CS芯片规模装配的可靠性

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1、CSP 装配的可靠性本文对三种芯片规模包装及其装配的可靠性进行比较。板面焊接点可靠性信息的获得对于芯片规模包装(CSP, chip-scale backage)的广泛实施是关键的。本文比较三个不同的CSP概念及其装配的可靠性。另外,将使用一个修饰的Coffin-Manson关系,对一个专门的温度循环范围,设计出有关几种低输入/输出(I/O)包装的焊接点可靠性的循环数据文献。由喷气推进实验室(JPL, Jet Propulsion Laboratory, Pasadena, CA)组织了一个微型BGA协会,来探讨有关包装类型、I/O数、PWB材料与类型和制造变量对品质和电路板可靠性的相互作用的技

2、术问题。这里呈现给大家的是来自这个课题的最新结果。小型化的趋势通孔(through-hole)和表面贴装(surface-mount)集成电路(IC)包装的预计用量根据市场的来源有很大的不同。来自BPA, UK的一项计划如图一所示。几个趋势是明显的。双排引脚包装(DIP, dual in-line package)预计用量上减少最多,从1996年的160亿在十年内减少到大约50亿,或者每年减少10亿。相反,表面贴装包装的用量,包括PQFP (plastic quad flat pack),预计在下一个十年内会增加。预计在五年内增加70180亿,并且在另外的五年内几乎是稳定水平,只增加20亿。在

3、十年内,COB(chip on board)预计从50亿增加到130亿,图一中未显示出。CSP和倒装芯片(flip-chip)包装的用量上的增加是相同的。预计在2006年达到60亿。相反,在相同十年里BGA的增加预计是最小的,达到只有15亿的总用量。对BGA的预计表明也许这些包装只是一个踏步石,工业将更广泛地接受倒装芯片(flip chip)和芯片规模包装(CSP),因为它们更好地满足小型化应用的要求。为什么采用芯片规模包装(CSP)?CSP的出现提供裸芯片(bare die)与倒装芯片(flip chip)的性能与小型的优势,具有标准芯片包装的优点。CSP设计成比芯片模(die)面积或周长大

4、 1.21.5 倍的包装。图二说明CSP的两个概念,包括具有1)柔性或刚性内插器和2)圆片级(wafer-level)成型与装配再分布的两种包装。包装达到如下的目的: 为回流焊接装配工艺提供与印刷线路板(PWB)焊盘冶金兼容的锡球和引脚。 重新把芯片模(die)紧密的间距分配成在PWB制造规范之内的间距水平。 由于小尺寸,不允许重大的重新分配;现在的低成本PWB制造限制了该技术的全面采用,特别是高输入输出(I/O)数。 防止芯片模的物理和阿尔发射线(alpha radiation)损坏,提供散热的载体。 用使芯颠片模居功能偶测试煎容易球。 若微型默BG秃A的称自我啄对中段(S悦el寨f-样Al

5、狐ig信nm蜻en凤t)矮者如图箩三所龄示,普用输出入输层出(拿I/飘O)经的可驴扩展硬性和吹制造纪的坚山固性摩,C惕SP压可分胳类成个栅格隙阵列徐和引塑脚型壁(无凶引脚秒型)存。列法出了朽每个糠类型侍的主卡要优写点/响缺点训。密宣间距浇(f恨in援e 脚pi第tc艘h)题栅格睬阵列歼可接宵纳更妇高的胸引脚击数,去与B挽GA绵类似热,它尤们具派有自翼我对楚中特柱性。泥对B蚊GA愧,包卫装贴础装要障求的劲放松孩已经甚广泛带地认湾为与右传统中的表坡面贴韵装包弄装比气较减斧少了笔焊接婚点的赴缺陷相。厨梢影响丛自我显对中山的主蚀要因覆素是定熔化虹的焊啦锡表早面张著力,农它提灯供在恼包装舱上到源焊盘糊的

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13、周期/小时 130116375010001000无充胶*500600 0/30/460/784/78*0/781/83/8 1881884640 DiStefano, T., Fjelstad, J. (1996, April). Chip-scale packaging meets future design needs. Solid State Technology.Greathouse, S. (Feb. 1997). Chip-scale package solutions-The pros and cons. Proceedings of Second International C

14、onference on Chip-Scale Packaging. CHIPCON 97.*4/78 right after 1,000 cycles in leadLall, P. (May 1998). Assembly level reliability characterization of chip-scale packages. 48th Electronic Component & Technology Conference.*Internal TAB failure.0100C(温度冲击) 2000充胶900*无充胶PWB1.6mm NA220Ianzone, R. (Feb

15、. 1997). Ceramic CSP: A low cost, adptive interconnect, high density technology. Proceedings of Second International Conference on Chip-Scale Packaging, CHIPCON.*Private Communication 起温度攻膨胀围系数暴经过违吸收体的(识CT暮E-莲ab拳so序rb窜ed嫌)C尿SP饶渗表一筋显示趁了对周于一质个C屡TE犬不匹着配经隔过释蹦放的馒包装户的温屠度循容环试决验结念果。傻该包柏装使歌用象紧IC铲内部化连接统一样辽的T悉AB肥(t旗ap旁e-卵au瞧to恐ma监te叙d-锣bo睡nd烈),湿一个泳有弹僻性的符内连企器和膊共晶沃锡球迹。这者个与避TA教B内瑞连接志的

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