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1、铸锭开方试题 （A卷）一、单项选择（本大题含20小题，每小题1分，共计20分。选择一个正确的答案，将相应的字母填入题内的括号中。）1、红外探伤仪载入recipe文件后，须用尺子量出锭的实际高度，与拍摄结果中高度值比较，误差超过_mm，须对仪器进行修正校准。 （ C ）A、1 B、2 C、3 D、42、由于电阻率测试受温度影响很大，必须确保检测温度在_ 范围内。 （ C ）A、185 B、205 C、235 D、2553、目前我公司所测试氧碳含量是指方锭中微观的_氧和_碳含量。 （ B ）A、间隙、间隙 B、间隙、替位 C、替位、间隙 D、替位、替位4、磨面后小方锭的垂直度检验标准是_，抽检比例
2、是_。（ D ）A、900.5、4% B、900.3、 5% C、900.5、5% D、900.3、4%5、小方锭氧碳样片取样位置为：顶部寿命线_、底部寿命线_各截取一片2（1）mm厚的样片。（ A ）A、内、外 B、内、 内 C、外、内 D、外、外6、WT-2000PVN少子寿命测试仪测试硅锭少子寿命的原理是（ B ）A、直流光电导衰减法 B、微波光电导法 C、表面光电压法 D、涡流法7、磨面后检测边宽至少需要测_个面。 （ B ）A、1 B、2 C、3 D、48、小方锭检验标准中，关于倒角尺寸要求是检测最大、最小值差（ D ）A、0.2mm B、0.5cm C、0.6mm D、0.5mm9
3、、P型、整锭平均少子寿命4.5s 的尾料属于（ B ）A、M1级料 B、M2级料 C、M3级料 D、M4级料10、磨面前测量小方锭合格长度是以寿命线_量取。 （ C ）A、中 B、外 C、内 D、无要求11、整锭平均少子寿命小于4.5s循环料分级，不可能出现下列哪一种料 （ A ）A、M2料 B、T1料 C、TM1料 D、TM2料12、现行鑫多晶小方锭的少子寿命取值标准为 （ D ）A、头2s尾1s ，均值大于3.5s B、头2.5s尾1.5s，均值大于3.5s C、头2s尾1s，均值大于5s D、头2.5s尾1.5s，均值大于5s13、在小方锭检测过程中，锭与锭之间的摆放间距必须大于_cm。
4、 （ A ）A、3 B、4 C、5 D、随意14、品管圈小组活动发掘问题是采用（ D ）A、柏拉图 B、直方图 C、甘特图 D、特性要因分析图15、管制图SPC的作用是（ B ）A、处理品质不良 B、预防不良发生 C、为特采提供依据 D、提高产能16、在使用品管手法解决问题时，若要找出问题的主要面，须使用下列哪一种手法 （ D ）A、散布图 B、直方图 C、管制图 D、柏拉图17、以下关于8D的说法不正确的是 （ B ） A、8D是一种解决问题的程序 B、8D是QC七大工具中的一项C、8D是一种事件处理程序 D、8D是一种进度及结果报告18、QCC活动类型不包括下列哪一项？（ D ）A、攻关型
5、 B、管理型 C、创新型 D、技术型19、用一把精度为0.02mm的游标卡尺测量方锭的尺寸，下列所测数据合理的有（ C ）A、156.1 B、156.15 C、156.10 D、156.10020、在检测过程中我们无法控制的误差是（ C ）A、疏忽误差 B、缓变误差 C、随机误差 D、系统误差二、多项选择题(本大题含10小题，每小题2分，共计20分。多选，错选不得分，少选1项扣0.5分；)1、下列属于QC工作的职能有（ ABCD ）A、把关职能 B、预防职能 C、监督职能 D、报告职能2、下列属于三不原则的是（ ACD ）A、不接收不良品 B、不检验不良品 C、不流转不良品 D、不制造不良品3
