用范围本公司磁轭式磁粉探伤仪的定期校验。2 校验要求2。1 校验周期：半年一次。2。2校验