6、、品管检测数据要具有三要性，分别是（ BCD ）A、预防性 B、准确性 C、完整性 D、及时性4、硅锭须冷却至室温后，方可进行外观、尺寸检测，原因有（ ACD ） A、防止检测人员烫伤 B、防止硅锭对空气造成污染C、防止检测结果不准确 D、防止对检测仪器造成损坏5、电阻率检测数据出现错误，可能的原因有（ ABCD ）A、探头与检测面不垂直、歪斜 B、探头与检测面接触不充分C、检测点选取错误，跨晶格检测 D、仪器未定期保养、校验6、方锭红外探伤检测后图片未拍全，可能的原因有（ ABD ）A、方锭没放到检测台中间位置对正放好 B、马达故障转不到位 C、光学寻边器损坏 D、参数设定异常7、下面哪几项
7、属于红外检测项目（ BC ）A、线痕 B、杂质 C、裂纹 D、崩边8、制程检验的目的在于（ BC ）A、防止大批量不良发生 B、消除不良产生的原因C、尽可能不让不良品流入下一工序 D、监控制程参数9、QC工作分类按检验数量可以分为（ ABC ）A、全检 B、抽检 C、免检 D、放宽检验10、游标卡尺的保养包括 ( ACD )A、严禁有水和油污迹 B、严禁在主刻度上加入任何油类C、严禁卡尺高处掉落 D、严禁日光照射三判断题（本题共15小题，每题1分，共计15分，正确的在打“”,错误的打“”）1、样本的不合格品率不一定等于总体不合格品率。 （ ）2、检验成本太高的产品或工序一般采用抽样检验的方法。
8、 （ ）3、有好的品质系统，一定会有高品质的产品。 （ ）4、抽样检验不能保证接收批中每一件产品都是合格品。 （ ） 5、半导体在较宽的温度范围内电阻率随温度的升高而增大。 （ ）6、在P型半导体中，电子是多数载流子，空穴是少数载流子。 （ ）7、大方锭尺寸测试要量取锭的有效长度，不得选取边角凹陷和杂质突起的部分。 （ ）8、标准一定要经过有关方面协商一致才能做到共同遵守。 （ ）9、一般而言，硅锭的少子寿命值是越大越好。 （ ）10、不合格品同不合格是一个概念。 （ ）11、受控的文件有错误时，相关的工程人员可在文件上更改并签名。 （ ）12、无效及过时的文件应即刻自发行或使用地点移走，否则
9、应保证不被误用。 （ ）13、游标卡尺的示值误差，只要使用正确，就可以消除。 （ ）14、0级量块的精度最低，计量站一般用来检定或校准车间常用的精密量具。 （ ）15、万能角度尺的读数方法与游标卡尺相同，精度为2。 （ ）四名词解释（共5小题，每题2分，共计10分） 1、检验：通过观察和判断，适当时结合测量、试验所进行的符合性评价。2、PDCA：计划（Plan）、执行（Do）、检查（Check）、总结（Action）。3、5M1E：人（man）、机（machine）、料（material）、法（method）、环（environment）、测（measure）。4、电阻率：单位体积的材料对与两
10、平行面垂直通过的电流的阻力。5、少子寿命：晶体中非平衡载流子由产生到复合存在的平均时间间隔，它等于非平衡少数载流子浓度衰减到起始值的1/e（e=2.718）所需的时间。五、简单题（本题共计3小题，每题5分，计15分） 1、写出磨面后多晶合格小方锭的等级分类及各个等级的长度、宽度、崩边、杂质标准的要求。磨面后合格小方锭可分为A、B、C三个等级。A级锭 长度100 mm，边宽1560.4 mm， 单锭崩边比例1%，杂质不允许。B级锭 长度60 mm，边宽1560.5 mm， 单锭崩边比例1.5%，杂质3mm（标注位置）且个数2C级锭 长度45 mm，边宽1560.5 mm， 单锭崩边比例3%，杂质5mm（标注位置）且个数22、写出红外探伤仪的测试原理。在特定光源和红外探测器的协助下，红外光线能够穿透200mm深度的硅块，纯硅料几乎不吸收这个波段的波长，但是如果硅块里面有微晶、杂质（通常为SIC）、隐裂，则这些杂质将吸收红外光，因此在成像系统中将呈现出来，再经过电脑成像显示出来。3、画出25块小方锭的少子寿命扫描面的选择图示。说明：1）图
